「test section」に関連した英語例文の一覧と使い方(13ページ目) - Weblio英語例文検索

To provide a connector for semiconductor package test protecting a low density, electrically conductive silicon section with good joint reliability and robust mechanical and electric contact, while utilizing conventional manufacturing processes of silicon connectors.例文帳に追加

従来のシリコンコネクタの製造工程を利用しながら、接合信頼性が良好で機械的電気的接触が堅固な低密度導電性シリコン部を保護する半導体パッケージテスト用コネクタを提供する。 - 特許庁

The conversion comparator includes a DA section 10 for performing analog conversion on digital data with the predetermined number of bits during a normal mode and for performing analog conversion on digital data with bits, which are less than the bits during the normal mode, during a test mode.例文帳に追加

変換比較部は、通常モード時、所定のビット数のデジタルデータをアナログ変換し、テストモード時、通常モード時より小さいビット数のデジタルデータをアナログ変換するＤＡ部１０を備える。 - 特許庁

The outgassing evaluation system 1 has the evaluation sample 2 irradiated with illumination light by an illumination part 8 after this environment test to detect light reflected by the evaluation sample 2 by a photodetection section 9.例文帳に追加

また、アウトガス評価システム１は、この環境試験後の評価サンプル２に照明部８によって照明光を照射して、この評価サンプル２からの反射光を光検出部９によって検出する。 - 特許庁

The test operating section 32 includes an electronically controlled apparatus display part 33 indicating the apparatus to be electronically controlled and a target value setting part 34 capable of arbitrarily setting the target value to the apparatus to be electronically controlled.例文帳に追加

この試験操作部３２は、被電子制御装置を示す被電子制御装置表示部３３と、被電子制御装置に対する目標値を任意に設定可能な目標値設定部３４を含む。 - 特許庁

To provide the inspecting method of semiconductor device which can measure in direct carrier distribution at the cross-section of a semiconductor testing sample using a scanning probe microscope without cutting out a thin semicoductor test sample.例文帳に追加

半導体試料を薄く切り出さずに、該半導体試料の断面におけるキャリア分布を走査型プローブ顕微鏡により直接測定することが可能な半導体装置の検査方法を提供する。 - 特許庁

To provide a device and a method for dynamic wind tunnel testing in order to inhibit the deviation of a wind tunnel testing model from its wind tunnel measuring section, relax the limits to the test range, and minimize transient phenomena in transition to free flight mode.例文帳に追加

動的風洞試験装置及び方法に関し、風試模型の風洞計測部からの逸脱を防止し試験範囲の制限を緩和し、フリーフライト移行時の過渡現象を小さくする。 - 特許庁

The numeric value based on the AF signal is created based upon the AF signal outputted from the distance measuring section when a subject (test chart) is disposed at the distance that makes the confusion circles equal in size.例文帳に追加

そして、ＡＦ信号に基づいた数値は、錯乱円が同じとなる距離に被写体（テストチャート）を配置したときに測距部により出力されたＡＦ信号に基づいて生成されたものである。 - 特許庁

In the reinforcing members of the concrete building frictionally coming into press-contact with the reinforcement 12 and the fixing hardware 11, when a tension test is performed by holding a joint section between the reinforcing members, it is fractured with the reinforcement 12.例文帳に追加

鉄筋１２と定着金物１１とが摩擦圧接されたコンクリート建築物の補強部材において、補強部材の接合部を挟んで引張試験を行ったときに、鉄筋１２で破断する。 - 特許庁

Then a controller 30 drives a rotation control section 31 and erases the test data while varying the rotation speed as quad-speed, six-speed, eight-speed, ten-speed, and twelve-speed or the like to calculate the erasure performance.例文帳に追加

その後、コントローラ３０は回転制御部３１を駆動して４倍速、６倍速、８倍速、１０倍速、１２倍速等と回転速度を変化させてテストデータを消去し、その消去性能を算出する。 - 特許庁

An imaging element control section 91 brings an imaging element 9 to an imaging state respectively synchronously with a time when the DMD 4 displays the full black image on the screen 6 and a time when the DMD 4 displays the test pattern image.例文帳に追加

撮像素子制御部９１が、ＤＭＤ４によりスクリーン６に全黒画像を表示する時とテストパタン画像を表示する時にそれぞれ同期して撮像素子９を撮像状態にする。 - 特許庁

The normal operation mode continues from a start of the protocol test until the time count means 1b detects a lapse of the switching time, and a selection 2d of a pseudo master 2 selects a normal operation pattern storage section 2a.例文帳に追加

