「test data method」に関連した英語例文の一覧と使い方(7ページ目) - Weblio英語例文検索

To provide a semiconductor integrated circuit having a test response analysis circuit, capable of controlling increase in area and increase in the data required for the test, and to provide a method for testing delay fault which uses the circuit.例文帳に追加

本発明は、面積の増大を抑え、テストに必要なデータの増大も抑えることが可能なテスト応答解析回路を有する半導体集積回路及びそれを用いた遅延故障テスト方法を提供する。 - 特許庁

To provide a semiconductor integrated circuit and a test method for enabling an at_speed test at a fundamental clock frequency for data transfer between clock domains in a synchronous divided-by-2 relationship.例文帳に追加

同期した１／２の分周関係にあるクロックドメイン間でのデータ転送に対する基本クロック周波数によるａｔ＿ｓｐｅｅｄテストを行なうことのできる半導体集積回路およびテスト方法を提供する。 - 特許庁

To provide an ice test device capable of obtaining high accuracy tire data for analyzing in short time, while maintaining a state of ice board that is close to an actual vehicle test, and to provide a method of evaluating on-ice performance of tire.例文帳に追加

実車試験に近い氷盤の状態を維持しながら、精度の高いタイヤデータを短時間で取得、解析することを可能とするタイヤの氷上試験装置および氷上性能評価方法を提供する。 - 特許庁

To provide a method for a quick loading test of a pile that can obtain reliable data required for quickly and economically determining the support force of the pile.例文帳に追加

杭の支持力判定に必要な信頼性の高いデータを短い時間でかつ経済的に得ることのできる杭の急速載荷試験法を提供する。 - 特許庁

To provide a method for detecting a failure in a path between a data input/output pad and a test pad and a failure in a circuit in the middle of the path.例文帳に追加

データ入出力パッドとテストパッド間の経路や当該経路途中の回路の不良を検出することを可能とする方法を提供する。 - 特許庁

To provide an image forming system and fault discrimination method in which a fault can easily be segmented by using particular test data.例文帳に追加

特別なテストデータを用いることで簡単に障害の切り分けを行えるようにした画像形成システムおよび障害判別方法を提供する。 - 特許庁

To provide a semiconductor memory device which tests the on/off state of a ODT circuit during a data read mode, and also to provide a test method of the state of the ODT circuit.例文帳に追加

データ読出モードでＯＤＴ回路のオン／オフ状態をテストできる半導体メモリ装置及びＯＤＴ回路の状態テスト方法を提供する。 - 特許庁

To provide a test method by which a defective product, in which there is possibility of unexpected rewriting of data, can be eliminated surely as to a nonvolatile semiconductor memory.例文帳に追加

不揮発性半導体記憶装置について、不測のデータの書換を生じ得る不良品を確実に排除し得るテスト方法を提供する。 - 特許庁

To provide a test method for semiconductor memory circuits capable of transmitting path-fail data of a plurality of memories incorporated in a system LSI at a short period of time.例文帳に追加

システムＬＳＩに内蔵された複数のメモリのパスフェイルデータを、短い時間で送信できる半導体メモリ回路のテスト方法を提供することにある。 - 特許庁

A new solder material is easily developed by storing the data of metal structures and cooling rates that are obtained by a manufacturing method of solder test strips.例文帳に追加

はんだ試験片の作製方法で得られた金属組織と冷却速度のデータを蓄積利用することにより、新規のはんだ材料の開発が容易になった。 - 特許庁

To attain a tester simulation system for modifying wide use format data by accompanying modification of a test program, and to attain a tester simulation method.例文帳に追加

テストプログラムの変更に伴って、汎用フォーマットデータの変更が行えるテスタシミュレーション装置及びテスタシミュレーション方法を実現することを目的にする。 - 特許庁

To provide a VoIP(Voice over IP) system and test method of it reducing the time for data matching for the identification of sound normality to improve operability.例文帳に追加

音声正常性の確認のためのデータ照合時間の短縮と操作性を改善したＶｏＩＰシステムおよびその試験方法を提供する。 - 特許庁

To provide a device and method for testing a system between data communication equipment for performing an operation confirmation test of the entire system without arranging a person at the opposite party side.例文帳に追加

対向側に人員を配置することなく、システム全体の動作確認試験を行うデータ通信装置間システム試験装置および方法を提供する。 - 特許庁

The method and apparatus for testing the semiconductors are configured to classify useful data in a set of test results.例文帳に追加

