「sample line」に関連した英語例文の一覧と使い方(3ページ目) - Weblio英語例文検索

The microscope device 100 is equipped with a driving part 2, a microscope 3, a line sensor 4 which scans and images a sample enlarged by the microscope 3, and a control computer 150 which generates an enlarged image of the sample from the pick-up image of the line sensor 4.例文帳に追加

顕微鏡装置１００は、駆動部２と、顕微鏡３と、顕微鏡３で拡大した試料を走査して撮像するラインセンサ４と、ラインセンサ４の撮像画像から試料の拡大画像を作成する制御コンピュータ１５０とを備える。 - 特許庁

A ruled line 10a is formed on the surface on the side of the metal film 3 of a sample 10 obtained by forming the metal film 3 on a single crystal substrate 2, and the sample 10 is cleaved along the ruled line 10a while cooled in liquid nitrogen 50.例文帳に追加

単結晶基板２上に金属膜３が成膜された試料１０の金属膜３側の表面に罫書線１０ａを形成し、試料１０を、液体窒素５０中で冷却しながら、罫書線１０ａに沿ってへき開する方法とする。 - 特許庁

The spark discharge emission spectral analysys method, which quantifies an element contained in an analyzing sample, on the basis of the spectral line obtained by spark discharge caused between the placed and fixed analyzing sample and the electrode provided at the position opposed to the analyzing sample, is improved.例文帳に追加

分析試料を載置、固定し、該分析試料に対向する位置に設けた電極との間でスパーク放電して得られたスペクトル線に基づき、該分析試料が含有する元素を定量するスパーク放電発光分光分析方法を改良した。 - 特許庁

In the flaw inspection device, an illumination optical system is constituted so that the surface of the sample is irradiated with inspecting illumination light having a predetermined incident angle with respect to the line normal to the surface of the sample to form a slit-like beam spot on the surface of the sample.例文帳に追加

本発明の欠陥検査装置によると、照明光学系は、試料の表面の法線に対して所定の入射角を有する検査用照明光を試料表面に照射し、試料表面にスリット状のビームスポットを生成する。 - 特許庁

In the flaw inspection device, an illumination optical system is constituted so that the surface of the sample is irradiated with inspecting illumination light having a predetermined incident angle with respect to the normal line of the surface of the sample to form a slitlike beam spot on the surface of the sample.例文帳に追加

本発明の欠陥検査装置によると、照明光学系は、試料の表面の法線に対して所定の入射角を有する検査用照明光を試料表面に照射し、試料表面にスリット状のビームスポットを生成する。 - 特許庁

To provide a powder measuring device capable of supplying stably a powder sample to a measuring part by preventing clogging or deposition of the powder sample in a suction line for supplying the powder sample collected from a manufacturing process to the measuring part.例文帳に追加

製造プロセス中から採取した粉体試料を測定部に供給する吸引ラインにおける粉体試料の詰まりや堆積等を防止し、測定部に粉体試料を安定して供給することのできる粉体測定装置を提供する。 - 特許庁

To provide a matching method of a charged particle beam device capable of accurately measuring and inspecting line width, defect and the like of a sample.例文帳に追加

試料の線幅、欠陥などを精密に測定、検査することができる、荷電粒子ビーム装置のマッチング方法の提供。 - 特許庁

To provide a fluorescent optical station for test sample cards having a plurality of wells where the wells are arranged in a line.例文帳に追加

ウェルを一列に並べて配置された複数個のウェルを有するテスト試料カード用の蛍光光学ステーションを提供する。 - 特許庁

The product 18 conveyed on the conveyance line 22 and a color sample 16 having a reference color are photographed simultaneously by a camera 12.例文帳に追加

搬送ライン２２上を搬送される製品１８と、基準色を有する色サンプル１６とをカメラ１２により同時に撮影する。 - 特許庁

The line-like light beam is periodically deflected by a vibrating mirror 62 and is incident on the sample 27 via an objective lens 23.例文帳に追加

