「test section」に関連した英語例文の一覧と使い方(2ページ目) - Weblio英語例文検索

To appropriately control a suction section, considering test-pattern recording.例文帳に追加

テストパターンの記録を考慮して吸引部を適切に制御する。 - 特許庁

This device is provided with a test pattern generating section generating a test pattern consisting of plural steps, a test pattern applying section, a test deciding section, an address conversion section, and plural expansion fail memory section storing pass/fail map information consisting of plural steps converted by the address conversion section distributing for each step.例文帳に追加

本発明は、複数のステップからなるテストパターンを生成するテストパターン生成部と、テストパターン印加部と、テスト判定部と、アドレス変換部と、該アドレス変換部で変換された複数のステップからなるパス／フェイルマップ情報をステップ毎に振り分けて記憶する複数の拡張フェイルメモリ部とを備えたことを特徴とする。 - 特許庁

The personal computer acts like an entry section that enters test items of the mobile telephone system and a control section that executes the test to automatically take care of the test items and to record the test result.例文帳に追加

パーソナルコンピュータの役割は、携帯電話システムの試験項目を入力する入力部と試験を実施する制御部によって自動的に試験項目を消化し、試験結果を記録する。 - 特許庁

A test section 40 supplies specified image data to the data line driving section 22 and a specified synchronizing signal to the scanning line driving section 24 to make the display section display a specified test pattern.例文帳に追加

テスト部４０は、所定のテストパターンを表示部に表示させるべく、データ線駆動部２２に所定の画像データを供給し、走査線駆動部２４に所定の同期信号を供給する。 - 特許庁

It was due to the following reasons that this area was selected for the test track section 例文帳に追加

ここが試験地域に選ばれた理由は以下の通りである。 - Wikipedia日英京都関連文書対訳コーパス

The logic circuit test apparatus 10 performs a test for the logic circuit into which the test point is inserted by the insertion section 130.例文帳に追加

論理回路試験装置１０は、挿入部１３０によってテストポイントの挿入された論理回路に対してテストの実行を行う。 - 特許庁

A test section 1 stores a μ-law voice data and high efficiency code data as test data.例文帳に追加

試験部１は、試験データとして、μ−ｌａｗ音声データと高能率符号データを記憶している。 - 特許庁

The test device includes the microchannel 11 having a reaction section 12, where a reaction substance capable of reacting with a test substance disposed into a test liquid has been immobilized, in one portion of the test device.例文帳に追加

試験液中に分散された試験物質と反応し得る反応物質が固定化された反応部１２をその一部に有する微細流路１１を備えた試験デバイス。 - 特許庁

To allow a fail memory section to operate by a rate signal independent of a test pattern generation section.例文帳に追加

フェイルメモリ部をテストパターン生成部から独立したレート信号で動作させることを目的とする。 - 特許庁

In addition, a test pattern is formed on the intermediate transfer belt 8 based on the test pattern data corrected by the correcting section 3 and is detected by a detecting section 11.例文帳に追加

また、補正部３で補正されたテストパターンデータに基づいて、中間転写ベルト８上にテストパターンを形成し、検知部１１で検知する。 - 特許庁

The first program section is programmed when a test of an internal circuit is passed.例文帳に追加

第１プログラム部は、内部回路のテストがパスしたときにプログラムされる。 - 特許庁

Upon receiving a test start event from an event reception section 11, a control process section 12 confirms the presence or absence of the same test process by referring the past test process implementation state to an implementation state memory section 15.例文帳に追加

制御処理部１２は、イベント受信部１１から試験開始イベントが入力されると、実行状況記憶部１５に、過去の試験処理実行状況を参照して、同一の試験処理の有無を確認する。 - 特許庁

HYDRAULIC TESTING DEVICE FOR PIPE JOINT SECTION AND HYDRAULIC TEST METHOD USING THE SAME例文帳に追加

管継手部の水圧試験装置とこれを用いた水圧試験方法 - 特許庁

ION SOURCE, ION BEAM PROCESSING-OBSERVING DEVICE, AND TEST PIECE CROSS-SECTION OBSERVATION METHOD例文帳に追加

イオン源、イオンビーム加工・観察装置、及び試料断面観察方法 - 特許庁

A test generating section, based on the level of an educational course for which the learner registers and a by-level question setting information table, extracts questions out of the test data storage section 24 to generate a test.例文帳に追加

テスト作成部は、受講者が受講登録した教育講座のレベルと、レベル別出題情報テーブルとに基づいてテストデータ収納部２４から問題を抽出してテストを作成する。 - 特許庁

Furthermore, the test processing section 14(24) includes a signal processing section 141(241) and an OAM cell generation/detection section 142(242).例文帳に追加

