「reflection electron」に関連した英語例文の一覧と使い方 - Weblio英語例文検索

BEAM SEPARATOR AND REFLECTION ELECTRON MICROSCOPE例文帳に追加

ビームセパレータおよび反射電子顕微鏡 - 特許庁

SEMICONDUCTOR REFLECTION ELECTRON DETECTOR FOR SCANNING ELECTRON MICROSCOPE例文帳に追加

走査型電子顕微鏡用半導体反射電子検出器 - 特許庁

To provide an electron reflection suppressing material having high electron reflection suppressing effect.例文帳に追加

優れた電子放出抑制効果を有する電子反射抑制材を提供する。 - 特許庁

ELECTRON REFLECTION SUPPRESSING MATERIAL AND ITS MANUFACTURING METHOD例文帳に追加

電子反射抑制材及びその製造方法 - 特許庁

To provide a reflection high-energy electron diffraction apparatus that can generate a reflection electron image diffraction pattern by using an electron beam having an extremely small current value at a nanoampere level.例文帳に追加

ｎＡレベルのきわめて小さい電流値の電子線を利用して反射電子像回析パターンを生成することができる反射高速電子回析装置を提供する。 - 特許庁

To provide a charged particle beam device equipped with a reflection electron detector.例文帳に追加

反射電子検出器を備えた荷電粒子ビーム装置を提供する。 - 特許庁

REFLECTION IMAGE FORMING ELECTRON MICROSCOPE AND DEFECT INSPECTING DEVICE USING IT例文帳に追加

反射結像型電子顕微鏡、及びそれを用いた欠陥検査装置 - 特許庁

Therefore, electron reflectance is remarkably lowered compared with the existing electron reflection suppressing material.例文帳に追加

このため、従来の電子反射抑制材と比較して、その電子反射率を格段に低下させることができる。 - 特許庁

REFLECTION IMAGE FORMING ELECTRON MICROSCOPE AND PATTERN DEFECT INSPECTION DEVICE USING IT例文帳に追加

反射結像型電子顕微鏡及びそれを用いたパターン欠陥検査装置 - 特許庁

In the reflection high-energy electron diffraction apparatus 10, the electron beam 28 having an emission current value at a nanoampere level is emitted from the electron gun 15 toward the thin film.例文帳に追加

反射高速電子回析装置１０では、ｎＡのレベルのエミッション電流値の電子線２８を電子銃１５から薄膜に向かって発射する。 - 特許庁

In the thick part 1b, absorption, scattering, and reflection of an electron beam 2 are particularly high.例文帳に追加

肉厚部１ｂにおいては、電子線２の吸収、散乱、反射が特に大きくなる。 - 特許庁

The electron reflection layer may include an oxide, a nitride, a fluoride, or a carbide.例文帳に追加

電子反射層は、酸化物、あるいは窒化物、あるいはフッ化物、あるいは炭化物でもよい。 - 特許庁

A sample is irradiated with an electron beam, and a reflection electron image 7 or transmission electron image is measured for shot shape and position using a magnifying optical system 1 and a position detector 2.例文帳に追加

電子ビームを試料１０に照射し、反射電子像７または透過電子像を拡大光学系１及び位置検出器２を用いてショット形状、位置を測定する。 - 特許庁

The second reflection surface reflects the second electron beam 14-[2, L] entering the surface to the second transmission direction toward the electron beam transmission film.例文帳に追加

第２反射面はこれに入射する第２電子線（１４−［２，Ｌ］）を電子線透過膜に向かう第２透過方向に反射する。 - 特許庁

To provide an innovative layout of pixels of a pattern generating device of a reflection electron beam lithography device.例文帳に追加

反射電子ビームリソグラフィ装置のパターン生成器の画素素子の革新的なレイアウトを提供する。 - 特許庁

The first reflection surface reflects the first electron beam 13-[2, L] entering the surface to the first transmission direction toward an electron beam transmission film 6.例文帳に追加

第１反射面はこれに入射する第１電子線（１３−［２，Ｌ］）を電子線透過膜（６）に向かう第１透過方向に反射する。 - 特許庁

An analysis device calculates deformation and movement of the organic sample 11 from starting time to finishing time of photographing by the reflection electron microscope 4 based on images photographed by the reflection electron microscope 4 and the transmission electron microscope 5.例文帳に追加

解析装置は、反射型電子顕微鏡４及び透過型電子顕微鏡５の撮影した画像に基づいて、反射型電子顕微鏡４の撮影開始時刻から撮影終了時刻までの生体試料１１の変形及び運動を計算する。 - 特許庁

The excimer beam is reflected on the reflection surface 23R of the reflection mirror 23 to go along the electron beam passage to be radiated to an excimer beam radiation range 31 including an electron beam scan range 30 on the sample 3.例文帳に追加

