「sample line」に関連した英語例文の一覧と使い方 - Weblio英語例文検索

Sample gas is sent to the measuring cell 7 of a CRDS device 1 from a sample gas line 5.例文帳に追加

ＣＲＤＳ装置１の測定セル７にサンプルガスライン５からサンプルガスを送る。 - 特許庁

A curved line (e.g. straight line) is applied to a specific digital sample by means of its adjacent sample and a predicted value is decided about the current sample.例文帳に追加

特定のデジタルサンプルに対して、曲線（例えば直線）を隣接するサンプルを使用して当て嵌め、現在のサンプルに対する予測値を決定する。 - 特許庁

RIDGE LINE POSITION DETECTOR AND RIDGE LINE POSITION DETECTION METHOD FOR SURFACE SHAPE OF SAMPLE例文帳に追加

試料の表面形状の稜線位置検出装置及び稜線位置検出方法 - 特許庁

The sample 21 is positioned so as to be aligned with the axis line of the beam.例文帳に追加

試料２１は，ビームの軸線に合わして位置決めされる。 - 特許庁

The second line in the code sample above initializes the listOptions property. 例文帳に追加

上記のコード例の 2 行目で「listOptions」プロパティーを初期化しています。 - NetBeans

SAMPLE POSITIONING METHOD AND LINE WIDTH MEASURING DEVICE THEREWITH例文帳に追加

試料位置決め方法及びその方法を用いた線幅測定装置 - 特許庁

Extraction means extracts a feature amount of the data using the sample line set by the sample line setting means.例文帳に追加

抽出手段は、前記標本線設定手段により設定された前記標本線を用いて前記データの特徴量を抽出する。 - 特許庁

The sample holder 7 holds a sample on the center axis of the beam line of the terahertz waves condensed.例文帳に追加

試料保持部７は、集光されるテラヘルツ波のビームラインの中心軸上に試料を保持する。 - 特許庁

COMPONENT REMOVING SYSTEM FOR IN-LINE REMOVING SPECIFIC COMPONENT IN SAMPLE LIQUID例文帳に追加

サンプル液中の特定成分をインラインで除去する成分除去システム - 特許庁

The sample is then pyrolyzed, and the eluted gas sample is drawn through the sample line and into the mass spectrometer for identification of any biological agents.例文帳に追加

次いで、試料は熱分解され、溶離された気体試料は、生物剤の同定のために試料ラインを介して質量分析計に取り込まれる。 - 特許庁

First, switching valves V1, V2 are set to a solid line state, and a sample is filled from a sample filling unit 3.例文帳に追加

まずは、切換バルブＶ1、Ｖ２を実線状態に設定して、試料注入器３より試料を注入する。 - 特許庁

The echo strength calculating part converts sample data on a sweep line S1 and sample data on a sweep line S2 into pixel data of an XY rectangular coordinate system respectively.例文帳に追加

エコー強度計算部は、スイープラインＳ１上のサンプルデータと、スイープラインＳ２上のサンプルデータと、をＸＹ直交座標系の画素データにそれぞれ変換する。 - 特許庁

Based on the letter sample data stored in the memory means 11, a letter sample (a stroke line C and a linking line S)is displayed in a display means 2.例文帳に追加

そして、当該記憶手段１１に記憶された文字見本データに基づいて表示手段２に文字見本（字画線Ｃおよび気脈線Ｓ）が表示される。 - 特許庁

During the stop of the pump 12, the flow of the sample gas 7 to a zero gas line 6 is stopped and all of the sample gas 7 passes through a sample gas line 5 to be supplied to the gas intake port of an analyser main body.例文帳に追加

ポンプ１２が停止中は、サンプルガス７のゼロガスライン６への流通が停止され、サンプルガス７はすべてサンプルガスライン５を通って分析計本体１のガス取入口に供給される。 - 特許庁

Transfer the sample solution to a volumetric flask and obtain a constant volume by filling the volumetric flask with the solvent up to the marked line to use it as a measuring sample. 例文帳に追加

これをメスフラスコに移し入れ溶媒でメスフラスコの標線まで入れ定容とし、測定用試料とする。 - 経済産業省

Attitude control means 36, 40 of the sample support mechanism 24 switch between the state wherein the sample 60 is maintained in the first attitude so that the normal line 61 of the sample 60 becomes parallel to the first rotation center line 32 and the state wherein the sample is maintained in the second attitude so that the normal line becomes vertical thereto.例文帳に追加

試料支持機構２４の姿勢制御手段３６，４０は，試料６０の法線６１が第１の回転中心線３２に平行になるように試料６０を第１の姿勢に維持する状態と，垂直になるように第２の姿勢に維持する状態とを切り替える。 - 特許庁

