「sample manipulator」に関連した英語例文の一覧と使い方 - Weblio英語例文検索

MANIPULATOR AND PROBE DEVICE AND SAMPLE PREPARATION DEVICE USING THE SAME例文帳に追加

マニピュレータおよびそれを用いたプローブ装置、試料作製装置 - 特許庁

This is related to the manipulator for an optical instrument, especially for a particle optical instrument, especially a lens stop manipulator in an electron microscope or a sample manipulator.例文帳に追加

本発明は光学機器、特に粒子光学機器用マニピュレータ、特に電子顕微鏡における絞りマニピュレータまたは試料マニピュレータに関する。 - 特許庁

In addition, a mechanical connection between the manipulator 4 and the sample carrier 3 is shown in the drawing.例文帳に追加

加えて、マニピュレータ４とサンプル・キャリア３の間に機械的結合が図示される。 - 特許庁

The manipulator device also includes one manipulator and a focus stage for focusing on the sample, and by providing a means for integrally actuating the manipulator and the focus stage or synchronizing the manipulator with the focus stage, the observation can be similarly achieved for the second movable stage while keeping the sample placed on the first stage and the manipulator needle in the focused state.例文帳に追加

また、１つのマニピュレータと、試料と焦点を合わせるためのフォーカスステージを有し、これらが一体、あるいは同期させる手段を具備することで第一のステージに載置された試料の焦点と操作針の焦点が同一の状態のまま、移動可能な第二のステージも同様な状態で観察が可能となる。 - 特許庁

The sample carrier 3 is operated so that the sample carrier 3 connected to the sample 1 becomes much larger than the (microscopic) sample 1, whereby the operation of the microscopic sample 1 mounted on the macroscopic manipulator by use of the manipulator can be facilitated more than the operation of the sample 1 without using the sample carrier 3 to be mounted on the sample 1.例文帳に追加

サンプル１に接続されたサンプル・キャリア３が（微視的）サンプル１より大幅に大きくなるようにして、そしてサンプル・キャリア３を操作することによって、（巨視的な）マニピュレータを用いた該マニピュレータに取り付けられた微視的サンプル１の操作が、サンプル１に取り付けられるサンプル・キャリア３無しでのサンプル１の操作より容易になる。 - 特許庁

To surely take out a micro sample using a microscope with a manipulator.例文帳に追加

マニピュレータ付顕微鏡を用いた微小試料の取り出しをより確実に実行する。 - 特許庁

To provide a manipulator system capable of surely, easily and rapidly replacing a minute sample, a manipulator control program and a suction method.例文帳に追加

確実、簡便かつ迅速に微小試料等の移し替え可能なマニピュレータシステム、マニピュレータ制御プログラム及び吸入方法を提供する。 - 特許庁

According to this invention, a sample carrier 3 is left as it is connected to a sample 1, and separated from a manipulator 4.例文帳に追加

本発明によれば、サンプル・キャリア３は、サンプル１と接続したまま残され、サンプル・キャリア３はマニピュレータ４から分離される。 - 特許庁

To provide a manipulator to support a sample or the like in a charged particle beam apparatus or the like.例文帳に追加

荷電粒子ビーム装置等における試料等を支持するためのマニュピレータを提供する。 - 特許庁

To provide a manipulator equipped with a probe for pickup having a groove to support a sample.例文帳に追加

試料を支持するための溝を有するピックアップ用プローブを備えたマニピュレータを提供する。 - 特許庁

The device comprises a sample chamber which enables atmosphere control, a sample holder 14 which introduces a volatile substance containing sample in the sample chamber, a scanning electron microscope for observing this sample held, a manipulator which samples the sample held in the sample holder 14, and a sample holder 15 for taking out the sample sampled to the outside of the sample chamber 2.例文帳に追加

雰囲気制御が可能な試料チャンバー２、試料チャンバー内に揮発性物質含有試料を導入する試料ホルダー１４、この保持された試料を観察するための走査電子顕微鏡、試料ホルダー１４に保持された試料をサンプリングするマニピュレータ、サンプリングされた試料を試料チャンバー２の外部に取り出すための試料ホルダー１５を具備する。 - 特許庁

To extract a frozen hydrated sample for TEM (transmission electron microscope) inspection, such as a vitrified biological sample, from a substrate and to attach the sample to a manipulator.例文帳に追加

ＴＥＭ（透過型電子顕微鏡）検査のために、例えばガラス化した生体サンプル等の凍結した含水サンプルを基板から抽出し、該サンプルをマニピュレータに取り付ける。 - 特許庁

