「test section」に関連した英語例文の一覧と使い方(5ページ目) - Weblio英語例文検索

The test light 11 is emitted to a direction parting from an opposite direction with respect to the display light 7 emitted from the display light emitting elements of the display part 1 from the test light emitting elements of the test light light emitting section 2.例文帳に追加

テスト光発光部２のテスト発光素子から、表示部１の表示発光素子から発光される表示光７に対して、反対方向に離れる方向にテスト光１１を発光させる。 - 特許庁

A test chart control section 204 determines whether the reconfiguration request of test chart specifications has been received from a terminal unit 2, or the like, and whether it triggered the reconfiguration of a preset test chart.例文帳に追加

テストチャート制御部２０４は、端末装置２等からテストチャート仕様の再構成依頼を受け付けたか否か、及び予め設定されているテストチャート再構成の契機となったか否かを判断する。 - 特許庁

A semiconductor test apparatus for testing a DUT 1 includes a tester section 2 provided with a plurality of test channels to be connected to the DUT 1 for testing, and a tester control section 3 provided with a hardware control section 21 for switching a connection to an unused and normal one of the test channels connectible to a faulty test channel when any one of the test channels becomes faulty.例文帳に追加

ＤＵＴ１の試験を行うための半導体試験装置であって、ＤＵＴ１に接続して試験を行うためのテストチャネルを複数備えるテスタ部２と、テストチャネルのうち何れかのテストチャネルが故障したときに、故障したテストチャネルに接続可能なテストチャネルのうち未使用且つ正常なテストチャネルに接続を切り替える制御を行うハードウェア制御部２１を備えるテスタ管理部３とを備えている。 - 特許庁

The balance test equipment comprises an apparatus body 1, a fixing section 7, a vibration table 6 secured to the apparatus body through a plurality of resilient bodies 4, 5, a drive section for vibrating a drive system, and a section for measuring unbalance of a test body fixed to the fixing section 7.例文帳に追加

装置本体１と、取付部７と、複数の弾性体４，５を介して装置本体に固定された振動台６と、振動系を振動させる駆動部と、取付部７に取り付けられた試験体の不つりあいを測定する測定部９を備えたつりあい試験装置である。 - 特許庁

The Ethernet-HSD converter includes: an HSD line termination section; a speed conversion section; and an Ethernet frame termination section, and the HSD line termination section has: a means that detects LOOP 2 bits received at the loop test and capsulates a random pattern for the loop test to an Ethernet frame; and a means that uncapsulates the capsulated random pattern for the loop test from the Ethernet frame.例文帳に追加

ＨＳＤ回線終端部と、速度変換部と、イーサネットフレーム終端部とを備え、ＨＳＤ回線終端部は、ループ試験時に送信されるＬＯＯＰ２ビットを検出し、ループ試験用のランダムパターンをイーサネットフレームにカプセリング化する手段と、当該カプセリング化されたループ試験用のランダムパターンをイーサネットフレームからアンカプセリング化する手段とを有する。 - 特許庁

The control section writes the test data output from the test-data output section into the memory, in the same writing sequence as a writing sequence of the pixel data outputted from the pixel array section into the memory, reads the test data written into the memory from the memory, in the same reading sequence as a reading sequence of the pixel data outputted from the pixel array section from the memory, and outputs the test data via the external interface.例文帳に追加

制御部は、テストデータ出力部から出力されたテストデータを、画素アレイ部から出力された画素データの前記メモリへの書き込み順序と同じ書き込み順序でメモリに書き込み、メモリに書き込まれたテストデータを、画素アレイ部から出力された画素データの前記メモリからの読み出し順序と同じ読み出し順序で前記メモリから読み出し、外部インタフェースを介して出力する。 - 特許庁

The detection object control commands of the main control section and the intermediate section are switched depending on the detection of the authentication information having a third test value.例文帳に追加

主制御部及び中間部の検出対象制御コマンドは、第３検査値を有する認証情報の検出に応じて切り替えられる。 - 特許庁

The detection object control commands of the main control section and the subsequent stage section are switched depending on the detection of the authentication information having a third test value.例文帳に追加

主制御部及び後段部の検出対象制御コマンドは、第３検査値を有する認証情報の検出に応じて切り替えられる。 - 特許庁

A difference arithmetic section 92 obtains a difference of video data between the full black image and the test pattern image and output from the imaging element control section 91.例文帳に追加

