「sample line」に関連した英語例文の一覧と使い方(4ページ目) - Weblio英語例文検索

When the flow cell 10 is moved up to the position of a sample suction part 30, both the linear pipe line parts 111, 121 are also turned and the motions are absorbed by the spiral pipe line parts 112, 122.例文帳に追加

フローセル１０が試料吸引部３０の位置まで移動するとき、両直線状管路部１１１、１２１も回動し、その動きは螺旋状管路部１１２、１２２により吸収される。 - 特許庁

To provide a quality evaluation apparatus of a metal strip capable of precisely detecting flatness, longitudinal warp, width warp of the metal strip in-line without cutting off a sample on a straightening line.例文帳に追加

矯正ライン上でサンプルの切り出しを行うことなく、インラインで金属帯板の平坦度、長手反りおよび幅反りを正確に検出することができる金属帯板の品質検出装置を提供する。 - 特許庁

To provide method and device especially suitable for determining irregularity of line & space pattern formed on sample.例文帳に追加

本発明の目的は、特に試料上に形成されたライン＆スペースパターンの凹凸判定に好適な判定方法、及び装置を提供することにある。 - 特許庁

Secondary electrons from a sample 25 is given a rotational movement by magnetic field M of a semi-in-lens type objective lens 23, and gathered on an optical axis line.例文帳に追加

試料２５からの２次電子は、セミインレンズタイプの対物レンズ２３の磁界Ｍにより回転運動が与えられ、光軸上に集められる。 - 特許庁

A lower-end height position which is detected by a line sensor 27 is written into a fetch memory 38, and it is stored simultaneously in a sample storage memory 40.例文帳に追加

ラインセンサ２７で検出された下端高さ位置が取り込みメモリ３８に読み込まれると同時にサンプル記憶メモリ４０に記憶される。 - 特許庁

The control computer 150 finds and records a Y-axial shift in imaging position of the line sensor when imaging the sample 1 at respective imaging positions.例文帳に追加

制御コンピュータ１５０は、各撮像位置で試料１を撮像する際に、ラインセンサ４の撮像位置のＹ軸方向のずれを求めて記録する。 - 特許庁

To provide an RF probe head for measuring the voltage and the current of a radio frequency (RF) signal of a sample collecting transferring line.例文帳に追加

サンプル収集伝送ラインの無線周波数（ＲＦ）信号の電圧および電流を測定するＲＦプローブヘッド装置を提供することにある。 - 特許庁

The cytokine in the sample to be tested is detected according to the method comprising a step culturing basophil globular cell line derived from DO11.10 transgenic mouse spleen cell or a mastocyte like cell line, preferably a cell line of Accession No. FERM P-20652, in a sample to be tested, a step detecting cytokine according to the proliferation of the cell line, or screens the cytokine producing cells which produces cytokine.例文帳に追加

ＤＯ１１．１０トランスジェニックマウス脾臓細胞由来好塩基球様ないしマスト細胞様細胞株、好ましくは、受託番号ＦＥＲＭ Ｐ−２０６５２の細胞株を、被検試料中で培養する培養工程、前記細胞株の増殖に基づいて、サイトカインを検出する検出工程を含む方法によって、被検試料中のサイトカインを検出し、又はサイトカインを産生するサイトカイン産生細胞をスクリーニングする。 - 特許庁

The apparatus is equipped with: a plurality of pixel electrodes each connected to a data line and a scan line; a plurality of sampling transistors to sample an image signal from an image signal line to each of the plurality of data lines; and a plurality of precharge transistors to supply a precharge signal from a precharge supply line to each of the plurality of data lines.例文帳に追加

データ線及び走査線に夫々が接続された複数の画素電極と、複数のデータ線の夫々に画像信号線から画像信号をサンプリングする複数のサンプリング用トランジスタと、複数のデータ線の夫々にプリチャージ供給線からプリチャージ信号を供給する複数のプリチャージ用トランジスタとを備えている。 - 特許庁

That is, by considering that the appearance frequency of each line angle of the line image in each language is different, whether to intensively evaluate the line image of the line angle whose appearance frequency is high, and the featured values of an image for evaluation are corrected by the weighting factor calculated from language or the sample image of a font.例文帳に追加

つまり、各々の言語において線画像の線角度毎の出現頻度が異なることに着目し、出現頻度の高い線角度の線画像を重点的に評価すべきであると考えて、評価用画像の特徴量を言語や書体のサンプル画像から算出した重み係数で補正する。 - 特許庁

To provide an ultrasonographic apparatus which enables a reduction in labor for aligning the sample line and observing point by an operator and in the load on the operation.例文帳に追加

操作者によるサンプルラインや観察点の位置合わせの手間を減らし、操作上の負担を軽減することが可能な超音波診断装置を提供する。 - 特許庁

While a sample which has been measured by the measurement unit 41 is in a measurement line, an information processing unit 42 determines whether a reexamination thereof is necessary or not.例文帳に追加

