「test section」に関連した英語例文の一覧と使い方(12ページ目) - Weblio英語例文検索

The redundancy discriminating section 1200.0 selects a specified redundancy memory cell row in accordance with an address signal when a test mode signal TM and a redundancy control signal RAr are in an activated state.例文帳に追加

冗長判定部１２００．０は、テストモード信号ＴＭと冗長制御信号ＲＡｒが活性である場合に、アドレス信号に応じて、指定された冗長メモリセル行を選択する。 - 特許庁

At the time of creating shading correction data, the density in the width direction of the image formed on the film in a developing section 3 according to test data is measured by a density measuring instrument 7.例文帳に追加

シェーディング補正データの作成時には、テストデータに従って現像部３においてフィルム１上に形成された画像の巾方向における濃度が濃度測定器７により測定される。 - 特許庁

The scanner section 1 reads out the printed density test pattern 41, measures the density thereof based on the read out results and then corrects the gamma table 142 based on the measurement results of density.例文帳に追加

スキャナ部１が、印刷された濃度テストパターン４１を読み取り、この読取の結果に基づいてその濃度を測定し、この濃度の測定の結果に基づいてガンマテーブル１４２を補正する。 - 特許庁

Then, a command is transmitted to the lens device 14 so that the characteristic of the AF processing section 22, which performs the AF process based on the image of the test chart, is altered to the optimum one.例文帳に追加

そして、テストチャートの映像に基づいてＡＦの処理を行うＡＦ処理部２２の特性が最適となるように特性を変更するコマンドがレンズ装置１４に送信される。 - 特許庁

When a board is found defective by a test, a condition judgment section 20 judges which condition the contents of its defect come under, and the judgment result is outputted to a CPU 11.例文帳に追加

検査により不良が検出されると、条件判定部２０は、その不良の内容がいずれの条件に該当するかを判定し、その判定結果をＣＰＵ１１に出力する。 - 特許庁

The external amplifier transistor 312 is disposed on a gate control line 318 side from a reference voltage generating section 320, and the pixel selection transistor 314 for test is disposed on a vertical signal line 19 side.例文帳に追加

画素外アンプトランジスタ３１２を基準電圧生成部３２０からのゲート制御線３１８側に配置し、テスト用画素選択トランジスタ３１４を垂直信号線１９側に配置する。 - 特許庁

To provide a display device including a control unit that optimizes the display position of an image to be displayed therein based on a test signal so that it may coincide with the position of a photodetection section.例文帳に追加

光検出部の位置にあわせて、表示装置に表示する試験信号に基づく映像の表示位置を最適化させる制御部を備えた表示装置を提供する。 - 特許庁

To prevent an optical carry-over which generates an error in the readout of a luminometer used to measure photons emitted by the light emitting section of an immunoassay analytical test package.例文帳に追加

免疫学的検定分析試験パッケージの発光区分により放出される光子を測定するルミノメータの読みに誤差を生じさせる光学的キャリオーバーを防止することにある。 - 特許庁

To realize an interferometer system and a method of an optical interferometry for measuring a moving body, which carry out the optical interferometry for a test body having an object section to be measured which is moved sequentially.例文帳に追加

測定対象となる部分が順次移動するような被検体を光干渉計測し得る動体測定用干渉計装置および動体測定用光干渉計測方法を得る。 - 特許庁

The first opening OP1 having the minimum width of 15mm or more is formed in the separated-with-long-space section 31, and the second opening OP2 incapable of inserting a test finger is formed in the side face part 32.例文帳に追加

長離間部３１には、最小幅が１５ｍｍ以上ある第１開口ＯＰ１が形成され、側面部３２には、試験指が挿入不能な第２開口ＯＰ２が形成されている。 - 特許庁

The control station is provided with a mobile station fault information storage control section, which stores the test result data of the mobile station and controls the control station so as not to call the faulty mobile station.例文帳に追加

制御局は移動局故障情報記憶制御部を設け、移動局の試験結果データを記憶し、制御を行い、故障の移動局を呼び出さない様にしたものである。 - 特許庁

To two-dimensional image data, a correction section 32 performs processing to correct resolution in predetermined direction within the image according to an angle which is made by a perpendicular line of a test object and an optical axis of the line sensor camera 25.例文帳に追加

