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Weblio 辞書 > 英和辞典・和英辞典 > test inputに関連した英語例文

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test inputの部分一致の例文一覧と使い方

該当件数 : 1297



例文

A test value input prompting means 11 displays the acquired argument and the type thereof to prompt an operator to input a test value.例文帳に追加

テスト値入力催促手段11は取得された引数およびその型を表示しテスト値の入力を操作者に促す。 - 特許庁

The input terminals are released from external connections in scan test.例文帳に追加

入力端子は、スキャンテスト時に外部の接続が開放される。 - 特許庁

INPUT BUFFER CIRCUIT AND METHOD FOR OPERATION TEST OF SEMICONDUCTOR DEVICE例文帳に追加

入力バッファ回路、及び半導体装置の動作試験方法 - 特許庁

Then, a test mode signal is input by the test mode setting input pin 4, and its state is stored by the shift register 7.例文帳に追加

次に、テストモード設定用入力ピン4からテストモード信号が入力され、その状態は、シフトレジスタ7に記憶される。 - 特許庁

例文

The test execution device 500 delivers input data to the test target device 402 to the function of the test program to execute the test program, and notifies the test management device 600 about an execution situation thereof.例文帳に追加

そして、試験対象装置402への入力データをテスト・プログラムの関数に渡すことによりテスト・プログラムを実行し、その実行状況を試験管理装置600へ通知する。 - 特許庁


例文

To provide a test circuit that can set a test mode and input a test signal after setting the test mode even if a terminal to be used only in the test mode is not provided in a semiconductor package.例文帳に追加

半導体パッケージにテストモード時にのみ使用される端子を設けなくても、テストモードの設定及びテストモード設定後のテスト信号入力ができるテスト回路を提供する。 - 特許庁

On the basis of clock for test from the input terminal, the test pattern generating means generates the digital signal for test which is based on the test pattern, and supplies the signal to an input side of the DAC.例文帳に追加

テストパターン発生手段は、テスト用クロック信号入力端子からのテスト用クロックに基づいて、前記テストパターンに従ったテスト用ディジタル信号を発生し、DACの入力側に供給する。 - 特許庁

A circuit for generating an input signal exclusive to the burn-in test is not provided in the logic circuit 2, and the burn-in test is carried out using an input signal for the scanning test.例文帳に追加

ロジック回路2は、バーンイン試験専用の入力信号を生成するための回路を具備せず、スキャン試験用の入力信号を用いてバーンイン試験が行われる。 - 特許庁

Consequently, in the case that a test vector including 0 as input data exists in the pre-addition test case (S50), a test vector including -0 as input data is added (S60).例文帳に追加

したがって、付加前テストケース中に0を入力データとしたテストベクタが存在する場合には(S50)、−0を入力データとしたテストベクタが付加される(S60)。 - 特許庁

例文

Respective test input terminals 3a_1 to 3a_n of the selection circuit 2a are connected to test terminals 11_1 to 11_n of a logic circuit 10, and test input signals IS_1 to IS_n are input thereto from the logic circuit 10.例文帳に追加

選択回路2aの各テスト入力端子3a_1〜3a_nは、論理回路10のテスト端子11_1〜11_nに接続され、論理回路10からテスト入力信号IS_1〜IS_nが入力される。 - 特許庁

例文

An input/output analysis test bench is provided which associates and integrates an input analysis test bench for analyzing the input signals and an output analysis test bench for analyzing the output signals.例文帳に追加

入力信号を解析する入力解析テストベンチと出力信号を解析する出力解析テストベンチを、以上2つを関連付けし統合する入出力解析テストベンチを設ける。 - 特許庁

The input for the product under test (11, 46, 55, 77-79) is transferred to a process that presents the input to the product under test as if the input came from an input device directly connected to the product under test.例文帳に追加

テスト対象製品(11,46,55,77−79)に対する入力は、その入力がテスト対象製品に直接接続された入力装置によってもたらされたかのように、入力をテスト対象製品に与えるプロセスに転送される。 - 特許庁

A test signal is input from either of the first input terminal 3 and the second input terminal 4.例文帳に追加

第1の入力端子3及び第2の入力端子4のいずれか一方の端子からテスト信号を入力する。 - 特許庁

INPUT LOAD MEASUREMENT DEVICE FOR SHOULDER PART OF DUMMY IN COLLISION TEST例文帳に追加

衝突試験用ダミーにおける肩部入力荷重計測装置 - 特許庁

A hold restriction time may be reduced for the test input signal SI.例文帳に追加

テスト入力信号SIはホールド制約時間が小さくて済む。 - 特許庁

A nominal measurement map is created based upon a test video input, and an attention probability map is created based upon a test video input.例文帳に追加