Gas to be measured comprising the silane based gas is allowed to flow to the sample gas line 5 through a line 2 of the gas to be measured while dilution gas comprising nitrogen gas or the like is allowed to flow to the sample gas line 5 through a dilution gas line 3 and both gases are allowed to meet with each other.例文帳に追加

シラン系ガスからなる測定対象ガスを測定対象ガスライン２を介してサンプルガスライン５に流すとともに窒素などからなる希釈ガスを希釈ガスライン３からサンプルガスライン５に流し、合流させる。 - 特許庁

To prevent degradation in positional precision and line-width precision caused by the temperature fluctuation of a sample stage.例文帳に追加

試料ステージの温度変動による位置精度や線幅精度の低下を防ぐ。 - 特許庁

A sample switch control signal of the scanning line 34 is made to an on-state from an off-state.例文帳に追加

走査線34のサンプルスイッチ制御信号がオフ状態からオン状態になる。 - 特許庁

To provide a sample producing method which can produce an in-line test sample, without contaminating wafers and bring the wafer back to a production line thereby contributing to the production.例文帳に追加

インライン検査試料作製をウエハを汚染することなく行うことができ、ウエハを製造ラインへ戻して生産に寄与することができる試料作製方法を提供する。 - 特許庁

The perturbation processing is a processing that separates the additional object sample a determined proportion apart from a center of gravity on a straight line connecting the center of gravity of the neighborhood sample and each additional object sample.例文帳に追加

摂動処理は近傍サンプルの重心と各追加対象サンプルとを結ぶ直線上で重心から追加対象サンプルを所定割合遠ざける処理である。 - 特許庁

By short-circuiting the top of the transmission line with the sample, a test signal of high current density is applied to the sample so that a loop of the current standing wave is located in the position of the sample.例文帳に追加

試料によって伝送線路先端を短絡することで、試料の位置を電流定在波の腹として、高電流密度の試験信号を印加する。 - 特許庁

The pyrolyzer further includes an exhaust line 36 that exhausts the air drawn into the pyrolyzer and a sample line 38 that directs the gases eluted from the sample collected in the pyrotube to a mass spectrometer for sample identification.例文帳に追加

該パイロライザーは、該空気をパイロライザー内に吸引する排気ラインと、試料を同定するための質量分析計に、熱分解管中に収集される空気から溶離される気体を送る試料ラインをさらに備える。 - 特許庁

An unsharp-mask image creation block 320 applies unsharp masking on the down sample image line.例文帳に追加

アンシャープ・マスク画像生成ブロック３２０は、ダウン・サンプル画像ラインにアンシャープ・マスクをかける。 - 特許庁

Transfer the sample solution to a volumetric flask and obtain a constant volume by filling the volumetric flask with sulfuric acid to the marked line. 例文帳に追加

これをメスフラスコに移し入れ硫酸でメスフラスコの標線まで入れ定容とする。 - 経済産業省

Thereafter, the first six-way valve 10 is changed over to the connection state shown by the solid line to sample the sample gas from the upper space of the container 1.例文帳に追加

その後、第１六方バルブ１０を実線の接続状態に切り替えて、容器１の上部空間から試料ガスを採取する。 - 特許庁

This zero gas is circulated through the sample gas line 5 and the zero gas line 6 and also supplied to the gas intake port of the analyser main body 1.例文帳に追加

このゼロガスはサンプルガスライン５とゼロガスライン６を循環するとともに分析計本体１のガス取入口に供給される。 - 特許庁

The invention relates to the apparatus and the method for automatically detecting the failure position on even long wiring line using an image of an absorbed current absorbed by a sample by irradiating the sample with an electron beam in a state wherein a probe is applied to the sample.例文帳に追加

試料にプローブと電子線を当て試料に吸収された吸収電流の像を利用して、長い配線でも不良位置を自動で検出する装置とその方法。 - 特許庁

This on-line autoanalyzer of the liquid sample is composed of a sampling valve capable of quantitatively correcting the liquid sample, sample injecting piping capable of feeding the collected liquid sample under pressure in a liquid state using a carrier gas and a gas chromatograph having a liquid sample vaporizing chamber to which the sample injecting piping is connected.例文帳に追加

液体試料を定量的に採取できるサンプリングバルブ、採取した液体試料をキャリアガスを用いて液体状態のままで圧送できる試料注入用配管、及び前記試料注入用配管が接続した液体試料気化室を有するガスクロマトグラフからなる、液体試料のオンライン自動分析装置を用いる。 - 特許庁

To provide a charged particle beam irradiation method improving accuracy of a contour line irrespective of the shape of a processing area of a sample when processing the sample by a charged particle beam device.例文帳に追加

