「test input」に関連した英語例文の一覧と使い方(5ページ目) - Weblio英語例文検索

The test pattern generated by the test pattern generator 10 is input in the tested LSI2 and the output pattern output from the tested LSI2 is input in a comparator 12.例文帳に追加

テストパターン発生部１０によって発生されたテストパターンは被試験ＬＳＩ２に入力され、被試験ＬＳＩ２から出力された出力パターンは比較部１２に入力される。 - 特許庁

All test patterns are sequentially inputted in the logic integrated circuit 3 which is the test target from application software of a test pattern input/output controller 4 composed of a PC, its output is read by the test pattern input/output controller 4, and an output pattern 6 is created.例文帳に追加

ＰＣで構成されたテストパターン入出力制御装置４上のアプリケーションソフトから試験対象となる論理集積回路３に全てのテストパターンを順次入力し、その出力をテストパターン入出力制御装置４に読み出しアウトプットパターン６を作成する。 - 特許庁

A test data generation device 100 includes: a test case storage part 101 for storing test cases; a test input data generation part 102 for generating new test cases; a program execution part 103 for executing a program (hereafter called application 110) to be tested according to a test case; and a test case generating part 104 for generating new test cases.例文帳に追加

上記課題を解決するために、テストデータ生成装置１００に、テストケースを記憶するテストケース記憶部１０１と、新たなテストケースを生成するテスト入力データ生成部１０２と、テストケースにしたがってテスト対象のプログラム（以下、「アプリケーション１１０」という）を実行させるプログラム実行部１０３と、新たなテストケースを生成するテストケース生成部１０４と、を備える。 - 特許庁

To make processing of a test, from preparation of test problems and user's input of answers to confirmation by displaying the grading result, in completely paperless manner and rapidly, even in a written test.例文帳に追加

筆記式試験においても、試験問題の作成も含め、利用者の解答入力から採点結果の表示による確認までを、完全にペーパレスで迅速に行うことを課題とする。 - 特許庁

To provide an interface test circuit and a method including a high-speed input/output circuit (HSIO) test circuit and method which can be used for assembled self-test (BIST).例文帳に追加

組込み自己試験（ＢＩＳＴ）に用いることができる高速入力／出力回路（ＨＳＩＯ）試験回路及び方法を含むインタフェース試験回路及び方法を提供する。 - 特許庁

An ADC test circuit has an expected value generator 1, a test signal generator 2, an input signal selector 3, an ADC 4 for a test, a comparator 5, and an internal logic portion 6.例文帳に追加

ＡＤＣテスト回路は、期待値生成部１と、テスト信号生成部２と、入力信号選択部３と、テスト対象のＡＤＣ４と、比較部５と、内部ロジック部６を備えている。 - 特許庁

The specification of the apparatus for the characteristic test, the selection of the characteristic test, and the input and output used for the input of input values are performed by a graphical user interface of a personal computer 4 and the decision of the results meeting the input values is also displayed on the screen of the personal computer 4.例文帳に追加

特性試験の対象装置の特定、特性試験の選定および入力値の入力に用いる入出力をパソコン４のグラフィカルユーザインターフェースによりおこない、入力値に応じた結果の判定もパソコン４の画面に表示する。 - 特許庁

This test pattern evaluating device 2 comprising an evaluating condition output section 21, a test result input section 22 and a test pattern editing section 23, outputs test pattern evaluating conditions to a test pattern testing section 1 for carrying out testing of a test pattern using a tester to a semiconductor device to be measured, and corrects the test pattern.例文帳に追加

本発明のテストパターン評価装置２は、評価条件出力部２１と、試験結果入力部２２と、テストパターン評価装置２３とを備え、測定対象の半導体装置に対してテスタを用いてテストパターンの試験を行うテストパターン試験部１に対してテストパターンの評価条件の出力したり、テストパターンの修正を行う。 - 特許庁

For example, the switches SW1-SW4 are controlled not to input the input data into all the processing parts, when the input data is a droplet shot position error irregularity measuring test chart.例文帳に追加

例えば、入力画像データが打滴位置誤差ムラ測定用テストチャートである場合には、全ての処理部に入力しないようにＳＷ１〜ＳＷ４を制御する。 - 特許庁

In an actual speed test, a selector 2 selects and outputs a clock input signal inputted from the delay section 3, from between the clock input signal and an input signal from an external terminal.例文帳に追加