テスト・ビデオ入力に基づいて公称測定マップを作成し、テスト・ビデオ入力に基づいて注視点確率マップを作成する。 - 特許庁

The test init function scales the input photomap.例文帳に追加

このテストの初期化関数は、入力のフォトマップを拡大・縮小する。 - XFree86

A half SIN1 of a test data SIN is input into FFs 10, 11 from a data input and output node 15 in a test data input mode, and the other half of the half SIN2 of the test data SIN is input into FFs 13, 14 from a data input and output node 16.例文帳に追加

テストデータ入力モード時は、データ入出力ノード15からテストデータSINの半分SIN1をFF10、11に入力すると共に、データ入出力ノード16からテストデータSINの他の半分SIN2をFF13、14に入力する。 - 特許庁

In place of the input analog signal, a test signal is inputted to execute a predetermined test.例文帳に追加

入力アナログ信号に代えテスト信号を入力して、所定のテストを行うように構成される。 - 特許庁

An address AD generated for a memory access test is input to memory test devices TST and WS.例文帳に追加

メモリアクセス試験のために生成されたアドレスADがメモリ試験装置TST、WSに入力される。 - 特許庁

The test pattern output from the function test pattern output part 21 is input into the LSI 11.例文帳に追加

一方、ファンクションテストパターン出力部21から出力したテストパターンは、LSI11へと入力される。 - 特許庁

Provided are a test signal source 39 which generates the test signal of high frequency and a test signal supply circuit 23 which performs input switching.例文帳に追加

高周波のテスト信号を発生するテスト信号源39および入力切換えを行うテスト信号供給回路23を設ける。 - 特許庁

To detect a test pattern of a projector even if the test pattern is superimposed on an input video image when detecting the test pattern.例文帳に追加

プロジェクタのテストパターン検出にあたり、入力映像にテストパターンを重畳しても、そのテストパターンの検出を可能にすることにある - 特許庁

An input/output means 6 for redundant memory cell being exclusive for input/output of data of a redundant memory cell space at the time of a test mode is provided in an input/output circuit 5 for test.例文帳に追加

テスト用入出力回路5に、テストモード時に冗長メモリセル空間のデータ入出力専用の冗長メモリセル用入出力手段6を設ける。 - 特許庁

In a propagation test sequence:11XX0 of the test sequence ID:8 is input into the ATPG 2100, to generate a propagation test sequence:11010 of the test sequence ID:9.例文帳に追加

テストシーケンスID:8の伝播テストシーケンス:11XX0をATPG2100に入力して、テストシーケンスID:9の伝播テストシーケンス:11010を生成する。 - 特許庁

The test data including at least first test data for a first scan chain and second test data for a second scan chain is inputted to the test data input terminal.例文帳に追加

テストデータ入力端子には、第1のスキャンチェーンに対する第1のテストデータと第2のスキャンチェーンに対する第2のテストデータとを少なくとも含むテストデータが入力される。 - 特許庁

In a propagation test sequence:11XX1 of the test sequence ID:8 is input into the ATPG 2100 to generate a propagation test sequence:11011 of a test sequence ID:9.例文帳に追加

テストシーケンスID:8の伝播テストシーケンス:11XX1をATPG2100に入力して、テストシーケンスID:9の伝播テストシーケンス:11011を生成する。 - 特許庁

An individual user data insertion circuit 1 receives a test mode selection signal and a test data input signal from a test mode setting/test data generating circuit 19 to discriminate whether or not the setting of the test mode is valid.例文帳に追加

個別ユーザーデータ挿入回路1は、テストモード設定/テストデータ生成回路19からのテストモード選択信号とテストデータ入力信号を受け取り、テストモード設定が有効か否かを判断する。 - 特許庁

Then, the test control means 43 input again the test scenario that has failed in the test out of the test scenarios 45 input in the test simulator 41 and commands to load change means 42 to change a load applied to the multitask OS.例文帳に追加

その後、テスト制御手段43は、テストシミュレータ41に入力したテストシナリオ45の内、テスト失敗となったテストシナリオを再度テストシミュレータ41に入力すると共に、負荷変更手段42に対して上記マルチタスクOSにかかる負荷を変更するように指示する。 - 特許庁

To lighten a burden on a test vector designer, to make it possible to input a test vector into a simulator without erroneous input, and also to shorten test vector generating time, by generating the test vector automatically in a short period of time.例文帳に追加

テストベクタを短時間で、かつ自動的に生成することにより、テストベクタ設計者の負荷の低減を図り、誤入力なく、テストベクタをシミュレータに入力に可能としテストベクタ生成時間の短縮化も図ること。 - 特許庁

To provide a digital controller capable of lessening operations at an input and output checking test and shortening a period of the input and output checking test.例文帳に追加

入出力確認試験における作業を軽減し、入出力確認試験の期間短縮が可能なディジタル制御装置を提供する。 - 特許庁

To provide a differential input A/D converter for facilitating an operation test.例文帳に追加

