「scattered diffraction」に関連した英語例文の一覧と使い方 - Weblio英語例文検索

Since phase contrast at the time of light diffraction can be made small by enlarging the incident angle of the lighting optical system, the scattered light from the substrate can be reduced.例文帳に追加

照明光学系の入射角度を大きくすることにより、光が回折する際の位相差を小さくできるので、基板からの散乱光を低減できる。 - 特許庁

This light guide panel 20 emits an incident light after scattered or/and diffracted in the plurality of light scattering diffraction areas 22, while guiding the light within a thickness range thereof, and the light scattering diffraction areas 22 are constituted to make a light non-scattering non-diffraction clearance of forming a clearance with respect to the adjacent light scattering diffraction area 22 less than 90 μm.例文帳に追加

入射した光を厚み内で導光しながら、複数の光散乱回折領域２２で散乱或いは／及び回折させて出射させる導光板２０であって、前記光散乱回折領域２２は、隣接する光散乱回折領域２２との間隙をなす光非散乱非回折間隙を９０μｍ未満としてある。 - 特許庁

An algorithm which can retrieve the phase of a weakly scattered object from coherent nano-diffraction patterns by successive Fourier analysis is described by Bates and Rodenburg. 例文帳に追加

次々に行われるフーリエ解析によるコヒーレント・ナノ回折図形からの弱く散乱された物体の位相を回復することができるアルゴリズムは、BatesとRodenburgによって記述される。 - 科学技術論文動詞集

Although scattering and diffraction of the beam flux by the shielding plate 18c is afraid therein, scattered light and diffraction light are regulated not to be image-focused on a photoreception face, by combination with the objective lens in an embodiment of the present invention, so as to solve the anxiety.例文帳に追加

ここで遮光板（１８ｃ）によるビーム光束の散乱、回折が懸念されるが、本実施例では対物レンズとの組合せにより、そうした散乱光や回折光が受光面に結像しない調整とすることで、解消することができる。 - 特許庁

To accurately analyze a constituent by reducing stray light in the light reception of scattered light as much as possible and at the same time by efficiently condensing dim Raman scattered light in a Raman spectroscopy for analyzing the constituent on a sample surface by a horizontal resolution of at least diffraction limit by utilizing the Raman scattered light due to near-field light.例文帳に追加

試料表面の成分解析を近接場光によるラマン散乱光を利用して回折限界以下の水平分解能で行うラマン分光方法において、散乱光を受光する際の迷光を極力低減しながら、微弱光であるラマン散乱光を効率よく集光することにより、より精密な成分解析を可能とする。 - 特許庁

A line sensor 8 detects all components of the reflection light, the scattered light, and the diffraction light in the optical axis, where a light reception angle β2 is an elevation angle and a difference angle from the beam becomes nearly 0°.例文帳に追加

ラインセンサ８は、受光角β２が仰角で、かつ、前記ビームとの差角がほぼ０°となる光軸にて、反射光、散乱光、および回折光のすべての成分を検出する。 - 特許庁

After performing spectral diffraction of light in a spectral diffraction part, a captured angle of received light is changed per wavelength, and the captured angle is enlarged for light of a wavelength having a small light quantity, and the captured angle is reduced for light of a wavelength to be used in analysis accompanied by the scattered light.例文帳に追加

分光部で光を分光した後，波長ごとに受光する光の取り込み角度を変え，光量の少ない波長の光は取り込み角度を大きくし，光量が大きく，散乱光を伴う分析に使用する波長の光は取り込み角度を小さくする。 - 特許庁

The diffraction optical element recording interference fringes while using the scattered light from a road sign board for a substance as body light is used as the diffraction optical element 10, the road sign as a reproduced image (20r or 20i) is displayed in the tunnel 2 by receiving reproduced illuminating light 13.例文帳に追加

回折光学素子１０は、実物の道路標識板の散乱光を物体光として干渉縞を記録した回折光学素子であり、再生照明光１３を受けることにより、トンネル２内に、再生像（２０ｒあるいは２０ｉ）としての道路標識を表示させる。 - 特許庁

