「test section」に関連した英語例文の一覧と使い方(16ページ目) - Weblio英語例文検索

To provide a radio receiver emulator for achieving the consistency between evaluation of radio communication by a simulation side and evaluation of radio communication using a signal receiving section for actually receiving RF signals outputted from a radio communication device, and to provide a radio test system using the same.例文帳に追加

シミュレーション側による無線通信の評価と、無線通信機の出力したＲＦ信号を実際に受信する信号受信部を用いた無線通信の評価との同一性を図った無線受信機エミュレータおよびこれを用いた無線試験システムを実現することにある。 - 特許庁

A balloon 17 for airtightness provided inside a gas hose 51 is expanded by supplied water, and stuck on the inner wall of a gas pipe 5-1, and separates a space between the periphery of an inner pipe 11 and the inner wall of the gas pipe 5-1 from the gas pipe 5-1, and forms an airtight test section.例文帳に追加

ガスホース５１内部に設けられた気密用風船１７は供給された水により膨張し、ガス管５−１の内壁に密着し、内管１１の外周とガス管５−１内壁との間の空間をガス管５−１から分離し、気密試験区間を形成する。 - 特許庁

When a test signal TST of 'H' is applied to an electrode 11, pulse width of the enable-signal EN is shortened to pulse width corresponding to a delay time (e.g. 10 ns) of a delay section 12 and an enable-signal ENX is generated, and outputted as an operation permission signal for a column decoder 5.例文帳に追加

電極１１に“Ｈ”のテスト信号ＴＳＴが印加されていると、イネーブル信号ＥＮは遅延部１２の遅延時間（例えば、１０ｎｓ）に相当するパルス幅に短縮されてイネーブル信号ＥＮＸが生成され、カラムデコーダ５に対する動作許可信号として出力される。 - 特許庁

Each of block processing sections 8-1 to 8-4 correspond to each block when the fail memory 4 is divided into plural blocks in according with blocks of the semiconductor memory, the number of defective addresses in a block corresponding to self-processing section are counted, when the number exceeds a threshold value, a test stop signal is outputted.例文帳に追加

各ブロック処理部８−１〜８−４は、フェイルメモリ４を半導体メモリのブロックに応じて複数のブロックに分割した際の各ブロックに対応しており、自処理部と対応するブロック中の、不良アドレスの個数を計数し、その個数が閾値を超える場合には、試験停止信号を出力する。 - 特許庁

The fixed potential of the element forming regions 6a, 6b differs from a fixed potential of the non element-forming region 7, and a prescribed voltage is respectively applied to the element-forming regions 6a, 6b and the non element-forming region 7 for a prescribed time, to apply the breakdown voltage screening test to the trench insulation isolation section 5U.例文帳に追加

素子形成領域６ａ、６ｂ内の固定電位と、素子形成外領域７の固定電位とは異なり、素子形成領域６ａ、６ｂ、および素子形成外領域７のそれぞれに所定の電圧を一定時間印加して、トレンチ絶縁分離部５Ｕの耐圧スクリーニング試験を行う。 - 特許庁

A gradation correction data creator 303 compares the gray level between image data of a test image read out by means of a scanner 70 and the target gradation characteristic data acquired at the target gradation characteristic data acquisition section 302, and creates gradation correction data based on the comparison result.例文帳に追加

階調補正データ作成部３０３は、スキャナ装置７０により読み取られたテスト画像の画像データと目標階調特性データ取得部３０２により取得された目標階調特性データとの濃度の比較を行い、この比較結果に基づいて階調補正データを作成する。 - 特許庁

The semiconductor test device has the comparator which logically judges a voltage of a responded waveform from a semiconductor apparatus, and an input section of the comparator has an input buffer circuit and a pseudo input buffer circuit which generates quantities of leakage current identical to that from the input buffer circuit.例文帳に追加

半導体装置から応答波形の論理値電圧の判定を行うコンパレータを有する半導体試験装置であって、該コンパレータの入力部は入力バッファ回路と該入力バッファ回路からの漏れ電流と同量の漏れ電流を生じる擬似入力バッファ回路を備える。 - 特許庁

In this impact stress measurement method, an impact load is applied to a test strip 5 connected to a bar-like stress measurement section, and the stress is measured based on a stress wave having transmitted through the test strip.例文帳に追加

