「test data method」に関連した英語例文の一覧と使い方(5ページ目) - Weblio英語例文検索

METHOD AND SYSTEM FOR PROCESSING TEST DATA SELECTIVELY BY USING SUBSCRIPTION IN MULTI-FORMAT ARCHITECTURE例文帳に追加

マルチフォーマットアーキテクチャにおいてサブスクリプションを用いて試験データを選択的に処理する方法及びシステム - 特許庁

Design data D101 including circuit data of a test point and information relevant to the test method attached to this test point is input, and design data having undergone code analysis by a design data code analysis section K102 in a data input section K101 is stored in a storage device 700 with a database storage section K103.例文帳に追加

テストポイントの回路データと、このテストポイントに付属するテスト手法に関連した情報を含む設計データＤ１０１を入力し、データ入力部Ｋ１０１における設計データコード解析部Ｋ１０２によるコード解析を経た設計データがデータベース格納部Ｋ１０３により記憶装置７００に格納される。 - 特許庁

To provide both a test burn-in device to transfer skew correction data to skew correction data register parallelly at high speed and a control method in a test burn-in device.例文帳に追加

本発明の課題は、スキュー補正データをスキュー補正データレジスタに高速且つ並列的に転送するテストバーンイン装置及びテストバーンイン装置における制御方法を提供することである。 - 特許庁

To provide a nonvolatile memory test method and a memory test device capable of giving stress to a reading circuit as well as to a data holding part.例文帳に追加

データ保持部だけでなく、読出し回路にも同じようにストレスを与えることができる不揮発性メモリの試験方法及びメモリ試験装置を提供する。 - 特許庁

To provide test data compression method applicable to System-on Chip (SoC) which can attain maximum compression, while shortening the test run time.例文帳に追加

試験実行時間を短縮するとともに最大圧縮を達成可能な、システムオンチップ（ＳｏＣ；System-on Chip）チップに適用可能なデータ圧縮方法を提供する。 - 特許庁

To provide a scenario creation program, a scenario creation device and a scenario creation method which create test data for correctly determining the success/failure of a test.例文帳に追加

テストの合否判定を正しく行うことができるテストデータを作成するシナリオ作成プログラム、シナリオ作成装置およびシナリオ作成方法を提供すること。 - 特許庁

To provide a semiconductor integrated circuit device and its test method in which patterns for test can be reduced when data is supplied in serial to a RAM.例文帳に追加

ＲＡＭにシリアルでデータを供給する際、試験用パターンの削減を実施できる半導体集積回路装置及び、その試験方法を提供する。 - 特許庁

To provide a semiconductor test system capable of testing even in the case that the number of data input/output pads (or pins) of semiconductor chip to be tested is larger than the number of data input/output pins of tester of the semiconductor test system, and test method.例文帳に追加

半導体テストシステムのテスターのデータ入出力ピンの数よりもテストすべき半導体チップのデータ入出力パッド（または、ピン）の数が多い場合にもテストが可能な半導体テストシステム及びテスト方法を提供する。 - 特許庁

The evaluation method includes the steps of receiving the test data of a base band, subjected to coding processing in a radio base station 1 as a downlink frame R1 for applying inverse coding processing to the test data, without carrying out error corrections; and an evaluation apparatus 2 for evaluating the test data subjected to the reverse coding processing.例文帳に追加

無線基地局1において符号化処理されたベースバンドの試験データを下りリンクフレームR1として受信した試験データを、誤り訂正を行わずに逆符号化処理を行い、逆符号化処理された試験データを評価装置2で評価する。 - 特許庁

A test data generation device performs processing for generating a large amount of test data corresponding to many document files including plural words, that is, data including word frequency and document frequency, on the basis of the so-called Monte Carlo method.例文帳に追加

テストデータ作成装置は、所謂モンテカルロ法を基づいて、複数の単語を含む多数の文書ファイルに相当するテストデータ、つまり単語頻度及び文書頻度を含むデータを大量に作成する処理を行う。 - 特許庁

