「test section」に関連した英語例文の一覧と使い方(6ページ目) - Weblio英語例文検索

A test image G1 where solid white section and solid black section are arranged like a stripe in the moving direction of an intermediate transfer belt 7, and a test image G2 whose concentration distribution is reversed to the test image are formed on a photosensitive drum 1, and each transferring current is detected by a current detection circuit A1.例文帳に追加

ベタ白部とベタ黒部とを中間転写ベルト７の移動方向へストライプ状に配置したテスト画像Ｇ１と、テスト画像とは濃度分布を反転させたテスト画像Ｇ２とを感光ドラム１に形成して、電流検知回路Ａ１によりそれぞれの転写電流を検知する。 - 特許庁

To provide a hydraulic test method for pipe joint section easy to fixing and good in workability and a hydraulic test method using the same.例文帳に追加

全体をコンパクトに構成でき、管継手部に対して取り付けが容易であり、作業性がよい管継手部の水圧試験装置とこれを用いた水圧試験方法を提供する。 - 特許庁

The conversion circuit 16 generates a test pattern and a clock used for adjustment and inspection of an optical module section (LD/PD) 3 and supplies them to a test mode circuit 11.例文帳に追加

変換回路１６は、光モジュール部（ＬＤ／ＰＤ）３の調整検査を行なうためのテストパターン及びクロックを発生してテストモード回路１１に供給する。 - 特許庁

A metering apparatus 1 is provided with a test information communication section 3 for transmitting a test signal at a prescribed interval to the server 10 in order to check a communication state between the server 10 and the metering apparatus 1.例文帳に追加

サーバー１０と検針機器１との通信状況を調べるため、検針機器１に所定の間隔でテスト信号を送信するテスト情報通信部３を設ける。 - 特許庁

When the control section corrects the density of a test image, it instructs the density sensor to emit the quantity of light to be produced and then detect the density of the test image (SA6).例文帳に追加

制御部が、テスト画像の濃度を補正する際には、発光量の光を発光するように濃度センサに指示し、テスト画像の濃度を検出させる（ＳＡ６）。 - 特許庁

In the middle of reciprocating liquid feed, the test liquid is resonated by vibration of the oscillator 28 at the storage section 21 for stirring and mixing to unify the concentration of the test substance.例文帳に追加

往復送液の途中において、試験液は貯留部２１で振動子２８の振動にて共振し、試験物質の濃度が均一化するように攪拌混合される。 - 特許庁

Plane strain of the test object is detected by disposing the strain detecting section along the surface of the test object 22 and detecting electrical resistance between each of the electrodes and another.例文帳に追加

上記歪み検出部を上記試験体２２の表面に沿って配置し、各電極間の電気抵抗を検出することで、上記試験体の面歪みを検出する。 - 特許庁

A test item generation section 17 generates test items to be executed for the program based on the parameters stored in the parameter DB (bypass) 15 and the parameter DB (alteration) 16.例文帳に追加

試験項目生成部１７は、パラメータＤＢ（バイパス）１５と、パラメータＤＢ（改ざん）１６とが記憶するパラメータに基づいて、プログラムに対して実行する試験項目を生成する。 - 特許庁

According to control signals outputted by the NOP detection section 500, the instruction control section 100, the first operand control section 200, and the second operand control section 300 output input signals received in a clock cycle immediately before to the arithmetic section 400 as test signals.例文帳に追加

ＮＯＰ検出部５００が出力する制御信号に従って、命令制御部１００、第１オペランド制御部２００及び第２オペランド制御部３００は、直前のクロックサイクルで受信した入力信号を試験信号として演算部４００に出力する。 - 特許庁

While the counter section 14 counts the period, the pattern generating section 11 previously generates a pattern being input to the memory under test 20, and when the counter section 14 completes the count, a clock mask section 15 interrupts the feed of a reference clock CLK to the pattern generating section 11.例文帳に追加

カウンタ部１４が計時している間、パターン発生部１１は被試験メモリ２０に与えるパターンを予め進めておき、カウンタ部１４の計時が終了した時点でクロックマスク部１５がパターン発生部１１への基準クロックＣＬＫの供給を中断する。 - 特許庁

A testing sever sends a test pattern that a voice signal is encoded into a signal loop-back means installed at an exchange interface side in the TGW through a voice encoding section and a packet assembling section in the TGW, and receives the test pattern sent from the signal loop-back means through the voice encoding section and the packet assembling section, again.例文帳に追加