棒状の応力計測部を接続した試験片に対して衝撃荷重を加え、その試験片を通過した応力波から応力を測定する衝撃応力測定方法において、衝撃引張荷重を加えた時の試験片の弾性応力が２０％から８０％まで増加するのに要する時間ｔ（μsec）と、応力計測部における試験片接続位置から応力計測点までの距離Ｌ（mm）との関係が、下記式(1)〜(3)の条件を満たすことを特徴とする。 - 特許庁

Use of a low-speed test device having a small number of terminals is made possible, by controlling the first and second transistors according to a pattern signal generated by the pattern generating section, and by providing a self-diagnosis control circuit (115) for transmitting the pattern signal to the input circuit.例文帳に追加

上記パターン生成部で生成されたパターン信号に従って上記第１トランジスタ及び上記第２トランジスタを制御することでパターン信号を上記入力回路に伝達する自己診断制御回路（１１５）を設けることによって、端子数が少なく且つ低速な試験装置の使用を可能にする。 - 特許庁

To provide a corrosion sensor capable of quantitatively and appropriately measuring an overlap section of materials, a method for measuring corrosive environments of overlap structure parts using the same, a method for designing a structure having the overlap structure part, and a method for corrosive test of materials used for the overlap part.例文帳に追加

材料が重なり合った部位の腐食環境を定量的に、且つ適切に計測できる腐食センサーおよびこの腐食センサーを用いての合わせ構造部の腐食環境計測方法および合わせ構造部を有する構造体の設計方法および合わせ構造部に使用する材料の腐食試験方法を提供する。 - 特許庁

An arm 17 of a shape where one arm end 18 is positioned at the back of a column section 6 at intervals from it is screwed with a cross head 4 for fixing and lifting up a pneumatic gripper 2A used for a testing force loading means for loading a testing force to a test strip S and a load cell 3 used as a testing force measuring means.例文帳に追加

試験片Ｓに試験力を負荷する試験力負荷手段に用いる空圧式つかみ具２Ａと試験力計測手段として用いるロードセル３を固定して昇降するクロスヘッド４に、一方のアーム端１８が柱部６と隙間をあけてその後部に位置する形状のアーム１７をネジ止めする。 - 特許庁

The drive IC includes a reference voltage setting circuit for outputting reference voltage by test voltage, and a load current control section for comparing load voltage output from load resistance with the reference voltage in response to load current flowing in load and maintaining the load current at a constant level on the basis of comparison results.例文帳に追加

本発明の駆動ＩＣは、テスト電圧によって基準電圧を出力する基準電圧設定回路と、負荷に流れる負荷電流に応答して負荷抵抗から出力される負荷電圧と基準電圧とを比較し、該比較結果に基づいて負荷電流を一定に維持させる負荷電流制御部と、を含む。 - 特許庁

Since assembling of an TM cell signal by the cell assembly section 106 and check of the cell assembly memories not in use by the test signal check sections 107-1-107-n are conducted in parallel, a normal cell assembly memory can be selected in the case of setting a new destination and the operation defect can be avoided.例文帳に追加

セル組立部１０６によるＡＴＭセル信号の組立と、試験信号検査部１０７−１〜１０７−ｎによる非使用のセル組立メモリの検査とを並行して行うので、新たな送信先を設定する際に、正常なセル組立メモリを選択することができ、これにより、動作不良を回避することができる。 - 特許庁

This tension testing device is attached to an inside of a scanning electron microscope mounted with a reflected electron detector, a test piece is tensioned while photographing a reflected electron image, and a change of a shape in a crystal grain appearing in the reflected electron image is measured to compute sequentially a strain amount in each crystal grain and a cross section with respect to a tensioned direction.例文帳に追加

反射電子検出器を装着した走査電子顕微鏡内に引張り装置を取り付け、反射電子像を撮影しながら試験片を引張り、反射電子像に現れる結晶粒の形の変化を測定し、結晶粒毎の歪量及び引張り方向に対する断面積を逐次演算する。 - 特許庁

To provide a device for measuring elongation percentage between bench marks that has a simple constitution, is inexpensive, and easily mount a test strip by constituting it so that an operating force related to a bench mark gauge head section can be adjusted to follow elongation with the minimum operating force without using a servo type following mechanism.例文帳に追加

サーボ式追従機構を用いることなく、標線測定子部に係る操作力が最小の操作力で伸びに対して追従できるように前記操作力を調整可能に構成したことで、簡単な構成で且つ安価で、試験片の装着操作も容易にできる使い易い標線間伸度測定装置を提供する。 - 特許庁

