「test data method」に関連した英語例文の一覧と使い方(8ページ目) - Weblio英語例文検索

The memory test method includes the steps of: reading data from the ROM; writing the data read from the ROM into the RAM; reading the data written in the RAM; and confirming the operations of the ROM and the RAM on the basis of the data read from the RAM.例文帳に追加

前記ＲＯＭからデータを読み出すステップと、前記ＲＯＭから読み出したデータを前記ＲＡＭに書き込むステップと、前記ＲＡＭに書き込まれたデータを読み出すステップと、前記ＲＡＭから読み出されたデータに基づいて前記ＲＯＭ及びＲＡＭの動作確認を行うステップとを含むことを特徴とする。 - 特許庁

To provide a nonvolatile semiconductor memory which can perform efficiently the test of a data hold characteristic of a ferroelectric nonvolatile memory highly accurately and with less samples, and its testing method.例文帳に追加

強誘電体不揮発性メモリのデータ保持特性の試験を、高精度かつ少ないサンプル数で効率的に行える半導体不揮発性記憶装置およびその試験方法とを提供する。 - 特許庁

In this image processing method, the test of an object included in plotting data is executed, and a print unfitted object unfitted to print processing is detected.例文帳に追加

本発明に係る画像処理方法においては、描画データに含まれるオブジェクトに対する検査が実行され、印刷処理に適合しない印刷非適合オブジェクトが検出される。 - 特許庁

To provide an address decoder check circuit and its check method capable of making a detailed check with less check steps without preparing expected values for the test memory data.例文帳に追加

検査ステップがより少なく、テスト用のメモリデータの期待値を設ける必要がなく、且つ検査を詳細に行うことができるアドレスデコーダの検査回路及びその検査方法を提供する。 - 特許庁

The test method of a program is provided to execute prescribed processing according to the data of input items on a display screen, and to generate a source code as a skeleton of software for outputting the result, and to execute the test of a program prepared from the generated source code.例文帳に追加

プログラムのテスト方法は、表示画面上の入力項目のデータに応じて所定の処理を実行しその結果を出力するためのソフトウェアのスケルトンとなるソースコードを生成し、生成されたソースコードから作成されたプログラムのテストを実行する。 - 特許庁

To provide a method and device for finding recording condition of optical disk being suitable for high speed recording even when trial writing of high speed recording cannot be performed in an inner peripheral test track, and even when relationship between a property of an outer peripheral test track and a property of a user data track is unknown.例文帳に追加

内周テストトラックで高速記録の試し書きが不可能な場合や、外周テストトラックの特性とユーザデータトラックの特性の関係が不明な場合でも、高速記録に適した光ディスクの記録条件を求める方法および装置を提供する。 - 特許庁

In this test method of the semiconductor device, a drain is connected to a storage node in SRAM, and a functional test is performed for applying a potential lower than a GND potential to a back gate of an n-type MOS transistor of which the GND potential is connected to the source, and for reading out data.例文帳に追加

本発明の半導体装置のテスト方法では、ＳＲＡＭにおいて、記憶ノードにドレインが接続され、ソースにＧＮＤ電位が接続されるｎ型ＭＯＳトランジスタのバックゲートにＧＮＤ電位より低い電位を印加しデータを読出す機能テストを行なう。 - 特許庁

To provide a digital LSI test equipment and a method for evaluating shmoo in which test can be executed for all SKEW data files prepared previously and evaluation can be made while assuming equipments of different SKEW adjustment.例文帳に追加

本発明は、あらかじめ準備されたＳＫＥＷデータファイルのすべてについて試験を実行でき、ＳＫＥＷ調整具合の異なる装置を想定した評価が可能となるデジタルＬＳＩ試験装置およびシュム評価方法を提供することを課題とする。 - 特許庁

To provide a measuring method and evaluation method of vibration for specifying a part in which a vibration removal measure is necessary by establishing the evaluation method combining a reproduction test and vibration magnification measurement of the vibration due to measured data of the vibration of an installation place.例文帳に追加

設置場所の振動の測定データによる振動の再現試験と、振動倍率測定を組合せた評価法を確立し、除振対策が必要な部位を特定することができる振動の測定方法及び評価方法を提供する。 - 特許庁

With respect to the semiconductor integrated circuit incorporating a data cache and the at-speed test method thereof, decoding is executed without considering fixed bits to map a plurality of addresses of the data cache to one address of a on-chip memory per prescribed address unit when address decoding of the data cache is performed.例文帳に追加