また、試験処理部１４、２４は、信号処理部１４１、２４１およびＯＡＭセル生成／検出部１４２、２４２を含んでいる。 - 特許庁

A test cell reception section 12 detects a function block not normally sending the test cell as a fault location.例文帳に追加

試験セル受信部１２は、試験セルを正常に送信しなかった機能ブロックを故障箇所として検出する。 - 特許庁

A test signal generator 31 generates a test modulation signal and an RF module section 12 receives the signal.例文帳に追加

試験信号発生器３１によって試験用変調信号を生成し、これをＲＦモジュール部１２で受信する。 - 特許庁

The wafer ring having been tested is conveyed by a conveying device 22 from the test section 26 to a selection section 24.例文帳に追加

試験済みのウェハーリングは搬送装置２２によって試験区２６から選別区２４に搬送される。 - 特許庁

In this section, we use the GlassFish Tester application as a test client for the RESTful web services we created in the previous section.例文帳に追加

この節では、前の節で作成した RESTful Web サービスのテストクライアントとして GlassFish Tester アプリケーションを使用します。 - NetBeans

The semiconductor test apparatus 1 is equipped with a test apparatus main unit 10 which carries out a test of a DUT 30, and a terminal device 20 including a display section 26 for displaying a test result obtained by the test apparatus main unit 10.例文帳に追加

半導体試験装置１は、ＤＵＴ３０の試験を行う試験装置本体１０と、試験装置本体１０で得られた試験結果を表示する表示部２６を有する端末装置２０とを備える。 - 特許庁

Apply, test or remove a POSIX lock on a section of an open file. 例文帳に追加

開いているファイルのセクションに対して、POSIX ロックの適用・テスト・解除をする。 - JM

An activity test case extraction section 105 extracts the test case based on an activity chart indicating a state transition input from an activity input section 103.例文帳に追加

アクティビティテストケース抽出部１０５は、アクティビティ入力部１０３から入力される状態遷移を示すアクティビティ図をもとにテストケースを抽出する。 - 特許庁

Into the test module 15, two or more kinds of test program are written, and only a test program selected by a user with the operation section 9 is executed with the MPU 1.例文帳に追加

テストモジュール１５には複数種のテストプログラムが書き込まれており、ユーザが操作部９で選択したテストプログラムのみがＭＰＵ１で実行される。 - 特許庁

When a user specifies a required test chart based on identifiers registered in the test chart list, the test chart is printed by a printing section 34.例文帳に追加

そして、テストチャートリストに登録された識別子に基づいて、ユーザが所望のテストチャートを指定した場合に、このテストチャートを印刷部３４によって印刷する。 - 特許庁

For example, when a test mode is set, an output test signal RWTEST is outputted from a test control circuit 32 to a switch circuit section 31.例文帳に追加

たとえば、テストモードが設定されると、テスト制御回路３２よりスイッチ回路部３１に出力テスト信号ＲＷＴＥＳＴが出力される。 - 特許庁

A communication tester is provided with a test item management section 11 which stores test items and the acceptance/rejection determination of the test items by associating the date and time of the acceptance/ rejection determination.例文帳に追加

通信テスタに、テスト項目と、そのテスト項目の合否判定と、その合否判定の日時とを対応付けて記憶するテスト項目管理部１１を設ける。 - 特許庁

The tester comprises: a measurement section for applying a current to an apparatus under test through a mounting test board for mounting the apparatus under test, and measuring a voltage at a predetermined region in the apparatus under test; and a determination section for obtaining a measurement result from the measurement section, and for determining the acceptance of the apparatus under test by comparing the measurement result with a standard value.例文帳に追加

被測定装置が装着された装着テストボードを介して前記被測定装置に電流を印加し、前記被測定装置の所定部位の電圧を測定する測定部と、前記測定部による測定結果を取得し、規格値と比較することにより、前記被測定装置の合否を判定する判定部と、を具備する。 - 特許庁

A common control section 15 arranged in the abnormal call processing monitor 1 reads out a test procedure from a flash memory FM storing the test procedure of call processing in an exchange, performs call processing test through the line connecting section 11 according to that test procedure and informs the test results through the line connecting section 12.例文帳に追加

呼処理異常監視装置１に構成された共通制御部１５が、交換機における呼処理の試験手順が格納されたフラッシュメモリＦＭから試験手順を読み込みむとともに、該試験手順に従い、回線接続部１１を介して呼処理の試験を行い、その試験の結果を、回線接続部１２を介して通知する。 - 特許庁

A test pattern 13 for performing density correction is generated on an image forming medium 12 by a test-pattern generating section 156 and an image forming section 11, a density of the test pattern 13 is read by a detecting section 14, and the density correction is performed by a density correcting section 153.例文帳に追加