After making the image write section 17 output the one set of output images formed from the one set of test data, the CPU 10 makes a CCD sensor 11 read the one set of output images and receives image data of R, G, and B digitized by an A/D converter 11a through a scanner ASIC 12.例文帳に追加

さらに、ＣＰＵ１０は、１組のテストデータから形成される１組の出力画像を画像書込み部１７に出力させた後、１組の出力画像をＣＣＤセンサ１１に読取らせ、Ａ／Ｄ変換部１１ａによってデジタル化されたＲＧＢの画像データを、スキャナＡＳＩＣ１２を介して受信する。 - 特許庁

In blocking the test light, the plurality of projecting parts 9 are butted on the optical fiber 7 so that the predetermined direction matches with the longitudinal direction of the optical fiber 3, and stress is applied to at least one of the stress applying section 8 and the optical fiber 7, thereby forming long cycle grating to the optical fiber 7.例文帳に追加

上記試験光の遮断の際には、上記所定の方向が光ファイバ３の長手方向と一致するように複数の凸部９を光ファイバ７に当接させて、応力付与部８および光ファイバ７の少なくとも一方に応力を加えることにより、光ファイバ７に対して長周期グレーティングを形成する。 - 特許庁

When a difference between stored data and the test data exists, a preserved data generating section 8 preserves the preserved data, which include the data indicating the content of difference, the data indicating which RAMs correspond to the RAM containing the occurred difference, and the data indicating object addresses, to a housing domain of the preserved data prepared in the RAM1.例文帳に追加

記憶データの何れかとテストデータに相違があった場合、保存データ生成部８は、その相違内容を示すデータと相違の生じているＲＡＭが何れのＲＡＭであるかを表すデータと対象アドレスを表すデータとを含む保存データをＲＡＭ１に設けられた保存データ格納領域に保存する。 - 特許庁

In the second selection, a characteristic distribution calculator 3 acquires the electric characteristic distribution from the electric characteristic values of the semiconductor chips passing through the Go/Nogo test, and a second discrimination section 4 particularizes the semiconductor chips whose electric characteristic distributions are not within the distribution above to apply elimination (screening) to the semiconductor chips.例文帳に追加

第２の選別では、特性分布算出部３によりＧｏ／Ｎｏｇｏ試験をクリアーした半導体チップの電気的特性値から電気的特性分布を取得し、第２の判定部４により、この電気的特性分布から規定外分布に該当する半導体チップを特定して、当該半導体チップを除去（スクリーニング）する。 - 特許庁

The sheet for the slump test is provided, disposed on the upper surface of fresh concrete within a slump cone, formed so as to have a size fitted into the upper end opening of the slump cone, and includes a sheet mark indicating a central section on the upper surface when the sheet is disposed on the upper surface of the fresh concrete within the slump cone.例文帳に追加

スランプコーン内のフレッシュコンクリートの上面に配されるようにスランプコーンの上端開口部内に収まる大きさに形成されてなり、スランプコーン内のフレッシュコンクリートの上面に配された際に該上面の中央部を示すシート目印が設けられてなることを特徴とするスランプ試験用シートを提供する。 - 特許庁

In a continuity test a continuity probe 40 is inserted from forward in a tilted orientation with its leading end facing downward, guided through the notch groove 37 of the retainer 30 to the declining surface 38 on the back surface, inserted into the insertion groove 28 keeping its tilted orientation and touched with the top surface of relatively highly resilient connection section 16.例文帳に追加

導通検査を行う場合は、導通プローブ４０が先端を下に向けた斜め姿勢で前方から挿入され、リテーナ３０の切欠溝３７を通りその奥面の傾斜面３８で案内されるようにして、斜め姿勢のまま挿入溝２８に差し込まれ、比較的剛性の高い接続部１６の上面に当てられる。 - 特許庁

To provide a quality measurement system, a transmitter, a receiver, a quality measuring method and a program, capable of measuring communication quality with a few test packets and measuring one way communication quality even though times of a transmitter and a receiver do not synchronize with each other completely in a network including a radio section.例文帳に追加

無線区間を含むネットワークにおいて、少ないテストパケットで通信品質を計測でき、かつ、送信装置と受信装置の時刻が完全に同期していなくても片方向の通信品質を測定可能である品質計測システム、送信装置、受信装置、品質計測方法及びプログラムを提供する。 - 特許庁

