「test data method」に関連した英語例文の一覧と使い方(4ページ目) - Weblio英語例文検索

METHOD AND PROGRAM FOR TIMING VERIFICATION OF LSI TEST DATA例文帳に追加

ＬＳＩテスト・データのタイミング検証方法およびＬＳＩテスト・データのタイミング検証プログラム - 特許庁

CLINICAL TEST DATA ANALYSIS SUPPORT APPARATUS, METHOD, AND PROGRAM例文帳に追加

臨床検査データ解析支援装置、臨床検査データ解析支援方法及びそのプログラム - 特許庁

To provide an efficient method and system for automatic test data generation for lookup tables.例文帳に追加

ルックアップテーブルのための効率的な自動テストデータ発生方法およびシステムを提供する。 - 特許庁

To provide a built-in data transmitting device and method in a boundary scanning test interface.例文帳に追加

境界走査試験インタフェース中の内蔵データ伝送装置及び方法の提供。 - 特許庁

PRINTER, IMAGE PROCESSOR, PRINTING CONTROL METHOD, PROGRAM, TEST PATTERN DATA, AND RECORDING MEDIUM例文帳に追加

印刷装置、情報処理装置、印刷制御方法、プログラム、テストパターンデータ及び記録媒体 - 特許庁

GENERATING DEVICE FOR TEST PATTERN AND STROBE SIGNAL AND INSERTING METHOD FOR DELAY TIME INTO TIMING DATA例文帳に追加

テストパターンやストローブ信号の発生装置及びタイミングデータへの遅延時間の挿入方法 - 特許庁

TEST DATA COMPRESSION METHOD FOR SYSTEM-ON-CHIP USING RE-SEED FOR LINEAR FEEDBACK SHIFT REGISTER例文帳に追加

線形フィードバックシフトレジスタの再シードを使用するシステムオンチップの試験データ圧縮方法 - 特許庁

To provide a method and a device for facilitating the test and maintenance of a data communication line.例文帳に追加

データ通信回線のテスト及び保守を容易にする方法及び装置を提供する。 - 特許庁

Based on a test method D102 specified from the outside, data of an unnecessary test point is deleted from the design data stored in the storage device 700 by a test point delete section K104, and design data D103 including no unnecessary test point is output by a data output section K105.例文帳に追加

そして、外部から指定されたテスト手法Ｄ１０２に基づいて、記憶装置７００に格納された設計データから、不要なテストポイントのデータがテストポイント削除部Ｋ１０４により削除され、不要なテストポイントを含まない設計データＤ１０３が、データ出力部Ｋ１０５により出力される。 - 特許庁

To provide test equipment and test method for obtaining measured data that allow a sensor unit (1) to recognize error for calibration of analysis unit connected with the sensor unit by using sensor-related data allocation, for example, cable, stored data, that is, data allocation.例文帳に追加

例えば、ケーブルで、保存されたデータで、つまり、データ割当で、センサユニットと接続されている分析ユニットの較正のためにセンサユニット（１）にセンサ関連データ割当で、エラー認識を可能とすることである。 - 特許庁

In generating the source code, a setting method configuring a program for setting the test data of input items is generated as well as the source code, and before the test, the setting method is called, and test data are set, and during the test, the setting method is called, and the display screen is displayed with the test data set in the input items.例文帳に追加

このテスト方法において、ソースコード生成時に、ソースコードと共に入力項目のテストデータを設定するためのプログラムとなる設定メソッドを生成し、テスト実行前に、設定メソッドを呼び出してテストデータを設定し、テスト実行時に、設定メソッドを呼び出して入力項目内にテストデータが設定された状態で表示画面を表示する。 - 特許庁

To provide a test frame composition device and a test frame composition method which can transmit arbitrary large capacity data.例文帳に追加