エキシマ光は反射ミラー２３の反射面２３Ｒで反射され、電子ビーム通路に沿って進み、試料３上の電子ビーム走査領域３０を含むエキシマ光照射領域３１に照射されるようにする。 - 特許庁

To provide a semiconductor reflection electron detector for a scanning electron microscope, capable of achieving compatibly between data analysis and collection efficiency of reflection electrons, and capable of improving performance in 3D measurement.例文帳に追加

データ解析の向上及び反射電子の収集効率の向上を両立させ、且つ、３D計測の性能を改善することができる走査型電子顕微鏡用半導体反射電子検出器を提供する。 - 特許庁

The electron beam device having a radiation mechanism that generates the electron beam and radiates the same to the object and a re-reflection preventive mechanism that re-reflects the reflected electron reflected from the object in a direction different from the direction that the reflected electron beam comes in.例文帳に追加

電子線を発生し、かつ標的に照射する照射機構と、前記標的に向くところに位置し、かつ標的から反射して来る反射電子が来た方向と異なる方向に再反射する再反射防止機構とを有する電子線装置。 - 特許庁

To provide a color picture tube reducing reflection and loss of electron beam generated at a shadow mask and to improve the quality of picture.例文帳に追加

カラー受像管のシャドウマスクで生じる電子ビームの反射及び欠けを軽減し、画像の品位を向上する。 - 特許庁

The electron reflection suppressing material 10 has a substrate 12 and a surface film covering the surface of of the substrate 12.例文帳に追加

この電子反射抑制材１０は、基板１２と、基板１２の表面に被覆された表面皮膜とを有する。 - 特許庁

This semiconductor reflection electron detector has a conical or umbrella shape, and has a plurality of detecting elements.例文帳に追加

半導体反射電子検出器は、すり鉢形状、又は、笠形状を有し、複数の検出素子を有する。 - 特許庁

Preferably, the material of the reflection part of the electron absorber 18 is carbon, and the material of the absorption part is metal.例文帳に追加

電子線吸収体１８の反射部の材質はカーボン、吸収部の材質は金属であることが好ましい。 - 特許庁

To provide an electron source realizing reflection suppression of signals in line and row wirings with a simple structure and provide an image forming device using the electron source.例文帳に追加

簡単な構成で、行及び列配線ににおける信号の反射抑制を実現した電子源及び前記電子源を用いた画像形成装置を提供する。 - 特許庁

That the electron emitted from a local activated area (3) collide with and absorbed by the control electrode (6), or that the flying direction of the electron is changed by reflection and the electron collide with an adjacent phosphor, can be restrained.例文帳に追加

局所的な活性化領域（３）からの放出電子が制御電極（６）に射突して吸収される、または反射してその電子の飛行方向が変化して隣接蛍光体に射突するのを抑制することができる。 - 特許庁

That is, shapes of an irradiated region of the electron beam and the irradiated region of the ultraviolet rays are made to be matched on a display screen, and strength of ultraviolet rays in the irradiated region of the electron beam is adjusted as retaining reflection electron image formation conditions of the reflected electron image.例文帳に追加

すなわち、電子線の照射領域と紫外線の照射領域の形状を表示画面上で一致させ、電子線の照射領域における紫外線の強度を、反射電子像の反射電子結像条件を保持しながら調整するよう構成した。 - 特許庁

The semi-reflection electrode 16 has a work function of 4 electron volts or less, and the conductive semi-reflection layer 17 is formed with meal materials (such as silver) having the optical reflectance higher than that of the semi-reflection electrode 16.例文帳に追加

半反射電極１６は仕事関数が４エレクトロンボルト以下であり、導電性半反射層１７は光の反射率が半反射電極１６よりも高い金属材料（例えば銀）から形成されている。 - 特許庁

An electron gun 1, a focusing lens 2, a deflector 4, a blanker 13, an excimer beam source 21 are provided, and a reflection mirror 23 having an electron beam passage hole 23H, and having a reflection surface 23R to reflect the excimer beam to radiate the excimer beam from an excimer beam source 21 along an electron beam passage to a sample is provided on the electron beam passage.例文帳に追加

電子銃１、集束レンズ２、偏向器４、ブランカー１３、エキシマ光源２１を備え、更に、電子ビーム通過孔２３Ｈを有し、且つ、エキシマ光源２１からのエキシマ光が電子ビーム通路に沿って試料上に照射されるようにエキシマ光を反射する反射面２３Ｒを有する反射ミラー２３を電子ビーム通路上に設ける。 - 特許庁

The reflection and loss of electron beam at the big holes 15 side are restrained, and brightness and color purity of the picture tube are improved.例文帳に追加

大孔15側のブリッジでの電子ビームの反射や欠けを抑制し、カラー受像管の輝度、色純度を向上できる。 - 特許庁

To provide a magnetoresistive transducing element which can be improve in electron reflection and also provide a method of manufacturing the same.例文帳に追加