The program memory section 24 is equipped with a memory 51 memorizing the data D1 at least a part of the test condition with timing of the trigger signal Tr1, a memory 52 memorizing the data D1 with timing of the trigger signal Tr2, and a selector 53 selecting an one-side output from either the memories 51 or 52 based on the selection signal SL1.例文帳に追加

このプログラムメモリ部２４は、トリガ信号Ｔｒ１のタイミングで、試験条件の少なくとも一部であるデータＤ１を記憶するメモリ５１と、トリガ信号Ｔｒ２のタイミングでデータＤ１を記憶するメモリ５２と、選択信号ＳＬ１に基づいて、メモリ５１，５２の何れか一方の出力を選択するセレクタ５３とを備える。 - 特許庁

The image communication processing apparatus (FAX server 10) creates a dummy file stored as a test in a shared folder (file server 20), writes the created dummy file into the share folder via a network control section by using a set value stored in a storage area, and determines whether or not the dummy file has been normally written into the shared folder.例文帳に追加

画像通信処理装置（ＦＡＸサーバ１０）は、共有フォルダ（ファイルサーバ２０）にテスト格納するためのダミーファイルを作成し、作成されたダミーファイルを、記憶領域に記憶された設定値を用いて、ネットワーク制御部を介して共有フォルダに書き込み、共有フォルダへの書き込みが正常に行われたか否かを判定する。 - 特許庁

In the semiconductor device, by setting of an inverting means implementing logical inverting of the standby level of a logical circuit according to input signal, using test mode signal the signal level supplied to a peripheral circuit can be altered between "L" and "H" without change of logic level output from a producing section of the standby signal.例文帳に追加

半導体装置では、論理回路のスタンバイレベルを入力信号に応じて論理反転させる反転手段を設る事により、スタンバイ信号の生成部が出力する論理レベルを変化させることなく、テストモード信号を用いて周辺回路に供給される信号レベルを“Ｌ”と“Ｈ”との間で変更することができる。 - 特許庁

A concrete concealed pattern attaching mechanism is configured to form the particular concealed pattern onto the color image without fail, in the case of forming a normal image, on the basis of the hardware control signal and the software control signal, and when no color image data are received, a test pattern selected by a selection section is synthesized with output image data.例文帳に追加

具体的な隠しパターン付加機構は、ハードウェア的制御信号とソフトウェア的制御信号とに基づいて通常画像を形成する際には特定の隠しパターンが必ずカラー画像上に形成されるように構成し、カラー画像データが入力されていないときには選択部により選択されたテストパターンを合成する。 - 特許庁

Article 21-45 A registration under the provisions of Article 17-2, paragraph (1) or Article 21-3, paragraph (1) (hereinafter simply referred to as a "registration" in this Section) shall be made upon application from a juridical person which intends to conduct an evaluation of the performance of special fire defense equipment, etc. and a test and lot inspection of a machine or tool, etc. subject to inspection (hereinafter referred to as an "inspection, etc." in this Section), for each category of operation listed in the following: 例文帳に追加

第二十一条の四十五　第十七条の二第一項又は第二十一条の三第一項の規定による登録（以下この節において単に「登録」という。）は、次に掲げる業務の区分ごとに、特殊消防用設備等の性能に関する評価並びに検定対象機械器具等についての試験及び個別検定（以下この節において「検定等」という。）を行おうとする法人の申請により行う。 - 日本法令外国語訳データベースシステム

Article 149 The employer shall, when carrying out a rotating test of a high speed rotating body (meaning the rotor of a turbine rotor, a basket of a centrifugal separator, etc., having the circumferential speed exceeding 25 m/sec.; hereinafter the same shall apply in this Section), carry out the test inside of a purpose-built sound building or at place isolated by sound barriers, etc., in order to prevent dangers due to the destruction of the rotating body. However, this shall not apply to the case where a rotating test of the high speed rotating body other than those set forth in the next Article is carried out, and when taking measures such as providing a sound cover in the testing facilities for preventing dangers due to destruction of the said rotating body. 例文帳に追加