ライン状光ビームは振動ミラー（６２）により周期的に偏向され、対物レンズ（２３）を介して試料（２７）に入射する。 - 特許庁

A strip line 36 formed in the substrate 46 supplies a radio wave to the sample 22 in the reagent infiltrating state.例文帳に追加

基体４６内に設けられたストリップライン３６によって前記試薬浸潤状態にあるサンプル２２に電波を供給する。 - 特許庁

To provide the laser microscope imaging a sectional shape and a two-dimensional confocal image of a sample, using a line-like light beam.例文帳に追加

ライン状光ビームを用いて試料の断面形状及び2次元共焦点画像を撮像するレーザ顕微鏡を提供する。 - 特許庁

Concerning the wear of the tire tread, average signal sample power in a scope of secondary frequency is compared with a base line value stored in advance.例文帳に追加

タイヤトレッド摩耗に対しては、第２周波数範囲内の平均信号サンプルパワーを先に記憶されたベースライン値と比較する。 - 特許庁

An associative storage device comprises a match line of which the potential is varied in accordance with whether data of a memory cell coincides with a retrieval key of a search bus or not, a precharge circuit precharging the match line, a sample-and-hold circuit sampling a potential of the match line and holding it, and a detector circuit detecting a potential held by the sample-and-hold circuit.例文帳に追加

連想記憶装置は、メモリセルのデータとサーチバスの検索キーとが一致するか否かに応じて電位が変化するマッチラインと、マッチラインをプリチャージするプリチャージ回路と、マッチラインの電位をサンプルしてホールドするサンプルアンドホールド回路と、サンプルアンドホールド回路がホールドした電位を検出する検出回路を含む。 - 特許庁

For example, a first switch opening/closing circuit 21 outputs a closing signal to a second switch opening/ closing circuit 22 through a signal line 31 adjusting to finish of sample-hold of data in the sample-hold circuit 1.例文帳に追加

例えば、第１のスイッチ開閉回路２１は、サンプルホールド回路１でのデータのサンプルホールド終了に合わせて、信号線３１を経て第２のスイッチ開閉回路２２に閉信号を出力する。 - 特許庁

A table 26 is provided in which a plurality of sets of combinations of observation magnification and interlaced scanning line number under which charges are not generated on a sample when scanning by electron beam on the sample with the observation magnification are stored.例文帳に追加

観察倍率とその観察倍率で試料上を電子ビーム走査した時に試料に帯電が発生しない飛び越し走査線数の組み合わせが複数組記憶されたテーブル２６を設ける。 - 特許庁

A shot 507 which is positioned nearly symmetrically with a sample shot 506 in a division adjacent to a certain division about the boundary line 502 between the divisions is selected as the sample shot in the certain division.例文帳に追加

ある区分のサンプルショットとして、その区分に隣接する区分のサンプルショット５０６に対し、それらの区分間の境界線５０２について、ほぼ対称な位置に位置するショット５０７を選択する。 - 特許庁

Interference fringe is serially recorded by a detector while irradiating a sample with a beam in an ellipse shape or a linear shape and scanning the sample in a short axial direction of the ellipse shape or in a direction orthogonal to the line.例文帳に追加

楕円状または線状のビームで試料を照射し、試料を該楕円の短軸方向または線と直行する方向に走査しながら検出器により干渉縞を逐次記録する。 - 特許庁

A sample of an electric wire is collected from a use line and heat history comprising a plurality of temps. is applied to the sample to calculate the correlation X of the temp. of the electric wire, a heating time and the evaluation standard of residual strength.例文帳に追加

運用線路から電線の試料を採取し、この試料に複数の温度からなる熱履歴を与えて電線温度、加熱時間および残存強度の評価基準の相関関係Xを求める。 - 特許庁

A plurality of dilution lines are joined to a sample introduction line, and each line is switched corresponding to a measurement range, thus introducing the mixture of both to a detection section.例文帳に追加

