「test section」に関連した英語例文の一覧と使い方 - Weblio英語例文検索

A test sound generation section 111 generates a test sound signal and emits a test sound.例文帳に追加

テスト音生成部１１１は、テスト音信号を生成し、テスト音を発生させる。 - 特許庁

A test result analysis section 6 creates test result data D10, indicating a test result of the performance test executed by the test execution section 8 and notifies the scenario editor section 2 of the test result data D10.例文帳に追加

試験結果解析部６は、試験実行部８によって実行された動作試験の試験結果を示す試験結果データＤ１０を作成し、この試験結果データＤ１０をシナリオエディタ部２に通知する。 - 特許庁

A test control section 2 writes test data in a memory 1 to be tested through a control section 3.例文帳に追加

検査制御部２はメモリ制御部３を介して検査データを被検メモリ１に書込む。 - 特許庁

The test result input section 22 receives the input of the test result of the test pattern carried out in the test pattern testing section 1 based on the evaluating conditions.例文帳に追加

試験結果入力部２２は、評価条件に基づき、テストパターン試験部１で行ったテストパターンの試験結果が入力される。 - 特許庁

The test pattern editing section 23 edits the test patter output to the test pattern testing section 1 based on the evaluating conditions.例文帳に追加

テストパターン評価装置２３は、評価条件に基づき、テストパターン試験部１に出力されるテストパターンを編集する。 - 特許庁

The test section 40 once receiving an actuation instruction from outside conducts a test.例文帳に追加

テスト部４０は、外部から起動命令を受けると、テストを実行する。 - 特許庁

A test circuit 20 is provided on a circuit for transmitting a test signal inputted from a test signal input section 12 to a test signal output section 14.例文帳に追加

テスト回路２０は、テスト信号入力部１２から入力されたテスト信号を、テスト信号出力部１４へと伝達する回路に設ける。 - 特許庁

When receiving the test request frame, the test control section B22 returns a test acknowledgement frame to the test control section A12 and applies loopback setting to a test function section B23, which transmits a test frame for checking the error frame.例文帳に追加

試験制御部Ｂ２２は試験要求フレームを受けると、試験制御部Ａ１２に試験応答フレームを返し、試験機能部Ｂ２３にループバック設定を行って試験フレームの送信にてエラーフレームのチェックを行う。 - 特許庁

There are 4 tabs in the Test Output section. 例文帳に追加

「テスト出力」セクションには 4 つのタブがあります。 - NetBeans

Based on the test scenario data D5, a test execution section 8 executes the performance test on the real machine 10.例文帳に追加

試験実行部８は、試験シナリオデータＤ５に基づき、実機１０に対し動作試験を行う。 - 特許庁

The signal processing section 141(241) includes a test pattern generating section 143, a test pattern collation section 144 and a clamp processing section 145.例文帳に追加

信号処理部１４１、２４１は、試験パタン生成部１４３、試験パタン照合部１４４およびクランプ処理部１４５を含んでいる。 - 特許庁

A test data request section 21 requests a receiver side 2 to transmit test data, and a test data transmission section 12 transmits the test data in response to the request.例文帳に追加

試験データ要求部２１は、受信側２に対して試験データを要求し、試験データ送出部１２は、その要求に応じて試験データを送出する。 - 特許庁

To provide a test circuit for a multiplexer by which a test signal generating section and a test signal detection section are self-monitored when no test is conducted.例文帳に追加

試験信号生成部と試験信号検出部を非試験時自己監視することが出来る多重化装置の試験用回路を提供することを目的とする。 - 特許庁

The result is displayed in the Test Output section. 例文帳に追加

結果が「テスト出力」セクションに表示されます。 - NetBeans

In the next section, you use the IDE to test the web service.例文帳に追加

次の節では IDE でこの Web サービスをテストします。 - NetBeans

The memory device includes a memory cell array, a test data storage section and a decision section.例文帳に追加

メモリ装置はメモリセルアレイ、テストデータ貯蔵部、及び判断部を含む。 - 特許庁

A printer section 2 has density test pattern data 241.例文帳に追加

プリンタ部２は濃度テストパターンデータ２４１を備える。 - 特許庁

When receiving an error frame, a fault monitor section A11 makes a test request to a test control section A12.例文帳に追加

障害監視部Ａ１１はエラーフレームを受信すると、試験制御部Ａ１２に試験要求を行う。 - 特許庁

At the end of the module, there is a test section that contains a more extensive example of usage.例文帳に追加