補正部３２は、２次元画像データに対して、被検体の垂線とラインセンサカメラ２５の光軸がなす角度に応じて画像内の所定方向の解像度を補正する処理を行う。 - 特許庁

To provide a truck testing device capable of controlling the brake deceleration characteristics of a test truck by high reproducibility, in a predetermined deceleration section, during traveling.例文帳に追加

走行中、予め定められた減速区間において高い再現性により試験台車の制動減速度特性の制御を行うことができる台車試験装置を提供すること。 - 特許庁

There are 4 tabs in the Test Output section. The Tabular View is a flattened view that displays all the URIs in the resulting document, which you can navigate to by clicking on the links.例文帳に追加

「テスト出力」セクションには 4 つのタブがあります。 「表形式ビュー」は出力結果のドキュメントにあるすべての URI を表示するフラットなビューで、リンクをクリックすることで移動できます。 - NetBeans

A rise detection section 60a detects a rise of the test signal input into the corresponding channel, and a latch 60b latches a count value of a sample counter 61 at the rise.例文帳に追加

立上がり検出部６０ａにおいてそのｃｈに入力されたテスト信号の立上がりが検出され、この立上がりでサンプルカウンタ６１のカウント値をラッチ６０ｂでラッチする。 - 特許庁

When a collection time elapses after elution characteristic measurement is started, an elution ratio measuring mechanism 7 measures the elution ratio of the test liquid of a vessel 1 and sends it to the elution ratio judgment section 13.例文帳に追加

溶出特性測定が開始され、採取時間経過後、溶出率測定機構７は、ベッセル１の試験液の溶出率を測定して溶出率判断部１３に送る。 - 特許庁

To provide a testing device capable of suppressing the amount of cables between a body section and test heads to 1/2 or less as compared to a conventional device, and making an optional configuration of a fail memory have flexibility.例文帳に追加

本体部とテストヘッド間のケーブル量を従来に比較して１／２以下に抑えると共に、フェイルメモリのオプション構成に柔軟性を持たせることが可能な試験装置を実現する。 - 特許庁

The control section with the function of electric inertia control and the drive motor are regarded as one set, and a plurality of their sets are disposed independently, thereby enabling brake test for high-speed vehicles to be carried out.例文帳に追加

この電気慣性制御機能を有する制御部と駆動モータとを１セットとし、これを複数組を独立して設けることにより高速車用のブレーキ試験を可能とした。 - 特許庁

The printer is provided with a control means 1 for differentiating the internal information of a test printer being outputted by the push apart pattern of a switch button constituting the panel input section of the printer.例文帳に追加

プリンタのパネル入力部を構成するスイッチボタンの押分けパターンにより、出力されるテストプリントの内部情報を異ならせる制御を行う制御手段１を配設する。 - 特許庁

In a boundary extracting section 17, a pixel, having a direction code corresponding to the direction in which the contour of the opening is extended in each of the test regions is extracted as a candidate pixel.例文帳に追加

境界線抽出部１７では、各検査領域内において隙間の輪郭線が延長されている方向に相当する方向コードを持つ画素を候補画素として抽出する。 - 特許庁

The test material is labeled by the first labeling reagent which includes the labeling substance, recognizes the test material, and bonds to it, and sensitization is performed by the second labeling reagent containing the labeling substance and an antibody which recognizes a recognizing section similar to the capture substance or recognizes the capture substance.例文帳に追加

標識物質を含み被検物質を認識して結合する第１標識試薬により被検物質を標識するとともに、標識物質を含み捕捉物質と同様の認識部位若しくは捕捉物質自体を認識する抗体を含む第２標識試薬により増感する。 - 特許庁

The inkjet image forming apparatus comprises a signal generating circuit for applying a test signal to the first electrode, a detecting circuit for detecting the test signal at the second and third electrodes and a condition managing section for judging a supplying condition of ink from the ink tank 65 to the pressurizing chamber 121a based on the result of the detecting circuit.例文帳に追加

第１電極にテスト信号を付与する信号生成回路と、第２および第３電極においてテスト信号を検知する検知回路と、検知回路の検知結果に基づきインクタンク６５から加圧室１２１ａへのインクの供給状態を判別する状態管理部とを備える。 - 特許庁

While the device-test-conducting control device is conducting a predetermined test, the board handler section 30 carries, out of the chamber 40, a tester board 12 whose semiconductor devices 11 have been tested, and sets another tester board 12 in a vocant space in the chamber 40.例文帳に追加

