「test input」に関連した英語例文の一覧と使い方(3ページ目) - Weblio英語例文検索

To provide a simulation support tool for automatically generating a test input.例文帳に追加

テスト入力を自動的に生成するシミュレーション支援ツールを提供する。 - 特許庁

To test a data format by using a variant input serving as a target.例文帳に追加

ターゲットとされるバリアント入力を使用して、データフォーマットをテストすること。 - 特許庁

By using the created input-related information or the input/output relationship information after the change, the test case or the test case after the change is created.例文帳に追加

その作成された該入力関係情報又は変更後入出力関係情報を用いて、テストケース又は変更後テストケースを作成する。 - 特許庁

This test circuit gives delay of Δt to an input clock signal.例文帳に追加

このテスト回路は入力されるクロック信号にΔｔの遅延を与える。 - 特許庁

An activity test case extraction section 105 extracts the test case based on an activity chart indicating a state transition input from an activity input section 103.例文帳に追加

アクティビティテストケース抽出部１０５は、アクティビティ入力部１０３から入力される状態遷移を示すアクティビティ図をもとにテストケースを抽出する。 - 特許庁

A test scenario describing an arbitrary parameter is imparted to the test bench 102, the input pattern and the output expected value are automatically generated within the test bench 102, and they are stored in the memory 104 within the test bench 102.例文帳に追加

任意のパラメータを記述するテスト・シナリオをテストベンチ１０２に与えて、テストベンチ内で入力パターンおよび出力期待値を自動生成し、テストベンチ内メモリ１０４に蓄積する。 - 特許庁

A fare adjustment program is stored in a storage means, and second test data different from first test data input by an input means and resulting in the same charge as that of the first test data are prepared from the first test data.例文帳に追加

記憶手段に精算プログラムを記憶しておき、入力手段により入力した第１のテストデータから第１のテストデータと異なり、かつ、前記第１のテストデータと精算額が同一金額となる第２のテストデータを作成する。 - 特許庁

To set a test mode with a minimum circuit scale without providing an external input terminal exclusively used for test mode setting, even if test modes are increased.例文帳に追加

テストモードが増加しても、テストモード設定に専用の外部入力端子を設けることなく、最小の回路規模でテストモードの設定を可能にする。 - 特許庁

A test pattern for failure verification, comprising the input test pattern and the expectation value test pattern, thus generated, is used to verify the logic circuit.例文帳に追加

このようにして生成された入力テストパターンおよび期待値テストパターンからなる故障検証用テストパターンを用いて論理回路の検証を行う。 - 特許庁

To provide a scan test device of which the number of input terminals for inputting test data can be reduced without increasing a circuit scale, and to provide a scan test method.例文帳に追加

回路規模が増大することなく、テストデータを入力する入力端子の個数を削減できるスキャンテスト装置及びスキャンテスト方法を提供すること。 - 特許庁

The semiconductor device having a DAC is equipped with a test pattern generating means having a storage part which stores a test pattern, and an input terminal of a clock signal for test.例文帳に追加

テストパターンを記憶している記憶部をもつテストパターン発生手段と、テスト用クロック信号入力端子とを、ＤＡＣを有する半導体装置に備える。 - 特許庁

The input data comparison circuit compares the corresponding data items of the plurality of input test writing data and the plurality of test output data, and identifies the matching test output data.例文帳に追加

前記入力データ比較回路は、入力された前記複数のテスト書き込みデータと前記複数のテスト出力データとの対応するもの同士を比較して、一致した前記テスト出力データを特定する。 - 特許庁

The test circuit 30 is used for shipping test of the 8 pin microcomputer, and outputs from the 2 input Ex-OR circuit EX1 a test enable signal Test Enable being a "High" level signal based on the test clock signal TCLK input from the terminal Pad 1 being the test terminal.例文帳に追加

テスト回路３０は８ピンマイコンの出荷テストなどを行うときに使用され、テスト端子である端子Ｐａｄ１から入力されるテストクロック信号ＴＣＬＫにもとづいて、２入力Ｅｘ−ＯＲ回路ＥＸ１から“Ｈｉｇｈ”レベルの信号であるテストイネーブル信号Ｔｅｓｔ Ｅｎａｂｌｅが出力される。 - 特許庁

A test procedure changing part 33 of the programmable remote controller 3 starts output of the test pattern B in accordance with the input file.例文帳に追加

プログラマブルリモコン３のテスト手順変更部３３は、入力したファイルに従いテストパターンＢの出力を開始する。 - 特許庁

To shorten the test time of the setup time and hold time of input data and to improve the reliability of a test.例文帳に追加