試験サーバより、ＴＧＷの音声符号化部とパケット化部を介して、ＴＧＷ内の交換機インタフェース側に設けた折り返し手段へ、音声信号を符号化して得た試験パターンを送り、その信号折り返し手段からの試験パターンを、再度、音声符号化部とパケット化部を介して試験サーバで受信する。 - 特許庁

The light propagation section 84 is arranged to connect the density measurement section 80 to nearby a position irradiated with irradiation light from the light emitting diode 82 on a surface of a setup test print TP conveyed at the drying section 60, and propagates reflected light from the surface of the setup test print TP to the density measurement section 80.例文帳に追加

光伝播部８４は、濃度測定部８０と、乾燥部６０において搬送されるセットアップ用テストプリントＴＰ表面における発光ダイオード８２からの照射光の照射位置近傍と、を接続するように配置されており、セットアップ用テストプリントＴＰ表面からの反射光を濃度測定部８０まで伝播させる。 - 特許庁

The uniform illumination determination section detects a histogram correlation between the test image and the main image and judges uniformity of illumination.例文帳に追加

均一照明判定部は、テスト画像と本画像のヒストグラム相関を検出し、照明の均一度を判定する。 - 特許庁

The image of this test pattern is picked up by a CCD camera 3 and the data fetch control section 2 fetches the picked-up image.例文帳に追加

このテストパターンはＣＣＤカメラ3で撮像され、その撮像画像はデータ取込制御部２に取り込まれる。 - 特許庁

A test voltage is applied (S3) to detect a current flowing to a primarily transfer roller of each image forming section (S4).例文帳に追加

次に、テスト電圧を印加して（Ｓ３）、各画像形成部の一次転写ローラに流れる電流を検知する（Ｓ４）。 - 特許庁

A loop line control section 12 forms a loopback loop for an opposite transmitter at the start of a quality test.例文帳に追加

品質試験の開始時に、ループ回線制御部１２は、対向する伝送装置に折り返しループを形成する。 - 特許庁

To reduce the number of required test devices and to highly accurately measure the communication quality of an object section.例文帳に追加

必要な試験装置の数を削減するとともに、対象区間の通信品質を高精度に測定すること。 - 特許庁

The server is provided with a server side test information communication section 12 for receiving the test signal, and a non-connection apparatus information acquisition section that detects the metering apparatus 1 in which the lapse of time after reception of the test signal is a prescribed time or over, or the metering apparatus 1 without receiving the test signal within a prescribed time as an apparatus with an improper connection state.例文帳に追加

サーバー側には、このテスト信号を受信するサーバー側テスト情報通信部１２と、テスト信号受信後の経過時間が所定の時間以上である検針機器１、もしくは、所定時間内にテスト信号の受信が無い検針機器１を接続状態が不良なものとして検出する非接続機器情報取得部を設ける。 - 特許庁

A control section controls so as to operate only the test apparatus selected in the test apparatus selection mode screen C in the test mode screen D, and controls so as not to operate any other apparatus under operation which are not selected in the test apparatus selection mode screen C.例文帳に追加

制御部は、試験モード画面Ｄでは、試験機器選択モード画面Ｃにおいて選択された試験機器のみの操作を可能するように制御し、試験機器選択モード画面Ｃにおいて選択されていない他の運転中の機器は操作できないように制御する。 - 特許庁

A test container is fitted onto a section to be tested on the lining in the water, an ejector is actuated by a negative pressure generating unit to drain the water in the test container and keep the negative pressure condition in the test container, and a foaming liquid injection unit is actuated to squirt a foaming liquid at the lining face of the test container.例文帳に追加

水中ライニングの検査対象部分に検査容器を装着し、負圧発生ユニットによりエゼクタを作動させ、検査容器内の水を排出し、検査容器内を負圧状態に保ち、発泡液注入ユニットを作動し、検査容器内のライニング面に発泡液を噴射する。 - 特許庁

Further, a test data selection section 104 is disposed to selectively output one of test data output from the first and second test pattern generation sections 101 and 102 based on the signal value of the second clock CK2, and input it as test data to a memory 105.例文帳に追加

さらに、第１のテストパターン生成部１０１および第２のテストパターン生成部１０２から出力されるテストデータのいずれか一方を、第２のクロックＣＫ２の信号値によって選択的に出力し、メモリ１０５へテストデータとして入力するテストデータ選択部１０４を設ける。 - 特許庁

The test head, where the base unit is slidably mounted to a guide section provided in an elevation section of the test head body, is equipped with a guide stopping means for guiding or stopping the insertion of the base unit by rotation at a prescribed angle while being provided in the test head body opposite the guide section.例文帳に追加