ボードハンドラ部３０は、デバイステスト実施制御装置による所定のテストの実施中において、テストが終了した半導体デバイス１１を搭載したテスタボード１２をチャンバ４０から搬出するとともに、チャンバ４０における空き領域に新たなテスタボード１２をセットする。 - 特許庁

To provide a dynamic horizontal loading test method for a pile for preventing the occurrence of vibration peculiar to a cavity of the pile by merely stuffing a section where a weight of the pile collides with filling in a dynamic horizontal loading test by use of the weight for the pile having the cavity.例文帳に追加

空洞を有する杭に対する錘を用いた動的水平載荷試験において、杭の重錘が衝突する箇所に充填物を詰めるだけで、杭の空洞特有の振動を容易かつ確実に防止することができる杭の動的水平載荷試験方法を提供する。 - 特許庁

A system S includes the optical fiber 10; an elliptical tube 20, in which a pressure sensor section 11 of the optical fiber 10 is fit; a light source 30 into which test light is made incident from the one end 101 side of the optical fiber 10; an optical circulator 40; and a heterodyne receiver 50 for measuring reflected light of the test light.例文帳に追加

システムＳは、光ファイバ１０、光ファイバ１０の圧力センサ部１１に被嵌される楕円管２０、光ファイバ１０の一端１０１側から検査光を入射する光源装置３０、光サーキュレータ４０、及び前記検査光の反射光を計測するヘテロダイン受信機５０を含む。 - 特許庁

A simulator 52 simulates the movement of a test vehicle 1 by obtaining a response to an input value of a prescribed vehicle model, and outputs the amount of bounding, pitching, and rolling in the test vehicle 1 obtained at each point of time by the simulation to a restraint device control section 53.例文帳に追加

シミュレータ５２は、所定の車両モデルの入力値に対する応答を求めることにより、試験車両１の運動をシミュレーションし、当該シミュレーションによって各時点において得られる試験車両１のバウンシング量、ピッチング量、ローリング量を、拘束装置制御部５３に出力する。 - 特許庁

To provide a test system of a semiconductor device, which eliminates such a probability that large current flows through a connection section of a connected semiconductor device in the case setting of terminals is changed in accordance with a change in functional tests, thereby avoiding such a state that a measurement is carried out unstably or the test can not be conducted.例文帳に追加

機能テスト変更に伴う端子の設定変更の際、接続した半導体装置との接続部分に大電流が流れる虞がなく、測定の不安定や試験が行えなくなったりすることなどのない半導体装置用試験装置を提供する。 - 特許庁

Every time when the input section 32 of the abnormality detection system performs a test for a plurality of semiconductor products, positional information data 15 of each semiconductor product on a wafer is inputted from a wafer prober and specified test results data 25 for the semiconductor product is inputted from an LSI tester 20.例文帳に追加

異常検出システム３０の入力部３２が、複数の半導体製品の試験を行う毎に、各半導体製品のウェーハ上における位置情報データ１５をウェーハ・プローバーから入力し、この半導体製品に対する所定の試験結果データ２５をＬＳＩテスタ２０から入力する。 - 特許庁

Test image data produced from a 1st test image generating circuit are given to the image processing system in place of input image data from a scanner section, the data pass through each image processing block in a through mode and data of a check object are selected among respective outputs.例文帳に追加

この発明は、第１のテスト画像発生回路で発生したテスト画像データをスキャナ部からの入力画像データの代りに画像処理系に入力し、そのとき画像処理の各ブロックをスルーモードで通過させ、それぞれの出力の中から検査対象のデータを選択する。 - 特許庁

To prevent the image deterioration of a solid-state imaging apparatus by preventing the generation of false signals such as flares by preventing the incidence of a reflected light by a test pad on a CCD image section while enabling to perform a predetermined internal circuit setting and to extract a characteristics evaluation data by using the test pad.例文帳に追加

テストパッドを用いて所定の内部回路用設定や特性評価用データ抽出を可能としつつ、テストパッドによる反射光のＣＣＤイメ−ジ部への入射を防止してフレア等の疑似信号の発生を防止することにより、固体撮像装置の画像劣化を防止する。 - 特許庁

A CPU 21 outputs a second level control signal VCT 1 and an address signal VA for a correction period, and a switching circuit 18 selects a test pattern signal V 16 (R, G, B) providing one measuring fixed image stored in a circuit 16, resulting that the measuring display section 3 displays a test pattern.例文帳に追加