Two different-phase components of interference light due to scattered light from the measured object 16 divided by a diffraction grating 3 are guided respectively to first and second PDs 21, 22 by a second optical system.例文帳に追加

被測定物１６からの散乱光による干渉光が回折格子３により分割された２つの異なる位相成分を第１,第２ＰＤ２１,２２に第２光学系により夫々導く。 - 特許庁

The method for X-ray analysis of the sample includes directing of a beam of X-rays to impinge on an area of the periodic feature on the surface of the sample, and receiving the X-rays scattered from the surface in a reflection mode so as to detect a diffraction spectrum in the scattered X-rays as a function of the azimuth.例文帳に追加

試料をＸ線解析する方法は、試料の表面上の周期構造の領域に衝突するようにＸ線ビームを方向付け、方位角の関数として散乱Ｘ線の回折スペクトルを検出するように反射モードで表面から散乱したＸ線を受け取ることを含む。 - 特許庁

Thus, a laser beam L leaking from a fuse element to be cut to the semiconductor substrate side is absorbed by the attenuation member 140, consisting of the plurality of columnar bodies and scattered by Fresnel diffraction.例文帳に追加

これにより、切断すべきヒューズ素子から半導体基板側へ漏れ出したレーザビームＬは、複数の柱状体によって構成された減衰部材１４０によって吸収されるとともに、フレネル回折によって散乱する。 - 特許庁

The metal tungsten films like scattered dots are preferably deposited by sputtering, and the crystalline diameter of the films is preferably controlled to 1 to 20 nm calculated from the half-width in the X-ray diffraction according to Sheller formula.例文帳に追加

この散点状の金属タングステン被膜は、スパッタリング法によって好適に形成することができ、結晶子径を、シェラーの式によりＸ線回折の半価幅から計算した値で１〜２０ｎｍに調整することが好ましい。 - 特許庁

A line sensor 6 detects the component of a P-polarization beam to the surface of the substrate 1 to be inspected in reflection light, scattered light, and diffraction light in the optical axis, where a light reception angle β1 is an acute angle and a difference angle from the beam is less than 30°.例文帳に追加

ラインセンサ６は、受光角β１が鋭角で、かつ、前記ビームとの差角が３０°以内となる光軸にて、反射光、散乱光、および回折光中の被検査基板１の表面に対してＰ偏光の成分を検出する。 - 特許庁

Since the diffracted light caused by the pseudo diffraction grating by the many particles P is detected, the signal intensity can be heightened, and the sensitivity and the S/N ratio can be improved, compared with the case where fluctuation of scattered light caused by the individual particle is detected as in the dynamic scattering method.例文帳に追加

多数の粒子Ｐによる擬似的回折格子による回折光を検出するので、動的散乱法のように個々の粒子による散乱光の揺らぎを検出する場合に比して、信号強度が強く、感度およびＳ／Ｎの向上を可能とする。 - 特許庁

Thereby, an input light directed to the mirror 43 is partially scattered at the rim part of the mirror 43, and diffraction light generated by its mutual interference is not generated in the arrangement direction so that optical crosstalk due to leakage of a signal light to another output port can be reduced.例文帳に追加

これにより、ミラー４３に照射された入力光の一部がミラ４３ーの縁部で散乱し、かつ、これらが互いに干渉して生じる回折光は、上記配列方向上に生じないので、他の出力ポートに信号光が漏れ込む光クロストークを低減させることができる。 - 特許庁

The scattered beam from the foreign substance AP attached to the glass plane RG can be separately detected from diffraction beam depending on a reticle pattern, by mutually comparing and analyzing a plurality of intensity distributions obtained, thereby enabling the foreign substance AP to be detected precisely.例文帳に追加

求められた複数の強度分布を相互に比較して解析することにより、レチクルパターンによる回折光からガラス面ＲＧ上に付着した異物ＡＰによる散乱光を分離して検出することができるので、精度良く異物ＡＰを検出することが可能となる。 - 特許庁