モジュールの末尾に、より広い範囲の使用例となるtestセクションがあります。 - Python

A test chart selection section 220 selects test chart data adapted to a multifunction machine 100 among a plurality of test chart data managed by a test chart management section 230.例文帳に追加

テストチャート選択部２２０は、テストチャート管理部２３０によって管理される複数のテストチャートデータの中から複合機１００に適したテストチャートデータを選択する。 - 特許庁

The test control section A12 particularizes the suspicious fault location on the basis of a test result report frame from the test control section B22 and a test result of its own apparatus and informs a maintenance personnel about the result of particularization.例文帳に追加

試験制御部Ａ１２は試験制御部Ｂ２２からの試験結果報告フレームと自装置の試験結果とを基に被疑箇所を特定し、保守者に通知する。 - 特許庁

When receiving the test acknowledgement frame, the test control section A12 applies loopback setting to a test function section A13, which transmits a test frame for checking the error frame.例文帳に追加

試験制御部Ａ１２は試験応答フレームを受信すると、試験機能部Ａ１３にループバック設定を行って試験フレームの送信にてエラーフレームのチェックを行う。 - 特許庁

If no same test process existed in the past, the test conditions are stored in the test condition memory section 13 from a test condition set section 14, the test process is implemented, and the process history of the test conditions is stored in the implementation state memory section 15 after the completion of the test process.例文帳に追加

過去に同一の試験処理がなければ、その試験条件を試験条件設定部１４から試験条件記憶部１３に記憶させて試験処理を実行し、この試験処理終了後、実行状況記憶部１５にその試験条件の処理履歴を記憶する。 - 特許庁

A test problem creating section 12 automatically creates test problems on the basis of the sentence sent out from the sentence decision section 11.例文帳に追加

テスト問題生成部１２は、文判定部１１から送出される文を元にテスト問題を自動生成する。 - 特許庁

A data comparison section 5 compares test data set by the test control section 2 with data actually read out.例文帳に追加

データ比較部５は検査制御部２によって設定された検査データと実際に読み出したデータを比較する。 - 特許庁

This method of constructing a test section was followed by the Oyama test line of Tohoku Shinkansen line and the maglev test line as well. 例文帳に追加

この手法は後続の東北新幹線の小山実験線や、リニア実験線にも踏襲されている。 - Wikipedia日英京都関連文書対訳コーパス

A test case generation section 106 compares an extraction result by the activity test case extraction section 105 and an extraction result by the scenario test case extraction section 104 and generates a test case which includes all differences.例文帳に追加

テストケース生成部１０６は、アクティビティテストケース抽出部１０５による抽出結果と、シナリオテストケース抽出部１０４による抽出結果とを比較し、差分をすべて包含するテストケースを生成する。 - 特許庁

The evaluating condition output section 21 outputs the evaluating conditions of the test to the test pattern testing section 1 for carrying out testing of the test pattern.例文帳に追加

特に、評価条件出力部２１は、テストパターンの試験を行うテストパターン試験部１に、当該試験の評価条件を出力する。 - 特許庁

To realize reduction in the increase of the circuit scale normally caused by adding a test section and to fulfill a test function by selecting a self-test section.例文帳に追加

セルフテスト部を採用することによるテスト機能の充実とテスト部追加による回路規模の増大を軽減することの双方を実現する。 - 特許庁

The test support system for performing a virtual test on a test program includes: a test program analysis section for analyzing the description of the test program; a test program analysis result determination section for determining a processing flow on the basis of the analysis result by the test program analysis section; and a test program display section for displaying information related to the test program in those sections.例文帳に追加

テストプログラムの仮想テストを行うように構成されたテスト支援装置において、前記テストプログラムの記述を解析するテストプログラム解析部と、このテストプログラム解析部の解析結果に基づき処理の流れについての判断を行うテストプログラム解析結果判断部と、これら各部におけるテストプログラムに関連した情報を表示するテストプログラム表示部、を有することを特徴とするもの。 - 特許庁

A test signal generating section 12 drives the speaker 22 based on a cyclic test signal.例文帳に追加

試験信号発生部１２は、周期的な試験信号によりスピーカ２２を駆動する。 - 特許庁

The siloxane concentration measurement section 30 measures siloxane concentration in a test area of the test room 20.例文帳に追加