第百四十九条　事業者は、高速回転体（タービンローター、遠心分離機のバスケツト等の回転体で、周速度が毎秒二十五メートルをこえるものをいう。以下この節において同じ。）の回転試験を行なうときは、高速回転体の破壊による危険を防止するため、専用の堅固な建設物内又は堅固な障壁等で隔離された場所で行なわなければならない。ただし、次条の高速回転体以外の高速回転体の回転試験を行なう場合において、試験設備に堅固な覆いを設ける等当該高速回転体の破壊による危険を防止するための措置を講じたときは、この限りでない。 - 日本法令外国語訳データベースシステム

The failure simulation execution means reads out a net list of semiconductor integrated circuits to be tested from a net list storage section and forms a failure list, performs failure setting on the basis of this failure list, executes failure simulation through the use of a predetermined test pattern, and forms an undetected failure list composed of a list of failures undetected by the failure simulation.例文帳に追加

故障シミュレーション実行手段は、テストする半導体集積回路のネットリストをネットリスト記憶部から読出して故障リストを生成し、この故障リストに基づいて故障設定を行い、所定のテストパターンを用いて故障シミュレーションを実行し、故障シミュレーションで未検出の故障のリストからなる未検出故障リストを生成する。 - 特許庁

The interferometer system comprises: a synchronous signal generating section 43 for setting up an instantaneous photographing period so as to fall within a light reception acceptable period of a photographing surface 33; and an AOM 13 and an AOM driver 14 which are used for irradiating the test body 7 with a measurement light beam emitted from a semiconductor laser light source 11 only during the instantaneous photographing period.例文帳に追加

撮像面３３の受光許容期間内に含まれるように瞬間的撮像期間を設定する同期信号生成部４３と、半導体レーザ光源１１から出射された測定用光束が、この瞬間的撮像期間にのみ被検体７に照射されるためのＡＯＭ１３およびＡＯＭドライバ１４とを備える。 - 特許庁

In the test operation control by a control section C, the heat medium in a cistern 8 is circulated to the heat medium circulation pipe conduit 7 by operating a circulation pump P, and a water level of the heat medium in the cistern 8 is detected by every prescribed time to perform water supply determination (ST1-ST7) for detecting a water supply condition in the heat medium circulation pipe conduit 7.例文帳に追加

制御部Ｃによる試運転制御は、循環ポンプＰを作動させて熱媒循環管路７にシスターン８内の熱媒を循環させ、シスターン８内の熱媒の水位を所定時間ごとに検知することにより、熱媒循環管路７における水張り具合を検知する水張り判定（ＳＴ１〜ＳＴ７）を行う。 - 特許庁

In a judgment time measurement test, a control section 9 causes multiple signs to be randomly selected and displayed on a display screen 6 according to the operation input from the person into the input button 7 and sequentially detects, as a judgment time, the time from the start of display of a displayed sign to the first operation input from the person into the input button 7.例文帳に追加

判断時間の測定テストでは、制御部９は、複数の記号を入力ボタン７に対する被験者からの操作入力に応じてランダムに切り替えて表示画面６に表示させ、表示した記号の表示開始から被験者からの入力ボタン７への最初の操作入力までの時間を判断時間として順次検出する。 - 特許庁

The apparatus for inspecting a semiconductor device includes: a chamber 40 for housing a plurality of tester boards 12 having semiconductor devices 11 mounted thereon; a board handler section 30 for performing an operation involved in transferring the tester boards 12; and a device-test-conducting control device for conducting predetermined tests on semiconductor devices 11 mounted by unit of tester board 12 set inside the chamber 40.例文帳に追加

半導体デバイス１１を搭載したテスタボード１２が複数収容可能なチャンバ４０と、テスタボード１２の移送に関する作業を行うボードハンドラ部３０と、チャンバ４０にセットされたテスタボード１２に搭載された半導体デバイス１１に対して１つのテスタボード単位で所定のテストを実施するデバイステスト実施制御装置とを備えている。 - 特許庁

In this case, the wiring 3 is cut by using a cutting control signal for cutting the wiring 3 also as the reset signal of a reset signal inputting section 5 and driving an open drain circuit 6, and the operation of the test circuit or the function switching circuit from the outside is made impossible by making the control of the internal circuit 2 through the cutting control signal impossible.例文帳に追加

その場合、配線３を切断するための切断制御信号をリセット信号入力部５のリセット信号と兼用させ、オープンドレイン回路６を駆動することにより配線３を切断し、切断を制御するための信号を経由しての内部回路２の制御を不可能にすることにより、外部からの操作を不能にする。 - 特許庁