プロトコル試験の開始から計時手段１ｂが切替え時間の経過を検出するまでは正常動作モードであり、擬似マスタ２の選択部２ｄは、正常動作パターン記憶部２ａを選択する。 - 特許庁

To provide a semiconductor storage device, in which a test pattern from the outside can be input easily and by which the data write, etc., of initial data to a RAM section can be conducted at high speed from the outside.例文帳に追加

外部からのテストパターンの入力等が容易であり，また，ＲＡＭ部への初期データのデータ書き込み等も外部から高速に行うことが可能な半導体記憶装置を提供する。 - 特許庁

A feature point detection section 6 refers to the test patterns S_PTN1 to S_PTN4 and detects an event that fluctuates a power supply voltage V_DD of a power supply terminal P1.例文帳に追加

特徴点検出部６は、パターン発生器ＡＬＰＧが発生するテストパターンＳ_ＰＴＮ１〜Ｓ_ＰＴＮ４を参照し、電源端子Ｐ１の電源電圧Ｖ_ＤＤに変動を発生させるイベントを検出する。 - 特許庁

You can combine lpr(1) with the lptest(1) program, introduced in section Checking Printer Communications to generate some test text. 例文帳に追加

このコマンドは、印字するためのジョブを投入する働きをします。 lpr(1) コマンドを「 プリンタとの通信状況を調べる」で紹介した、あるテスト用のテキストを生成してくれる lptest(1) プログラムと一緒に使うこともできます。 - FreeBSD

To make formable a smoke prevention and discharge section in its early stages by calculating optimum time for sending out interlocked control signals by actually performing a test.例文帳に追加

連動制御信号を送出するのに最適な時間を、実際に試験を行うことで算出して、早期に防排煙区画を形成することをできるようにした防排煙機器制御システムを提供する。 - 特許庁

An evaluation section 16 quantitatively evaluates the degree of the retention of the watermark information or the degree of deterioration of the quality of the electronic image and stores evaluation result data to a test result DB 17.例文帳に追加

評価部１６は、当該電子画像における透かし情報の残存度合い又は画質の劣化度合いを定量的に評価し、その評価結果データを試験結果ＤＢ１７に保存する。 - 特許庁

A program memory section 24 is prepared in a pattern generator generating testing patterns and one of a plurality of memory sections prepared in the semiconductor testing device to memorize test conditions of DUT.例文帳に追加

プログラムメモリ部２４は、試験パターンを生成するパターンジェネレータに設けられており、ＤＵＴの試験条件を記憶するために半導体試験装置に複数設けられているメモリ部等の１つである。 - 特許庁

However, should you decide to use native Ruby, which you can do by switching interpreters in the Options dialog, then you need to check if rspec is installed (see the first figure in the Auto Test section). 例文帳に追加

ただし、ネイティブの Ruby を使用する場合 (「オプション」ダイアログでインタプリタを切り替えることによって指定可能)、rspec がインストールされていることを確認する必要があります (「自動テスト」の節の最初の図を参照)。 - NetBeans

Subsequently, generates a test pattern C (S10), stores the image density Dc (S11) and adjusts a PWM value by an edge processing section to make Da1 to Da4 and Dc equal to each other (S12 and S13).例文帳に追加

次にテストパターンＣを生成して（Ｓ１０）、画像濃度Ｄｃを記憶し（Ｓ１１）、Ｄａ１〜Ｄａ４とＤｃが等しくなるようにＰＷＭ値をエッジ処理部にて調整する（Ｓ１２、Ｓ１３）。 - 特許庁

An image region deciding circuit 112 decides the printing part of a recording head 109 from the image information of a test pattern for density correction on a material to be recorded which is read by an input sensor section 101.例文帳に追加

画像領域判定回路１１２は、入力センサ部１０１で読み取った被記録材上の濃度補正用テストパターンの画像情報から記録ヘッド１０９のプリント部分を判定する。 - 特許庁

In a test mode prior to measurement, a control section 10 of the reader/writer 1 carries out processes of communications with the RFID tag iteratively a plurality of times and each time the communication is made successful, the number of times of that success is counted.例文帳に追加

実測に先立つテストモードにおいて、リーダライタ１の制御部１０は、ＲＦＩＤタグとの交信処理を複数回繰り返して実行し、交信に成功する都度、その成功回数をカウントする。 - 特許庁