測定ユニット４１で測定が行われた検体は、測定ラインに位置している間に、情報処理ユニット４２により再検査の要否が判定される。 - 特許庁

A diffraction line image is provided in the stimulable phophor 2 by omitting a conventional χ-axial rotation to conduct only ϕ-axial rotation, i.e., in-plane rotation of the sample S.例文帳に追加

従来のχ軸回転を省略して、φ軸回転すなわち試料Ｓの面内回転だけで輝尽性蛍光体２に回折線像が得られる。 - 特許庁

A reference space generating unit 415 collects a plurality of sample data indicating the normal line conditions and generates the reference space for a plurality of parameters.例文帳に追加

基準空間作成部４１５が、前記複数のパラメータについて、正常なライン状態を表す複数のサンプルデータを収集し、基準空間を作成する。 - 特許庁

This sample separation and suction instrument 100 is equipped with a line-of-electric force converging structure composed of a first slit structure 46 and a second slit structure 30.例文帳に追加

サンプル分離吸着器具１００は、第１スリット構造体４６と第２スリット構造体３０とからなる電気力線収束構造を備えている。 - 特許庁

When the data current which is sampled and held is provided to a data line, the data current is absorbed into the output end of the sample/hold circuit.例文帳に追加

上記サンプリングおよびホールディングされたデータ電流がデータラインに提供される時，上記データ電流は上記サンプル／ホールド回路の出力端に吸い込まれる。 - 特許庁

When its dispensing operation is finished, the speciemen is conveyed to a sample-rack standby part 9 by the conveyance line 3 so as to be on standby until an analyzed result is obtained.例文帳に追加

その分注が終わると、検体は搬送ライン３によって検体ラック待機部９に搬送され、分析結果が出るまで一時的に待機される。 - 特許庁

In the invention, a precharge circuit is connected to a sample and hold circuit, a signal line connected between the demultiplexer and the data drive part is precharged with a current, before the data current is sampled.例文帳に追加

本発明ではデータ電流をサンプリングする前に逆多重化器とデータ駆動部の間に連結される信号線を電圧とプリチャージする。 - 特許庁

In this sample analysis system wherein the plurality of analysis units 3A-3G are arranged along a conveyance line 20, system setting is performed prior to analytical operation.例文帳に追加

搬送ライン（２０）に沿って複数の分析ユニット（３Ａ〜３Ｇ）が配置される検体分析システムは、分析操作に先立ってシステム設定が行われる。 - 特許庁

Although attenuation arises in the light intensity distribution by attenuated total reflection, the reaction of the sample can be caught by detecting variation of the dark line position.例文帳に追加

光強度分布には、全反射減衰によって減衰が生じるがその暗線位置の変化を検出することで試料の反応を捉えることができる。 - 特許庁

The distant position Pr is a position which deviates laterally from a line locus L0, extending from the measurement position Ps to the outside of the sample temperature control device 8.例文帳に追加

離隔位置Ｐｒは測定位置Ｐｓから試料温度制御装置８の外部へ延びる直線軌跡Ｌ０から横方向へ外れた位置にある。 - 特許庁

The simulation defect sample 10 is so attached to the defect inspecting device that the simulation defect 13 is diagonal to the scan line of the defect inspecting device.例文帳に追加

この模擬欠陥１３が欠陥検査装置の走査ラインに対して斜めになるように、模擬欠陥サンプル１０を欠陥検査装置に取り付ける。 - 特許庁

When the pump 12 is operated in the constant number of rotations, the sample gas 7 is sucked toward the zero gas line 6 and zero gas is refined by a refining mechanism 2.例文帳に追加

また、ポンプ１２を一定の回転数で運転すると、サンプルガス７はゼロガスライン６側に吸引され、精製機構２によりゼロガスが精製される。 - 特許庁

To provide a magnetic apparatus having a multi-dimensional gradient for continuous on-line separation of components from a mixture of chemical substances such as a whole blood sample.例文帳に追加

化学的物質の混合物、例えば全血サンプルから成分を連続的にオン−ラインで分離するための多次元的勾配を有する磁気装置を提供する。 - 特許庁

A pump 15 is connected through a third selector valve 14 to an opening at one end of a sample discharge chamber 11 which comprises the horizontal line part of the tee-pipe.例文帳に追加

そのＴ字管９の水平管路部分からなる試料排出室１１の一端開口部に第３開閉弁１４を通じてポンプ１５を接続する。 - 特許庁

To provide a method of accurately and rapidly detecting and/or quantitatively determining a bone mixing into a solid sample with a production line, and to provide a device for it.例文帳に追加