動作試験を容易にする差動入力ADコンバータを提供する。 - 特許庁

A scan test signal is input to the second data fetching/holding means.例文帳に追加

第2のデータ取込保持手段には、スキャンテスト信号が入力される。 - 特許庁

A single calibration input element allows an input by a user to input the calibration number corresponding the test sensor by one column at once.例文帳に追加

単一較正入力要素は、ユーザが、試験センサに対応する較正番号を一度に1桁ずつ入力することを許す。 - 特許庁

To allow an input element to surely check the function of a programmable controller (PLC) only by providing a test input to the input element.例文帳に追加

入力要素にテスト入力を与えるだけで、入力要素側でプログラマブルコントローラの機能を確実に確認すること。 - 特許庁

The logic verification method is provided with: a means of determining whether the output of a functional block test is an input to another functional block test; and a means of making the output be the input to the other functional block test.例文帳に追加

機能ブロックテストの出力が他の機能ブロックテストの入力となるかどうかを判定する手段と、出力を他の機能ブロックテストの入力とする手段を設ける。 - 特許庁

A test data part 12 outputs false input data to a test data transmission part 14, which outputs an operation signal corresponding to the false input data to a test object system 26.例文帳に追加

テストデータ部12は擬似入力データをテストデータ送信部14へ出力し、テストデータ送信部14は擬似入力データに応じた操作信号をテスト対象システム26に出力する。 - 特許庁

The test path simulates the data same to that of the normal path as an input to be received, and the test path has an individual voltage reference V_ref_test applied in a test input buffer.例文帳に追加

テスト・パスは、入力として通常パスと同じデータをシミュレートし受信するが、テスト・パスは、テスト入力バッファに適用される別個の電圧基準(V_ref_test)を有する。 - 特許庁

A low-speed test pattern generated by an external low-speed LSI tester is input to be transmitted to an inner circuit by converting the input low-speed test pattern to a high-speed test pattern.例文帳に追加

外部の低速LSIテスタから発生された低速のテストパターンを入力し、この入力した低速のテストパターンを高速のテストパターンに変換して内部回路に与える。 - 特許庁

To provide a test interface circuit for mixed memory in which the number of test data input/output terminals is reduced and a practicable test pattern is increased.例文帳に追加

テストデータ入出力端子の数を低減しかつ実行可能なテストパターンを増加させる混載メモリ用テストインターフェイス回路を提供する。 - 特許庁

In an activation test sequence:11XX0 of a test sequence ID:8 is input into the ATPG 2100 to generate an activation test sequence:11000.例文帳に追加

テストシーケンスID:8の活性化テストシーケンス:11XX0をATPG2100に入力して、活性化テストシーケンス:11000を生成する。 - 特許庁

To verify the validity of an input pattern, and to detect faults in a test circuit itself, in the test circuit for inputting a serial test pattern.例文帳に追加

シリアルテストパターンを入力するテスト回路において、入力パターンの妥当性を確認と、テスト回路自体の故障検出を可能にする。 - 特許庁

The test circuit is enabled by a test enable input signal, and the row driver sequentially enables the row of the detector together with individual test circuits.例文帳に追加

試験回路は試験イネーブル入力信号によりイネーブルされ、行ドライバは個々の試験回路と共に検出器の行を順次イネーブルする。 - 特許庁

In a test mode, pseudo input picture data S13a, a pseudo strobe signal S13b, and a test mode selection signal S13c are outputted from a test signal generating part 13.例文帳に追加

テストモードでは、テスト用信号発生部13から、擬似入力画像データS13a、擬似ストローブ信号S13b及びテストモードの選択信号S13cが出力される。 - 特許庁

The method performs an initial input step of setting a test initial value to the flip-flop using a serial scan input.例文帳に追加

フリップフロップにテスト用の初期値をシリアルスキャン入力により設定する初期入力工程を行う。 - 特許庁

The circuit part 231 has a test signal input pin 205 and a clock input pin 206.例文帳に追加

この回路部分231は、テスト信号入力ピン205およびクロック入力ピン206を備えている。 - 特許庁

It is possible to reduce the number of pins of a test interface since test input and output signals can be unwired by using this means.例文帳に追加

本手段を用いれば,テスト入出力信号を無線化できるためテストインターフェースの少ピン化を図れる。 - 特許庁

To improve the throughput of test time for a test sample, and prevent the number of input trigger signals from being increased.例文帳に追加

被試験物の試験時間のスループットを向上させ、かつ、トリガー信号の入力数の増加を防ぐこと。 - 特許庁

As a result, the number of input terminals for scan test and the number of output terminals for scan test can be inhibited.例文帳に追加

この結果、スキャンテスト用入力端子数およびスキャンテスト用出力端子数を抑えることができる。 - 特許庁

例文

Upon the receipt of a test input by a button operation or the like, a newly installed terminal B broadcasts a test signal.例文帳に追加

新設の端末Bは、釦操作などによるテスト入力を受付けると、テスト信号をブロードキャスト送信する。 - 特許庁




  
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