Similarity between the feature representation of the transformed test cluster and each feature representation stored in DB10 is computed, and an ID of a training cluster with maximum similarity is sent to a predictor selection section 70.例文帳に追加

変換されたテストクラスタの特徴表現とＤＢ１０に保存された各特徴表現との類似度を算出し、該類似度が最大の訓練クラスタのＩＤを予測器選択部７０に送る。 - 特許庁

To provide a flame retardant fiber wall paper conforming to "non-combustible material" and "semi-non-combustible material" by combustion test methods based on the article 2 no. 9 and article 68 no. 2 section 1 of the Building Standard Law.例文帳に追加

建築基準法第２条第９号と第６８条の２第１項に準拠する燃焼試験法による「不燃材料」および「準不燃材料」に適合した難燃繊維壁紙を得る。 - 特許庁

This optical filter 2 for controlling transmission and blocking of test light comprises the optical fiber 7, and a stress applying section 8 having a plurality of projecting parts 9 arranged along a predetermined direction at a predetermined cycle.例文帳に追加

試験光の遮断および透過を制御可能な光フィルタ２は、光ファイバ７と、所定の周期で、所定の方向に沿って配列した複数の凸部９を有する応力付与部８とを備えている。 - 特許庁

For example, in the case of the defect which is in communication with the bottom of the test object, the size of the defect is determined from appearances of the creeping wave, the mode transformed wave and the longitudinal wave or the transversal wave from the head edge section of the defect.例文帳に追加

例えば、欠陥が試験体の底に連通するものであり、クリーピング波、モード変換波及び欠陥先端部からの横波又は縦波の表れ方により欠陥の大きさを判別する。 - 特許庁

Further, applying abnormal value elimination processing and equalization processing or like processing to a plurality of pixels on the test pattern image set and read in this way and arranged in a subscanning direction of the image output section eliminates the effect of stripe-shaped read errors caused in the image read section.例文帳に追加

そして、このようにセットされて読取られたテストパターン画像において、画像出力部の副走査方向に並ぶ複数の画素に対して異常値除去処理や平均化処理などを行うことで、画像読取部で発生した筋状の読取り誤差の影響を取り除く。 - 特許庁

When a test switch 7 is turned on, a control 2 generates a pseudo current signal by making the current signal from the current detector section 1 higher than the threshold by an appropriate means such as temporarily lowering the threshold set in the sensitivity current setting section 5.例文帳に追加

テストスイッチ７がオンすると、制御部２では感度電流設定部５で設定された閾値を一時的に低くする等の適宜の方法で電流検出ブロック１から入力する電流検出信号を閾値よりも相対的に高くして疑似電流検出信号を作り出す。 - 特許庁

IDDQ measured values of the semiconductor integrated circuit with respect to those test patterns are input to an IDDQ quantization section 23, and the quantization section quantizes an input IDDQ measurement value to 1 when the input value is larger than a predetermined threshold, and to 0 in cases other than that, and outputs those values.例文帳に追加

ＩＤＤＱ量子化部２３は、それらのテストパタンに対する半導体集積回路のＩＤＤＱ測定値を入力し、入力したＩＤＤＱ測定値が所定の閾値よりも大きい場合には１に、それ以外の場合には０に量子化して出力する。 - 特許庁

To provide a focused ion beam device capable of producing a good cross section for observation having little streak and improving throughput, and a method of processing and observing a test piece which allows production of a good cross section of observation and provide a correct observation image.例文帳に追加

筋引きの少ない良好な観察用断面を作製することができるとともに、スループットを向上させることが可能な集束イオンビーム装置、及び、良好な観察用断面を作製して、正確な観察像を得ることができる試料の断面加工・観察方法を提供する。 - 特許庁

To provide a simulation method capable of validly carrying out the simulation of a semiconductor integrated circuit device which performs the input/output of a test signal to a scan chain by a BIST section only to a user circuit section in the semiconductor integrated circuit device to shorten the simulation time.例文帳に追加

スキャンチェーンへのテスト信号の入出力をＢＩＳＴ部により行う半導体集積回路装置に対して、半導体集積回路装置内のユーザ回路部に対してのみ有効に行うことができ、シミュレーション時間の短縮を図ることができるシミュレーション方法を提供すること。 - 特許庁