撮像素子制御部９１から出力された全黒画像とテストパタン画像の映像データの差が差分演算部９２により求められる。 - 特許庁

The fatigue safety factor test apparatus is provided with a normalized stress calculating section 14, a fatigue safety factor calculating section 15 and a function table 18.例文帳に追加

正規化応力計算部１４、疲労安全率計算部１５及び関数テーブル１８を具備する疲労安全率検査装置を用いる。 - 特許庁

The automatic noninvasive blood test apparatus 1 includes a coin mechanism 2, a spectrometer built-in section 3 and an examination data analyzer built-in section 4.例文帳に追加

自動非侵襲血液検査装置１はコインメカニズム２、分光器内蔵部３および検査データ解析機内蔵部４より構成されている。 - 特許庁

This siloxane endurance testing machine 1 comprises a siloxane gas generator 10, a test room 20, a siloxane concentration measurement section 30, and a control section 40.例文帳に追加

シロキサン耐久試験機１は、シロキサンガス発生装置１０と、テスト室２０と、シロキサン濃度計測部３０と、制御部４０とを有している。 - 特許庁

Design data D101 including circuit data of a test point and information relevant to the test method attached to this test point is input, and design data having undergone code analysis by a design data code analysis section K102 in a data input section K101 is stored in a storage device 700 with a database storage section K103.例文帳に追加

テストポイントの回路データと、このテストポイントに付属するテスト手法に関連した情報を含む設計データＤ１０１を入力し、データ入力部Ｋ１０１における設計データコード解析部Ｋ１０２によるコード解析を経た設計データがデータベース格納部Ｋ１０３により記憶装置７００に格納される。 - 特許庁

During the test, an amount of biased phase shift for compensating the difference in propagation distance between respective test signals from an antenna section 27 of the test signal occurrence section 2 to each antenna element constituting the phased-array antenna is transmitted from a bias movement amount setting section 4 to the phased-array antenna, thereby simulating a far field environment.例文帳に追加

また、試験中は、試験信号発生部２のアンテナ部２７からフェーズドアレイアンテナを構成する各アンテナ素子までの、それぞれの試験信号の伝搬距離の差異を補償するためのバイアス移相量を、バイアス移動量設定部４からフェーズドアレイアンテナに送出し、ファーフィールド環境を模擬する。 - 特許庁

To minimally reduce an airspace around a testing apparatus in a test section in a boring hole.例文帳に追加

ボーリング孔内の試験区間における試験装置周囲の空隙をごく僅かにすることを可能とする。 - 特許庁

At least one inspection reception element is arranged at a section corresponding to a test plate, and the own point is possessed.例文帳に追加

一個以上の受検素子をテストプレートの対応する区域に配置し、且つその自分の地点を有する。 - 特許庁

A control determining section 17 performs the leakage test of the piping 2 based on changes of the temperature-induced pressure.例文帳に追加

制御判定部１７は、この温度補償圧力の変化に基づいて配管２の漏洩検査を行う。 - 特許庁

Water is pressed into an evaluation object section 12 by means of a permeability test apparatus 1, so that predetermined pressure can be set.例文帳に追加

透水試験装置１を用いて評価対象区間１２に水を圧入し、所定の圧力にする。 - 特許庁

A test object receives inspecting light, irradiated from an irradiation section 2 incident, passing through an integrating sphere 22.例文帳に追加

照射部２から照射された測定光は、積分球２２を通過して、検査対象へ入射する。 - 特許庁

The fire receiver includes: a storage section 17 for storing fire history based on sensing of the sensor and test history of the sensor 2; an operation section 15 for selectively receiving a display operation of the fire history and a display operation of the test history; and a display section 14 for displaying the fire history or the test history according to the display operation.例文帳に追加

感知器２の感知に基づいた火災履歴と、感知器２の試験履歴とを記憶する記憶部１７と、火災履歴の表示操作と、試験履歴の表示操作とを選択的に受け付ける操作部１５と、その表示操作に従って、火災履歴または試験履歴を表示する表示部１４とを備える。 - 特許庁

The storage section then stores, as the image data, a test pattern for determining whether to correctly display a video image on the screen on the basis of the video signal, and the video signal generation section extracts a test pattern stored in the storage section and outputs it as a test pattern video signal.例文帳に追加

そして、前記記憶部は、前記画像データとして、前記映像信号に基づいて前記画面に正しく映像が表示されるか否かを判断するためのテストパターンを格納し、前記映像信号生成部は、前記記憶部に格納されているテストパターンを抽出してテストパターン映像信号として出力する。 - 特許庁

A parent metal outer surface detection device 4 detects the position of the test subject outer surface from the section image.例文帳に追加