本発明は、任意の大容量データを送信可能なテストフレーム構成装置及びテストフレーム構成方法の提供を目的とする。 - 特許庁

To provide a test circuit and test method for differential data driver, capable of precisely testing a differential signal, using a simple configuration.例文帳に追加

簡素な構成で精度良く差動信号のテストが可能な差動型データドライバのテスト回路及びテスト方法を提供する。 - 特許庁

DEVICE AND METHOD FOR USING SINGLE eFUSE BANK TO PRESERVE TEST DATA CONTINUOUSLY FROM MULTIPLE TEST STAGE例文帳に追加

多重テスト・ステージからテスト・データを連続的に保存するために単一のｅＦｕｓｅバンクを使用するための装置および方法 - 特許庁

In this method for automatically forming test data, a key code initial value is made to increase and decrease corresponding to an item name constituting the test data by a key code increase and decrease value, the data are made to increase and decrease from an initial value by the increase and decrease value, the data are registered, and the data registration is performed until the registered data number reaches the number of test data.例文帳に追加

テストデータを構成する項目名に対応するキーコード初期値をキーコード増減値ずつ増減させ、データを初期値から増減値ずつ増減させて、データを登録させ、その登録されたデータ数がテストデータの件数となるまでデータ登録を行うようにしてテストデータを自動的に作成している。 - 特許庁

To provide a processor, a memory test method, and a memory test system capable of an operation test of a built-in data memory by a passage similar to a case of making access to the built-in data memory at ordinary operation time (command executing time).例文帳に追加

通常の動作時（命令実行時）に内蔵データメモリにアクセスする場合と同様の経路により内蔵データメモリの動作テストが可能なプロセッサ、メモリテスト方法、メモリテストシステムを提供する。 - 特許庁

TEST PATTERN GENERATING METHOD, DATA STRUCTURE OF TEST PATTERN, TEST PATTERN GENERATING DEVICE, DISPLAY PANEL INSPECTION SYSTEM, CONTROL PROGRAM, AND COMPUTER READABLE RECORDING MEDIUM WITH THE PROGRAM RECORDED THEREON例文帳に追加

テストパターン発生方法、テストパターンのデータ構造、テストパターン発生装置、表示パネル検査システム、制御プログラム、及び該プログラムを記録したコンピュータ読み取り可能な記録媒体 - 特許庁

To provide a method of managing data for a plurality of analyte test instruments connected to a data communication network.例文帳に追加

データ通信ネットワークに接続される複数の被分析物検査器具のためのデータを管理する方法を提供する。 - 特許庁

To provide a test method of a data processor capable of executing a determination test for quality of a plurality of modules in a relatively short time, in a test method of a data processor composed by mounting a plurality of modules having the same function.例文帳に追加

同一機能を有するモジュールが複数個搭載されたデータ処理装置の試験方法において、より短時間で該複数個のモジュールの良品、不良品の判定試験が実施可能なデータ処理装置の試験方法を得ること。 - 特許庁

To provide a memory test device and a memory test method which determines a memory to be faulty, only when an error exists in confidential information data.例文帳に追加

機密情報データに誤りがある場合にのみメモリが不良と判定するメモリ検査装置及びメモリ検査方法を提供すること。 - 特許庁

The method for obtaining the optimal power (electric power) (10) for writing in an optical disk (40) includes a method for executing a power calibration test in which writing test data (30) in a user data area (25) on the optical disc (40) and reading the test data (30) are included.例文帳に追加

光ディスク（４０）に書き込むための最適パワー(電力)を求める方法（１０）であって、前記光ディスク（４０）上のユーザデータエリア（２５）にテストデータ（３０）を書き込むこと、および前記テストデータ（３０）を読み取ることを含むパワー校正テストを実施することを含む方法。 - 特許庁

To provide a test data processing apparatus and a test data processing method for simply determining defects of foreign matter deposited on a surface using a conventional test method and to process data so as not to treat the foreign matter deposited on the surface as defects.例文帳に追加