ここに開示されたデータキャッシュが内蔵した半導体集積回路およびそれの実速度テスト方法は、データキャッシュのアドレスデコーディング時、一定ビットを考慮しなくデコーディングを実行して、データキャッシュの複数個のアドレスを所定のアドレス単位ごとにオンチップメモリの一つのアドレスにマッピングさせる。 - 特許庁

The method for substituting cell-based morphological information contained in the cytological and/or histological data of a test sample with molecule information obtained from the solution above, includes the steps of dissolving a raw test material and precisely and repeatably conducting medically associated evaluation from the test sample solved.例文帳に追加

本発明は、試験試料の細胞学的および／または組織学的データに含まれる細胞ベースの形態学的な情報を上記溶液から得られる分子情報によって置換する方法であって、原試験試料を溶解し、溶解された試験試料から医学的に関連した評価を正確かつ再現可能に行うことを可能とする方法を提供する。 - 特許庁

To provide a pattern generator and capable of generating test pattern data by an interleave method without having to analyze or creating internal operations for pattern generation for each interleave operation, and to provide a pattern generating method.例文帳に追加

パターン生成のための内部演算をインターリーブ動作の各々に対して分析して作成しなくても、インターリーブ方式でテストパターンデータの生成が可能な半導体テストのためのパターン生成装置及びパターン生成方法を提供する。 - 特許庁

To provide a method for correcting mask data for an LSI, the method capable of reducing the number of measurement points on a test pattern transferred onto a wafer and reducing the measuring time while carrying out optical proximity correction and process proximity correction with high accuracy.例文帳に追加

光近接効果補正とプロセス近接効果補正を高精度に行いながら、ウエハー上に転写したテストパターンの測定点数の削減および測定時間の短縮を行えるＬＳＩ用マスクデータ補正方法を実現する。 - 特許庁

To provide a device and a method for monitoring partial discharge generation, reducing a data quantity of partial discharge in a charge lifetime test by a charge sample for evaluating insulation performance, and reducing a storage capacity for storing partial discharge data.例文帳に追加

絶縁性能を評価する課電試料による課電寿命試験での部分放電のデータ量が低減でき、部分放電のデータを記憶するための記憶容量が少なくて済む部分放電発生監視装置及び方法を提供する。 - 特許庁

To provide a new method capable of reducing the nonspecific reaction caused by the presence of an analog and obtaining more precise clinical data- values of a test substance when it is likely that a specimen contains the test substance and its analog.例文帳に追加

本発明の目的は、試料に被検物質およびその類縁体を含む可能性のある場合に、類縁体の存在に起因する非特異反応を軽減化させ、より正確な被検物質の臨床検査値を得ることを可能とする測定方法を提供することである。 - 特許庁

To provide a wavefront aberration measuring apparatus and a wavefront aberration measuring method which can measure the wavefront aberration of an optical system under test with high precision by checking the state of the interference fringes of photographed image data before performing image processing for calculating the wavefront aberration of the optical system under test.例文帳に追加

被検光学系の波面収差の算出のための画像処理を実施する前に、撮像した画像データの干渉縞の状態をチェックすることによって、高精度に被検光学系の波面収差を測定することができる波面収差測定装置及び方法を提供する。 - 特許庁

To provide a producing method and a machine for test data, and a wiring testing machine that perform a wiring test of printed-wiring boards and semiconductor package substrates with various kinds and small quantity, very fine designs, and low prices.例文帳に追加

多品種少量、高精細、低価格のプリント配線板や各種半導体パッケージ基板等の布線検査を効率的な検査スピードと低いランニングコストで布線検査を行うための検査データの作製方法、検査データ作製機及び布線検査機を提供することを目的とする。 - 特許庁

To enable accurate management of application/test work by storing application/test work information to be transmitted by a subscriber in a data base calculating it in a preliminarily specified method and providing an extracted result on a server, a client and a network to connect the server with the client.例文帳に追加

サーバと、クライアントと当該サーバとクライアントを接続するネットワーク上で、提出者が送信する応募／課題作情報をデータベースに収納し、予め指定された方法で演算し、抽出した結果を提供できるので、応募／課題作の緻密な管理が可能となる。 - 特許庁

In the method for forming a dynamic test pattern, a matter wherein a set to be tested is chosen automatically as probability of fault having capabilities and as function of machine performance data in order to maximize optimization criteria, and a matter wherein the set to be tested is mounted on a digital test pattern are contained.例文帳に追加

