「test input」に関連した英語例文の一覧と使い方(4ページ目) - Weblio英語例文検索

Each Test Case in the Composite Application project will attempt to send the input message to the target process when you invoke the Test action.例文帳に追加

「テスト」アクションを呼び出すと、複合アプリケーションプロジェクト内の各テストケースが入力メッセージをターゲットプロセスに送信しようとします。 - NetBeans

Then, a data for an authentication test is acquired from the authenticated person 100 by the authentication data input part 103 to conduct the authentication test.例文帳に追加

その後、認証テストを行なうために、認証データ入力部103により被認証者100から認証テスト用データを取得する。 - 特許庁

This test system performing a test in a user program has: a user program execution part executing the user program including a test execution instruction; a test program storage part previously provided with a test program storage area rewritably storing the test program read and executed according to the test execution instruction; and a test program input part inputting the test program and storing it in the test program storage area.例文帳に追加

本発明におけるテストシステムは、ユーザープログラムのテストを行うテストシステムであって、テスト実行命令を含むユーザープログラムを実行するユーザープログラム実行部と、テスト実行命令に応じて読み出され実行されるテストプログラムを書き換え可能に格納するテストプログラム格納領域を予め設けたテストプログラム記憶部と、テストプログラムを入力しテストプログラム格納領域に格納するテストプログラム入力部を備えたテストシステムである。 - 特許庁

A ping tester includes a display means that displays an input screen that facilitates input of test information required for carrying out ping test; a receiving means that receives test information inputted on the input screen; and an executing means that carries out the ping test, by using the test information received by the receiving means.例文帳に追加

ｐｉｎｇ試験機は、ｐｉｎｇ試験を行うために必要となる試験用情報の入力を促す入力用画面を表示する表示手段と、前記入力用画面に入力された試験用情報を受け付ける受付手段と、前記受付手段にて受け付けられた試験用情報を用いて、ｐｉｎｇ試験を行う実行手段と、を含む。 - 特許庁

To enable a test of high accuracy wherein, with a simple circuit with few number of gates, a test pattern is easily generated, related to a test of an input/output part of a semiconductor integrated circuit.例文帳に追加

半導体集積回路の入出力部のテストに、テストパターンの作成が容易で、少ないゲート数の単純な回路でよく、精度の高いテストを可能とすること。 - 特許庁

First, a combination test confirmation extraction process 102 retrieves and extracts a process matching an input combination test confirmation process from program test patterns in a file 106.例文帳に追加

まず、組み合わせテスト確認抽出処理102は、入力された組み合わせテスト確認処理と一致する処理を、ファイル106内のプログラムテストパターンから検索・抽出する。 - 特許庁

Regarding each predetermined test of a test module, test environment and forms of input value and output value are uniquely determined by information stored in the information system.例文帳に追加

テストモジュールの所定の各テストに関して、テストの環境と入力値及び出力値の形式は、情報システムに保存された情報によって一義的に決定される。 - 特許庁

If a test interrupting order 62 is input when the test is performed by an external signal, the target value of the test force allowed to act on the testpiece is stored.例文帳に追加

外部信号により試験を行っている時、試験中断指令６２が入力されると、そのとき供試体に作用させる試験力の目標値を記憶する。 - 特許庁

Test data and test sequence required for test operation are set in a register, in an input signal region of the functional block to be tested from the outside of the LSI or the CPU.例文帳に追加

テスト対象とする機能ブロックの入力信号領域におけるレジスタにＬＳＩの外部又はＣＰＵからテスト動作に必要なテストデータとテストシーケンスを設定する。 - 特許庁

To provide a scan test pattern input method capable of minimizing tester memory capacity for storing test patterns and reproducing all the test patterns created by ATPG.例文帳に追加

テストパタンを記憶するテスターメモリ容量を最小限とし、かつＡＴＰＧによって生成された全てのテストパタンを再現可能なスキャンテストパタン入力方法を提供する。 - 特許庁

A test pattern insert data generating means 50 inserts the test pattern T to a position set by the input data Di to generate the test pattern insertion data TD.例文帳に追加