荷電粒子ビーム装置により試料の加工を行う際に、試料の加工領域の形状によらず、輪郭線の精度を上げる。 - 特許庁

A sample is thereby separation-analyzed simultaneously on line, even in the complicated sample mixed with a hydrophilic component and a hydrophobic component.例文帳に追加

これにより、親水性成分と疎水性成分が混ざり合った複雑な試料に対しても、オンラインで一斉分離分析することができる。 - 特許庁

To provide a feature amount extraction device, etc. capable of appropriately and promptly setting a sample line.例文帳に追加

標本線を適切かつ迅速に設定できる特徴量抽出装置等を提供する。 - 特許庁

A probing end 15 of a two conductor transmission line 12 is brought into a close proximity with the sample under study.例文帳に追加

２導体伝送線路１２のプローブ端１５は調査中の前記サンプルの近傍に置かれる。 - 特許庁

A chip/sample synergy is released in advance to limit dimension processing for a scanning line.例文帳に追加

走査線に対する限界寸法処理に先立って、チップ・試料相乗解除が行われる。 - 特許庁

To fractionate a target sample component in analysis wherein a base line level fluctuates with good reproducibility.例文帳に追加

ベースラインレベルが変動する分析において目的の試料成分を再現性よく分画する。 - 特許庁

VACUUM PROCESSING UNIT, SEMICONDUCTOR PRODUCTION LINE EMPLOYING IT AND VACUUM PROCESSING METHOD OF SAMPLE例文帳に追加

真空処理装置およびそれを用いた半導体製造ラインおよび試料の真空処理方法 - 特許庁

. Replace this line with the bold text in Code Sample 1, and then press Ctrl-Shift-F to reformat your code. 例文帳に追加

この行をコード例 1 の太字のテキストに置き換え、Ctrl-Shift-F キーを押して、コードを再フォーマットします。 - NetBeans

To perform 100% in-line inspection and management of sample by incorporating a film thickness monitor in a production line.例文帳に追加

生産ラインに組込むことができ、インラインで試料の全数の検査および管理を自動で行うことができる膜厚モニターを提供する。 - 特許庁

The line-like light beam is converted into a line-like light beam that has converged in one direction by an objective lens 25, and the sample 27 is scanned.例文帳に追加

このライン状光ビームは対物レンズ（２５）により一方向に集束したライン状走査ビームに変換され、試料（２７）を走査する。 - 特許庁

As a result, the scanning electron microscope image of a sample 4 is displayed on the screen of a cathode-ray tube 17, and the X-axis bright line and the Y-axis bright line showing the moving direction of the sample 4 are displayed.例文帳に追加

この結果、陰極線管１７の画面上には、試料４の走査電子顕微鏡像が表示されると共に、試料４の移動方向を示すＸ軸輝線、Ｙ軸輝線が表示される。 - 特許庁

The additional ϕ rotary device 7 is driven by the ϕ rotary device 8 to be rotated centering around the ϕ axial line and can rotate the sample S centering around the ϕ' axial line passing the sample position.例文帳に追加

付加φ回転装置７は、φ回転装置８によって駆動されてφ軸線を中心として回転でき、試料位置を通るφ’軸線を中心として試料Ｓを回転させることができる。 - 特許庁

Sample points 306 are set on each ray (line of sight) 304 at predetermined intervals, and voxel calculation is carried out individually for the sample points.例文帳に追加

各レイ（視線）３０４上において所定間隔をもってサンプルポイント３０６が定められ、それらに対して個別的にボクセル演算が実行される。 - 特許庁

The discharging container 104 is connected to a sampling line 101 through which the sample of a raw material of cement 102 is conveyed, in order to introduce the sample into the discharging container 104.例文帳に追加

放電容器１０４には、セメント原料１０２のサンプルが移送されるサンプリングライン１０１と接続され、放電容器１０４に導入する。 - 特許庁

On a cell holder 26, two lines of sample installation places are arranged in the staggered arrangement, and in either line of the sample installation places, measurement light flux can be measured without passing through another sample installation place.例文帳に追加

セルホルダ２６の上に2列で千鳥構造となるように試料設置場所を配置し、いずれの列の試料設置場所でも測定光束が他の試料設置場所を通過しないで測定できるようにする。 - 特許庁

In a charged particle beam system for measuring the line width or the like of a pattern formed on a sample based on secondary electrons emitted from a sample by scanning on the sample with a charged particle beam, interval of the scanning line of the charged particle beam is set not to exceed an irradiation density determined based on the physical properties of the sample.例文帳に追加

荷電粒子線を試料上で走査し、試料より放出された二次電子に基づいて、試料上に形成されたパターン等の線幅等を測長する荷電粒子線装置において、試料の物性に基づいて決定される照射密度を上回らないように前記荷電粒子線の走査線間隔を設定する。 - 特許庁