「test section」に関連した英語例文の一覧と使い方(8ページ目) - Weblio英語例文検索

The test device 1 also has a feedback loop where a signal of a node N21 on the output side of the multiplexer MUX2 is inputted into a determination circuit section 7 of the test circuit 5, and is inputted to one of the input sides of the multiplexer MUX2 via the determination circuit section 7.例文帳に追加

また、マルチプレクサＭＵＸ２の出力側のノードＮ２１の信号が試験回路５の判定回路部７に入力され、その信号が判定回路部７を介してマルチプレクサＭＵＸ２の入力側の一方に入力される帰還ループが形成されている。 - 特許庁

A print section comprises a print head for ejecting ink from a plurality of nozzles to a paper and forming test dots corresponding to respective nozzles on the paper, a sensor for detecting the ink density of each test head, and a cleaning section performing head cleaning of the print head.例文帳に追加

プリント部は、複数のノズルからペーパに対してインクを吐出させて該ペーパ上に該各ノズルに対応するテストドットを形成するプリントヘッドと、各テストドットのインク濃度を検出する濃度センサと、プリントヘッドに対してヘッドクリーニング処理を行うクリーニング部とを有する。 - 特許庁

At the time of verifying a low speed operation logic circuit, a low speed test pattern is inputted as the input data 6 for setting register and a test pattern outputted from the speed converting section 1 of the low speed operation logic circuit is selected at a selector section 2 and delivered to the poststage circuit.例文帳に追加

低速動作論理回路検証時には、レジスタ設定用入力データ（６）として低速テストパターンを入力し低速動作論理回路の速度変換部（１）から出力されたテストパターンを、セレクタ部（２）にて選択し後段の回路へ出力する。 - 特許庁

The common control part 28 is connected with an integrated test jig 10 by serial communications, and a test of the PDS control part is performed via the common control part 28 and the conversion circuit 24, while a test of the Ethernet interface section is performed via the common control part 28.例文帳に追加

共通制御部２８と統合検査治具１０とをシリアル通信で接続し、共通制御部２８及び変換回路部２４を介してＰＤＳ制御部の検査を行なうとともに、共通制御部２８を介してイーサインタフェース部の検査を行なう。 - 特許庁

With a test mode setting button 16 pressed, the human body detector in a normal mode enters a test mode for a specified period and in this test mode, a setter (human body B) moves within the range of a detection area A2 to be set in a visual field area A1 of an imaging section 10.例文帳に追加

テストモード設定釦１６を押下することで、通常モードからテストモードに所定期間移行し、このテストモード中に、設定者（人体Ｂ）は撮像部１０の視野領域Ａ１内において設定したい検知領域Ａ２の範囲内を移動する。 - 特許庁

A text storage section 31 stores station data generated by a network manager from an application system 11 via a transmitter-receiver 37, a difference extract function section 27 compares the data with in-operation station data stored in a text storage section 34 to extract difference data, and a test item extract function section 28 generates a test scenario on the basis of the difference data.例文帳に追加

ネットワーク管理者によって作成された局データは投入システム１１から送受信機３７を介してテキスト格納部３１に格納され、差分抽出機能部２７によりテキスト格納部３４に格納されている稼働中局データと比較され、差分データが抽出され、試験項目抽出機能部２８において差分データに基づき試験シナリオを作成する。 - 特許庁

Based on specification data D1 and definition file data D2, a scenario editor section 2 creates versatile shared scenario data D3 by using a uniformed scenario language; and based on test environment data D4 and the shared scenario data D3, a scenario translation section 4 creates test scenario data D5 for executing a performance test on a real machine 10.例文帳に追加

シナリオエディタ部２は、仕様書データＤ１及び定義ファイルデータＤ２に基づき、統一化されたシナリオ言語を用いて汎用の共有シナリオデータＤ３を作成し、シナリオ変換部４は、試験環境データＤ４と共有シナリオデータＤ３とに基づいて、実機１０に対し動作試験を行うための試験シナリオデータＤ５を作成する。 - 特許庁

A semiconductor probe test apparatus comprises a semiconductor tray housing section 102 for housing a semiconductor tray 104 on which a semiconductor device is placed; a test stage 106 on which the semiconductor tray 104 is positioned; a conveyance section which conveys the semiconductor tray 104 to the test stage 106; and a tester head 108 whose probe comes into contact with the semiconductor device on the semiconductor tray 104.例文帳に追加