セレクタ２は、実速度試験時、遅延部３からのクロック入力信号と外部端子からの入力信号の中から前記クロック入力信号を選択して出力する。 - 特許庁

By visually editing the input object or output object and the input information or output information according to test item operations or verification order, a test specification and a manual can be created, an automatic test can be executed based on the edited test specification, and evidence as a test result is acquired corresponding to each test item and is output.例文帳に追加

前記入力対象または出力対象と前記入力情報または出力情報を試験項目の操作または検証の順番に従ってビジュアル的に編集していく事によって試験仕様書およびマニュアルを作成することができ、編集された試験仕様書を元に自動試験が実行でき、試験結果として試験項目毎に対応してエビデンスを取得し出力する - 特許庁

Input of the measurement start key of the next test specimen is permitted in the reaction time, and measurement is performed after measurement finish of the preceding test specimen.例文帳に追加

この反応時間内に次被検検体の測定開始キーの入力を許可し、前被検検体の測定終了後に測定を行う。 - 特許庁

The read circuit 110 allows an external device (e.g. a memory tester) to supply test clock pulses to an input of the digital counter during the test mode.例文帳に追加

該読み出し回路110は、テストモード中に外部装置（例えばメモリテスタ）がディジタルカウンタの入力にテストクロックパルスを供給することを可能にする。 - 特許庁

To conduct test of DRAM with a less number of input/output pins and simultaneously test a larger number of LSIs.例文帳に追加

より少ない数の入出力ピンでもってＤＲＡＭ部の検査を行い、それによって従来よりも多くの数のＬＳＩを同時に検査すること。 - 特許庁

To provide an integrated circuit test method, said method using at least one test vector comprising serialized input and output values.例文帳に追加

本発明は、直列化した入力と出力値を有する少なくとも一つのテストベクトルを利用する集積回路のテスト方法に関する。 - 特許庁

A test determination unit 131 determines whether a fault diagnostic test can be performed based on a time period until next communication data is input.例文帳に追加

テスト可否判定部１３１は、次の通信データが入力されるまでの時間を基に、故障診断テストを行えるか否かを判定する。 - 特許庁

The delay test on the input terminal side of an IP macro 10 is executed by performing the delay test between a flip-flop 15 and a scanning flip-flop 14.例文帳に追加

ＩＰマクロ１０の入力端子側の遅延試験をフリップフロップ１５とスキャンフリップフロップ１４間の遅延試験を行うことで実行する。 - 特許庁

To provide a technique or a device for measuring the input threshold levels of test objects, without requiring synchronization with the signals applied to test objects.例文帳に追加

被測定物に印加される信号との同期を要せず、被測定物の入力閾値レベルを測定する方法または装置を提供する。 - 特許庁

An expected value input support means 12 displays corresponding message type information to prompt input of a message value expected to be exchanged to the input of the test value, and stores, upon input thereof, the input value as an expected value.例文帳に追加

期待値入力支援手段12は、対応するメッセージ型情報を表示させ、前記テスト値の入力に対して、やり取りされると期待されるメッセージの値の入力を促し、入力されると、期待値として記憶する。 - 特許庁

After a test mode is set, an input side of a switch is switched to a pulse output line side.例文帳に追加

テストモードに設定された後、スイッチの入力側がパルス出力ライン側に切り換えられる。 - 特許庁

To obtain a mobile phone voice input test device with a high efficiency without losing the operability.例文帳に追加

効率性が高く、且つ作業性を損なわない携帯電話機音声入力試験装置を得る。 - 特許庁

To provide a switching system for a multichannel test that can properly calibrate external trigger input of an oscilloscope.例文帳に追加

オシロスコープの外部トリガ入力を適切に較正することのできる切替システムを提供する。 - 特許庁

Packet information input for a test from the outside is stored in any of buffers 201.例文帳に追加

外部から試験用に入力されたパケット情報はバッファ２０１のうちの何れかに格納される。 - 特許庁

Test data input time series compression circuit 1-3 has a flag register, a data register and a computing unit.例文帳に追加

テストデータ入力時系列圧縮回路１−３は、フラグレジスタ、データレジスタ、及び演算器を有する。 - 特許庁

Then test data are stored in an input data register 24 in synchronism with the clock CLK1.例文帳に追加

このとき、入力データ用レジスタ２４には、テストデータがクロックＣＬＫ_t に同期して格納される。 - 特許庁

In the test mode, whether or not a signal input/output function of the control unit 10 is good is inspected.例文帳に追加