In printers E, F connected with a host unit, i.e., a computer A, and a plurality of other computers through a network, an operating section 32 is provided with a print output continue key 31 for allowing print output of remaining pages and copies when only arbitrary pages of a job being printed by a plurality of copies are designated by a user and test printed previously.例文帳に追加

上位装置であるコンピュータＡ及び他の複数のコンピュータとネットワーク接続されたプリンタＥ、Ｆにおいて、複数部を印刷するジョブのうち、ユーザーが指定した任意のページだけを先に試し印刷するに際し、残りのページ及び残りの部数の印刷出力を許可する印刷出力続行キー３１を操作部３２に設けた。 - 特許庁

The operator confirms the test printed content and if no correction is required (S1-7; YES), the operator sets a normal print mode and a print control section reads out document data stored in an image memory (S1-8) and performs normal operation under conditions at the time of forming a document (S1-9).例文帳に追加

操作者が試し印刷された内容を確認し、修正の必要ない場合には（Ｓ１−７のＹＥＳ）、操作者が通常印刷モードを設定することにより、印刷制御部は、画像メモリに記憶されている文書データを読み出し（Ｓ１−８）、通常の印刷、すなわち文書作成時の条件で通常印刷を行わせる（Ｓ１−９）。 - 特許庁

The test method includes the steps of installing a coiled cyclic polarization change giving section 1 on the optical fiber 3, entering a pulsed light from one side of the optical fiber 3, measuring a time change of polarization components of a back scattered light by the pulsed light, and performing optical fiber identification based on an intensity change cycle of the polarization components.例文帳に追加

本発明は、光ファイバ３にコイル状に束ねた周期的偏光変化付与部１を設置しておき、前記光ファイバ３の片側からパルス光を入射し、前記パルス光による後方散乱光の偏光成分の時間変化を測定し、前記偏光成分の強度変化の周期に基づき心線対照を行うことを特徴とする。 - 特許庁

To provide a semiconductor device which has a plurality of signal batch latching means for latching external signal groups en bloc and supplying them to a prescribed internal circuit section as an internal signal group and in which yield can be improved even when dispersion in manufacturing is large, change of specification for a customer can be addressed with a low cost and in a short period, and to provide its test method.例文帳に追加

外部信号群を一括ラッチし内部信号群として所定の内部回路部に供給する複数信号一括ラッチ手段を有する半導体装置であって、製造上のばらつきが大きい場合にも歩留を向上させことができ、且つ顧客仕様変更にも低コスト且つ短期間で対応することができる半導体装置及び試験方法を提供する。 - 特許庁

In this fire prevention receiver 1 in a self fire alarm system which outputs fire alarm when a fire signal is received from a fire sensor installed in each section, the receiver is equipped with a test recovery switch 11A, a storage means 18 and a control means 10 for having the storage means 18 store the fire signal received from the fire sensor in turn.例文帳に追加

各地区毎に設置された火災感知器より火災信号を受信したときに、火災警報を出力する自火報システムにおける防災受信機１において、試験復旧スイッチ１１Ａ、記憶手段１８と、試験復旧スイッチ１１Ａが操作されたときには、火災感知器から受信した火災信号を、記憶手段１８に順番に記憶させる制御手段１０とを備えている。 - 特許庁

A control section 128 extracts an image signal with a maximum level to separate an image in one fluorescent color, extracts an image signal of other level depending on the position of the image signal and the arrangement relation of fluorescence to separate an image in other fluorescent color, and by using the image of the test pattern of each fluorescent color a missed convergence amount is calculated.例文帳に追加

制御部１２８により最大レベルの画像信号を抽出することで１の蛍光体色の画像が分離されるとともに、その画像信号の位置と蛍光体の配列関係とから他のレベルの画像信号を抽出することで他の蛍光体色の画像が分離され、各蛍光体色のテストパターンの画像を用いてミスコンバージェンス量が算出される。 - 特許庁

The integrated circuit 1 is provided with an AGC signal input changeover switch 30 for switching between the case in which an internal signal by an automatic gain control loop outputted by the circuit unit 20 is used and the case in which the automatic gain control loop is disconnected and an AGC signal for test is is directly given, as the input of an AGC signal to the amplifier 11 and the amplifier 13 in the section 10.例文帳に追加