半導体装置を載置する半導体トレイ１０４を収容する半導体トレイ収納部１０２と、半導体トレイ１０４が載置される検査ステージ１０６と、半導体トレイ１０４を検査ステージ１０６に搬送する搬送部と、半導体トレイ１０４上の半導体装置とプローブ接触するテスタヘッド１０８とを備える。 - 特許庁

In a probe evaluation mode, test signals of predetermined frequency generated by a test signal generation section 51 are fed to signal wires 35 of N channels for connecting each of vibration elements to a transceiver section 2 provided in a diagnostic apparatus body via a test signal distribution section 52 having an output impedance substantially equal to the impedance of the vibration elements incorporated in an ultrasonic probe 3.例文帳に追加

プローブ評価モードにおいて試験信号発生部５１が発生した所定周波数の試験信号を、超音波プローブ３に内蔵された振動素子のインピーダンスと略等しい出力インピーダンスを有する試験信号分配部５２を介して前記振動素子の各々と診断装置本体１に設けられた送受信部２とを接続するＮチャンネルの信号線３５の各々に供給する。 - 特許庁

The liner is configured so as to have a split portion S capable of splitting and combining at predetermined cross section about the liner 1 for the manufacturing test.例文帳に追加

製造試験用ライナー１について、予め定めた断面にて分割及び結合可能な分割部Ｓを有する構造とする。 - 特許庁

Each of data storage sections (1560, 1561) stores a data to be processed by the AP execution section as a real execution data or a test data.例文帳に追加

データ格納部（１５６０、１５６１）は、ＡＰ実行部が処理するデータを本番用データまたはテスト用データとしてそれぞれ格納する。 - 特許庁

The dispensing out test button 60b outputs signals commanding for examining whether or not the token dispensing section 6 normally operates when being pushed.例文帳に追加

払出テストボタン６０ｂは、押下されると、メダル払出部６が正常に動作するか否かを検査することを指令する信号を出力する。 - 特許庁

In comparison with an element pattern (a), the test pattern of a corresponding part to a coil contact section 4 is split up and down by an insulation layer.例文帳に追加

テストパターンは、（ａ）の素子パターンと比較すると、コイルコンタクト部４に対応する部分が絶縁層によって上下に分断されている。 - 特許庁

To enhance a judging precision of an adjustment test pattern in adjustment of a tilting amount or alignment of an ink delivering section in a printing apparatus.例文帳に追加

印刷装置におけるインク吐出部の傾き量又はアライメントの調整において、調整用テストパターンの判定精度を高める。 - 特許庁

This folder is empty on "default",so it's necessary to copy at least one file(contact) to test PIM Browser example.More information about WTK Persistent Storage is available at Sun JavaWireless Toolkit for CLDC User's Guide (section: 4.3.2.1 PersistentStorage) 例文帳に追加

このフォルダはデフォルトで空なので、PIM ブラウザの例をテストするには最低 1 つのファイル (連絡先) をコピーする必要があります。 - NetBeans

A test pattern is inputted to a flip flop configuring a scan chain whose operating timing is confirmed, and the simulation only of a user circuit section is carried out.例文帳に追加

動作タイミングを確認したスキャンチェーンを構成するフリップフロップにテストパターンを入力し、ユーザ回路部のみのシミュレーションを行う。 - 特許庁

A graph (10) indicating the temperature change on the rear surface of the external wall of the fireproof construction house in the fire resistance test is displayed in the second display section (2).例文帳に追加

第２表示部(２)には、耐火試験における耐火構造住宅の外壁裏面の温度変化を示すグラフ(10)が表示してある。 - 特許庁

In an address generating section of an arithmetic logic operation section, an address of a semiconductor memory storing a test pattern is generated based on the prescribed calculating equation, this address is sent to a shift register 32 for inputting an address, and a test pattern is written in a semiconductor memory by specifying this address.例文帳に追加

算術論理演算部のアドレス発生部にて、テストパターンを格納すべき半導体メモリのアドレスを所定の演算式に基づいて発生させ、かかるアドレスをアドレス入力用シフトレジスタ３２に送り、このアドレスの指定により半導体メモリにテストパターンが書き込まれる。 - 特許庁

The test system for semiconductor integrated circuit receiving test signals of a plurality of frequencies consists of a waveform generating section 106 of a DDS(Direct Digital Synthesizer; direct frequency synthesis) formula and a DAC107 and the like prepared in a latter part of the waveform generating section 106.例文帳に追加