補正期間において、ＣＰＵ２１は第２レベルの制御信号ＶＣＴ１及びアドレス信号ＶＡを出力し、切換回路１８は回路１６が保有する測定用固定１画面を与えるテストパターン信号Ｖ１６（Ｒ，Ｇ，Ｂ）を通し、その結果、テストパターンが測定用表示部３に表示される。 - 特許庁

Furthermore, the controllable test point 120 includes a delay element 123 for delaying, by the duration of propagation from the input terminal 101 to a node of the controllable test point 120 in the previous logical path, a timing at which to propagate a delay-failure-related signal from a failure generating section 121.例文帳に追加

また、可制御性テストポイント１２０は、故障生成部１２１から遅延故障に関する信号を伝搬するタイミングを、入力端子１０１から可制御性テストポイント１２０の接続地点までの前段の論理パスの伝搬時間分遅延させる遅延素子１２３を備えている。 - 特許庁

In the sample producing method, a groove section 12 is formed by etching / removing the periphery of a region, including a prescribed test point 7 disposed on the surface of the semiconductor wafer 14 treated in prescribed processes in a semiconductor device production line, and the region including the prescribed test point 7 is made thin.例文帳に追加

半導体デバイス製造ラインで所定の処理を施した半導体ウエハ１４に対し、ウエハ表面に形成された所定の検査箇所７を含む領域の周辺部をエッチング除去して溝部１２を形成するとともに所定の検査箇所７を含む領域を薄片化する。 - 特許庁

The control apparatus 2 includes: a capture section 20 serving as test data collecting means for collecting first data obtained by testing condition setting means for setting the testing conditions and execution instruction means for giving instructions for executing the test; and a converter section 21 serving as converting means by which the first data thus collected is converted into second data low in redundancy.例文帳に追加

制御装置２は、試験条件を設定する試験条件設定手段と試験の実行指示を行う実行指示手段と試験によって得られた第１のデータを収集する試験データ収集手段としてのキャプチャ部２０と、収集された第１のデータを冗長度が少ない第２のデータに変換する変換手段としてのコンバータ部２１とを備える。 - 特許庁

A portable printer 10 includes: a wireless communication section for performing a wireless communication with the wireless access point 50; a wireless connection test button 23 operated by an operator; and a signal transmitting module for transmitting a response requesting signal for requesting a response to the wireless access point 50 from the wireless communication section by operating the wireless connection test button 23 while an electric power source power-on condition is kept.例文帳に追加

携帯プリンタ１０は、無線アクセスポイント５０と無線通信を行う無線通信部と、操作者に操作される無線接続テストボタン２３と、無線接続テストボタン２３が操作されることにより、電源投入状態を維持したまま、無線通信部から無線アクセスポイント５０に、応答を要求する応答要求信号を送信する信号送信手段と、を備える。 - 特許庁

The test device 30 at the front end of the ultrasonic diagnostic device is composed of a section 8 that generates either ascending or descending signals on a prescribed mild slope, a switch 7 for converting the test signals to be inputted into plural channels at the front end 20 and a section 18 that measures a delayed time of outputting signals from the plural channels of the front end 20.例文帳に追加

本発明の超音波診断装置のフロントエンド部の試験装置３０は、予め定めたゆるやかな傾斜で上昇下降するテスト信号の発生部８と、テスト信号をフロントエンド部２０の複数のチャンネルに切換入力する切換スイッチ７と、フロントエンド部２０の出力信号より複数のチャンネルの遅延時間を測定する測定部１８とを備えた構成とした。 - 特許庁

The test circuit of a semiconductor integrated circuit device comprises a scan flip-flop circuit 10 for connecting a plurality of stages of flip-flops in series and supplies a serial test pattern inputted from the outside to a circuit to be tested; and a validity determining section 40 that is connected to the final stage of the scan flip-flop circuit in series and checks the validity of the inputted serial test pattern.例文帳に追加

半導体集積回路装置のテスト回路は、複数段のフリップフロップを直列に接続して、外部から入力されるシリアルテストパターンを試験対象回路に供給するスキャンフリップフロップ回路（１０）と、前記スキャンフリップフロップ回路の最終段に直列に接続されて、前記入力されるシリアルテストパターンの妥当性をチェックする妥当性判断部（４０）とを備える。 - 特許庁

This testing apparatus includes: a storage section 10a which stores music and test questions related to the music; audio output means 5 for outputting the music; display means 2 for displaying the test questions; input means 3 where a subject inputs answers to the test questions; and testing means 1 which determines the level of the dementia or forgetfulness of the subject based on the input answers.例文帳に追加