ベースユニットがテストヘッド本体の昇降部に設けられたガイド部にスライドして取り付けられるテストヘッドにおいて、前記テストヘッド本体に前記ガイド部に対向して設けられ所定角度回動することによってベースユニットの挿入をガイドするあるいはベースユニットの挿入をストップするガイド・ストップ手段を具備したことを特徴とするテストヘッドである。 - 特許庁

The reflected light from the irradiation position on the surface of the setup test print TP conveyed at the drying section 60 is propagated by the light propagation section 84 to the density measurement section 80 to measure density.例文帳に追加

光伝播部８４によって乾燥部６０において搬送されるセットアップ用テストプリントＴＰ表面の照射位置からの反射光を濃度測定部８０へ伝播させて濃度測定を行なう。 - 特許庁

A semiconductor memory is provided with a memory cell block 100 comprising a memory cell section 101 having a plurality of memory cells in which each cell comprises ferroelectric capacitor respectively, and a memory cell section 103 for test having a plurality of memory cells for the test.例文帳に追加

半導体記憶装置は、それぞれが強誘電体キャパシタを含む、複数のメモリセルを有するメモリセル部１０１と、複数のテスト用メモリセルを有するテスト用メモリセル部１０３とを含むメモリセルブロック１００を具える。 - 特許庁

On the other hand, a reference clock with speed higher than test signal is inputted into the waveform generating section 106 and the output from the waveform generating section 106 and the reference clock are inputted into DAC107 to generate test signal of semiconductor integrated circuit.例文帳に追加

そして、波形生成部１０６には、テスト信号より高速な基準クロックが入力され、波形生成部１０６の出力と基準クロックとがＤＡＣ１０７に入力され、半導体集積回路のテスト信号が生成される。 - 特許庁

A battery capacity monitoring section 76 determines a low battery fault if the battery load test performed and controlled by the battery test section 74 shows that the detected supply power voltage from the battery is lower than a predetermined value, and causes the notification section 36 to intermittently output a battery rundown notice alarm.例文帳に追加

電池容量監視部７６は電池試験部７４が実施制御する電池負荷試験により検出した電池からの供給電源電圧が所定以下に低下した場合にローバッテリー障害と判断し、報知部３６から電池切れ予告警報を間欠的に出力させる。 - 特許庁

A plurality of primitives are sorted, based on data stored in a primitive buffer 21 about a plurality of primitives, into first primitives to be displayed on a display 41 and second primitives not to be displayed, which is accomplished by an XYZ clip section 23, a Z-test section 25, and a stencil test section 27.例文帳に追加

複数のプリミティブを、プリミティブバッファ２１に格納されている複数のプリミティブについてのデータに基づいて、ＸＹＺクリップ部２３、Ｚテスト部２５、ステンシルテスト部２７により、ディスプレイ４１に表示される第１のプリミティブと表示されない第２のプリミティブとに選別する。 - 特許庁

A message generation control section 104, using the desired learning contents 114 and learner's learning history information 115 stored in a learning history information storage section 105, starts an explanation text selecting section 106, a test marking and generating section 107, and a related information selecting section 108.例文帳に追加

電文生成制御部１０４は学習希望内容１１４と学習履歴情報格納部１０５に格納されている、学習者の学習履歴情報１１５を用いて説明文選択部１０６、テスト採点・生成部１０７、関連情報選択部１０８を起動する。 - 特許庁

The diversity evaluation signal generating device comprises a test signal generating section for creating and outputting the test signals for diversity evaluation, a signal distributing section for distributing output signals of this test signal generating section to a plurality of antenna input systems of a tested apparatus at an equal power level, and a plurality of adjustable attenuators for individually setting the signal levels of the plurality of systems distributed by the signal distributing section at different values.例文帳に追加

ダイバーシティ評価用試験信号を生成出力する試験信号発生部と、この試験信号発生部の出力信号を被試験機器の複数のアンテナ入力系統に等しいパワーレベルで分配する信号分配部と、この信号分配部で分配された複数系統の信号レベルを個別に異なった値に設定する複数の可変アッテネータ、とを設けたことを特徴とするもの。 - 特許庁

The semiconductor testing apparatus 1 has auxiliary pattern generating sections 12a-12d for temporarily storing the test pattern P1 generated by the pattern generation section 11, reading the stored test pattern according to individual test states of the devices to be tested 20a-20d, and outputting it as a test pattern used for the test of the devices to be tested 20a-20d.例文帳に追加