そして、そのテストモードで制御ユニット１０の信号入出力機能の良否を検査する。 - 特許庁

To increase working efficiency, and to easily execute an IC test according to the input and output of a homogenous signal.例文帳に追加

より作業効率が高く、同質信号の入出力でＩＣ試験を簡易に実行する。 - 特許庁

An input buffer circuit 41 has an output buffer 44 and switches 42, 43 for a test.例文帳に追加

入出力バッファ回路４１は、出力バッファ４４とテストのためのスイッチ４２，４３を有する。 - 特許庁

In a test mode, the flip-flops constitute a scan chain, and scan data is input to the scan chain.例文帳に追加

テストモード時、フリップフロップはスキャンチェーンを構成し、そのスキャンチェーンにはスキャンデータが入力される。 - 特許庁

To provide test equipment which can input test signal to both first and second terminals of a device under test, further can prevent mixing of frequency component in signals output from plural devices under test so as to properly test these plural devices under test.例文帳に追加

被試験装置の第１の端子及び第２の端子の両方に試験信号を入力して試験を行うことができ、複数の被試験装置の出力信号の周波数成分が混合されることを防ぎ、複数の被試験装置を正しく試験することができる試験装置を提供することを課題とする。 - 特許庁

Moreover, various circuits 2, 3, 4, 5, 6, 7, 17, and 18 switch output signals to the set test data when the test mode setting is valid on the basis of the test mode selection signal and the test data input signal.例文帳に追加

以下、各種回路２、３、４、５、６、７、１７および１８についてもテストモード選択信号とテストデータ入力信号により、それぞれに設定されたテストモード設定が有効の場合、設定されたテストデータに出力信号を切り替える。 - 特許庁

When a bender test mode conducting a voltage acceleration test is entered, a test signal TM1 at a low level is input to step-down power circuits 15, 16 from a bender test circuit, a transistor 19 is turned on, and operation as an operational amplifier is stopped.例文帳に追加

電圧加速テストを行うベンダテストモードがエントリされるとベンダテスト回路から降圧電源回路１５，１６にローレベルのテスト信号ＴＭ１が入力され、トランジスタ１９がＯＮし、演算増幅器としての動作が停止となる。 - 特許庁

A test instruction device 10 obtains operation information input from a user to test target software, prepares operation instruction information based on the operation information and distributes the test target software to a test execution device 20.例文帳に追加

試験指示装置１０が、試験対象ソフトウェアに対してユーザから入力された操作情報を取得し、この操作情報に基づいて操作指示情報を作成し、試験対象ソフトウェアを試験実行装置２０へ配布する。 - 特許庁

The logic chip (2) is provided with a data storage circuit (22) for holding test data at a test mode, and the test data supplied through a data input/output terminal (6) in response to a test data set command are stored in the data storage circuit (22).例文帳に追加

ここにおいて、ロジックチップ（２）は、テストモード時にテストデータを保持するデータ記憶回路（２２）を備え、テストデータセットコマンドに応答してデータ入出力端子（６）を介して供給されるテストデータを、データ記憶回路（２２）に格納する。 - 特許庁

INPUT/OUTPUT TRANSFORMER, TEST METHOD OF POWER PROTECTION CONTROL DEVICE, AND ELECTRICAL QUANTITY INPUT/OUTPUT METHOD OF POWER PROTECTION CONTROL DEVICE例文帳に追加

入出力変成器、電力用保護制御装置の試験方法、並びに電力用保護制御装置の電気量入出力方法。 - 特許庁

Then, the test curving is measured, the measured result is input, and a corrected profile is made based on the measured profile which bas been input.例文帳に追加

次に、試験彫刻が測定され測定結果が入力され、入力された測定結果に基づいて補正プロファイルが作製される。 - 特許庁

To provide a test circuit for semiconductor device capable of fixing the logic of all input terminals by input from few terminals.例文帳に追加

本発明は少ない端子からの入力で、すべての入力端子の論理を固定できる半導体装置のテスト回路を提供する。 - 特許庁

In a test mode in which input/output characteristics of a differential input circuit 10 is tested, the test circuit includes varies at least one of signal levels of an inverting input signal INB and a noninverting input signal INT input to the differential input circuit 10, and reduces a difference between the signal levels of the inverting input signal INB and the noninverting input signal INT more than that in a normal operation.例文帳に追加