試験パターン挿入データ生成手段５０は、入力データＤｉ中の設定された位置に試験パターンＴを挿入し、試験パターン挿入データＴＤを生成する。 - 特許庁

A test data acquisition unit 132 acquires test data which has a size that can be finished by the time when next data is input, and outputs the test data to the decoding processing unit 11.例文帳に追加

テストデータ取得部１３２は、次の通信データが入力されるまでにテストが終了するサイズのテストデータを取得し、復号処理部１１に出力する。 - 特許庁

A test output control unit outputs the input data signal received by the data input unit in synchronization with the timing signal.例文帳に追加

テスト出力制御部は、データ入力部で受けた入力データ信号をタイミング信号に同期して出力する。 - 特許庁

To perform a level test of an input/output buffer of a semiconductor device without bringing a probe into contact with each input/output pad.例文帳に追加

半導体装置の入出力バッファのレベルテストを、各入出力パッドにプローブを接触させることなく行う。 - 特許庁

The master latch 104 is coupled to the data input 112 and to the scan test input 114 and includes an output.例文帳に追加

マスタラッチ１０４は、データ入力１１２および走査試験入力１１４に連結され、そして１出力を含む。 - 特許庁

To provide a self-test circuit that can ensure a CLK input and a test determination output even without an external input from a tester or without a result determination of a tester comparator, and can ensure a UART transmission/reception test.例文帳に追加

テスタからの外部入力がなくあるいはテスタコンパレータでの結果判定がなくてもＣＬＫ入力及びテスト判定出力が可能であり、またＵＡＲＴの送受信テストも可能であるセルフテスト回路を得ること。 - 特許庁

To provide a test diagnostic method for a computer system for starting test diagnosis even in a status that the normal operation of an input/output port is not sufficiently secured without using any input/output port for the transfer of a test diagnostic program.例文帳に追加

試験診断プログラムの転送に入出力ポートを使わず、入出力ポートの正常動作が十分に保証されない状態でも試験診断を開始できるコンピュータシステムの試験診断方法を提供する。 - 特許庁

This constitution has such an effect that the the number of LSI pins can be reduced because test dedicated pins such as pins for scanning test mode input dedicated for a scanning test or for external reset input are not required to be installed separately.例文帳に追加

かかる構成によれば，スキャンテスト用の専用のスキャンテストモード入力，外部リセット入力のピンなど，テスト専用ピンを別途設ける必要がないので，ＬＳＩのピンを少なくできるという効果がある。 - 特許庁

During a test, a signal is sent from a test input terminal to drive the test control circuit, a signal is output from the output side of an input/output tri-state circuit provided for use in test, and the drive result is observed at an input buffer of the input/output tri-state circuit, thereby checking whether the pull-up and pull-down resistance of a load is present.例文帳に追加

テスト時にはテスト用入力端子から信号を送りテスト制御回路を駆動し、テスト用に設けた入出力トライステート回路の出力側から信号を出力し、その駆動結果を入出力トライステート回路の入力バッファで観測することにより、負荷のプルアップ、プルダウン抵抗があるかどうかをチェックする。 - 特許庁

In the case of generating the simulation test bench of a digital LSI circuit with plural input signal lines, test patterns are generated for every input signal line (a step 10), the test patterns with the same input timing are connected by bit connection for at least two or more input lines and the test pattern file to which the data compression is performed is generated (a step 11).例文帳に追加

複数の入力信号線を持つデジタルＬＳＩ回路のシミュレーションテストベンチを生成する場合において、各入力信号線ごとにテストパターンを作成し（ステップ１０）、それらを少なくとも２本以上の入力信号線について、入力するタイミングが同じものをビット連接により接合し、データ圧縮したテストパターンファイルを生成する（ステップ１１）。 - 特許庁

To modify a test pattern so as to be in accord with input-output switching timing of an input-output terminal of an integrated circuit measured by an input-output switch timer.例文帳に追加