濃度補正を行うためのテストパターン１３をテストパターン生成部１５６と作像部１１とにより画像形成媒体１２上に生成し、このテストパターン１３の濃度を検出部１４で読み取り、濃度補正部１５３にて濃度補正を行う。 - 特許庁

Variation of a magnetic force between the drive section 5a and the driven section 5e varies a torque transmitted from the drive section 5a to the driven section 5e, thereby a contact force between the trolley wire test piece P_2 and the slider test piece P_1 being varied.例文帳に追加

駆動部５ａと被駆動部５ｅとの間の磁力を可変すると、駆動部５ａから被駆動部５ｅに伝達されるトルクも可変し、トロリ線試験片Ｐ_2とすり板試験片Ｐ_1との間の接触力が変化する。 - 特許庁

A digital signal generating/analyzing section 11 performs loop-back test for determining whether the loop-back test data output to the transmission/reception part 19 and loop-back test data fed back from the transmitting/receiving section 19 match.例文帳に追加

デジタル信号生成・解析部１１は、送受信部１９に出力したループバック試験データと、送受信部１９から帰還したループバック試験データとが一致するかを判定するループバック試験を行う。 - 特許庁

A test signal generating section 12 and a test signal switching section 13 divides a plurality of speakers into two groups of speakers, and supply test signals having two phase signals, i. e. positive and negative to two speakers in each group.例文帳に追加

試験信号発生部１２および試験信号切換部１３は、複数のスピーカを２個のスピーカの組に分け、各組における２個のスピーカに対し、正逆２相の試験信号を供給する。 - 特許庁

According to the test pattern, voltage is applied by a voltage generating section 11 to each input terminal of a test workpiece 5.例文帳に追加

このテストパターンに従って電圧発生部１１にて被検査ワーク５の各入力端子に対して電圧を印加する。 - 特許庁

On a display screen 31, a test operating section 32 is provided to instruct a test operation to the apparatus to be electronically controlled.例文帳に追加

表示画面３１に被電子制御装置に対する試験用の操作指示を行う試験操作部３２を設けた。 - 特許庁

The logic circuit test apparatus 10 also includes an insertion section 130 inserting the test point based on the failure estimation degree.例文帳に追加

また、論理回路試験装置１０は故障推定度に基づいてテストポイントを挿入する挿入部１３０を備える。 - 特許庁

A wheel leak test device includes a wheel holding part for holding a wheel, a pair of sealing tools, a pressurizing part, and a leak test section.例文帳に追加

本発明のホイールリークテスト装置は、ホイールを保持するホイール保持部、１対のシール治具、加圧部、リークテスト部を備える。 - 特許庁

The test data request section 21 investigates the line transmission rate of a digital communication line 3 on the basis of the received test data.例文帳に追加

試験データ要求部２１は、受け取った試験データに基づいてデジタル通信回線３の回線速度を調査する。 - 特許庁

A test pixel section 310 is formed in a serial circuit of an external amplifier transistor 312 and a pixel selection transistor 314 for test.例文帳に追加

テスト画素部３１０は、画素外アンプトランジスタ３１２とテスト用画素選択トランジスタ３１４の直列回路にする。 - 特許庁

The decision section determines whether the data in the memory cell array are the same as the test data and the inverted data of the test data or not.例文帳に追加

判断部はメモリセルアレイ内のデータがテストデータやテストデータの反転データと同じであるかの可否を判断する。 - 特許庁

A test problem generating section generates the cloze test problem by setting a blank area to the cloze word of the slide information.例文帳に追加

テスト問題作成部は、スライド情報の穴埋め単語に空白領域を設定して穴埋めテスト問題を作成する。 - 特許庁

The printing processing means conserves a test chart in the storage section 36 when the test chart as image data for image quality adjustment of the printing means is inputted from an external device by an input and output section 22 and registers the identifier of the test chart in a test chart list holding section 38.例文帳に追加

印刷処理手段は、外部装置から前記印刷手段の画質調整用の画像データであるテストチャートが入出力部２２により入力された際にその記憶部３６に保存を行うとともに、テストチャートの識別子をテストチャートリスト保持部３８に登録する。 - 特許庁

The token dispensing section 6 of a token dispensing machine 1 has a dispensing out test button 60b.例文帳に追加

メダル貸機１が備えるメダル払出部６は、払出テストボタン６０ｂを備えている。 - 特許庁

The storage section 20 stores image data 20D of a first test chart 42T.例文帳に追加

記憶部２０は、第１テストチャート４２Ｔの画像データ２０Ｄが記憶されている。 - 特許庁

Result of the test is transmitted from a data transmitting/receiving section 32 to the management server 10.例文帳に追加

テスト結果は、データ送受信部３２から管理サーバ１０に送信される。 - 特許庁