電子反射を改善することができる磁気抵抗変換素子およびその製造方法を提供することにある。 - 特許庁

To provide a low-energy reflection electron microscope, capable of positioning a diffraction image field in a diaphragm position at all times.例文帳に追加

常に回折像面を絞り位置に持って来ることができる低エネルギー反射電子顕微鏡を提供すること。 - 特許庁

UNFIXED-TYPE SAMPLE HOLDER WHICH DOES NOT INTERFERE WITH REFLECTION HIGH-ENERGY ELECTRON DIFFRACTION OBSERVATION AND COMPOSITE DEVICE USING THE SAMPLE HOLDER例文帳に追加

反射高速電子回折観察を妨げない試料非固定式の試料ホルダー及びそれを使用した複合装置 - 特許庁

The electron absorber 18 consisting of a reflection part for reflecting electrons and an absorption part for absorbing electrons is installed in a vapor deposition chamber 20 of the electron beam heating type vapor deposition apparatus 11.例文帳に追加

電子を反射する反射部と電子を吸収する吸収部とからなる電子線吸収体１８を、電子線加熱蒸着装置１１の蒸着室２０内に設置する。 - 特許庁

In the step for forming the auxiliary pattern 108, a solid solution of the high transmittance/low reflection layer and the low transmittance/high reflection layer is formed by irradiating the reflective layer 102 with an electron beam 204.例文帳に追加

補助パターン１０８を形成する工程では、反射層１０２に電子ビーム２０４を照射して、高透過率・低反射層と低透過率・高反射層の固溶体を形成する。 - 特許庁

The first reflection surface and the second reflection surface are not parallel mutually but form an acute angle, and have a smaller quantity of the electron beam absorbed in the crosspieces compared with the case of well-known parallel crosspieces.例文帳に追加

第１反射面と第２反射面は互いに平行でなく鋭角を形成し、それらが平行である公知の桟に比較して、桟に吸収される電子線の量が少ない。 - 特許庁

To improve photopic contrast by preventing the reflection of the outside light while ensuring practical brightness in an electron beam display device.例文帳に追加

電子ビームディスプレイ装置において、実用的な輝度を確保しつつ、外光の反射を防止して明所コントラストを改善する。 - 特許庁

To prevent electron beam emitted from the tape edge from entering picture sphere as well as to lessen diffused reflection from the tape edge.例文帳に追加

テープエッジによる乱反射を少なくすると共に、テープエッジにより反射された電子ビームが画面側へ入射しないようにする。 - 特許庁

In 1928, Bethe described the use of Bloch waves to solve the high-energy electron diffraction problem for the reflection case. 例文帳に追加

1928年、ベーテは反射の場合(ブラッグケース)についての高エネルギー電子回折の問題を解くために「ブロッホ波」を使うことを記述した。 - 科学技術論文動詞集

The electron beam irradiation surface 13a is different in a position in the height direction being an optical axis direction of the electron beam B depending on its in-plane direction, and generates at least either of reflection electrons and secondary electrons by being irradiated with the electron beam B.例文帳に追加

電子ビーム照射面１３ａは、電子ビームＢの光軸方向である高さ方向の位置がその面内位置により異なり、また電子ビームＢを照射されることにより反射電子及び二次電子のうちの少なくとも一方を発生する。 - 特許庁

As a result, an electron reflection factor in an interface between the free layer 14 and the buffer layer 14 can be increased, which increases a rate of change in resistance.例文帳に追加

これにより、フリー層１４とバッファ層１３との界面における電子の反射率が向上し、抵抗変化率が向上する。 - 特許庁

Setting is performed so that the laser beam 17 is reflected on a reflection mirror 18 and collided with the high-energy electron pulse 15 at a collision point 19.例文帳に追加

レーザー光１７は、反射鏡１８で反射されて、高エネルギー電子パルス１５と衝突点１９で衝突する設定とされる。 - 特許庁

A vapor-deposition raw material 4 is vaporized by an electron gun 3 to deposit a reflection preventive film on lenses 2a held on a coat dome 2.例文帳に追加

蒸着原料４を電子銃３によって蒸発させて、コートドーム２に保持したレンズ２ａに反射防止膜を堆積させる。 - 特許庁

Observations of the failure of Friedel's law in reflection electron diffraction patterns from large crystals were reported by Miyake and Ueda (1950). 例文帳に追加

大きな結晶からの反射電子回折図形中でのフリーデル則の破れの観察が、三宅と上田によって(1950年に)報告された。 - 科学技術論文動詞集

A sensing part is 110, a reflection wave of the UWB pulse signal modulates an electron beam emitted from an electron gun 111, and a track thereof is captured by a fluorescent face 113 and a CCD imaging device 114.例文帳に追加

１１０はセンシング部であり、UWBパルス信号の反射波は電子銃１１１から放出された電子ビームを変調して、その飛跡を蛍光面１１３，ＣＣＤ撮像素子１１４で捕捉する。 - 特許庁