試料導入ラインに対し複数の希釈ラインを接合し、測定レンジに対応して各ラインを切換えて両者の混合物を検出部に導入することができるようにする。 - 特許庁

The position of the pseudo reference image Sref1 is moved by an operator so that the line profile of the shape of the sample is positioned between the reference line profiles Lref1, Lref2 of the pseudo reference image Sref1.例文帳に追加

オペレータは、疑似リファレンス画像Ｓref1の基準ラインプロファイルＬref1，Ｌref2間に試料形状のラインプロファイルが収まるように、疑似リファレンス画像Ｓref1の位置を面画上で移動させる。 - 特許庁

In the quantitative analyzing method of asbestos, the diffraction line intensity of asbestos contained in a sample S to be inspected is calculated and the weight of asbestos is calculated from the diffraction line intensity on the basis of a calibration curve.例文帳に追加

被検試料Ｓに含まれるアスベストの回折線強度を求め、検量線に基づいてその回折線強度からアスベストの重量を求める定量分析方法である。 - 特許庁

The source line driver circuit includes a flip-around type sample and holding circuit that outputs an output grayscale voltage between the first and second grayscale voltages to the source line.例文帳に追加

ソース線駆動回路が、第１の階調電圧と第２の階調電圧との間の出力階調電圧を前記ソース線に出力するフリップアラウンド型サンプルホールド回路を含む。 - 特許庁

The scanning electron microscope according to the present invention scans a sample along one or more straight lines and adds, to a detection signal for each scan line, information for identifying a start position and an end position of the scan line as address information indicating a scan position on the sample.例文帳に追加

本発明に係る走査型電子顕微鏡は、試料を１以上の直線状に走査し、走査線の開始位置と終了位置を特定する情報を、試料上の走査位置を示すアドレス情報として、１走査線毎の検出信号に付与する。 - 特許庁

Resultantly, the state of a sample 11 can be easily checked only by taking an eye off the eye contact part of the microscope and turning the eye line downward as shown in 20A of the Fig.1 and the observation of sample images, check of sample state and manipulator operation etc. can be smoothly performed.例文帳に追加

その結果、２０Ａのように顕微鏡の接眼部から眼を離して視線を下方に落とすだけで試料１１の状態を容易に確認することができ、試料像の観察と試料状態の確認やマニュピレータ操作等をスムーズに行うことができる。 - 特許庁

To detect a position of a ridge line in a surface shape of a sample by one scan, by a surface shape measuring machine for measuring the surface shape of the sample by detecting respectively each height from a prescribed reference face to each position on the surface shape of the sample.例文帳に追加

所定の基準面から試料の表面の各位置までの高さを各々検出することによって試料の表面形状を測定する表面形状測定機にて、１回の走査で試料の表面形状の稜線の位置を検出する。 - 特許庁

A phase detector 10 detects the phase of the color burst from demodulated U, V signals and a correction circuit 11 corrects an offset of a color subcarrier phase for each sample of a current line from the color burst phase of a preceding line and the current line.例文帳に追加

復調したＵ、Ｖ色差信号からカラーバーストの位相を位相検出器１０により検出し、前ラインおよび現ラインのカラーバースト位相から現ラインのサンプル毎のカラーサブキャリア位相のずれを補正回路１１により補正する。 - 特許庁

The inside surface is constructed so that a curvature radius of an arc may decrease from a sample 1 to a detector 14 along the reference line and an angle formed by a line segment and a reference line from a reference intersection to the sample 1 side may decrease, which connects an arc intersection at which an arc and a reference plane intersect and a reference intersection at which the reference line and a plane including an arc intersect.例文帳に追加

内側面は、基準直線に沿って試料１から検出器１４に向かって、円弧の曲率半径が小さくなるとともに、円弧と基準平面とが交わる円弧交点と、基準直線と円弧含有平面とが交わる基準交点とを結ぶ線分と、基準交点から試料１側の基準直線との成す角が小さくなるよう構成されている。 - 特許庁