本発明の様々な局面による半導体をテストするための方法および装置は、テスト結果のセットにおいて有効なデータを分類するように構成される。 - 特許庁

By the method, times of the data rewriting actually performed in the test process before delivery are correctly managed concerning each IC chip.例文帳に追加

このような方法によれば、個々のＩＣチップについて、その出荷前の試験工程で実際に行われたデータの書き換え回数を正確に管理することができる。 - 特許庁

To shorten the time until an timing verified ATPG pattern is obtained by use of STA in a timing verification method of LSI test data.例文帳に追加

ＬＳＩテスト・データのタイミング検証方法において、ＳＴＡの利用によってタイミング検証済みのＡＴＰＧパターンを得るまでの時間を短縮すること。 - 特許庁

The semiconductor memory test pattern forming method is structured; to make the operation data of the semiconductor memory test pattern described in a format independent of the types of semiconductor testing apparatus and; to output the test specifications of the above semiconductor memory based on the above operation data after verifying the above operation data with an emulation function corresponding to the above format.例文帳に追加

半導体メモリの試験パターンを作成する方法において、半導体試験装置の種類に依存しないフォーマットで記述された半導体メモリ試験パターンの動作データを作成し、上記動作データを上記フォーマットに対応するエミュレート機能により検証した後、上記動作データにもとづいて上記半導体メモリの試験仕様書を出力する構成とする。 - 特許庁

To provide a generating method for surname data and its generating device which put surname data of an individual name used for a system test close to a real distribution by using a surname of high appearance frequency, easily generate the data from a combination of character strings, and eliminates trouble even when a test result using the surname data is disclosed.例文帳に追加

システムテストで使用される個人名における姓データを、頻出度の高い姓を利用して現実の分布に近似させることと、文字列の組合せとから容易に生成し、この姓データを用いたテスト結果を開示してもトラブルが生じない姓データの発生方法及びその発生装置に関する技術を提供する点にある。 - 特許庁

To provide: a generation method of pattern data for electron beam drawing, which can draw an excellent minute pattern without using a trial-and-error method by test drawing, in drawing a minute pattern using an electron beam drawing device; a proximity effect correction method used for it; and a pattern formation method using the data.例文帳に追加

電子線描画装置を用いて極小なパターンを描画する際、テスト描画による試行錯誤無しに、良好な極小パターンが描画できる電子線描画用パターンデータの作成方法及びそれに用いる近接効果補正方法、そのデータを用いたパターン形成方法を提供する。 - 特許庁

To provide a method simply correcting distortion of image data, and a video type extensometer capable of accurately measuring elongation of a test piece in water tank by using the method.例文帳に追加

画像データの歪みを簡単に補正することのできる方法と、その方法を用いて水槽中の試験片の伸び等でも正確に計測することのできるビデオ式伸び計を提供する。 - 特許庁

One embodiment of this system is a nondestructive method, by which profile data about test pattern lines are acquired by using spectral data measured, using an optical measurement instrument and a profile library.例文帳に追加

一実施形態が、光学計測装置を使用して測定されたスペクトルデータとプロファイルライブラリとを使用することによって、テストパターン線のプロファイルデータを取得するための非破壊的な方法である。 - 特許庁

To provide a fault diagnostic system and method which can determine a test chart to be used for diagnosing a fault that causes an image defect occurring without affecting machine data or job data.例文帳に追加

機械データやジョブデータに影響を及ぼさずに生じる画像欠陥を引き起こす故障を診断する為に用いられるテストチャートを決定できる故障診断システム及び故障診断方法を提供する。 - 特許庁

To provide a medical information providing method for collectively storing test result data including patient attribute information or test attribute information or the like acquired in a plurality of medical facilities in a data center, and for providing various medical information to each medical facility based on the information.例文帳に追加

複数の医療施設において得られた患者属性情報や検査属性情報等を含む検査結果データをデータセンターに一括して保管し、これらの情報に基づいて各医療施設に対して各種の医療情報を提供することができる医療情報提供方法を提供する。 - 特許庁

To improve a test pattern that is printed to distinguish the displacement of the alignment of print heads from a print head property that affects the ejection of ink from the print heads, and to provide a method for analyzing image data corresponding to the printed test pattern.例文帳に追加

プリントヘッド配向のずれと、プリントヘッドからのインクの射出に影響を与えるプリントヘッド特性と、を識別するため、印刷されるテストパターンを改良、および印刷されるテストパターンに対応する画像データの分析法を提供する。 - 特許庁