COMPUTER IMPLEMENTED METHOD FOR CONSTRUCTING CLASSIFIER FROM TRAINING DATA DETECTING MOVING OBJECT IN TEST DATA USING CLASSIFIER例文帳に追加

コンピュータにより実施される、訓練データから分類器を構築し、前記分類器を用いてテストデータ中の移動物体を検出する方法 - 特許庁

A test method of an IC has a digital logical circuit 202 discriminated by respective data rates having a data prefix by different common mode voltage.例文帳に追加

異なる同相モード電圧によってデータ・プレフィクスを有している各データ・レートによって識別されるディジタル論理回路を備えている。 - 特許庁

METHOD FOR SAMPLING DATA ON GRADIENT OF ROAD SURFACE FOR USE IN ROAD TRAVEL SIMULATING TEST METHOD USING CHASSIS DYNAMOMETER, AND METHOD FOR CONTROLLING CHASSIS DYNAMOMETER例文帳に追加

シャシダイナモメータを用いた路上走行シミュレーション試験方法で用いる路面の勾配データの採取方法およびシャシダイナモメータの制御方法 - 特許庁

To provide an automatic testing apparatus for a remote monitoring control device and a testing method in which a test is enabled with a little job-site handling personnel and test procedures or test data can be prepared.例文帳に追加

少ない現場対応要員で試験が可能であり、予め試験手順や試験データを準備できることのできる遠方監視制御装置の自動試験装置と試験方法を提供すること。 - 特許庁

To provide a material strength testing device and a material strength test method capable of testing a plurality of test pieces simultaneously, and acquiring accurate data of each test piece.例文帳に追加

複数の試験片を同時に試験することができるとともに、試験片ごとの正確なデータを取得することができる材料強度試験装置および材料強度試験方法を提供する。 - 特許庁

In one embodiment, a data formatting method executed by a computer includes steps of: (1) automatically comparing data related to a test result with a known data type associated with the test result type, and determining the best matched test result type for the test result; and (2) automatically formatting data associated with the test result by one or more formatting rules associated with the best matched test result type.例文帳に追加

一実施形態において、コンピュータによって実行されるデータフォーマット方法は、１）試験結果タイプに関連する既知のデータタイプに、試験結果に関連するデータを自動的に比較して、前記試験結果に対して最も適合する試験結果タイプを決定するステップと、２）前記最も適合する試験結果タイプに関連する１つ以上のフォーマットルールによって、前記試験結果に関連するデータを自動的にフォーマットするステップと、を含む。 - 特許庁

METHOD AND DEVICE FOR GENERATING TELEGRAPHIC MESSAGE DATA, SERVER DEVICE, TEST SYSTEM FOR APPLICATION PROGRAM AND RECORDING MEDIUM例文帳に追加

電文データ生成方法、電文データ生成装置、サーバ装置、アプリケーションプログラムの試験システムおよび記録媒体 - 特許庁

TEST DATA BACKUP SYSTEM AND METHOD, BACKUP CONTROL PROGRAM AND STORAGE MEDIUM STORING THE SAME例文帳に追加

試験データバックアップシステム及び試験データバックアップ方法、並びに、バックアップ制御プログラム及びこれを記憶した記憶媒体 - 特許庁

To provide an authentication processing device, a data processing method and its device for carrying out a test in a short time.例文帳に追加

テストを短時間で行うことが可能な認証処理装置とデータ処理方法およびその装置を提供する。 - 特許庁

The method further includes a step of obtaining CD measurement data from a plurality of test areas on the heat-treated wafers.例文帳に追加

さらに、熱処理されたウエハ上の複数の検査領域からＣＤ計測データを取得する工程を有する。 - 特許庁

The internal circuit is tested by the scan method on the basis of the test input data set in the storage cell.例文帳に追加

内部回路は、この記憶素子に設定されるテスト入力データに基づいてスキャン方式で試験される。 - 特許庁

The test data 3 adopt a describing method such as the modification of a command or an address related with a signal unique to the LSI.例文帳に追加