シロキサン濃度計測部３０は、テスト室２０のテストエリア内のシロキサン濃度を計測する。 - 特許庁

The testing device is provided with a testing section 20 which performs tests on the object to be tested with respect to the set test items and a test item setting section 10 which sets the test items for the testing section 20 based on the test results obtained by means of the testing section 20.例文帳に追加

被試験対象に対して、設定された試験項目の試験を行う試験部２０と、試験部２０の試験結果に応じて試験項目を試験部２０に対して設定する試験項目設定部１０とを備える。 - 特許庁

When the consequence of this memory test is abnormal, the operation processing section 23 and the coincidence discriminating section 24 repeat the memory test until the consequence of the memory test becomes normal.例文帳に追加

このメモリテストの結果が異常の場合、演算処理部２３および一致判定部２４はメモリテストの結果が正常となるまでメモリテストを繰り返す。 - 特許庁

In a test case generation device 100, a scenario test case extraction section 104 extracts a test case based on a scenario input from a scenario input section 102.例文帳に追加

テストケース生成装置１００において、シナリオテストケース抽出部１０４は、シナリオ入力部１０２から入力されるシナリオをもとにテストケースを抽出する。 - 特許庁

A test image generating section 26 generates test image data including identification information of an image processor selected at the selecting section 25 and a test pattern.例文帳に追加

テスト画像生成部２６は、選択処理部２５が選択した画像処理装置の識別情報とテストパターンとを含むテスト画像データを生成する。 - 特許庁

An instruction reply section 27 sends a test output execution instruction including test image data generated from the test image generating section 26 back to the image processor.例文帳に追加

命令返信処理部２７は、テスト画像生成部２６が生成したテスト画像データを含むテスト出力実行命令を画像処理装置へ返信する。 - 特許庁

The image data generation section 71 prepares test image data to be outputted to the image data generation section 71 on the basis of test data stored in a test data storage section 78 (EEPROM 65).例文帳に追加

画像データ生成部７１は、テストデータ記憶部７８(ＥＥＰＲＯＭ６５)に格納されるテストデータに基づいて、画像データ生成部７１に対して出力するテスト画像データを作成する。 - 特許庁

This test pattern evaluating device 2 comprising an evaluating condition output section 21, a test result input section 22 and a test pattern editing section 23, outputs test pattern evaluating conditions to a test pattern testing section 1 for carrying out testing of a test pattern using a tester to a semiconductor device to be measured, and corrects the test pattern.例文帳に追加

本発明のテストパターン評価装置２は、評価条件出力部２１と、試験結果入力部２２と、テストパターン評価装置２３とを備え、測定対象の半導体装置に対してテスタを用いてテストパターンの試験を行うテストパターン試験部１に対してテストパターンの評価条件の出力したり、テストパターンの修正を行う。 - 特許庁

If the same test process existed in the past, corresponding test conditions are stored in the test condition memory section 13, the test process is implemented, and the process history of the test conditions is stored in an implementation state memory section 15 after the completion of the test process.例文帳に追加

過去に同一の試験処理があれば、対応する試験条件を試験条件記憶部１３に保持させ、試験処理を実行し、試験処理終了後に、実行状況記憶部１５にこの試験条件の処理履歴を記憶する。 - 特許庁

Furthermore, the system control section 25 starts a subscriber test section 24 on the basis of the operating state.例文帳に追加

さらに、該装置制御部25が、加入者試験部24を該使用状態に基づいて起動する。 - 特許庁

To provide a technology of applying high voltage to a trench insulation isolation section in the breakdown voltage screening test of the trench insulation isolation section.例文帳に追加

トレンチ絶縁分離部の耐圧スクリーニング試験において、高電圧を印加する。 - 特許庁

The qualifying examination referred to in clause (c)(ii) of sub-section (1) of section 126 shall consist of a written test and a viva voce examination. 例文帳に追加

第126条(1)(c)(ii)にいう資格試験は，筆記テスト及び口述試験から成る。 - 特許庁

An address after scramble is recorded in a test result recording section 11c as a result of a function test.例文帳に追加

スクランブル後のアドレスは、ファンクションテスト結果としてテスト結果記録部１１ｃに記録される。 - 特許庁

To obtain a semiconductor memory that can shorten the test time in the test of a memory section.例文帳に追加

メモリ部の試験において、試験時間を短縮することができる半導体装置を提供する。 - 特許庁