To provide a testing device and a test method capable of testing various semiconductor integrated circuit having different characteristics, and coping with diversification of an analog characteristic test by fulfillment of generation function of DAC data or the like.例文帳に追加

特性の異なる種々の半導体集積回路の試験を可能にすると共に、ＤＡＣデータの発生機能の充実化を図るなど、アナログ特性試験の多様化に対応できる試験装置及び試験方法を提供する。 - 特許庁

To provide a test method of a magnetic head, and a magnetic head tester in which test data is written without being affected by thermal drift even if servo information is not set to a magnetic disk or even if servo following is not performed.例文帳に追加

磁気ディスクにサーボ情報を設定しなくても、あるいはサーボフォローイングをしなくても熱ドリフトに影響されずにテストデータの書込ができ、磁気ヘッドの検査が可能な磁気ヘッドのテスト方法および磁気ヘッドテスターを提供することにある。 - 特許庁

To provide a semiconductor integrated circuit test device and its method capable of efficiently performing a test of an object of writing, reading and eliminating the data, by a unit of a block of a specific size of a flash memory and the like.例文帳に追加

フラッシュメモリ等の特定の大きさのブロックを単位として、データの書き込み、読み出し、及び消去を行う被試験対象の試験を効率的に行うことができる半導体集積回路試験装置及び方法を提供する。 - 特許庁

To provide a method for calculating display characteristics correction data for an image display apparatus, capable of calculating correct correction data at all times, even when abnormality data are captured as photographing data due to changes in the external light or blocking-off of photographing by an obstacle in the case of photographing a test pattern.例文帳に追加

テストパターンの撮影時に外光が変化したり障害物で撮影が遮られて撮影データに異常なデータが取り込まれたりした場合でも、常に正しい補正データを算出できる画像表示装置の表示特性補正データ算出方法を提供する。 - 特許庁

As shown in the figure, in this method, for the structure consisting of the superstructure 1 and the foundation structure 3, a vibration test is performed to the superstructure 1 and its vibration data is measured by a sensor part 5.例文帳に追加

上部構造物１と基礎構造物３からなる構造物に対し、上部構造物１に振動試験を実施し、センサ部５でそれによる振動データを測定する。 - 特許庁

To provide a test method to reduce a data obtaining period for deriving frequency characteristics regarding normal/defective condition of a semiconductor memory device and to provide a semiconductor memory device.例文帳に追加

半導体記憶装置の動作の良否に関する周波数特性を導出するためのデータ取得時間を短縮する試験方法及び半導体記憶装置。 - 特許庁

Another embodiment includes a method and a system for generating a simulation data store which uses a signal apart from a test grid to model an influence of an IC design and/or production process.例文帳に追加

別の実施例は、ＩＣデザイン及び／または製作プロセスの影響をモデル化するテスト格子を離れた信号を使用した、シミュレーションデータストアの生成法とシステムである。 - 特許庁

One application includes the preparation of a simulation data store which is generated by using a test grid to model a geometric shape of an IC mutual connection and its method of use.例文帳に追加

ひとつの適用としては、ＩＣ相互接続の幾何学的形状をモデル化するテスト格子を使用して生成されたシミュレーションデータストアの作成と使用法を含む。 - 特許庁

To provide a method and system of testing a pattern, in which the contour data of the pattern is extracted without failure, and a high speed and accurate test of the circuit pattern is performed.例文帳に追加

パターンの輪郭データの抽出を失敗すること無く、高速かつ正確に回路パターンの検査を行うことのできる、パターン検査方法及びシステムを提供する。 - 特許庁

To provide a test method by which a RAM and a bus are tested by testing that read and write of data for a RAM are performed correctly for a correct address.例文帳に追加

ＲＡＭに対するデータの読み書きが正しいアドレスに正しく行われていることを検査し、ＲＡＭ及びバスの検査を行う検査方法を提供する。 - 特許庁

To provide a nonvolatile semiconductor storage device which can perform the defective bit sensing of a memory cell which can store multi-value data in a chip, and its automatic test method.例文帳に追加

多値データを記憶可能なメモリセルの不良ビット検出をチップ内部で行うことが可能な不揮発性半導体記憶装置及びその自動テスト方法を提供する。 - 特許庁

Another embodiment is a method and a system for generating a simulation data store using a signal off a test grating that models the effect of the IC design and/or the fabrication process.例文帳に追加

別の実施例は、ＩＣデザイン及び／または製作プロセスの影響をモデル化するテスト格子を離れた信号を使用した、シミュレーションデータストアの生成法とシステムである。 - 特許庁