入力データのセットアップ時間及びホールド時間のテスト時間を削減し、またテストの信頼性を向上させること。 - 特許庁

To discriminate an input signal as being an abnormal test signal which is not a sound signal or a rated test signal.例文帳に追加

入力信号が、音声信号または定格試験信号ではなく、異常試験信号であることを判別する。 - 特許庁

According to the test pattern, voltage is applied by a voltage generating section 11 to each input terminal of a test workpiece 5.例文帳に追加

このテストパターンに従って電圧発生部１１にて被検査ワーク５の各入力端子に対して電圧を印加する。 - 特許庁

A scan test device 1 according to the present invention includes a test data input terminal, an OR element 17, and a scan flip-flop 12.例文帳に追加

本発明にかかるスキャンテスト装置１は、テストデータ入力端子、ＯＲ素子１７、スキャンフリップフロップ１２を備える。 - 特許庁

The test latch circuit 12 holds temporarily a data pattern for test inputted through a data input/output buffer 9.例文帳に追加

テストラッチ回路１２は、データ入出力バッファ９を介して入力されたテスト用のデータパターンを一時的に保持する。 - 特許庁

An output scan cell 102 receives a mode selection signal 122 which indicates an input test mode or output test mode.例文帳に追加

出力走査セル１０２は、入力テストモード、または出力テストモードを指示するモード選択信号１２２を受ける。 - 特許庁

When a scan test mode signal designating the scan test mode is input, the selection circuit 15 masks the HW fixed key.例文帳に追加

スキャンテストモードを指定するスキャンモード信号が入力すると、モード選択回路１５は、ＨＷ固定鍵をマスクする。 - 特許庁

To generate diverse test data including an abnormal input not permitted to improve reliability of a test result.例文帳に追加

許容されないような異常入力を含めて多様なテストデータを生成し、テスト結果の信頼性を向上させる。 - 特許庁

To synchronize measurement views of a first input channel of a test measurement apparatus with measurement views of a second input channel thereof.例文帳に追加

試験測定機器の第１入力チャネルの測定ビューと第２入力チャネルの測定ビューを同期させる。 - 特許庁

A touch panel test mode is operated, and whether or not the successive input of a plurality of input areas 4 is feasible is checked.例文帳に追加

タッチパネルテストモードが動作させ、複数の入力領域４を順に入力可能か否かを確認する。 - 特許庁

The scan input data are read out of one of the RAMs to be input into the scan path, in the scan path test.例文帳に追加

そして、スキャンパステスト時に、一方のＲＡＭからスキャン入力データを読み出してスキャンパスに入力する。 - 特許庁

A test and measurement device 100 receives an RF signal at an input terminal 110.例文帳に追加

試験測定装置１００は、入力端子１１０でＲＦ信号を受ける。 - 特許庁

To reduce number of times for response input by a subject, and shorten an amount of test time.例文帳に追加

被検者の応答入力の回数を減らし、検査時間を短縮する。 - 特許庁

The JohnSmith node appears under HelloXSLTCAP Test and the input message file - Input.xml - opens in the editor. 例文帳に追加

「HelloXSLTCAP」「テスト」の下に「JohnSmith」ノードが表示され、入力メッセージファイル (Input.xml) がエディタで開きます。 - NetBeans

A test switch (41) is connected between the first input and the second input of the output amplifier section (40) and is turned on in response to a test signal (TEST) to output the output gradation voltage to the output node (OUT) in a test mode for performing a test related to the output of the D/A converter (50).例文帳に追加

テストスイッチ（４１）は、出力アンプ部（４０）の第１入力と第２入力間に接続され、Ｄ／Ａコンバータ（５０）の出力に関するテストが実施されるテストモードにおいて、テスト信号（ＴＥＳＴ）に応じてオンし、出力階調電圧を出力ノード（ＯＵＴ）に出力する。 - 特許庁

An operation content including all the input signals inputted to test equipment when a tester performs testing, an input time of day, and a time of day when the test has been performed by the test equipment is recorded as test data, their management table, and operation history every test ID, and is managed as a bug management database.例文帳に追加

テスターがテストを実施した際のテスト機器に入力された全ての入力信号と、入力された時刻と、テスト機器で実行された時刻を含む操作内容を、テストＩＤ毎に、テストデータと、その管理テーブルと操作履歴として記録してバグ管理データベースとして管理する。 - 特許庁

When the test of a work flow is designated, test data instead of input data for the work flow processing are prepared, and processing by a test operation following a parameter is executed about the test data, and when any problem is generated in the middle of a test operation, the test operation is stopped.例文帳に追加

ワークフローのテストが指定されると、当該ワークフロー処理用の入力データに代わるテストデータが作成され、このテストデータについてパラメータに従ったテスト動作での処理が実行され、テスト動作の途中で問題が発生した場合には、テスト動作が停止される。 - 特許庁