可能性のある不具合の確率及び機械性能データの関数として、及び最適化基準を最大化するために、試験対象のセットを自動的に選択することと、試験対象のセットをデジタル・テストパターンの上に置くことと、を含む、動的テストパターン生成のための方法。 - 特許庁

The building berth support interference correcting method corrects an interference amount in a resulting half model test data based on an increase rate or a change amount of an effective aspect ratio in the half wind tunnel test using the building berth easily adaptable to a wind tunnel.例文帳に追加

本発明の船台支持干渉の影響を修正する方法は、風洞に容易に適用可能な船台を用いた半裁風洞試験において、得られた半裁模型試験データに含まれる干渉量を有効アスペクト比の増加率又は変化量に基づいて修正するものとした。 - 特許庁

The method mounted on one computer includes the determination of the three-dimensional map of a signal-to-noise ratio value to a test piece and data to be acquired for the potential defect of the test piece by the light-scattering inspection system over the entire scattering hemisphere of the inspection system.例文帳に追加

一つのコンピュータに実装された方法は、検査システムの散乱半球全体に亘って、光散乱検査システムによって試験体および試験体の電位欠陥に対して取得されるであろうデータに対して、信号対雑音比値の三次元マップを決定することを含んでいる。 - 特許庁

The method includes the steps of: detecting via a host computer the connection of each instrument to the data communication network; uploading data received from each instrument to the host computer; processing the uploaded data on the host computer for operator review; and downloading configuration data from the host computer to each test instrument, the downloaded data including instrument-specific setup and control data.例文帳に追加

本方法は、各器具のデータ通信ネットワークへの接続を、ホストコンピュータを介して検出するステップと、各器具から受信されたデータをホストコンピュータへアップロードするステップと、アップロードされたデータを、オペレータのレビューのためにホストコンピュータ上で処理するステップと、構成データをホストコンピュータから各検査器具へダウンロードするステップとを備え、ダウンロードされたデータは、器具固有のセットアップおよびコントロールデータを有する。 - 特許庁

The method comprises the steps of: collecting data from a system under test; identifying quality of service parameters; calculating values for quality of service parameters based on the data collected from the system under test; graphing the values on a three-dimensional graph having a first axis indicating the parameters, a second axis indicating values of the parameters, and a third axis indicating time.例文帳に追加

被試験システムからデータを収集するステップと、サービス品質パラメータを識別するステップと、前記被試験システムから収集した前記データに基づいてサービス品質パラメータの値を生成するステップと、前記値を、パラメータを示す第１の軸と、 パラメータの値を示す第２の軸と、時間を示す第３の軸とを有する三次元グラフ上にグラフ化するステップとを含む。 - 特許庁

To provide a method for correcting detection data obtained by detecting non-coding RNA(ncRNA) such as miRNA in a test specimen, ensuring a nucleic acid as internal control indicator to be effectively utilized as the control indicator for the data correction even in case there exists in the test specimen the nucleic acid excessively compared to miRNA as detection target.例文帳に追加

被験試料に含まれるmiRNA等のnon-coding RNA(ncRNA)を検出して得られた検出データを補正するにあたり、内部コントロール指標とする核酸が検出対象であるmiRNA等に比べて被験試料中に過剰に存在する場合であっても、上記データ補正のコントロール指標として有効に利用できるようにする、ncRNAの検出データの補正方法を提供する。 - 特許庁

This firmware test automation method includes performing the forced writing of set data to be set in the normal operation time of an edge sensor as object equipment, input data to be input from a sensor head 1 in the normal operation time and internal variables as data to be generated by firmware during the execution of the a program corresponding to the set data and the input data from an external computer 3 in testing the firmware.例文帳に追加

ファームウェアテスト自動化方法は、対象機器であるエッジセンサの通常の動作時に設定される設定データと、通常の動作時にセンサヘッド１から入力される入力データと、この設定データと入力データに応じたプログラムの実行中にファームウェアが生成するデータである内部変数とに対して、ファームウェアのテスト時に外部のコンピュータ３から強制書き込みする。 - 特許庁

The control means 2 has an aromatic selection part 2a instructing the aroma generation means 3 about the selection of the aromatics, an aroma generation method or the like on the basis of the aroma generating time setting data, individual data (the data of birth, a schedule, a reply of a physicological test or the like), weather data and other various set data inputted from the input means 4.例文帳に追加