固体試料に混入する骨を、生産ラインで正確かつ迅速に検出及び／又は定量する方法及びそのための装置を提供する。 - 特許庁

In this X-ray diffraction device, an X-ray radiated from an X-ray source F is regulated by a divergence slit 2 and irradiated to the sample S, and a diffraction line R_2 emitted from the sample S is detected by an X-ray detector 10.例文帳に追加

Ｘ線源Ｆから放射されたＸ線を発散スリット２によって規制して試料Ｓに照射し、試料Ｓから出た回折線Ｒ_２をＸ線検出器１０によって検出するＸ線回折装置である。 - 特許庁

The solid-state imaging apparatus 1 comprises a column amplifier 101, a clamp capacitor 102, a sample/hold transistor 103, a sample/hold capacitor 104, a transistor 105, a transistor 106, a control terminal 107, a reference power source 108, and a vertical signal line 109.例文帳に追加

固体撮像装置１はカラムアンプ１０１、クランプキャパシタ１０２、サンプルホールドトランジスタ１０３、サンプルホールドキャパシタ１０４、トランジスタ１０５、トランジスタ１０６、制御端子１０７、基準電源１０８及び垂直信号線１０９を備えている。 - 特許庁

The sample in the separation medium 33 housed in the sample separation part 31 is migrated toward the second opening 36 along the line of electric force to be separated and discharged from the second opening 36 to be suctioned by an suction member 6.例文帳に追加

サンプル分離部３１に格納された分離媒体３３中のサンプルは、上記電気力線に沿って、第２開口３６に向かって泳動分離し、第２開口３６から排出されて吸着用部材６へ吸着する。 - 特許庁

The light from the beam spot is detected by an oblique detection system having an optical axis inclined at a predetermined angle of inclination with respect to the surface of the sample and an upper detection system having an optical axis along the normal line of the surface of the sample.例文帳に追加

試料の表面に対して所定の傾斜角にて傾斜した光軸を有する斜方検出系と試料の表面の法線に沿った光軸を有する上方検出系によって、ビームスポットからの光を検出する。 - 特許庁

Laser beams generated from laser light sources (1, 2 and 3) are converted into light beams having divergence along one direction by the line shaped optical beam generator (12) and are projected onto a sample (25) through a beam deflector (18) to scan the surface of the sample.例文帳に追加

そして、レーザ光源(1，2，3)から発生したレーザビームをライン状光ビーム発生装置(12)により一方向に発散性を有する光ビームに変換し、ビーム偏向装置(18)を介して試料(25)に投射し、試料表面を走査する。 - 特許庁

The light from the beam spot is detected by an oblique detection system having an optical axis inclined at a predetermined angle of inclination with respect to the surface of the sample and an upper detection system having an optical axis along the normal line of the surface of the sample.例文帳に追加

試料の表面に対して所定の傾斜角にて傾斜した光軸を有する斜方検出系と試料の表面の法線に沿った光軸を有する上方検出系によって、ビームスポットからの光を検出する。 - 特許庁

The sample S is uniformly heated using a heater (uniform heating means) 14 or a part of the sample S is locally heated using an ignition line (local heating means) 12, thus the titanium based hydrogen storage alloy is burnt and synthesized.例文帳に追加

ヒータ（均一加熱手段）１４を用いて試料Ｓを均一に加熱するか、又は着火線（局所加熱手段）１２を用いて試料Ｓの一部を局所的に加熱することにより、チタン基水素吸蔵合金が燃焼合成される。 - 特許庁

The fellow micro sample blocks 10 are connected in series via a connection rib 60, one end of the outermost micro sample block 10 in the each line is connected to a protrusion part 70a of an outer frame 70 via a connection rib 80.例文帳に追加

微小試料台１０同士は、連結リブ６０を介して直列に連結され、各列において最も外側にある微小試料台１０の一端が接続リブ８０を介して外枠７０の突起部７０ａに接続されている。 - 特許庁

When the sample S is at the measurement position Ps, by making the balance beam 23b to linearly slide in the arrow A direction subsequently to with an axial line X0 as center, to thereby carry the sample S to the distant position Pr.例文帳に追加

試料Ｓが測定位置Ｐｓにある状態で天秤ビーム２３ｂを矢印Ａ方向へ直線スライド移動させ、さらに軸線Ｘ０を中心として旋回させることにより、試料Ｓを離隔位置Ｐｒへ持ち運ぶことができる。 - 特許庁

An output data creation section 6 adds the auxiliary value for each sample which is calculated in the auxiliary value calculation section 4 to the value on the straight line for connecting the adjoining the local minimal point and the local maximal point at timing of each sample, and outputs it.例文帳に追加

出力データ生成部６は、補正値算出部４で算出した各サンプルについての補正値を、各サンプルのタイミングにおける、隣接する極小点と極大点とをつなぐ直線上の値に加算して出力する。 - 特許庁