ＲＦ回路部１０内のＲＦ可変増幅器１１及びベースバンド可変利得増幅器１３へのＡＧＣ信号の入力として、デジタル復調回路部２０が出力する自動利得制御ループによる内部信号を用いる場合と、自動利得制御ループを切り離して、テスト用ＡＧＣ信号を直接与える場合とを切り替えるＡＧＣ信号入力切替スイッチ３０が設けられている。 - 特許庁

The state coat of arms, the national flag or any other national emblem or the coat of arms of an Austrian provincial or local authority shall not be used in trade without authorization for the designation of goods and services or as a component of such a designation, nor shall the signs referred to in Section 4 par 1 subpar 1 lit. c be used without the consent of the entitled party. Accordingly, test or guarantee signs shall not be used without the approval of the authority issuing such test or guarantee signs for the designation, or as a component of the designation, of goods or services for which the sign has been introduced, or for similar goods or services. 例文帳に追加

国の紋章，国旗，その他の国章若しくはオーストリア地方公共団体の紋章は，取引において権限無しに，商品若しくはサービスに係わる識別表示として，又は当該識別表示の構成要素として使用してはならず，また，権限を有する当事者の同意を得ることなく第4条1.(c)に掲げた標識も使用してはならない。同様に，検査又は保証用の標識は，その標識を交付する当局の事前の同意を得ることなしに，標識の使用対象である商品若しくはサービス又はそれに類似する商品若しくはサービスに係わる識別表示として，又は当該識別表示の構成要素として使用してはならない。 - 特許庁

The computer 2 carries out score entry processing which includes a step for reading the test paper 4 through the image scanner 3 to acquire the image information, a step for acquiring the student information and the grading information as text information by image-processing the marks of the image information, and a step for storing at least the acquired student information and the grading information in a storage section.例文帳に追加

前記コンピュータ２は、イメージスキャナ３からテスト用紙４を読み取りそのイメージ情報を取得するステップと、前記イメージ情報の前記マークを画像処理することにより前記学生情報及び前記採点情報とをテキスト情報として取得するステップと、少なくとも取得された前記学生情報及び前記採点情報を記憶部に記憶させるステップとを含む成績記帳処理を行うことを特徴とする成績処理システム１である。 - 特許庁

However, for food listed in the first column in Item 5 (2) “Samples” of Section A “General Compositional Standards for Food” of Part I “Food” of “Specifications and Standards for Food, Food Additives, etc.” (Ministry of Health and Welfare Notification No. 370, 1959), the samples shall be prepared according to the descriptions provided in the corresponding second column. For manufactured or processed food, intact samples are used in principle for the test (except for food that is tested in ready-to-drink states, such as tea leaves for drinking).例文帳に追加

ただし、「食品、添加物等の規格基準」（昭和34年厚生省告示第370号）第１食品Ａ食品一般の成分規格５（2）検体に規定される食品は、当該項目の第1欄の各食品について、各々第2欄の試料の調製に従うこととし、製造し、又は加工した食品は、原則としてそのままの状態を測定試料とする（飲用に供する茶等、飲用に供する状態で検査する食品は除く。）。 - 厚生労働省

Article 34-4 A person who intends to submit the notification pursuant to the provision of paragraph (1) of Article 57-3 of the Act shall submit the notification using Form No. 4-3 accompanied by the document showing the result of the toxicity test prescribed by paragraph (1) of the preceding Article for the new chemical substances prescribed by the same paragraph of the same Article of the Act pertaining to the said notification document (hereinafter referred to as "new chemical substance" in this Section), the document certifying that the said test has been carried out at the testing laboratory, etc., which satisfies the standard provided by the Minister of Health, Labour and Welfare set forth in paragraph (2) of the same Article and the document indicating designed methods of manufacturing and handling of the new chemical substance to the Minister of Health, Labour and Welfare. 例文帳に追加

第三十四条の四　法第五十七条の三第一項の規定による届出をしようとする者は、様式第四号の三による届書に、当該届出に係る同項に規定する新規化学物質（以下この節において「新規化学物質」という。）について行つた前条第一項に規定する有害性の調査の結果を示す書面、当該有害性の調査が同条第二項の厚生労働大臣が定める基準を具備している試験施設等において行われたことを証する書面及び当該新規化学物質について予定されている製造又は取扱いの方法を記載した書面を添えて、厚生労働大臣に提出しなければならない。 - 日本法令外国語訳データベースシステム