To provide an optical element fixing member which facilitates sample observation using a manipulator.例文帳に追加

マニピュレータを用いた試料の観察を行ない易くすることができる光学素子固定部材を提供する。 - 特許庁

The sample stage 9 can make a coarse motion, a micromotion, a rotation and a tilting motion with a manipulator 10.例文帳に追加

試料ステージ９はマニピュレータ１０により粗動および微動と回転動作、傾斜動作ができる。 - 特許庁

A bond is formed between the sample 1 and the manipulator 10 by melting or sublimating a part of the sample material outside the area to be observed in the TEM and freezing the material to the manipulator 10.例文帳に追加

サンプル物質のうち、ＴＥＭにて観察される領域の外側の一部を溶解あるいは昇華させ、且つ該物質をマニピュレータ（１０）に凍結させることにより、サンプル（１）とマニピュレータとの間に接合が形成される。 - 特許庁

This apparatus is equipped with a focused ion beam optical system and electron optical system in the same evacuation device and a manipulator, to separate a trace sample, including a desired region of the sample by a charged particle beam molding work and to pick up the separated trace sample, and a manipulator control device for driving the manipulator, independently of a wafer sample board.例文帳に追加

上記課題を解決するために本発明装置では、同一真空装置に集束イオンビーム光学系と電子光学系を備え、試料の所望の領域を含む微小試料を荷電粒子線成型加工により分離し、分離した該微小試料を摘出するマニピュレータと、該マニピュレータをウェーハ試料台と独立に駆動するマニピュレータ制御装置を備えた。 - 特許庁

In a preferred embodiment, a part 2 of the manipulator 10 is held at a cryogenic temperature, and the melting or sublimation is caused by heating the tip 3 of the manipulator by electric heating of the tip and then cooling the tip of the manipulator to a cryogenic temperature, thereby freezing the sample 1 to the manipulator.例文帳に追加

好適な一実施形態において、マニピュレータ（１０）の一部（２）は極低温に保持され、マニピュレータの先端部（３）が該先端部の電気的加熱によって加熱されることによって溶解又は昇華が引き起こされ、その後、マニピュレータの先端部が極低温まで冷却されることにより、サンプル（１）がマニピュレータに凍結される。 - 特許庁

This electronic microscope is provided with a manipulator 10 capable of gripping a minute sample 30 by a plurality of fingers 15, 16 in a vacuum sample chamber 2 to perform minute turn, travel, and open operations.例文帳に追加

電子顕微鏡において、真空の試料室２内で複数の指片１５，１６により微小試料３０を掴んで微小な回動，移動，開放動作が可能なマニュピレータ１０を備える。 - 特許庁

In order to bring a probe 20a of a manipulator 18a into contact with a prescribed position of a sample 4, the distance in the Z-direction of movement of a stage 16 and movement by the manipulator 18a must be known beforehand.例文帳に追加

試料４の所定位置にマニピュレータ１８ａの探針２０ａを接触させるためには、ステージ１６の移動とマニピュレータ１８ａによって移動させるＺ方向の距離があらかじめ分かっていなければならない。 - 特許庁

Hereby, the distance in the Z-direction between the surface position of the sample 4 and the position of the probe 20a of the manipulator 18a is required to be measured.例文帳に追加

このため、試料４の表面位置とマニピュレータ１８ａの探針２０ａの位置との間のＺ方向の距離を測定する必要がある。 - 特許庁

The manipulator system includes a sample table 7, an automatic pipet 6, an XYZ stage 51, a microcamera 4 and a PC3 (personal computer).例文帳に追加

試料テーブル７と、自動ピペット６と、ＸＹＺステージ５１と、顕微鏡カメラ４と、ＰＣ３（パーソナルコンピュータ）と、を備えたマニピュレータシステムを構成する。 - 特許庁

The sample 1 is cut to a block shape in a chamber of a focused ion beam (FIB) device, the sample block (bulk) 4 is taken out of vacuum and is brought into contact with a glass probe 5 set at the tip of a manipulator to be supported.例文帳に追加

集束イオンビーム装置のチャンバ内で試料１をブロック状に切り出し、その試料ブロック（バルク）４を真空外に取り出して、マニピュレータの先端にセットしたガラスプローブ５に接触させて支持する。 - 特許庁

To provide a technique capable of transferring surely a TEM sample to a fixing block by a probe of a manipulator, while observation-confirming a cut-separated condition by an SIM image, in a method for cutting out and preparing the TEM sample from a sample main body by an FIB device.例文帳に追加