As for serious eye damage or irritation, there are clear decision criteria in GHS, and classification shall be made in accordance with the flow of decision logic 3.3.1 of GHS, while referring to the technical advice for the decision method according to the existing test data, as described below.例文帳に追加

眼の重篤な損傷性・刺激性については、ＧＨＳに明確な判定基準があり、GHS の判定理論3.3.1 のフローに従って分類すること。 - 経済産業省

To provide a colorimetric method with which correction data or the like required for setting up each device can be accurately created by more accurately performing colorimetry of a test print, and to provide an accurate shading correction method.例文帳に追加

より正確にテストプリントの測色を行なって、各装置のセットアップに必要な補正データ等を精度良く作成可能な測色方法、および精度の良いシェーディング補正方法を提供する - 特許庁

A flash memory system and a method for data management using the embodiments of the invention use special test cells with early degradation detection (EDD) circuitry instead of using the actual user-data storage cells.例文帳に追加

実際のユーザデータストレージセルを使用する代わりに、劣化の早期検出（ＥＤＤ）回路を備える特別なテストセルを使用する、本発明の実施形態を用いたフラッシュメモリシステムとデータ管理方法が開示される。 - 特許庁

To provide a voice synthesizing device, a voice synthesizing system, a voice synthesizing method and a storage medium for allowing a user to hear text data with a large voice according to the significance even when a plurality of test data are simultaneously vocalized.例文帳に追加

複数のテキストデータが同時に発声された場合でも、重要度に応じて大きな音声で聞くことができるようにした音声合成装置、音声合成システム、音声合成方法及び記憶媒体を提供する。 - 特許庁

DEVICE AND METHOD FOR SELECTING MARKET TEST DATA, PROGRAM OF METHOD EXECUTABLE BY COMPUTER, RECORDING MEDIUM WITH PROGRAM AND READ BY COMPUTER, AND ITS SYSTEM AND METHOD例文帳に追加

マーケットテストデータ選定装置、マーケットテストデータ選定方法、このマーケットテストデータ選定方法をコンピュータにより実行可能なプログラム及びこのプログラムを記録したコンピュータにより読み取り可能な記録媒体、並びに、マーケットテストシステム及びマーケットテスト方法 - 特許庁

To provide a device manufacturing processing system, an exposure device and exposure method, measuring test equipment, a measuring inspection method, and a method for manufacturing the device, which can perform the management of data easily while reducing the load of network.例文帳に追加

ネットワークの負荷を低減するとともに、データの管理を容易に行うことができるデバイス製造処理システム、露光装置及び露光方法、測定検査装置及び測定検査方法、並びにデバイス製造方法を提供する。 - 特許庁

A semiconductor integrated circuit test method is applicable to inspection of a semiconductor integrated circuit having multiple memory macros, wherein the number of memory macros to be selected in execution of a simultaneous read-out operation for simultaneously reading out written test data is smaller than the number of memory macros to be selected in execution of a simultaneous write-in operation for simultaneously writing in input test data.例文帳に追加

本発明の第１の態様にかかる半導体集積回路のテスト方法は、複数のメモリマクロを備える半導体集積回路のテスト方法であって、複数のメモリマクロの内、テストデータを同時に書き込む動作である同時書き込み動作をさせるメモリマクロの数よりも、書き込まれたテストデータを同時に読み出す動作である同時読み出し動作をさせるメモリマクロの数を少なく選択する。 - 特許庁

To generate a memory test pattern by VHDL description with respect to its method, device and program simply if a data sheet and a memory test sequence are prepared, without any knowledge of a very high speed integrated hardware description language (VHDL) and skill of circuit designing.例文帳に追加

本発明はメモリテストパターン合成方法，装置及びプログラムに関し，ＶＨＤＬの知識や回路設計スキルがなくても，メモリのデータシートやメモリテストシーケンスを用意すれば簡単にＶＨＤＬ記述のメモリテストパターンを作成できることを目的とする。 - 特許庁

An optical disk and a BCA information recording method are provided which enable correction of laser power for recording the BCA information by test writing to be performed by arranging a test area via a mirror area on the inner circumferential side of the BCA outside a user data recording area.例文帳に追加

ユーザーデータ記録領域外のＢＣＡの内周側にミラー領域を介してテスト領域を設け、試し書きによるＢＣＡ情報の記録レーザーパワー補正を実行できる光ディスク及びＢＣＡ情報記録方法を提供する。 - 特許庁