The fingerprint collection method for collecting a fingerprint by sliding a finger on a line sensor reading an image, line by line, is characterized by that it is decided whether the finger is present and the line sensor continues to sample the fingerprint during the presence of the finger.例文帳に追加

上記課題は、画像をライン毎に読取るラインセンサ上で指をスライドさせて指紋を採取する指紋採取方法において、前記指の有無を判断し、該指がある間、前記ラインセンサによる指紋の採取を継続することを特徴とする指紋採取方法にて解決される。 - 特許庁

The horizontal switch (HSW) group is disposed between a video line 33 and each signal line Y in correspondence to each stage of the sampling circuit 32 and operates to open and close in response to the sampling pulses to successively sample the video signal Video supplied from the video line 33 to each signal line Y.例文帳に追加

水平スイッチ（ＨＳＷ）群は、抜取回路３２の各段に対応してビデオライン３３と各信号線Ｙとの間に配され、サンプリングパルスに応答して開閉動作し、ビデオライン３３から供給された映像信号Ｖｉｄｅｏを各信号線Ｙに順次サンプリングする。 - 特許庁

This surface rugged shape observation method with a charged particle beam device comprises a step for drawing a straight line on a sample surface in a part to be observed for shape observation, a step for tilting a sample stage, and a step for scanning a periphery area including the straight line part with a beam while the sample is tilted for obtaining a microscopic image.例文帳に追加

本発明の荷電粒子ビーム装置による表面凹凸形状の観察方法は、形状を観察したい個所の試料表面に直線を引くステップと、試料ステージを傾斜させるステップと、試料を傾斜させた状態で前記直線部分を含む近傍領域をビーム走査して顕微鏡画像を取得するステップとからなる。 - 特許庁

This passage changeover type analyzer having a single sample cell part for measuring the concentration of a specific component in a sample by switching between a sample passage and a reference passage at a fixed period is characterized by providing an overflow line at least in either of the passages, and providing a member having a prescribed capacity in the overflow line.例文帳に追加

一定周期で試料流路および基準流路の切換を行い、試料中の特定成分の濃度を測定する単一の試料セル部を有する流路切換式分析計であって、少なくとも前記いずれかの流路にオーバーフローラインを設け、該オーバーフローラインに前記所定の容量を有する部材を設けることを特徴とする。 - 特許庁

Since a wire line system is adopted, the sample can be taken without pulling out the outer tube 8 and the collapse of a hole wall is prevented.例文帳に追加

ワイヤライン方式を採用したので、アウターチューブ８を引き抜くことなく試料が採取でき、また、孔壁を崩壊させることがない。 - 特許庁

Saturation time until a radiant quantity of a thermal wave IR emitted from a sample mounted off-line by laser irradiation is measured.例文帳に追加

オフラインに定置されたサンプルからレーザ照射によって放散される熱波IRの放射量が飽和するまでの飽和時間を計測する。 - 特許庁

This configuration can provide the liquid chromatographic apparatus capable of reducing the fluctuation of the base line caused by the pressure fluctuation when introducing the sample.例文帳に追加

これにより、試料導入時の圧力変動によるベースライン変動を低減可能な液体クロマトグラフ装置を実現することができる。 - 特許庁

SAMPLE MOUNTING STAGE, METHOD OF CALIBRATING PART PACKAGING APPARATUS USING THE SAME, PART PACKAGING APPARATUS, AND PART PACKAGING LINE例文帳に追加

標体搭載ステージ、この標体搭載ステージを用いた部品実装装置の校正方法、部品実装装置及び部品実装ライン - 特許庁

A straight line drawn on the surface in the part to be observed for shape observation is formed by local CVD or etching using a focused ion beam, and the straight line drawing direction on the sample surface in the part to be observed for shape observation and the sample stage tilting direction cross each other at right angles.例文帳に追加

形状を観察したい個所の試料表面に引く直線は、局所ＣＶＤ若しくは集束イオンビームを用いたエッチングによって施し、形状を観察したい個所の試料表面に引く直線の方向と試料ステージの傾斜方向は、直交するようにとる。 - 特許庁