上記制御手段２は、上記入力手段４から入力される芳香発生の時間設定情報、個人情報（生年月日，スケジュール，心理テストの回答等）、気候情報その他の種々の設定情報に基づき、芳香材の選択及び芳香の発生方法等を上記芳香発生手段３に指示する芳香材選択部２ａを有するものとした。 - 特許庁

To provide a display method of a soil constitution by a CPT capable of displaying data of a field test by the CPT and the soil constitution by soil determination on the basis thereof, intelligibly to a user.例文帳に追加

ＣＰＴによる現場試験のデータとこれに基づく土質判定による土質構成を利用者に分かり易く表示することができるＣＰＴによる土質構成の表示方法を提供する。 - 特許庁

Using the test results on the device and the numerical value simulation result on the device, optimizing technique and data analysis method are used to determine a parameter for optimizing the device.例文帳に追加

装置についての実験結果と当該装置についての数値シミュレーション結果とを用い、最適化手法とデータ分析手法とを使用して、当該装置の最適化を図るためのパラメータの値を決定する。 - 特許庁

To provide a test method of an optical anisotropic film capable of calculating refractive index anisotropy of three figures or above less than a decimal point and an accurate refractive index value by easy calculation without performing complicated data processing.例文帳に追加

複雑なデータ処理を経ずに、容易な計算で、小数点以下３桁以上の屈折率異方性及び正確な屈折率値を求めることができる、光学異方性膜の試験方法を提供する。 - 特許庁

To provide a remote inspection system and an inspection method for achieving the management and accurate decision of clinical test data in such simple configurations that can be executed outside a special institute such as a hospital.例文帳に追加

本発明は、病院などの専門機関の外で実施できる簡易な形態でありながら、臨床検査データの管理と的確な判定のできる、遠隔検査システムおよび検査方法を提供する。 - 特許庁

To provide a method of recording a multilayer optical disk for performing recording while securing sufficient test areas without reducing user data areas, and while suitably controlling the power of laser beam irradiated onto each of the layers.例文帳に追加

多層光ディスクにおいて、ユーザデータ領域を削ることなく十分なテスト領域を確保しかつ、各層のレーザ照射パワーを適切に制御して記録するための記録方法を提供する。 - 特許庁

To provide a disk storage device capable of ensuring high reliability by performing a magnetization test even in a magnetic disk drive of a small diameter with increased data sector length, a head amplifier and a head testing method.例文帳に追加

データセクタ長が増えた小径の磁気ディスク装置でも帯磁テストを行なうことで、高い信頼性が確保可能なディスク記憶装置、ヘッドアンプ装置及びヘッドテスト方法を提供することにある。 - 特許庁

Alternatively, the evaluation method for the radio base station includes the step of the evaluation apparatus 2 for evaluating feedback control information in the test data, subjected to the reverse coding processing in the second step, by using both the downlink frame and the uplink frame.例文帳に追加

さらには、上記の下りリンクフレームと上りリンクフレームの両方を用いて該第2ステップで逆符号化処理された試験データ中のフィードバック制御情報を、評価装置2で評価する。 - 特許庁

To provide an operational testing system capable of performing an operational test of a renewal computation device without stopping operation of a currently-used computation device and a data transfer method used therein.例文帳に追加

現用演算装置の動作を停止させることなく、更新用演算装置の運用試験を実行することが可能な運用試験用システムおよびこれに利用するデータ転送方法を提供する。 - 特許庁

To provide an optical element evaluation method capable of simply measuring (evaluating) the degree of difference of measuring wave surface data of a test lens from a design value without manufacturing a reference lens.例文帳に追加

基準レンズを製作することなしに、被検レンズの測定波面データが設計値に対してどの程度異なるかをより簡単に測定（評価）することができる光学素子評価方法を提供する。 - 特許庁

In a test method for a semiconductor device in which measurement is performed for a plurality of cells varying measurement conditions and a plurality of measuring points deciding success or failure of the semiconductor device from obtained data of each cell are set, difference data of data of each cell between continuous measuring points of the plurality of measuring point are obtained, and the difference data are stored.例文帳に追加

複数のセルに対して測定条件を変えて測定を行ない、得られた各セルのデータから半導体装置の合否を判定する測定ポイントが複数設定されている半導体装置の試験方法において、前記複数の測定ポイントの連続した測定ポイント間の各セルのデータの差分データを求め、その差分データを保存する。 - 特許庁