試験データ３は、LSI固有の信号に関するコマンドやアドレス修飾等の記載方法を採用している。 - 特許庁

To provide a derivation method and a derivation system of missing events and missing data objects in a test system.例文帳に追加

テストシステムにおける欠落イベントおよび欠落データオブジェクトの導出方法および導出システムを提供する。 - 特許庁

To provide a protection method for a test program safely distributing the test program without depending on confidentiality and to provide a test method for LSI whose data analysis is difficult for a third party.例文帳に追加

守秘義務に頼る必要なく、安全にテストプログラムを流通させることの可能なテストプログラムの保護方法を提供すること及び第三者によるデータの解析が困難なＬＳＩのテスト方法を提供することを課題とする。 - 特許庁

In this inspecting method, by comparing the inspection data in the wafer test written in the ROM areas of the chips with the inspection data in the screening test, it is possible to inspect the characteristic degradation of the chips due to packaging.例文帳に追加

この検査方法では、チップのＲＯＭ領域に書き込んだウェハテストの検査データと、選別テストの検査データとを比較することで、パッケージングによるチップの特性劣化を検査することが可能になる。 - 特許庁

To provide a method of specifying a test part, capable of easily and accurately recognizing the deviation of image data photographed later from the image data of the test part photographed before without defining a mole or the like as a mark.例文帳に追加

ホクロ等を目印とすることなく、先に撮影した被験部位の画像データに対する、後に撮影した画像データのずれを容易且つ正確に把握できる被験部位の特定方法を提供する。 - 特許庁

To provide a remote test method capable of performing a test between terminal adapters through a communication line even without connecting data terminal equipment or loop connector to the terminal adapter concerning the remote test method for terminal adapter for connecting the data terminal equipment to the communication line.例文帳に追加

データ端末装置を通信回線に接続するターミナルアダプタの遠隔テスト方法に関し、ターミナルアダプタにデータ端末装置やループコネクタが接続されていなくても、通信回線を介してターミナルアダプタ間のテストを行うことができる遠隔テスト方法を提供することを目的とする。 - 特許庁

To provide a magnetic storage apparatus which reduces influence of side erase in writing a read data pattern in measurement of side erase, to provide a head test method, and a head test apparatus.例文帳に追加

サイドイレーズに関する測定においてリード用データパターンのライトによるサイドイレーズの影響を低減する磁気記憶装置、ヘッド試験方法、ヘッド試験装置を提供する。 - 特許庁

To provide a test device and a test method for a carbon dioxide recovery system, by which more useful data are acquired for the practical application of a carbon dioxide recovery system.例文帳に追加

二酸化炭素回収システムの実用化に向けてより有用なデータを取得することができる二酸化炭素回収システムの試験装置及び試験方法を提供すること。 - 特許庁

The method and apparatus of the present invention provides for a test stand, a plurality of X-ray test phantoms(10, 20, 30, 40, 50, 60, 70) and a computer program for data entry, analysis and storage of the test results.例文帳に追加

一般的に、本発明の方法及び装置は、テスト台と、複数のＸ線テスト模型（１０、２０、３０、４０、５０、６０、７０）と、データ入力、分析、及びテスト結果の保存のためのコンピュータプログラムとを提供する。 - 特許庁

To provide a test piece for obtaining reliable creep test data (a master curve), and reliably estimating a creep lifetime, and an estimation method of the creep lifetime using the test piece.例文帳に追加

信頼性の高いクリープ試験データ（マスターカーブ）を得ることが可能な、ひいては信頼性の高いクリープ寿命の推定を可能にする試験片、およびその試験片を用いたクリープ寿命の推定方法を提供する。 - 特許庁

To provide an inexpensive and simple test magnetic recording signal generation device capable of writing magnetic data in which optional jitters are generated, a test bankbook preparation device, a test magnetic recording signal generation method, and a program.例文帳に追加

任意のジッタを生じさせた磁気データを書き込むことが可能な安価で簡易なテスト用磁気記録信号発生装置、テスト用通帳作成装置、テスト用磁気記録信号発生方法及びプログラムを提供する。 - 特許庁