本発明の目的は、従来の検査方法を用いて、簡単に表面付着異物の欠点を判定し、表面付着異物は欠点として扱わないようにデータ処理する検査データ処理装置及び検査データ処理方法を提供することにある。 - 特許庁

In the method for adjusting the lens for spectacles for the moving astigmatic testee, the eye examination data are obtained in a test stage using an eye test instrument, and the lens is worked and formed on the basis of the examination data.例文帳に追加

特に、移動乱視の被検者に対しては、眼鏡用レンズの調整がうまくいかない場合が多く、かえって眼精疲労の要因にもなっていた。 - 特許庁

To provide a load test system and a load test data creation method, which create data for load tests properly incorporating fluctuation of a machine load due to usage by a user.例文帳に追加

ユーザの使用方法によるマシン負荷の変動を適切に組み込んだ負荷試験のデータを作成することができる負荷試験システムおよび負荷試験データ作成方法の実現 - 特許庁

METHOD AND DEVICE FOR FORMATTING DATA AUTOMATICALLY BASED ON BEST MATCHED TEST RESULT TYPE例文帳に追加

最も適合する試験結果タイプに基づいて自動的にデータをフォーマットする方法及び装置 - 特許庁

METHOD AND APPARATUS FOR TEST GENERATION FROM HYBRID DIAGRAMS WITH COMBINED DATA FLOW AND STATECHART NOTATION例文帳に追加

データ・フロー及びステートチャート表記を組み合わせた混成図からの検査生成方法及び装置 - 特許庁

To provide a method for facilitating test printing of the same data in a plurality of print methods.例文帳に追加

複数の印刷方法で同一データの試し刷りを容易に行える方法を提供する。 - 特許庁

To provide a serial access memory and a data-write/read-method in which a test time can be shortened.例文帳に追加

テスト時間を短縮することが可能なシリアルアクセスメモリおよびデータライト／リード方法を提供する - 特許庁

METHOD AND DEVICE FOR STORING TEST NUMBER USING MAP OF LINKED DATA NODE, AND DATABASE例文帳に追加

リンクされたデータノードのマップを使用してテスト番号を記憶するための方法、装置およびデータベース - 特許庁

To provide a serial access memory and a data write/read method in which a test time is reduced.例文帳に追加

テスト時間を短縮することが可能なシリアルアクセスメモリおよびデータライト／リード方法を提供する。 - 特許庁

In this frame relay line test method, a test packet generated by an identification code, a sequence number, and test data by a different pattern is outputted to one end line 2a test data of this output packet and the sequence number are stored.例文帳に追加

試験用パケットであることを示す識別コード、シーケンス番号、異なるパターンの試験用データによって生成した試験用パケットを一方の末端回線２ａに出力するとともに、この出力パケットの試験用データとシーケンス番号とを記憶する。 - 特許庁

In the testing method for the nonvolatile memory device, test data are stored and held in a buffer in the semiconductor memory device when a test is conducted instead of loading the test data from outside each time memory cells are programmed.例文帳に追加

本発明の不揮発性メモリ装置のテスト方法は、テスト時に、メモリセルがプログラムされるとき毎にテストデータを外部からローディングしてくる代わりに、テストデータを半導体メモリ装置の内部のバッファに貯蔵して置く。 - 特許庁

To provide a method and a system, which conduct a test by automatically creating a test data creation suitable for a test case regardless of existence or nonexistence of past input online journal and regardless of a change in data layout.例文帳に追加

過去の入力オンラインジャーナルの有無に関わらず、かつ、データのレイアウト変更に関わらず、テストケースに適合したテストデータ作成を自動的に生成してテストを実行することができる方法及びシステムを提供する。 - 特許庁

To provide a semiconductor test device and a semiconductor test method in which handling of data is made easy while test efficiency is improved by reducing quantity of data relayed between processes.例文帳に追加