Next, a test input vector VEC is input into an input signal line, and an initial simulation output vector ISO is acquired in an output signal line.例文帳に追加

次に、テスト入力ベクトルＶＥＣを入力信号線に入力して初期シミュレーション出力ベクトルＩＳＯを出力信号線に得る。 - 特許庁

An input signal of an input terminal IN and a signal applied to a test signal input terminal test1 are given to the OR circuit 22.例文帳に追加

オア回路２２には、入力端子ＩＮの入力信号とテスト信号入力端子ｔｅｓｔ1 に印加された信号とが入力される。 - 特許庁

A test execution control means 1 instructs a test information input means 2, a test instruction sequence generating means 3, an expected value generating means 4, and a test execution result decision means 5 to perform processings and performs execution control over the whole test.例文帳に追加

試験実行制御手段１は、試験情報入力手段２と試験命令列生成手段３と期待値作成手段４と試験実行結果判定手段５とに対して処理を指示し、試験全体の実行制御を行う。 - 特許庁

An replacement component test results information input receiving section 122 receives replacement component test results information showing failure recurrence test results of the component replaced by the maintenance work, and stores the replacement component test results information in a replacement component test results DB 112.例文帳に追加

交換部品試験結果情報入力受付部１２２は，保守作業において交換された部品の障害再現試験結果を示す交換部品試験結果情報を受け付け，交換部品試験結果ＤＢ１１２に格納する。 - 特許庁

The test control logic can be connected to the input pin, and is composed so that a test period is started based on the state of the input pin, and the state of the input pin is stored in a storage device during a test period.例文帳に追加

テスト制御ロジックは、入力ピンに接続することができ、入力ピンの状態に基づいてテスト期間を開始するように構成され、およびテスト期間中に、入力ピンの状態を、記憶デバイスに記録するように構成されている。 - 特許庁

To shorten a test data input time and a test result output time to quicken a scanning test, as to a scanning chain circuit used in a scanning test for a semiconductor integrated circuit.例文帳に追加

半導体集積回路のスキャンテスト時に用いるスキャンチェーン回路に関し、テストデータ入力時間及びテスト結果出力時間を短縮し、スキャンテストの高速化を図ることができるようにする。 - 特許庁

To make generatable a simulation test bench capable of compression test pattern files of plural input signal lines into one test pattern file thereby reducing the occupied quantity of the test pattern file in a recording medium.例文帳に追加

複数の入力信号線のテストパターンファイルを一つのテストパターンファイルにデータ圧縮し、テストパターンファイルの記録媒体における占有量を減少させるシミュレーションテストベンチ生成を可能とする。 - 特許庁

To carry out a memory test at a high speed by evading that the path of an input signal for the memory test or an output signal of the memory becomes the critical path for a memory test, and to reduce further the number of terminals at the memory test.例文帳に追加

メモリテスト時にメモリテスト用入力信号やメモリの出力信号の経路がクリチカルな経路となることを回避してメモリテストを高速に行い、さらにメモリテスト時の端子数を削減する - 特許庁

To provide a test circuit and a test method in which a test is completed without interruption even though input signals are interrupted or changed, and to provide a semiconductor integrated circuit including the test circuit.例文帳に追加

入力信号が中断又は変更されても、テストを中断させずに完了させることができるテスト回路、テスト方法、及びテスト回路を含む半導体集積回路装置を提供する。 - 特許庁

To test operation corresponding to a fast clock only by input of a slow clock.例文帳に追加

低速クロックの入力のみで高速クロック相当の動作のテストを行うこと。 - 特許庁

The test substrate includes wiring connecting the scan output terminals and input terminals.例文帳に追加

試験基板は、スキャン出力端子と入力端子とを接続する配線を備える。 - 特許庁

To provide a testing device and a test method capable of measuring efficiently an input/output characteristic of a test object circuit equipped with a plurality of input terminals, synchronously with a clock.例文帳に追加

クロックに同期して、複数の入力端子を備えたテスト対象回路の入出力特性の測定を効率良く行えるテスト装置及びテスト方法の提供。 - 特許庁

If the digital signal outputted from the A/D converter 7 for the test input is not a value corresponding to the test input, it is proved that the failure exists in the analog power source 13.例文帳に追加

テスト入力に対してＡＤ変換器７が出力するデジタル信号がテスト入力に対応する値でない場合、アナログ電源１３の異常であることが分かる。 - 特許庁

A selector 110 selectively outputs input data D1 and a test pattern SIN.例文帳に追加

セレクタ１１０は、入力データＤ１とテストパターンＳＩＮを選択的に出力する。 - 特許庁