When type information is expectation value changing data, a main control section generates the expectation value changing data for changing the expectation value, generates authentication information with the expectation value changing data to transmit the authentication information to a subsequent stage section, and subsequently changes a test value depending on detection of a detection object control command.例文帳に追加

主制御部は種別情報が期待値変更用データの場合、期待値を変更する期待値変更用データを生成し、該期待値変更用データを有する認証情報を生成して後段部に送信し、その後検出対象制御コマンドの検出に応じて検査値を変更する。 - 特許庁

When type information is expectation value changing data, a main control section generates the expectation value changing data for changing the expectation value, generates authentication information with the expectation value changing data to transmit the authentication information to an intermediate section, and subsequently changes a test value depending on detection of a detection object control command.例文帳に追加

主制御部は種別情報が期待値変更用データの場合、期待値を変更する期待値変更用データを生成し、該期待値変更用データを有する認証情報を生成して中間部に送信し、その後検出対象制御コマンドの検出に応じて検査値を変更する。 - 特許庁

The summarization section decision part 4 decides the summarization sections so that the width of each summarization section shows an equal probability on the estimated probability distribution, and consequently, the goodness-of-fit test can be carried out by transforming probability distributions into uniform distributions even when the probability distributions vary temporally.例文帳に追加

集計区間決定部４は、各集計区間の幅が、推定した確率分布上で等確率になるように集計区間を決定しているので、時間的に確率分布が変動する分布であっても、一様分布に変換して適合度検定を行うことが可能となる。 - 特許庁

In the case where it is discriminated that, on the basis of a comparison result, any abnormality such as a delay error caused by a voltage difference occurs, in order to recover the functional circuit block D109 into a normal state, the test control section 103 outputs a voltage boost instruction for the power supply domain D113 to the power supply control section 104.例文帳に追加

当該比較結果に基づいて、電圧差による遅延エラー等の異常が発生したと判別した場合、テスト制御部１０３は、機能回路ブロックＤ１０９を正常な状態に戻すために、電源制御部１０４に電源ドメインＤ１１３の電圧昇圧指示を出す。 - 特許庁

A semiconductor memory is provided with at least one memory array comprising many word lines sharing a bit line sense amplifier section, and a test circuit 14 activating simultaneously at least two word lines out of many word lines sharing the bit line sense amplifier section.例文帳に追加

半導体メモリ装置は、ビットラインセンスアンプ部を共有する多数のワードラインを含む少なくとも１つのメモリアレーと、テストモードにおいて、前記ビットラインセンスアンプ部を共有する多数本のワードラインのうち少なくとも２本のワードラインを同時に活性化させるテスト回路１４を具備する。 - 特許庁

A simulator 20 inputs simulation data which shows an application 130 a predetermined testing condition in an ECU side communication IF120 in order to test whether the software of the ECU normally works or not, and obtains data of a result computed by the application 130 by using the simulation data, and a test result determining section inside a CPU board 210 determines a result of the test based on the computing result data.例文帳に追加

シミュレータ２０は、ＥＣＵのソフトウェアが正常に作動するかを試験するために、アプリケーション１３０に所定の試験条件を示すシミュレーションデータをＥＣＵ１０側の通信ＩＦ１２０に入力し、そのシミュレーションデータを用いてアプリケーション１３０が演算した結果のデータを取得して、その演算結果データからＣＰＵボード２１０内の試験結果判定部が試験結果を判定する。 - 特許庁

At the time of a burn-in test or at the time of a stress test, row decode-signals RD0-RD15 are outputted simultaneously from a row decoder section 9 of each block, each word line drive timing control signal generating circuit 17 generates row post decode-signals RPD0-RPD15 to which the row decode signals RD0-RD15 are delayed in order.例文帳に追加

バーンイン試験時又はストレス試験時には、各ブロックのロウデコーダ部９からロウデコード信号ＲＤ０〜ＲＤ１５が同時に出力されるが、各ワード線駆動タイミング制御信号発生回路１７は前記ロウデコード信号ＲＤ０〜ＲＤ１５を順番に遅延したロウポストデコード信号ＲＰＤ０〜ＲＰＤ１５を発生する。 - 特許庁

The observable test point 110 includes a delay element 112 for delaying, by the duration of propagation from a node of the observable test point 110 to the output terminal 105 in the subsequent logical path 130, a timing at which a failure detecting section 111 detects a delay-failure-related signal propagated from the logical path 130.例文帳に追加