This method is composed of a material investigation result data input process, a site reconnaissance result data input process, an intrusion test result data input process, a foundation selecting process, a ground bearing power degree determining process, a consolidation settlement determining process, and an uneven settlement determining process, and determines the foundation on whether or not ground reinforcement is required.例文帳に追加

資料調査結果データ入力工程と、現地踏査結果データ入力工程と、貫入試験結果データ入力工程と、基礎選定工程と、地盤支持力度判定工程と、圧密沈下判定工程と、不同沈下判定工程と、からなり、地盤補強が必要か否かの基礎判定を行うようにした。 - 特許庁

To provide an image forming method in which toner concentration is made stable by controlling toner replenishment according to previous detection data without optically detecting a test pattern only at the time of restarting the operation of equipment after stopping or controlling it according to data on image amount in addition to the previous detection data.例文帳に追加

本発明は、休止後の機器動作再開時のみテストパターンを光学的に検知をせず、先回の検知データにより、トナー補給制御を行うかまたは先回の検知データに加え画像量のデータによりトナー補給制御を行うことで、トナー濃度の安定を図る画像形成方法を提供することを目的とする。 - 特許庁

In the method for processing the test data of the semiconductor which detects the abnormality in the fabricating process of a semiconductor wafer by processing the test data of the semiconductor wafer, a concentrating degree of defected regions on the semiconductor wafer is obtained and an index of a degree of the abnormality in the fabricating process of the semiconductor wafer is obtained from the concentrating degree of the defected regions.例文帳に追加

半導体ウエハの試験データを処理することにより、前記半導体ウエハの製造工程の異常を検出する半導体試験データ処理方法において、前記半導体ウエハの不良領域が集中している度合を求め、前記不良領域が集中している度合から、前記半導体ウエハの製造工程の異常の度合を示す指標を求めることを特徴とする。 - 特許庁

The method for generating test data for an automotive lookup table includes each step of dividing the automotive lookup table into categories, generating a list of assertions corresponding in a one-to-one relationship to the categories such that each of the categories has an assertion corresponding to it, generating an execution trace for each assertion using a constraint solver, and generating test data for each execution trace.例文帳に追加

自動車用ルックアップテーブルのためのテストデータを発生する方法は、自動車用ルックアップテーブルをカテゴリーに分割し、前記各カテゴリーが対応するアサーションを有するように、カテゴリーと一対一の関係で対応するアサーションのリストを発生し、制約ソルバを用いて各アサーションに対して実行追跡を発生し、さらに、各実行追跡に対してテストデータを発生する、各ステップを含む。 - 特許庁

To provide a method and apparatus for processing image data where when a picture image recorded by a digital camera is reproduced, a high quality picture image is immediately reproduced without repetitive test prints for enhancing a picture quality or repetitive minor adjustments based on a confirmation via a monitor.例文帳に追加

デジタルカメラにより撮影された写真画像を再生する際に、画質を高めるためのテストプリントあるいはモニタの確認による微調整を繰り返すことなく、直ちに高画質な写真画像を再生する。 - 特許庁

In the method, when a print preview display operation or a test print operation common to text files to be created is received, a data reading unit 14 reads plural sets of information for each type of information.例文帳に追加

この方法は、作成される文書ファイルについて共通の印刷プレビュー表示又はテスト印刷を行う操作を受け付けた際に、データ読み取り部１４が複数セットについて種類毎に情報を読み出す。 - 特許庁

To provide a method for processing test data of a semiconductor which can detect abnormality in a fabricating process even if the number of defective products is small, and quickly research causes of generating the defective products.例文帳に追加

不良品の発生数が少ない場合でも、製造工程の異常を検出することができ、不良品の発生原因の調査を早期に行うことができる半導体試験データ処理方法を提供する。 - 特許庁

To provide a semiconductor integrated circuit capable of performing a test in a state that a maximum delay occurs in data transfer because a maximum load is applied to a bus, and to provide a maximum delay testing method of the semiconductor integrated circuit.例文帳に追加

バスに最大負荷がかかり、データ転送に最大の遅延が生じた状態でのテストを可能にする半導体集積回路及び半導体集積回路の最大遅延試験定方法を提供すること。 - 特許庁

A method, system and related technology for preparing test data for stem cell post-transplantation diagnosis are provided, each comprising the step of determining the chimerism of a main tissue-compatible gene conjugate.例文帳に追加

本発明は、主要組織適合遺伝子複合体のキメリズムを決定する工程を包含する、幹細胞移植における移植後診断のための検査データを生成する方法、システム、および関連技術に関する。 - 特許庁