「static reference」に関連した英語例文の一覧と使い方(2ページ目) - Weblio英語例文検索

Namely, the method of making the light emission time of the light emission panel be shorter than the reference light emission time is employed while controlling the peak luminance to be visually observed so as to be maintained constant by determining whether an animation image frame or a static image frame by the frame unit and when the animation image frame is determined.例文帳に追加

すなわち、フレーム単位で動画フレームか静止画フレームかを判定し、動画フレームと判定された場合には、視認されるピーク輝度が一定に保たれるように制御しつつ、発光パネルの発光時間を基準発光時間よりも短縮する手法を採用する。 - 特許庁

In this three-dimensional positioning device 10, a plurality of coil springs 150 energize a guide plate 78 to the reference plane 14 side of the surface plate 12 by anti-floating force F smaller than floating force generated in the guide plate 78 by the compressed air supplied via a static pressure pad 130.例文帳に追加

三次元位置決め装置１０では、複数個のコイルスプリング１５０が、静圧パッド１３０を通して供給される圧縮空気によりガイドプレート７８に生じる浮上力よりも、小さい反浮上力Ｆによりガイドプレート７８を定盤１２の基準平面１４側へ付勢する。 - 特許庁

For a digitizer of a construction that surface resistances of two layers mutually conduct at a depressed point, a pulse drive, instead of a static DC drive, that is dynamic and repeated at a fixed interval is used, the high side or low side of the pulse is set as the reference voltage level, and a detection signal is measured through a smoothing circuit.例文帳に追加

二層の面抵抗が押圧点で互いに導通する構造のディジタイザの場合、スタティックなＤＣ駆動ではなく、ダイナミックな、一定周期で繰り返すパルス駆動とし、このパルスのハイ側またはロー側を基準電圧レベルとし、検出信号を平滑回路を介して計測する。 - 特許庁

A reference voltage for threshold voltage detection is supplied to the gate of the driver element 22 while the light emitting element 24 is off, as well as an almost equal voltage to the gate voltage is supplied to the source so as to detect the threshold voltage between the gate-drain electrodes and store in the static capacitor 23.例文帳に追加

発光素子２４がオフの状態で、閾値電圧検出基準電圧をドライバー素子２２のゲートに供給すると共に、ソースにゲート電圧とほぼ同一の電圧を供給してゲート・ドレイン電極間の閾値電圧を検出し、これを静電容量２３に蓄える。 - 特許庁

On the other hand, when the obstacle is a static object and when the absolute value of a difference between the gradient value G0 of the self-vehicle and the front gradient value Gf is equal to or larger than the reference value C2, the relevant threshold Ct is set to Ct2 smaller than Ct1 to make the safety system 500 difficult to operate.例文帳に追加

一方、障害物が静止物体であり、且つ自車勾配値Ｇ０と前方勾配値Ｇｆとの差分の絶対値が基準値Ｃ２以上である場合には、係る閾値Ｃｔが、Ｃｔ１よりも小さいＣｔ２に設定され、安全システム５００が作動し難くされる。 - 特許庁

A central processing part 1 intermittently executes a program stored in a program memory 2, and stores the number of references from variables in a heap memory 4 or a static variable storing part 7 as a reference count number in the heap memory 4 by making it correspond to a memory region, and opens the memory region whose reference count number is 0 each time the execution of the processing of the program is ended.例文帳に追加

中央処理部１が、プログラムメモリ２に格納されたプログラムを断続的に実行し、ヒープメモリ４または静的変数記憶部７内の変数からの参照の数を参照カウント数として、ヒープメモリ４内にメモリ領域に対応づけて格納し、プログラムの処理が実行終了するごとに、参照カウント数が０であるメモリ領域を開放するガベジコレクション処理を行うメモリ管理方法及びメモリ管理装置である。 - 特許庁

If a rotary substrate 20 is disposed opposite to a stationary substrate 30, static capacities C1 and C2 are formed between first and second reference electrodes 32 and 33 and first and second stationary electrodes 22 and 23, and variable capacities Cv1 and Cv2 are formed between first and second stationary electrodes 34 and 35 and a first and a second movable electrodes 24 and 25.例文帳に追加

固定基板３０に回転基板２０を対向させると、第１，第２の基準電極３２，３３と第１，第２の固定電極２２，２３との間に静電容量Ｃ１，Ｃ２が形成され、第１，第２の固定電極３４，３５と第１，第２の移動電極２４，２５との間に可変容量Ｃｖ１，Ｃｖ２が形成される。 - 特許庁

The testing method for making the determination of good or no-good by means of a current test in static state in a wafer level testing step 5 of the semiconductor integrated circuit is characterized in that the reference current value for judging soundness is determined for each product on the basis of characteristic values of a transistor in a basic characteristics measurement step 2 for determination.例文帳に追加

半導体集積回路のウェハ状態試験工程５での静止状態電流試験によって良否判定を行う検査方法で、その良否判定基準となる基準電流値を基礎特性測定工程２でのトランジスタの特性値を基に製品ごとに決定して判定を行うことを特徴とする。 - 特許庁

The capacitance detection type sensor which is the sensor for detecting the shape of the detection object by detecting the capacitance between the detection object and the detection electrodes arranged on the surface of the sensor is provided with a reference electrode arranged nearby the detection electrodes for detecting the potential of the detection object, and the potential detection part for measuring the detection potential as reference potential based on the static capacitance of the detection electrodes.例文帳に追加

本発明の容量検出型センサは、被検出物とセンサ表面に配設された検出電極との間の静電容量を検出し、この被検出物の形状を検出する容量検出型センサであり、前記検出電極近傍に配置され、被検出物の電位を検出するリファレンス電極と、電位を基準電位として、検出電極における静電容量に基づく検出電位を測定する電位検出部とを有している。 - 特許庁

In this magnetic resonance diagnosing apparatus capable of diagnosing an osteoporosis, the heel is inserted in a high frequency coil disposed in a uniform static magnetic field from the forward end part first, a nuclear magnetic resonance image of a tomographic surface containing the calcaneum is photographed simultaneously with a reference sample by a pulse sequence little influenced by the relaxation time change of the marrow.例文帳に追加

上記課題を解決するため、均一な静磁場の中に置かれた高周波コイル中に、踵の先端部より踵を挿入し、踵骨を含む断層面の核磁気共鳴画像を、基準試料と同時に、骨髄の緩和時間変化の影響が少ないパルス系列で撮像することにより、骨粗鬆症診断を可能とする磁気共鳴診断装置を構築する。 - 特許庁