A sampling transistor 3A turns on in response to a control signal supplied from a scan line WSL 101 to sample and hold a video signal supplied from a signal line DTL 101 in a holding capacitor 3C.例文帳に追加

サンプリング用トランジスタ３Ａは、走査線ＷＳＬ１０１から供給される制御信号に応じてオンし、信号線ＤＴＬ１０１から供給される映像信号をサンプリングして保持容量３Ｃに保持する。 - 特許庁

A sampling transistor 3A conducts according to a control signal supplied from a scanning line WSL101 to sample a signal potential supplied from a signal line DIL101 and holds the potential in a holding capacitor 3C.例文帳に追加

サンプリング用トランジスタ３Ａは、走査線ＷＳＬ１０１から供給された制御信号に応じて導通し、信号線ＤＴＬ１０１から供給された信号電位をサンプリングして保持容量３Ｃに保持する。 - 特許庁

In a sample hold signal generation circuit 10, a minimum period out of periods B of a line synchronizing signal outputted from a line synchronizing signal period measuring instrument 11 is extracted by a minimum period extraction circuit 12.例文帳に追加

サンプルホールド信号生成回路１０において、ライン同期信号周期測定器１１から出力されたライン同期信号の周期Ｂのうち最小の周期を最小周期抽出回路１２で抽出する。 - 特許庁

Prior to a read of an image of an object OB to be inspected, a reference sample for correction which has a reference line is prepared and held on the table 1 so that the reference line is almost parallel to a vertical scanning direction Y, and the reference sample for correction is read by an image reader to obtain an image for correction.例文帳に追加

検査対象物ＯＢの画像読取に先立って、基準線を有する補正用基準試料を準備し、その基準線が副走査方向Ｙと略平行となるように補正用基準試料をテーブル１上に保持するとともに、画像読取装置により補正用基準試料を読取って補正用画像を得る。 - 特許庁

By also using the transmission line connected to a DUP (duplexer) as an antenna that illuminates the sample to be measured with the test signal and that receives a noise electro-magnetic wave component generated in the sample to be measured, a defect of an electronic device can be detected in non-contact with the sample to be measured.例文帳に追加

ＤＵＰに接続された伝送線路を、試験信号を被測定試料に照射するアンテナおよび被測定試料で発生する雑音電磁波成分を受信するアンテナとして共用することにより、被測定試料と非接触状態で、電子デバイスの不良検出を行うことが可能である。 - 特許庁

A distributed coupler comprising a first conductive line carrying a main signal between two end terminals, a second conductive line coupled to the first conductive line and carrying a sample signal proportional to the main signal between two end terminals, and two capacitors connected respectively to the two terminals of both lines.例文帳に追加

２つの端子間で主信号を送信する第１の導電線路と、第１の導電線路に結合され、２つの端子間で主信号に比例するサンプル信号を流す第２の導電線路と、各線路の２つの端子にそれぞれ接続する２つのキャパシタとを有する分散型結合器。 - 特許庁

Countermeasures against failure factors including a hardware factor such as a backlash due to which no movement is made at a correct angle using a stage having no sample rotating stage, are taken, and the wiring line is continuously displayed even on accurate movement to an end of the long wiring line to detect the failure position during automatic multiple-time reciprocation between both ends of the wiring line.例文帳に追加

試料回転ステージのないステージでバックラッシュ等の正しい角度で移動しないハード要因を含めて対策し、正確に長い配線の端まで移動しても配線を表示し続け、自動で配線の両端まで数往復する間に不良位置を検出する。 - 特許庁

A decision is made whether an interested pixel is included in a halftone part or not, and if it is not included, a decision is made whether a pattern of 3×3 matrix of 9 pixels including the interested pixel matches a level difference pattern, an oblique line pattern, a longitudinal line pattern or a lateral line pattern, previous prepared as a sample, or not.例文帳に追加

注目画素がハーフトーン部に含まれるか否かを判定し、含まれない場合には、注目画素を含む９個の画素よりなる３×３マトリクスのパターンが、あらかじめサンプルとして用意された段差パターン、斜め線パターン、縦線パターンまたは横線パターンと一致するか否かを判定する。 - 特許庁

This sample hold signal forming circuit 10 includes a line synchronizing signal periodically measuring instrument 11, a minimum cycle extracting circuit 12, a first calculator 13a, a timing forming counter 14, a sample hold signal formation comparing apparatus 15, and a noise masking apparatus 18 and so forth.例文帳に追加

サンプルホールド信号生成回路１０はライン同期信号周期測定器１１、最小周期抽出回路１２、第一の演算器１３ａ、タイミング生成カウンタ１４、サンプルホールド信号生成比較器１５、ノイズマスク装置１８等を備えている。 - 特許庁