複数の周波数のテスト信号を受ける半導体集積回路のテストシステムであって、ＤＤＳ（Ｄｉｒｅｃｔ Ｄｉｇｉｔａｌ Ｓｙｎｔｈｅｓｉｚｅｒ；直接周波数合成）方式の波形生成部１０６と、その波形生成部１０６の後段に設けられたＤＡＣ１０７などから構成される。 - 特許庁

A defect analyzing section 30 performs relief analysis of a memory device based on the test result stored in the storage device section 40 and a test result performed for a memory device under second environment (e.g. environment in which temperature is set to 0°C) being different from the first environment.例文帳に追加

不良解析部３０は、保存装置部４０に保存された試験結果と、第１環境とは異なる第２環境（例えば、温度が１００℃に設定された環境）下においてメモリデバイスに対して行う試験結果とに基づいて、冗長メモリを用いたメモリデバイスの救済解析を行う。 - 特許庁

A start test program selection means 21 started from an input device 1 decides a test program able to be tested from information stored in a device mount information storage section 31, obtains scheduling information from a start information storage section 32 for parallel execution to generate start information.例文帳に追加

起動試験プログラム選択手段２１は、入力装置１から起動を受けると、装置実装情報記憶部３１の情報から起動可能な試験プログラムを決定し、起動情報記憶部３２から並列実行するためのスケジューリング情報を得て、起動情報を作成する。 - 特許庁

The body fluid component measuring apparatus includes: a front casing 2 including the test piece fitting section 11 in which a test piece 12 for sampling the body fluid is fitted; a rear casing 3 which is formed into an easy-to-carry size; and a hinge section 4 which turnably connects the front casing 2 and the rear casing 3.例文帳に追加

体液を採取する試験片１２が装着される試験片装着部１１を有する前部筐体２と、持ち易い大きさに形成された後部筐体３と、前部筐体２と後部筐体３とを回動可能に連結するヒンジ部４と、を備えている。 - 特許庁

In one embodiment of this invention, the nonvolatile semiconductor storage device includes a plurality of memory blocks connecting a plurality of memory cells thereto, and is equipped with the memory cell array for storing the test data in a predetermined memory block and an operation testing section for executing the operation test of the memory cell array by using the test data.例文帳に追加

本発明の一実施の形態に係る不揮発性半導体記憶装置は、複数のメモリセルを接続したメモリブロックを複数含み、所定のメモリブロック内にテストデータを記憶するメモリセルアレイと、前記テストデータを用いて前記メモリセルアレイの動作テストを実行する動作テスト部と、を備える。 - 特許庁

A control section 31 of a terminal device 3 controls a control tool 2 to transmit command information for setting the operating state of a CD player 1 subjected to one test to a predetermined one base state before setting it to a test state for the next test.例文帳に追加

端末装置３の制御部３１が、１の試験による動作が終了した後のＣＤプレーヤー１の動作状態を、次の試験の動作を行うためのテスト状態に設定する前に、所定の１の基底状態に設定するコマンド情報を制御治具２に送信させるように制御する。 - 特許庁

The material testing machine photographs the fracture surface 100a of a broken test piece 100, calculates the cross-section area of the fracture surface from the image by using an image processing method, and computes the contraction value of the test piece, based on both the cross-sectional area of the fracture surface and a cross-sectional area of the test piece before applied under loads.例文帳に追加

材料試験機は、破断させた試験片１００の破断面１００ａを撮像し、その画像から画像処理によって破断面の断面積を算出し、破断面の断面積と負荷前の試験片の断面積とに基づいて試験片の絞り値を算出する。 - 特許庁

The dust adhesion property-evaluating apparatus is provided with at least a lifter 2 for sucking a test piece from the rear side, a rubbing section 3 that is in contact with the surface of the test piece for rotating and for rubbing the surface, and an electrification voltage sensor 4 for detecting the electrification voltage of the test piece.例文帳に追加

試験片を裏面側から吸着させることのできる受台２と、試験片表面に接触回転してその表面を摩擦するラビング部３と、試験片の帯電圧を検出する帯電圧センサ４と、を少なくとも備えた挨付着性評価装置とする。 - 特許庁

Also, when the control section generates the screen data, it enlarges or reduces the test pattern to change the size so that the size of the test pattern to be displayed on each the changeover screen has a ratio of 10% to the size of the display screen and sets the driving level of a background region to make the background region of the test pattern have the intensity level corresponding to the test pattern.例文帳に追加