可観測性テストポイント１１０は、論理パス１３０から伝搬された遅延故障に関する信号を故障検出部１１１に検出するタイミングを、可観測テストポイント１１０の接続地点から出力端子１０５までの後段の論理パス１３０の伝搬時間分遅延させる遅延素子１１２を備えている。 - 特許庁

When a phased-array antenna of the synthetic aperture radar device 5 as a test body is mounted on a positioner 3 and the phased-array antenna changes the beam direction with electronic control, the positioner 3 is rotated to cancel the change, and the antenna is always directed to a test signal occurrence section 2 even when the beam direction is changed.例文帳に追加

供試体としての合成開口レーダ装置５のフェーズドアレイアンテナをポジショナ３に載せ、このフェーズドアレイアンテナが電子的な制御によりビーム方向を移動したときに、その移動を相殺するようにポジショナ３を回転させて、ビーム方向を移動しても常に試験信号発生部２を指向させる。 - 特許庁

Functional verification between a net list 12 generated by the test synthesis and a timing verified net list by the static timing analysis is verified (step S15), the function verified net list is released to a manufacturing section (step S17) and a test pattern is automatically generated by using the net list 15 by an ATPG tool (step S18).例文帳に追加

テスト合成により生成されたネットリスト１２と、静的タイミング解析によるタイミング検証済みのネットリストとのファンクション検証をおこない（ステップＳ１５）、ファンクション検証済みのネットリストを製造部門へリリースし（ステップＳ１７）、そのネットリスト１５を用いてＡＴＰＧツールによりテスト・パターンを自動生成する（ステップＳ１８）。 - 特許庁

In the case where the condition that the test signal is detected at the second and the third electrodes 132, 133 is directly changed to the condition that the test signal is not detected by them, the condition managing section judges that defective filling of ink occurs on a portion between the ink tank 65 and the pressurizing chamber 121a.例文帳に追加

状態管理部は、第２および第３電極１３２・１３３でテスト信号が検知されている状態から、第２および第３電極１３２・１３３でテスト信号が検知されていない状態へ直接変化した場合に、インクタンク６５から加圧室１２１ａの間におけるインク充填不良が発生したと判別する。 - 特許庁

To provide a power system monitor control system capable of controlling only an apparatus to be tested by switching from an ordinary operation screen of a display section of a monitor controller to a new operation screen for a test mode in performing a site verification test of the apparatus, and preventing any other apparatus under operation from being accidentally operated.例文帳に追加

機器の現地確認試験を行う際に、監視制御装置の表示部の通常の操作画面から新たに試験モード用の操作画面に切り替えることで、試験の対象となる機器のみの制御を可能とし、他の現在運転中の機器の誤操作の防止を図った電力系統用監視システムを提供する。 - 特許庁

In a pattern inspection device with which patterns of a plurality of dies 22 formed on the test piece 2 for inspection are inspected, the pattern inspection device is equipped with a memory device 36 for a stream image to store the stream image of the test piece 2 for inspection, and a DD comparing section 51 to DD compare the patterns of the respective dies 22 in the stream image with one another.例文帳に追加

検査対象試料２に形成された複数のダイ２２のパターンを検査するパターン検査装置において、検査対象試料２のストリーム画像を記憶するストリーム画像用メモリ装置３６と、ストリーム画像内の各ダイ２２のパターンを相互にＤＤ比較するＤＤ比較部５１と、を備える、パターン検査装置。 - 特許庁

Improvement is added to optical properties measuring devices by branching off the light from an illuminant section is branched, by inputting one branched light into a test object, and by interfering another branched light (the reference light) to the outputted light (the signal light) outputteed from the test object.例文帳に追加

本発明は、光源部からの光を分岐し、一方の分岐光を被測定対象に入力させ、この被測定対象から出力される出力光（信号光）に、他方の分岐光（参照光）を干渉させて被測定対象の光学特性を測定する光学特性測定装置に改良を加えたものである。 - 特許庁

A test section 18 outputs a control signal CNTL to two memory circuits 21, 23, and each memory circuit 21, 23 outputs read-out data RDAT-1, RDAT-2 to comparison discriminating circuits 22, 24 responding to it.例文帳に追加

試験部１８は、２つのメモリ回路２１，２３に制御信号ＣＮＴＬを出力し、各メモリ回路２１，２３はそれに応答して読み出しデータＲＤＡＴ−１，ＲＤＡＴ−２を比較判定回路２２，２４に出力する。 - 特許庁