本発明によるテスト回路は、差動入力回路１０の入出力特性をテストするテストモード時、差動入力回路１０に入力される反転入力信号ＩＮＢと非反転入力信号ＩＮＴの少なくとも一方の信号レベルを変動させて、反転入力信号ＩＮＢと非反転入力信号ＩＮＴの信号レベルの差を通常動作時よりも小さくする。 - 特許庁

A printed circuit board 422 of the test device 420 includes a plurality of shared patterns CPATk for holding at least two or more of the corresponding test channels CHk, out of the plurality of test channels CHk for connecting an input terminal ITERMk to a test pin, in common with the corresponding one input terminal ITERMk out of the input terminal ITERMk.例文帳に追加

テスト装置４２０の印刷回路基板４２２は、入力端子ＩＴＥＲＭｋとテストピンとを連結する複数のテストチャンネルＣＨｋのうち、対応する少なくとも二つ以上のテストチャンネルＣＨｋを、入力端子ＩＴＥＲＭｋのうち、対応する一つの入力端子ＩＴＥＲＭｋに共有させる共有パターンＣＰＡＴｋを複数個備える。 - 特許庁

A generation processing part 11 generates, based on the input data item definition 3 and the function definition 4, the test item list 5 including test items and typical data for an item type contained in the input data item definition 3, and substitutes the input data 2 by the typical data, thereby generating output data 6 for performing a test based on the test item list 5.例文帳に追加

生成処理部１は、入力データ項目定義３と機能定義４とに基づいて、入力データ項目定義３に含まれる項目タイプについてのテスト項目及び典型データを含むテスト項目リスト５を生成し、入力データ２を典型データで置換することにより、テスト項目リスト５に基づくテストを行うための出力データ６を生成する。 - 特許庁

When receiving a memory test pattern for a pattern input period, the flash ROM 40 latches the memory test pattern in its inside, and the latched data of memory test pattern are written in a memory cell array for a nonvolatile program period after a lapse of the pattern input period.例文帳に追加

フラッシュＲＯＭ４０は、メモリテストパターンをパターン入力期間に入力すると、これが内部でラッチされ、パターン入力期間経過後の不揮発性プログラム期間において、ラッチされたメモリテストパターンのデータがメモリセルアレイに書き込まれていく。 - 特許庁

The test pattern input from and output to an inter-chip connection pad of the semiconductor chip to be made an object of a functional test is generated by using a boundary scan of another semiconductor chip, and is composed with the test pattern input from and output to the pad connected to the external terminal.例文帳に追加

他の半導体チップのバウンダリスキャンを用いて機能テストの対象とする半導体チップのチップ間接続パッドから入出力されるテストパターンを生成し、外部端子に接続されるパッドから入出力されるテストパターンと合成する。 - 特許庁

A test circuit 14 is connected to the inner bus BLout, and the test circuit 14 outputs a response signal via the inner bus BLout, the output buffer 13 and the output pads DQ0 to DQn, in response to a signal input to the input pads IN, IN0 to INn during a continuity test.例文帳に追加

試験回路１４が内部バスBLoutに接続され、導通試験時において、試験回路１４は入力パッドIN,IN0〜INnに入力された信号に応答して、内部バスBLout、出力バッファ１３、出力パッドDQ0〜DQnを介して応答信号を出力する。 - 特許庁

In generating the source code, a setting method configuring a program for setting the test data of input items is generated as well as the source code, and before the test, the setting method is called, and test data are set, and during the test, the setting method is called, and the display screen is displayed with the test data set in the input items.例文帳に追加

このテスト方法において、ソースコード生成時に、ソースコードと共に入力項目のテストデータを設定するためのプログラムとなる設定メソッドを生成し、テスト実行前に、設定メソッドを呼び出してテストデータを設定し、テスト実行時に、設定メソッドを呼び出して入力項目内にテストデータが設定された状態で表示画面を表示する。 - 特許庁

To improve test efficiency of a unit test of software by automatically generating a stub function mounted with an interface of input/output between a lower function called by a function of a test target and the function of the test target, in the unit test of the software using the stub function.例文帳に追加

スタブ関数を用いたソフトウェアの単体試験において、試験対象の関数が呼び出す下位関数と試験対象の関数との間の入出力のインターフェースを実装したスタブ関数を自動的に生成することにより、ソフトウェアの単体試験の試験効率を向上させること。 - 特許庁