また、画面データを生成する際には、各切替画面において表示するテストパターンのサイズが表示画面のサイズに対して１０％の比率となるように、テストパターンを拡大又は縮小してサイズ変更するとともに、テストパターンの背景領域がそのテストパターンに対応する輝度レベルとなるように背景領域の駆動レベルを設定する。 - 特許庁

The image coder/decoder applies a manufacturing defect test and a performance test such as an access speed test to three memory modules 2-4 of a memory access section 1 integrated in the IC with an image coding core and an image decoding core and excludes any of the memory modules 2-4 that is discriminated to be failed in each test from the selection object as the image work memory.例文帳に追加

画像符号化・復号化装置は、ＩＣ内に画像符号化コア及び画像復号化コアとともに組み込まれたメモリアクセス部１の３個のメモリモジュール２〜４に対して、製造上の欠陥テスト及びアクセス速度等の性能テストを行い、各テストに不合格と判定されたメモリモジュール２〜４を画像用ワークメモリとしての選択対象から外す。 - 特許庁

This fiber-reinforced hydraulic hardened body is a hydraulic hardened body mixed with a reinforcing fiber and has 55-85% breaking ratio of reinforcing fiber in a broken-out section after a bending test after an endurance test.例文帳に追加

補強繊維が配合されてなる水硬性硬化体であって、耐久試験を施した後の曲げ試験後の破断面における補強繊維の非破断率が５５〜８５％である繊維補強水硬性硬化体とする。 - 特許庁

When the gray scale of a test pattern exceeds predetermined conditions, a gray scale control section 25 performs gray scale correction for a test pattern from a pattern generator 24 until a desired gray scale is attained and holds the correction amount.例文帳に追加

濃度コントロール部２５は、テストパターンの濃度が一定条件を越えた場合には、パターン発生器２４からのテストパターンに対して、所望の濃度になるまで階調補正を行い、このときの補正量を保持する。 - 特許庁

Each tray containing section 12-15 is provided with a common indicating part 12c-15c capable of identifying the component before test and the component after test by switching the color.例文帳に追加

各トレイ収納部１２〜１５に、収納部品が試験前の部品又は試験後の部品のいずれに該当するかを色を切り換えることにより識別可能とする共通の表示部１２ｃ〜１５ｃが設けられている。 - 特許庁

A failure restoration rate estimation section 123 estimates a failure restoration rate of each working contents item on the basis of the work contents of the case information and the failure recurrence test results of the replacement component test results information.例文帳に追加

障害復旧率推定部１２３は，案件情報の作業内容，交換部品試験結果情報の障害再現試験結果に基づいて作業内容項目別の障害復旧率を推定する。 - 特許庁

One exclusive OR circuit is added to a circuit generating each bit of ECC bit data of 6 bits in an ECC bit generating section so that ECC bit data also is made a specific test pattern for a specific test pattern.例文帳に追加

ＥＣＣビット生成部における６ビットのＥＣＣビットデータの各ビットを生成する回路に、特定の検査パターンに対してＥＣＣビットデータも特定の検査パターンとなるように、排他的論理和回路を１つ追加した。 - 特許庁

The test probe which is temporarily connected to a data line 22 in a image display test of a liquid crystal panel 20, is equipped with a substrate 210; and a wiring section 300 being disposed on the substrate 210 and having a prescribed number of conductors.例文帳に追加

液晶パネル２０の画像表示検査にあたってデータ線２２に一時的に接続される検査プローブであって、基板２１０と、基板２１０上に設けられた所定本数の配線部３００と、を備える。 - 特許庁

The projector device 1 projects a test pattern which is a predetermined image onto a screen 3, causes a camera 12 to image the test pattern projected on the screen 3, and causes a control section 11 to measure the brightness of each of pixels adjacent to one another.例文帳に追加

プロジェクタ装置１は、所定の画像であるテストパターンをスクリーン３へ投射し、スクリーン３上に投射されたテストパターンをカメラ１２で撮像し、隣接する画素毎の明るさを制御部１１で計測する。 - 特許庁

The image-forming device 10 operates in an addition mode or a deletion mode, thus determining the mode of the image-forming device 10 by the test chart control section 204 for adding or deleting a color contained in a test chart.例文帳に追加

画像形成装置１０は、追加モード又は削除モードで動作するので、テストチャート制御部２０４は、画像形成装置１０のモードを判定して、テストチャートに含まれている色の追加又は削除を行う。 - 特許庁

A drawing control section 100 updates the test image data based on the updated operation state of each printing element, and then, prints and outputs the test image wherein a confirmation line to confirm the malfunction printing element is added.例文帳に追加