To prevent test parity from being increased by a simple elimination error position estimating method and to make processable data error in a relatively short time when data errors are corrected.例文帳に追加

簡単な消失エラー位置推定方法で検査パリティが多くならず、データエラー訂正時に処理時間が比較的短時間で処理できるようにすること。 - 特許庁

To provide a layout display apparatus and method which enables to display, in a short time, a defined layout pattern in lithographic data or test data.例文帳に追加

描画データもしくは検査データに定義されたパターンレイアウトを短時間で表示することが可能なレイアウト表示装置およびレイアウト表示方法を提供する。 - 特許庁

To provide a method for preparing a transformation table for transforming fail bit map data in the test process of a semiconductor memory into physical coordinates using design data.例文帳に追加

半導体メモリのテスト工程におけるフェイルビットマップデータを物理座標に変換するテーブルを設計データを利用して作成する方法を提供する。 - 特許庁

To provide a device and method for using a single electrical fuse (eFuse) bank in order to preserve test data continuously.例文帳に追加

テスト・データを連続的に保存するために単一の電気的ヒューズ（eFuse）バンクを使用するための装置および方法の提供。 - 特許庁

To provide an MIMO evaluation apparatus extracting antenna directional characteristics, and also to provide a test data stream transmission method.例文帳に追加

アンテナ指向特性を抽出可能なＭＩＭＯ評価装置、及び、試験データストリームの送信方法を提供すること。 - 特許庁

To provide a swelling test method capable of obtaining data on a swelling property of a mineral material in an extremely short time.例文帳に追加

極めて短時間で鉱物材料の膨潤性に関するデータを取得できる膨潤試験法を提供すること。 - 特許庁

To provide a system including a non-invasive structure for injecting a test jitter into a data bit stream, and a method thereof.例文帳に追加

データビットストリーム中にテストジッタを注入するための非侵襲的な構造を有するシステムおよび方法の提供。 - 特許庁

To provide an event type test system having a method for accurately and simply controlling the calibration data of all pin cards.例文帳に追加

全てのピンカードの校正データを正確かつ簡単に管理する方法を有するイベント型テストシステムを提供する。 - 特許庁

To provide a method and a device for formatting data automatically based on the best matched test result type.例文帳に追加

最も適合する試験結果タイプに基づいて自動的にデータをフォーマットする方法及び装置を提供すること。 - 特許庁

TEMPERATURE COMPENSATION METHOD FOR INSPECTION DATA ERROR CAUSED BY OUTSIDE AIR TEMPERATURE GENERATED AT PRESSURE EXPANSION TEST TIME FOR COMPRESSED-GAS CYLINDER REINSPECTION例文帳に追加

高圧ガス容器再検査の耐圧膨張試験時に生ずる、外気温に起因する検査データ誤差の温度補償方法 - 特許庁

To provide a test device capable of very efficiently recording log data which show the state of device and state of test, etc., before/after the time when abnormality occurs, by effectively utilizing a limited memory capacity, and to provide a recording method of the log data of the test device.例文帳に追加

限られたメモリ容量を有効に活用し、異常発生時前後の装置状態と試験状態等を示すログデータを極めて効率的に記録することが可能な試験装置と試験装置のログデータ記録方法とを提供することを目的とする。 - 特許庁

To provide a print data generation device, a print data generation method and a program, capable of generating print data whose image can be partially printed as a test with the same print image as actual printing.例文帳に追加

本印刷と同じ印刷画質で画像の一部を試し印刷可能な印刷データを生成できる印刷データ生成装置、印刷データ生成方法及びプログラムを提供する。 - 特許庁

The test data compression method comprises a step for acquiring equivalent core of plural cores in the System-on Chip circuit, and a step for applying reseeding of linear feedback shift register (LFSR) for test data compression of the equivalent core.例文帳に追加

データ圧縮方法は、システムオンチップ回路内の複数のコアの等価コアを取得するステップと、線形フィードバックシフトレジスタ（ＬＦＳＲ）の再シード（reseeding）を等価コアの試験データの圧縮に適用するステップと、を有する。 - 特許庁