この半導体試験装置１は、パターン発生部１１で発生した試験パターンＰ１を一時的に記憶し、被試験デバイス２０ａ〜２０ｄの個別の試験状況に応じて、記憶した試験パターンを読み出して被試験デバイス２０ａ〜２０ｄの試験に用いる試験パターンとして出力する補助パターン発生部１２ａ〜１２ｄを備えている。 - 特許庁

In the semiconductor device, in a test operation mode, a row address that indicates the location of a first word line is fetched from a row address buffer section 12d.例文帳に追加

テスト動作モードにおいて、ロウアドレスバッファ部１２ｄにより、第１のワード線の位置を示すロウアドレスを取り込む。 - 特許庁

A similarity calculation section 50 uses the transformation matrix in DB40 to transform a feature representation of an input test cluster.例文帳に追加

類似度計算部５０は、入力されたテストクラスタの特徴表現をＤＢ４０の変換行列にて変換する。 - 特許庁

Also, in the midst of changing an address, write-in of a test pattern for a semiconductor memory in a write-in control command section is prohibited.例文帳に追加

また、アドレスの変更途中は、書き込み制御指令部にて半導体メモリへのテストパターンの書き込みを禁止する。 - 特許庁

A test signal determining section 15 determines the presence of a sound at a position front of the plurality of speakers for each group.例文帳に追加

試験信号判定部１５は、スピーカの組毎に、複数のスピーカの前方の位置における音の有無を判定する。 - 特許庁

To provide a method of wind tunnel test of airfoil which enables more accurate measurement of the aerodynamic properties of a 2-dimensional airfoil cross section.例文帳に追加

２次元翼断面の空力特性をより正確に計測することが可能な風洞試験方法を提供する。 - 特許庁

A test section 26 is provided and has a probe testing device, which tests a chip on a wafer ring.例文帳に追加

試験区２６を有し、試験区２６はプローブ試験装置を有し、プローブ試験装置はウェハーリング上のチップに試験を行なう。 - 特許庁

A control unit 15 detects the evaluation data (jitters or modulation degree) of the reproduced test signal from an RF signal processing section 14.例文帳に追加

制御部１５は、ＲＦ信号処理部１４からの再生テスト信号の評価データ（ジッタや変調度）を検出する。 - 特許庁

When carrying out a life test evaluation, a sample extracted from a desired section is analyzed by a TG-DTA.例文帳に追加

寿命試験評価にあたっては、所望の部分より採取した試料をＴＧ−ＤＴＡによって分析する。 - 特許庁

To suppress to the minimum a section to which gas supply is stopped, and to detect a leak spot by performing easily an airtightness test.例文帳に追加

ガスの供給を止める区間を最低限に押さえ、容易に気密試験を行って漏洩地点を検出すること。 - 特許庁

The test device includes storage sections 21, 22 at both the sides of the microchannel 11, and an oscillator 28 is stuck to the storage section 21.例文帳に追加

微細流路１１の両側に貯留部２１，２２を有し、貯留部２１には振動子２８が貼着されている。 - 特許庁

The digital signal generating/analyzing section 11 performs loop-back test, only during the transmission period or only during the reception period.例文帳に追加

デジタル信号生成・解析部１１は、送信期間においてのみ、または、受信期間においてのみ、ループバック試験を行う。 - 特許庁

Therefore, this test section was included in the Shinkansen line (a portion between Shin-Yokohama and Odawara) when the line started its operation. 例文帳に追加

このため、東海道新幹線開業に当たっては、その一部に組み込まれている（新横浜駅-小田原駅間の一部）。 - Wikipedia日英京都関連文書対訳コーパス

The bias supply section 61, during a test mode, applies a predetermined bias voltage to the fixed electrodes (51, 52).例文帳に追加

このバイアス供給部６１は、このテストモードにおいては、固定電極（５１、５２）に対して、所定のバイアス電圧を印加する。 - 特許庁

When the quality test is started, a PN pattern generating section 13 generates a signal-pattern P, the pattern P is looped back by the loopback loop and a PN pattern synchronization section 15 receives the looped back pattern.例文帳に追加

品質試験の開始されると、ＰＮパターン発生部１３が信号パターンＰを発生し、それが折り返しループで折り返されてＰＮパターン同期部１５に受信される。 - 特許庁

This test device 1 includes a hot-side temperature control section 20 for supplying temperature-controlled air to a laboratory 10, and a cold-side temperature control section 21.例文帳に追加

試験装置１は、試験室１０に対して温度調整された空気を供給するための高温側温調部２０と、低温側温調部２１とを備えてている。 - 特許庁