母材外表面検出装置４は、断面画像から被検体外表面の位置を検出する。 - 特許庁

The bit map plotted by the pattern creation and display processing section 3 is displayed on the display 5 as test pattern.例文帳に追加

パターン作成表示処理部３により描画したビットマップを、テストパターンとしてディスプレイ５に表示させる。 - 特許庁

So-called 'X-press' test response compactors 110, 152 comprise an overdrive section and scan chain selection logic.例文帳に追加

いわゆる「Ｘプレス」テスト応答コンパクタ１１０、１５２は、オーバードライブ・セクションとスキャンチェーン選択ロジックとを含む。 - 特許庁

The PON function processing section 24 comprises return control sections 245, 247 for performing a return test with an OAM function section 244 and a MAC-Client/OAM-Client function section 246 as return points each.例文帳に追加

ＰＯＮ機能処理部２４は、ＯＡＭ機能部２４４およびMAC-Client/OAM-Client機能部２４６それぞれを折り返し点として折り返し試験を行う折り返し制御部２４５，２４７を備えている。 - 特許庁

A telegraphic message transmission control section 104 controls the transmitting timing of each telegraphic message stored in the storing section 103, on the basis of the contents of the test data read from the storing section 103.例文帳に追加

電文送出制御部１０４は、格納部１０３から読み出した試験データの内容に基づいて、格納部１０３に格納されている各電文の送出タイミングを制御する。 - 特許庁

Data generated by a test data generation circuit 122 of a processing section 12 is sent as serial data to a transmission section 14, and transmitted as serial data to serial communication from the transmission section 14 to an external apparatus.例文帳に追加

処理部１２のテスト用データ生成回路１２２で生成されたデータはシリアルデータとして送信部１４に送られ、送信部１４からシリアルデータとして外部装置にシリアル通信される。 - 特許庁

This frequency divider circuit with a test circuit is roughly configured with a decoder circuit section, an adder circuit section, a selector section and a flip-flop (hereinafter called an αF/F').例文帳に追加

本実施の形態に係るテスト回路付き分周回路は図１に示すように、デコーダ回路部と加算回路部とセレクタ部とフリップフロップ（以下Ｆ／Ｆと称す）とで概略構成される。 - 特許庁

The physical layer processing section 26 has return control sections 262, 264 for performing a return test with a Bridge/VLAN function section 261 and a PHY function section 263 as return points each.例文帳に追加

物理レイヤ処理部２６は、Bridge/VLAN機能部２６１およびＰＨＹ機能部２６３それぞれを折り返し点として折り返し試験を行う折り返し制御部２６２，２６４を備えている。 - 特許庁

The control section 60 performs print density calibration based on a first correction value 43A calculated based on the first test chart 42T received by the communication section 10 and a differential of a density value of the first test chart 42T.例文帳に追加

制御部６０は、通信部１０が受信した第１テストチャート４２Ｔ及び第１テストチャート４２Ｔの濃度値の差分に基づいて算出した第１補正値４３Ａに基づいてプリント濃度のキャリブレーションを行なう。 - 特許庁

To obtain a continuity test system which can conduct a continuity test while minimizing hit of user data even in service wherein the user data flow on a transmission line including an ATM section and an STM section.例文帳に追加

ＡＴＭ区間とＳＴＭ区間が含まれる伝送路において、ユーザデータが流れているインサービス中であっても、ユーザデータの瞬断を最小限にして導通試験を行うことができる導通試験システムを提供する。 - 特許庁

When a test printing is made on a test sheet of paper L' having no RFID inlet instead of the label sheet L, by the printing section 2, to read and write the data is made to the RFID inlet 10a by the communication section 3.例文帳に追加

ラベル用紙Ｌに代え、ＲＦＩＤインレットを有しないテスト用紙Ｌ’に対し、印字部２による印字がテストされる際、通信部３により、ＲＦＩＤインレット１０ａに、データの読み書きが行われる。 - 特許庁

A part in a specified section for performing test recording is given test recording while changing reference recording power, and the other part is given test recording by similar reference recording power to decide the optimum recording power from the result of each test recording.例文帳に追加

テスト記録を行うための特定区間中の一部には基準記録パワーを変更させながらテスト記録を行い、残りの区間には同様の基準記録パワーによりテスト記録を行って、各テスト記録の結果から最適記録パワーを決定する、ことを特徴とする。 - 特許庁