音楽と音楽に関連する検査質問が保存された記憶部１０ａと、音楽を出力する音声出力手段５と、検査質問を表示する表示手段２と、検査質問に対して被験者が回答を入力する入力手段３と、入力された回答から被験者の認知症又は物忘れの症状レベルを判定する検査処理手段１と、を備えている。 - 特許庁

A terminal simulator relates to the terminal simulator executing the test scenario created in plural false terminals by an SDL format, characterized by providing: a scenario conversion section which splits the test scenario into unit blocks previously defined each false terminal; and an execution control portion which executes the test scenario to each false terminal by unit blocks of a previously defined number.例文帳に追加

本発明に係る端末シミュレータは、複数の擬似端末にＳＤＬ形式で作成されたテストシナリオを実行させる端末シミュレータであって、テストシナリオを、擬似端末ごとの予め定めた単位ブロックに分割するシナリオ変換部と、擬似端末のそれぞれに、予め定められた数の単位ブロックずつ、テストシナリオを実行させる実行制御部と、を備えることを特徴とする。 - 特許庁

The semiconductor integrated circuit comprises an obstruction factor cancellation circuit for individually or forcibly cancelling the test obstruction factors of a floating state or the like to be generated in each section of an integrated circuit when a circuit stops, and a test mode generation circuit 5 for supplying an IDDQ mode signal 12 for making active a circuit to the obstruction factor cancellation circuit for generating a test mode.例文帳に追加

回路停止時に集積回路の各部に発生されるフローティング状態等の試験阻害要因を個別に且つ強制的に解除する阻害要因解除回路と、上記阻害要因解除回路に当該回路をアクティブにするＩＤＤＱモード信号１２を供給して試験モードを発生させる試験モード発生回路５とを備えた半導体集積回路である。 - 特許庁

When it is determined that the electric field strength is smaller than the electric field strength reference value TH, a communication speed detection section 19 communicates with a communication speed test server TS through a radio communication section 14 and the wireless LAN base station W to detect a communication speed.例文帳に追加

電界強度が電界強度基準値ＴＨより小さいと判定されたなら、通信速度検出部１９が、無線通信部１４と無線ＬＡＮ基地局Ｗを介して、通信速度テストサーバＴＳとの通信を行い通信速度を検出する。 - 特許庁

The temperature control dampers 37 and 47 have a channel forming surface 61 that faces both of a feed route of the gas fed from the temperature control section and a blast route of the gas in the test section and continues the inner peripheral surface of the feed route in the opened state.例文帳に追加

温調ダンパ３７，４７は、開状態になると温調部から送出される気体の送出経路、並びに、試験部における気体の送風経路の双方に面し、送風経路の内周面とが連続した状態になる流路形成面６１を有する。 - 特許庁

A detecting section 33 detects specified patterns of abnormal values for the plurality of semiconductor products where the specified test result data 25 from the input section 32 have specified abnormal values based on the positional information data 15 of the plurality of semiconductor products.例文帳に追加

検出部３３は、入力部３２により入力された所定の試験結果データ２５が所定の異常値を有する複数の半導体製品について、これら複数の半導体製品の位置情報データ１５に基づく所定の異常値のパターンの検出を行う。 - 特許庁

An inner pressure fluctuation absorption apparatus 3 comprises a pressure regulation section 21 including a pressure regulation space AS, and a duct 20 capable of connecting a testing device body 2 and the pressure regulation section 21 so as to communicate a test space and the pressure regulation space AS.例文帳に追加

内圧変動吸収装置３は、圧力調整用空間ＡＳを有する圧力調整部２１と、試験空間と圧力調整用空間ＡＳとを連通させるように試験装置本体２と圧力調整部２１を接続可能なダクト２０と、を備える。 - 特許庁

In a light-shielding case 104, an inspecting apparatus 100 is provided with a wafer tray 1 which holds a wafer scale lens 2 as an inspection object, an object for test 101, a light-receiving section 103 which is a master chip for inspection, and a holding base 102 which holds the light-receiving section 103.例文帳に追加

検査装置１００は、遮光筺体１０４内に、検査対象となるウエハスケールレンズ２を保持するウエハトレイ１と、テスト用の被写体１０１と、検査用のマスターチップである受光部１０３と、受光部１０３を保持する保持台１０２とを備えている。 - 特許庁