Also, the space in the device contacting a second surface 32b is vacuumed and a primary line from a primary line (electron beam) irradiation equipment set up in the vacuumed space is irradiated to the liquid sample 20 via the film 32 so that the sample can be observed or inspected while holding it in the atmospheric pressure.例文帳に追加

また、第２の面３２ｂに接する装置内空間を減圧にし、該減圧空間に設置してある一次線（電子線）照射装置からの一次線を、膜３２を介して液体試料２０に照射することにより、試料を大気圧に保持したまま観察又は検査が可能となっている。 - 特許庁

To provide a sample clean-up device for mass spectrometer in which salts of low molecular weight can be removed from a biological sample of high molecular weight, e.g. protein, using a stream line flow in a substrate and a sample solution can be replaced by a solvent suitable for mass spectrometer.例文帳に追加

基板内において流線形フローを用いて蛋白質などの高分子量の生体試料から低分子量の塩類を除去可能であり、試料の溶媒を質量分析機に好適な溶媒に交換可能な質量分析機のための試料クリーンアップ装置を提供する。 - 特許庁

An automatic analyzer formed by connecting an analyzer with a dispensing mechanism for dispensing the sample through the conveyance line for conveying the sample includes a transfer mechanism for transferring information on a sample amount acquired when dispensing the sample by the dispensing mechanism in the analyzer to another analyzer.例文帳に追加

試料を分注する分注機構を備えた分析装置が、試料を搬送する搬送ラインを介して接続された自動分析装置において、前記分析装置の前記分注機構が試料を分注する際に得た、試料の量に関する情報を他の分析装置に伝達する伝達機構を備えたことを特徴とする自動分析装置。 - 特許庁

To provide a failure point sample quantity measuring device for an alternating current feeding circuit capable of fetching sample quantity information for precisely calculating a failure point distance by surely selecting failure caused near a section boundary and a failure section without influencing binding/separation of a vertical line tie switch.例文帳に追加

上下線タイ開閉器の結合−分離に影響されることなく区間境界の近傍で発生する故障や、故障発生区間を確実に選択し、故障発生点距離を正確に求める。 - 特許庁

Or, a sample hold signal SH for determining a timing of sample-holding the signal read from the photodetector array 58 is outputted at a timing of a predetermined phase of each frequency of the line drive signal CPV.例文帳に追加

また、光検出器アレー５８より読み出した信号をサンプルホールドするタイミングを決定するためのサンプルホールド信号ＳＨは、ライン駆動信号ＣＰＶの各周期の所定の位相のタイミングで出力される。 - 特許庁

A plane mirror 9 is movable, and light dispersed spectrally from mirror 5 reaches a sample cell 11 when the mirror 9 is located in a position indicated by a doted line, and an absorbance by a sample is measured over the wide wavelength range.例文帳に追加

平面ミラー９は可動式であり、点線で示される位置にあるときはミラー５からの分光された光が試料セル１１に達し、広い波長範囲で試料による吸光度を測定することができる。 - 特許庁

To provide a sample mounting stage capable of greatly reducing time required for calibration work, to provide a method of calibrating a part packaging apparatus using the sample mounting stage, and to provide a part packaging apparatus and a part packaging line.例文帳に追加

校正作業に要する時間を大幅に短縮することができる標体搭載ステージ、この標体搭載ステージを用いた部品実装装置の校正方法、部品実装装置及び部品実装ラインを提供する。 - 特許庁

Since air tubes of any one line does not definitely leake, the sample can be lifted sufficiently, and even when it blast out from any adsorption plate units, the sample continues lifting and can be positioned by an air cylinder with guide.例文帳に追加

必ずいずれかの系統のエアチューブはエアリークしないため、試料は十分浮上し、いずれかの吸着板ユニットから吹き出した場合でも、試料は浮上を続けガイド付きエアシリンダーで位置決めすることが可能となる。 - 特許庁