描画制御部１００は、更新後の各印字素子の動作状態に基づき、試験画像データを更新し、動作不良の印字素子を確認するための確認用直線を付加した試験画像を印刷出力する。 - 特許庁

To provide a device and a method for dust-proofing test capable of evaluating quantitatively a dust-proofing characteristic or the like in the inside direction, namely in the direction vertical to a punched section, from the side face part of a frame body-shaped test piece.例文帳に追加

枠体状の試験片の側面部から内側方向、即ち打抜き断面に垂直な方向での防塵性等を定量的に評価できる防塵試験装置及び防塵試験方法を提供する。 - 特許庁

Next, the operation processing section 23 sets pulse width of a write-in pulse or an erasing pulse based on the number of times of repetition of the memory test, and a memory test is performed in residual other region 312 of the EEPROM.例文帳に追加

次に、演算処理部２３は、上記メモリテストを繰り返した回数にもとづき書き込みパルスまたは消去パルスのパルス幅を設定し、ＥＥＰＲＯＭの残りの他領域３１２においてメモリテストを行う。 - 特許庁

A PN pattern comparison section 16 and a bit number comparison section 17 compare number of the inserted error bits and number E of the error bits in the signal pattern P1 received by the PN pattern synchronization section 15 to conduct the quality test for a line between the transmitters.例文帳に追加

ＰＮパターン比較部１６及びビット数比較部１７により、その挿入したエラービットの数と、ＰＮパターン１５で受信した信号パターンＰ１におけるエラービットの数Ｅとが比較され、伝送装置間の回線の品質試験が行われる。 - 特許庁

A semiconductor integrated circuit is provided with a memory section (5) which has a plurality of memory banks (BNK0 to BNK3) and is accessed by specifying an X address and an Y address and a self-test section (3) which tests the memory section by responding to an instruction made by a command.例文帳に追加

半導体集積回路は、複数のメモリバンク（ＢＮＫ０〜ＢＮＫ３）を有し、バンクアドレス、Ｘアドレス及びＹアドレスを指定してアクセスされるメモリ部（５）と、コマンドによる指示に応答して前記メモリ部をテストするセルフテスト部（３）を有する。 - 特許庁

The crimp ball 3 is joined to a recessed section bottom face 2c of a probe trace 2 formed on the electrode pad 1 by wafer test, and the size of a junction region 4 between the recessed section bottom face 2c and the crimp ball 3 is equal to or smaller than that of the recessed section bottom face 2c.例文帳に追加

ウェハテストにより電極パッド１に形成されたプローブ痕２の凹部底面２ｃに圧着ボール３が接合され、凹部底面２ｃと圧着ボール３との接合領域４の大きさが凹部底面２ｃの大きさと等しい、または小さい。 - 特許庁

The image recorder 100 further comprises a mechanism 172 for driving the carriage 110, a section 174 for controlling the recording section 120 to record a pair of test patterns on the sheet 192, and a section 176 for calculating the relative positional shift of recording the pair of test patterns based on cross correlation of the density data thereof.例文帳に追加

画像記録装置１００は、キャリッジ１１０を移動させるキャリッジ駆動機構１７２と、一対のテストパターンを用紙１９２に記録するように記録部１２０を制御する記録制御部１７４と、一対のテストパターンの濃度データの相互の相関に基づいて両者の相対的な記録位置ずれ量を算出する画像ずれ算出部１７６とを有している。 - 特許庁

An electric signal section of a transponder 1-1 incorporates a digital signal test generation/collation circuit 1-8, a selection insertion section 1-7 or a selection drawing section 1-9 carries out a test in terms of a digital signal before the connection to a client signal to evaluate the quality and the connection is switched to the client to ensure the transmission quality at a digital signal level.例文帳に追加

トランスポンダ1-1の電気信号部にデジタル信号試験発生・照合回路1-8を組み込み、選択挿入部1-7あるいは選択引込部1-9でクライアント信号との接続を行う前にデジタル信号で試験を実施して品質評価を行い、その後クライアントに接続を切換えることでデジタル信号レベルで伝送品質を保証する。 - 特許庁

A test execution control section 231 sets a selected head element section 12 and a write current value in AE 13 and writes data to a magnetic disk 11 using each component in an HDD 1.例文帳に追加

テスト実行制御部２３１は、ＡＥ１３に選択したヘッド素子部１２とライト電流値とを設定し、ＨＤＤ１内の各構成要素を使用して、磁気ディスク１１へのデータ書き込みを行う。 - 特許庁