試料本体からＴＥＭ試料をＦＩＢ装置によって切り出して作成する方法において、切り離し状態をＳＩＭ像で観察確認しながら、マニピュレータのプローブによって確実に固定台まで移送できる手法を提示する。 - 特許庁

To provide a manipulator capable of detecting force of an operation needle applied to a sample by observing the operation needle in an observation view of a microscope.例文帳に追加

操作針の被検体に対して作用する力を、顕微鏡の観察視野下で操作針を観察することにより検出する、マイクロマニピュレータを提供する。 - 特許庁

In this sampling tool of a micro-manipulator having a sampling needle for sampling a micro sample, a projection is provided on the tip of the sampling needle.例文帳に追加

微小試料を採取する為のサンプリングニードルを有するマイクロマニピュレータのサンプリング用治具において、前記サンプリングニードルの先端部に、突起を有する。 - 特許庁

Resultantly, the state of a sample 11 can be easily checked only by taking an eye off the eye contact part of the microscope and turning the eye line downward as shown in 20A of the Fig.1 and the observation of sample images, check of sample state and manipulator operation etc. can be smoothly performed.例文帳に追加

その結果、２０Ａのように顕微鏡の接眼部から眼を離して視線を下方に落とすだけで試料１１の状態を容易に確認することができ、試料像の観察と試料状態の確認やマニュピレータ操作等をスムーズに行うことができる。 - 特許庁

To provide a focused ion beam device for fixing a sample on a sample holder by changing its direction without requiring a tilting mechanism by using a fine pincette and its rotation mechanism as a manipulator, when performing processing by the focused ion beam device.例文帳に追加

集束イオンビーム装置による加工の際、マニピュレータとして微小ピンセットとその回転機構とを用いることで、傾斜機構を必要とせずに試料の向きを変えて試料ホルダへ固定可能な集束イオンビーム装置を提供する。 - 特許庁

This charged particle beam device is provided with a sample stage having a heating means and the small thermocouple, a manipulator for moving the small thermocouple, a reactive gas source for fixing the small thermocouple to the sample, and a cooling gas source for quickly cooling.例文帳に追加

また、本発明の荷電粒子ビーム装置は、加熱手段と小型熱電対とを有する試料ステージ、該小型熱電対を移動させるためのマニピュレータ、該小型熱電対を試料に固定するための反応ガス源および急冷のための冷却ガス源を備えたことを特徴とする。 - 特許庁

To allow application favorable for micro-sampling carried out by sampling, for example, 50 μm or less of sample, in combination of a stereoscopic microscope/a CCD camera and a monitor/a micro-manipulator/an ultra-micro- knife.例文帳に追加

実体顕微鏡・ＣＣＤカメラ及びモニター・マイクロマニピュレーター・超マイクロナイフの組み合わせで、例えば５０μｍ以下のサンプルを採取して行うマイクロサンプリングに好ましく適用されるマイクロサンプリングシステム、装置及び分析法並びにマイクロナイフを提供する。 - 特許庁

To provide a method in which a probe can approach so as to accurately and softly come into contact with a minute sample only by operating a manipulator while performing microscope observation without requiring special detection means, and to provide a device for executing the same.例文帳に追加

本発明が解決しようとする課題は、特別な検出手段を要せず顕微鏡観察しながらマニピュレータを操作するだけで微小な試料へプローブが確実に且つソフトに接触するようにアプローチ出来る手法を提示すると共に、それを実行する装置を提供することにある。 - 特許庁

To provide a probe position control method which enables more accurate observation or operation by correcting the change of the relative position of a sample and a probe during observation or operation in a scanning type probe microscope (SPM) or an atomic manipulator (operation) by excluding the effect of a heat drift or the like, and a probe position control device.例文帳に追加

熱ドリフト等の影響を排除し、走査型プローブ顕微鏡(SPM)や原子マニピュレータ(操作)装置において、その観察又は操作の間に試料とプローブの相対位置が熱により変化するのを補正して、より正確な観察又は操作を可能にする位置制御方法及び装置を提供すること。 - 特許庁

A second movable stage is disposed between a microscope and a sample placed on a first stage, and in a state the second movable stage is moved, the center part of the second movable stage is positioned on the optical axis of the microscope, then, the work for the captured foreign substance and the specified part can be easily performed by the manipulator needle within the visual field of the microscope.例文帳に追加

移動可能な第二のステージを顕微鏡と第一のステージに載置された試料との間に配設するとともに移動可能な第二のステージを移動した状態は顕微鏡の光学軸上に移動可能な第二のステージの中心付近に移動されることで、操作針で捕捉した異物や特定部位を顕微鏡の視野範囲で容易に作業ができるようにする。 - 特許庁