工程間で引き継がれるデータの量を削減可能にすることで、そのデータの取り扱いを容易にするとともに試験効率の向上を図ることができる半導体試験装置及び半導体試験方法を提供する。 - 特許庁

To provide a method for constructing a classifier from training data and detecting moving objects in the test data using the trained classifier.例文帳に追加

本方法は、訓練データから分類器を構築し、訓練された分類器を用いてテストデータ中の移動物体を検出する。 - 特許庁

COMMUNICATION DATA CONFIRMATION TEST METHOD IN MPLS COMMUNICATION SYSTEM, AND ROUTER, EXCHANGE AND COMMUNICATION SYSTEM UTILIZING THE METHOD例文帳に追加

ＭＰＬＳ通信方式における通信データ確認試験方法及びその方法を利用するルータ，交換機，通信システム - 特許庁

To provide a method and a testing system capable of generating common test-condition data to a plurality of testing apparatuses, and generating the test-condition data in each apparatus by taking into consideration a difference in the performance of an apparatus in a short period of time, in the method for generating the test-condition data of the wafer visual testing apparatus.例文帳に追加

ウエーハ外観検査装置の検査条件データを生成する方法において、複数台の検査装置に対する共通の検査条件データを生成し、機差を考慮した装置毎の検査条件データを短時間で生成できる方法及び検査システムを提供する。 - 特許庁

To enhance test quality when test data for a scan-based testing method consist of random numbers and to statically specify and extract portions that degrade the test quality, without using simulations.例文帳に追加

スキャンベースのテスト法においてテストデータが乱数であるときのテスト品質の向上を図り、また、シミュレータを使わずに静的にテスト品質を低下させる箇所を特定、抽出すること。 - 特許庁

The RTL simulation method calculates register 0/1 probability data of each register and the operation rate data of each register in the logic circuit changing according to test data.例文帳に追加

ＲＴＬシミュレーション手段は、テストデータに従って変化する各レジスタの論理回路中のレジスタ０／１確率データとレジスタ毎の動作率データを算出する。 - 特許庁

To provide a simply executable wall magnification simplified test method capable of calculating accurately, based on high correlation data with wall magnification by an in-plane shear test method.例文帳に追加

簡易に実施でき、面内せん断試験方法による壁倍率との相関性の高いデータに基づいて、精度良く算定できる壁倍率簡易試験方法を提供する。 - 特許庁

To improve the diversity of data and to reduce labor for creating test data in the verification method of a system LSI, related to a test data creating device that is characterized by having a description method for information held by a conversion tool for creating the test data and a script converted by the conversion tool.例文帳に追加

システムLSIの検証方法において、試験データを作成するための変換ツールの保持する情報、変換ツールにて変換するスクリプトの記述方法に特徴がある試験データ作成装置に関し、データの流用性が向上するとともに、試験データ作成の労力を削減することを課題とする。 - 特許庁

The system and method generate digital images of printed documents that do not have test pattern data within them.例文帳に追加

インクジェット画像生成システムにおいて、テストパターンデータをもたない印刷物のデジタル画像を生成する。 - 特許庁

IC MEMORY DEVICE AND OPERATING METHOD THAT ARE CONFIGURED TO OUTPUT DATA BIT AT LOW TRANSFER RATE IN TEST MODE OF OPERATION例文帳に追加

テストモードにおいて低い転送速度でデータビットを出力するＩＣメモリ装置及びその動作方法 - 特許庁

TEST METHOD FOR DETECTING DEFECT IN RECORDING DISK AND DATA STORAGE DEVICE FOR EXECUTING THE SAME例文帳に追加

記録ディスクにおける欠陥を検出するためのテスト方法及びそれを実行するデータ記憶装置 - 特許庁

To simultaneously test a first memory and a second memory of which data storage method is different from that of the first memory.例文帳に追加

第１メモリと、第１メモリとはデータの記憶方式が異なる第２メモリとを同時にテストすること。 - 特許庁