In the charging system of an electric vehicle, a signal application section 520 of an ECU 170 applies test signals from an vehicle inlet 270 to the power lines PWR-H, PWR-C via wirings for test TEST-H, TEST-C.例文帳に追加

電動車両の充電システムにおいて、ＥＣＵ１７０の信号印加部５２０から、テスト用配線ＴＥＳＴ−Ｈ，ＴＥＳＴ−Ｃを介して、車両インレット２７０より電力線ＰＷＲ−Ｈ，ＰＷＲ−Ｃに対して試験信号を印加する。 - 特許庁

Since the self-test section has a plurality of test sequencers (31) corresponding to a plurality of test modes, the required area is reduced compared with the area normally required for a general purpose sequencer using a program system that requires memories for program storage.例文帳に追加

セルフテスト部は、複数のテストモードに対応する複数のテストシーケンサ（３１）を有するから、プログラム格納用のメモリを必要とするプログラム方式による汎用シーケンサよりも小面積化を実現することが容易である。 - 特許庁

A test processing function section 35 extracts station data from a storage medium to start the test scenario for a new communication processing unit and executes a connection test with a new existing communication processing unit on the basis of the station data.例文帳に追加

試験処理機能部３５は新規通信処理装置に対し試験シナリオを起動するために記憶媒体３２から局データを取り出し、この局データを基に新規既存通信処理装置との接続試験を実施する。 - 特許庁

Further, conventionally, as a connection test of a row address and a column address between a logic section and a memory is performed by an actual operation test of a whole LSI, a fault detecting rate of a circuit is low, but this test can be performed by a scan-test, and a test pattern having a high fault detecting rate of a circuit can be automatically made.例文帳に追加

さらには、ロジック部とメモリ間の行アドレス及び列アドレスの接続テストを従来は、ＬＳＩ全体の実動作テストで行っていたため、回路の故障検出率を低かったが、この発明によりスキャンテストにより行うことができ、回路の故障検出率が高いテストパターンを自動で作成することができる。 - 特許庁

A test chart generating section 242 generates a color patch with the maximum density of primary and secondary colors of a plurality of color materials and an image output section 30 outputs the color patch.例文帳に追加

テストチャート生成部２４２にて、複数の色材の１次色および２次色の最大濃度のカラーパッチを生成し画像出力部３０より出力する。 - 特許庁

A flickering driving section 13 causes a vibrating section of a speaker 22 to output a flickering light from a light source 30 at a positive peak and a negative peak of the test signal.例文帳に追加

点滅駆動部１３は、試験信号の正のピークおよび負のピークにおいて光源３０からスピーカ２２の振動部に点滅光を出力させる。 - 特許庁

After that, an image recognizing section 206 extracts the leading end of transfer paper and the leading end of the test pattern from an image stored in the image storage section 203.例文帳に追加

その後、画像記憶部２０３に記憶された画像より、転写紙先端とテストパターン先端の部分を画像認識部２０６にて、抽出する。 - 特許庁

The test item management section 11 gives the date and time of acceptance/rejection determination by obtaining it from a clock generation section 9 when an operator inputs the acceptance/rejection determination.例文帳に追加

合否判定の日時は、操作者により合否判定が入力された際に、テスト項目管理部１１がクロック生成部９から取得して付与する。 - 特許庁

A decision section 52 makes a decision that the sensitivity is normal when the detecting section 51 detects the test metal 61, otherwise makes a decision that the sensitivity is abnormal.例文帳に追加

このときに、検知部５１がテスト金属６１を検知する場合には感度正常と判断部５２が判断し、検知しない場合には異常と判断する。 - 特許庁

Finally, the computation section 14 can determine the condition of the thin film 54 formed on the surface of the test object, based on the electrical signals received from the spectroscopic section 12.例文帳に追加

演算処理部１４は、分光部１２から受けた電気信号に基づいて、検査対象の表面に形成された薄膜５４の状態を判定する。 - 特許庁

The error detection section 600 compares arithmetic result data obtained by the arithmetic section 400 with test arithmetic result data, and discriminates whether or not an error has occurred.例文帳に追加

エラー検出部６００は、演算部４００が求めた演算結果データと試験演算結果データとを比較し、エラーが発生しているか否かを判別する。 - 特許庁

A nozzle forming member in the vicinity of a section in which the test terminal is arranged is separated from nozzle forming members for the other sections to reduce the volume of the nozzle forming member in the vicinity of the above section.例文帳に追加

テスト端子を配置した部分近傍のノズル形成部材の体積が少なくなるように、他の部分のノズル形成部材から分離して設ける。 - 特許庁