To obtain an optical scanner in which the returning light from a diffraction face is attenuated, diffracted light of unnecessary order or scattered light is effectively eliminated, to provide an optical write-in apparatus, and to provide an image forming apparatus in which a high quality picture is formed by using the optical write-in apparatus.例文帳に追加

回折面による戻り光を減衰させ、また、不要次数の回折光や散乱光を有効に除去することができる光走査装置、光書込み装置、およびこれを用いることによって高画質の画像を形成することができる画像形成装置を得る。 - 特許庁

The diffraction of the signal light is induced by changing the width of a part of cores or disposing discontinuous parts of refractive indices, by which the electric power of a waveguide mode which is the form of the light propagating in the channel waveguides 6 for output without loss is partly scattered and the variation in the loss is suppressed.例文帳に追加

コア12の一部の幅を変えたり、屈折率の不連続部を設けて信号光の回折を生じさせることにより、出力用チャネル導波路６を損失なく伝搬する光の形態である導波モードの電力の一部が散乱し、損失のばらつきが抑制される。 - 特許庁

A position relation between an external shape and the crystal orientation of a specimen is clarified by comparative measurement using a reference sample having a clear position relation between the external shape and the crystal orientation on the same sample coordinate, by using a back-scattered electron beam diffraction pattern method (EBSP method).例文帳に追加

後方散乱電子線回折パターン法（ＥＢＳＰ法）を用いて、同じ試料座標上で外形形状と結晶方位の位置関係が明確な基準試料を用いて比較測定する事で、被検体の外形形状と結晶方位の位置関係を明確にする。 - 特許庁

The space intensity distribution of the diffracted and scattered light obtained by irradiating the dust collecting electrode 4 with laser beam is measured, whereby the particle size distribution of the floating particulate matter P can be measured with high resolution in a wide particle size range on the basis of laser diffraction and scattering method.例文帳に追加

また、その集塵電極４に対してレーザ光を照射して得られる回折・散乱光の空間強度分布を測定することにより、レーザ回折・散乱法に基づいて浮遊粒子状物質Ｐの粒度分布を広い粒径範囲で高分解能のもとに測定することを可能とする。 - 特許庁

An image processing device with dark-field detectors divided into a plurality of numbers and memories for making the detectors store images is provided that can recognize diffraction contrast detected in a specific direction from a plurality of sheets of images obtained from the divided detectors as well as Z contrast scattered in a uniform direction, and make selection of each contrast as well as clearly display diffraction contrast parts by coloring the same.例文帳に追加

上記課題を解決するために、複数に分割された暗視野検出器と、当該検出器に画像を記憶するメモリーを備え、分割された検出器から得られる複数枚の画像から特定方向に検出される回折コントラストと一様な方向に散乱されるＺコントラストを認識し、各コントラストの取捨選択や回折コントラスト部に色をつけ回折コントラスト部を明示できるような画像処理装置を備えた。 - 特許庁

By laminating holograms having different diffusing characteristic such as the hologram diffusing body for controlling an illumination pattern and the diffraction grating for controlling scattering intensity in the illumination pattern, the diffuse reflection plate having such scattering characteristic that the illumination pattern exists in scattered light and the scattering intensity is uniform in the pattern is obtained.例文帳に追加

照明パターンの制御をするホログラム拡散体や照明パターン内の散乱強度を制御する回折格子など異なる拡散特性を持つホログラムを積層することにより、散乱光に照明パターンがありかつパターン内で散乱強度が一様となるような散乱特性を持つ拡散反射板が得られる。 - 特許庁

Light L2 comprising Raman scattered light emitted from the sample 111 and background light emitted from the substrate 110 is spectrally diffracted by a diffraction grating 155, and a spectrum intensity signal is measured by a photodiode 157, and a signal synchronized with 1 kHz is detected from the spectrum intensity signal by a lock-in amplifier 160.例文帳に追加

試料１１１から発せられるラマン散乱光および光電場増強基板１１０から発せられるバックグランド光からなる光Ｌ２を回折格子１５５により分光して、フォトダイオード１５７によりスペクトル強度信号を測定し、ロックインアンプ１６０により、このスペクトル強度信号から、１ｋＨｚに同期した信号を検出する。 - 特許庁