入出力切替えタイミングが測定する集積回路の入出力端子の入出力切替えタイミングに合うようにテストパタンを修正する。 - 特許庁

In an activation test sequence:11000, the propagation test sequence:11011 and the propagation test sequence:11010 of the test sequence ID:9 are input into the ATPG 2100, to generate test patterns 11000XX, 11011XX, 11011XH.例文帳に追加

テストシーケンスＩＤ：９の活性化テストシーケンス：１１０００、伝播テストシーケンス：１１０１１および伝播テストシーケンス：１１０１０をＡＴＰＧ２１００に入力して、テストパターン１１０００ＸＸ、１１０１１ＸＸ、および１１０１１ＸＨを生成する。 - 特許庁

Out of one or a plurality of test case candidates generated by a conventional method and one or a plurality of test case candidates selected from the set of input test cases, test cases having the highest score are added to the set of output test cases (716).例文帳に追加

従来手法によって生成されたひとつ又は複数のテストケース候補と、入力テスト・ケースの集合から選択されたひとつまたは複数のテストケース候補のうち、最もスコアが高いものを出力テスト・ケースの集合に追加する（７１６）。 - 特許庁

The test system 6 includes a monitor run mask processing part for controlling a reception acceptance/rejection of test data when the communication data transferred from the gate way device 5 is input as the test data and a test is executed, to improve a test organization.例文帳に追加

試験系システム６には、ゲートウェイ装置５から転送される通信データを試験データとして入力して試験を実施するときに、試験データの受信可否を制御するモニタランマスク処理部を備えることで、試験の制度を向上させる。 - 特許庁

In a test mode, whether or not a plurality of fixed keys 7 can be successively input is checked.例文帳に追加

テストモードにおいて、複数の固定キー７を順に入力可能か否かを確認する。 - 特許庁

To quickly input the images of a plurality of test objects such as fingers.例文帳に追加

指といった複数の被検体の画像を短時間で入力することができるようにする。 - 特許庁

In the condition, a prescribed test pattern is input to the device chip 4 to check operation.例文帳に追加

この状態で、デバイスチップ４に所定のテストパターンを入力して動作をチェックする。 - 特許庁

The PM test signal is input to the multiplier 16 through the delay adjustment part 12.例文帳に追加

ＰＭテスト信号は、遅延調整部１２を介して乗算器１６に入力される。 - 特許庁

Each test control signal FTG is supplied to the input end of the other.例文帳に追加

また、他方の入力端には、それぞれテスト制御信号ＦＴＧが供給される。 - 特許庁

A test piece 19 is sandwiched between the input rod 3 and the output rod 5.例文帳に追加

入力棒３と出力棒５との間には、試験片１９が挟持されている。 - 特許庁

On the other hand, a test input signal SI is inputted to an AND/OR inverter circuit AOI2.例文帳に追加

一方、テスト入力信号ＳＩは、アンドオアインバータ回路ＡＯＩ２に入力される。 - 特許庁

A multiplexer 24 selects an input signal to be input to a circuit 21 on the occasion of usual use, and a scanning test signal to be input to a circuit 22 on the occasion of the scanning test, and leads this selected signal to the circuits 21, 22.例文帳に追加

マルチプレクサ２４は、通常使用時に回路２１に入力される入力信号と、スキャンテスト時に回路２２に入力されるスキャンテスト信号とを選択し、この選択信号を回路２１、２２に導く。 - 特許庁

The semiconductor device 1 includes a test mode setting circuit 21 which is connected onto an output route of the mask circuit 11 and performs setting of a test to be performed in the test mode, according to the test mode setting signal being input.例文帳に追加

半導体装置１は、マスク回路１１の出力経路上に接続され、テストモード設定信号が入力されることに応じてテストモードで行われる試験の設定を行うテストモード設定回路２１を備える。 - 特許庁

A test pattern to the logic circuit 4 generated in the test pattern generation circuit 12 is forcedly assigned to a corresponding scan flip-flop as a PLS input test pattern by the first test pattern generation circuit 13.例文帳に追加

テストパターン発生回路１２で生成された論理回路４に対するテストパターンは、第１のテストパターン生成回路１３でＰＬＳ用入力テストパターンを対応するスキャンフリップフロップに強制的に割り付けされる。 - 特許庁

Then, the control computer 20 can display the test scheduled input screen for inputting the schedule of a test on the monitor 30.例文帳に追加

そして、制御コンピュータ２０は、テストのスケジュールを入力させるためのテストスケジュール入力画面を、モニタ３０に表示することができる。 - 特許庁

A test sound wave is inputted into the microstructure sensor device, and a frequency characteristic of the output voltage amplitude of the sensor responded to the input of the test sound wave is analyzed.例文帳に追加

テスト音波を入力して、テスト音波の入力に応答したセンサ出力電圧振幅の周波数特性を解析する。 - 特許庁

The plural input pads of the test circuit 14 are connected through test wirings 18 with the corresponding terminals of all the chips 12.例文帳に追加

テスト回路１４が備える複数の入力パッドをテスト配線１８を介して全てのチップ１２の対応する端子に接続する。 - 特許庁

To properly test a semiconductor memory even when the waveform of an input signal supplied to the semiconductor memory in a test is not normal.例文帳に追加

試験時に半導体メモリに供給される入力信号の波形が正常でないときにも、半導体メモリを正しく試験する。 - 特許庁

Synchronization test of the breaker into which the input command signal has been input at the earliest timing is performed by one synchronization test device 700 and start of the synchronization test device 700 by input of a breaker input signal from another line is blocked until an inputting operation of an object breaker is finished.例文帳に追加

１台の同期検定装置７００で、最も早いタイミングで投入指令信号が入力された遮断器の同期検定を行ない、対象遮断器の投入動作が終了するまで他の回線からの遮断器投入信号の入力による同期検定装置７００の起動をブロックする。 - 特許庁

The input circuit includes a glitch removal circuit supplied with the input signal on the basis of activation of a test mode signal.例文帳に追加

入力回路は、テストモード信号の活性化に基づいて入力信号が供給されるグリッチ除去回路を備えている。 - 特許庁

In the delay test circuit 10, an input clock signal 20 is input which is generated in the interior of the semiconductor integrated circuit.例文帳に追加

ディレイテスト回路１０には、当該半導体集積回路の内部で生成された入力クロック信号２０が入力される。 - 特許庁

A logic device 100 comprises: a data input 112; a scan test input 114; a clock demultiplexer 108; and a master latch 104.例文帳に追加

論理装置１００はデータ入力１１２、走査試験入力１１４、クロックデマルチプレクサ１０８、およびマスタラッチ１０４を含む。 - 特許庁

To provide a semiconductor test system capable of testing even in the case that the number of data input/output pads (or pins) of semiconductor chip to be tested is larger than the number of data input/output pins of tester of the semiconductor test system, and test method.例文帳に追加

半導体テストシステムのテスターのデータ入出力ピンの数よりもテストすべき半導体チップのデータ入出力パッド（または、ピン）の数が多い場合にもテストが可能な半導体テストシステム及びテスト方法を提供する。 - 特許庁

When a test signal for controlling switching between a normal operation mode and a test mode indicates the test mode, the switching circuit 4 makes an input signal IT to the monitoring circuit 2 different from an input signal IN to the main body circuit 1.例文帳に追加

切り替え回路４は、通常動作モードとテストモードの切り替えを制御するテスト信号がテストモードを示すときは、監視用回路２への入力信号ＩＴを、本体回路１への入力信号ＩＮとは異なる信号とする。 - 特許庁

At least one chip out of the first and the second chips receives an input voltage through the common input/output pad and includes a high voltage generator that generates a test voltage in response to test mode signals between test operating modes.例文帳に追加

第１及び第２のチップのうち少なくとも一つは、共通入／出力パッドを通じて入力電圧を受け入れ、テスト動作モード間テストモード信号に応答してテスト電圧を発生する高電圧発生器を含む。 - 特許庁