「test section」に関連した英語例文の一覧と使い方(14ページ目) - Weblio英語例文検索

To generate a test mode signal using a pad for outputting DC voltage of a DC voltage generating section in the inside of a chip without using another input pad.例文帳に追加

別の入力パッドを用いず、チップ内部の直流電圧発生部の直流電圧出力用パッドを用いてテストモード信号を発生できるようにするモード信号発生装置を有する半導体メモリ装置を提供する。 - 特許庁

In an action test, when two input buttons 7a and 7c alternately receive the operation input, the control section 9 sequentially detects, as a judgment time, the time from the preceding operation input to the operation input of this time.例文帳に追加

動作テストでは、制御部９は、２つの入力ボタン７ａ，７ｃが交互に操作入力を受けたとき、前回の操作入力から今回の操作入力までの時間を判断時間として順次検出する。 - 特許庁

The elevation mechanism 14 has a thread formation region S that is engaged with a support section 122 of a support rod 141 and the test head 12 at both ends, and is elevated accurately by rotary control at the side of the support rod 141.例文帳に追加

昇降機構１４は、両端の支持棒１４１及びテストヘッド１２の支持部１２２に互いに噛合うネジ目形成領域Ｓがあり、支持棒１４１側の回転制御により高精度に昇降する。 - 特許庁

The silicon connector 200 for semiconductor package test is equipped with a connector body 120 manufactured with a mixture of insulating silicon powder 125 containing electrically conductive powder of a predetermined concentration and an electrically conductive silicon section 130.例文帳に追加

半導体パッケージテスト用シリコンコネクタ２００は、所定濃度の導電性パウダーを含有する絶縁性シリコンパウダー１２５の混合物で製造されるコネクタ胴体１２０と、導電性シリコン部１３０とを備える。 - 特許庁

A control section 50 executes AC voltage setting mode, and sets a constant voltage of an AC voltage according to the AC voltage detected by applying an AC test voltage in a plurality of steps to a charging roller 12a.例文帳に追加

制御部５０は、交流電圧設定モードを実行して、複数段階の交流試験電圧を帯電ローラ１２ａに印加して検出した交流電圧に応じて交流電圧の定電圧を設定する。 - 特許庁

To provide a printer having a test print function which enables printing only of required information in the printer by the push apart pattern of a switch button constituting the panel input section of the printer.例文帳に追加

プリンタのパネル入力部を構成するスイッチボタンの押分けパターンにより、当該プリンタの内部情報から、必要な情報のみを印刷することを可能とするテストプリント機能を有するプリンタを提供すること。 - 特許庁

To provide a digital transmission that is not susceptible to the effect of the performance of a reception circuit section 2 and can conduct a DS3 transmission pulse mask test without the need for a '001' pattern generator 20 at the outside of the transmission apparatus.例文帳に追加

受信回路部２の性能による影響を受けることなく、且つ、外部に“００１”パターン発生器２０を用意しなくともＤＳ３送信パルスマスク試験を行なうことができるディジタル伝送装置を提供する。 - 特許庁

In this constitution, the shaft 38 of the test tool 36 is guided along the vertical direction of the moving direction of the weight 18 by the groove 32, when the weight 18 is dropped to collide with a load receiving section 40.例文帳に追加

この構成によれば、錘１８が落下されて荷重受け部４０と衝突された時には、試験治具３６の軸部３８が溝部３２によって錘１８の移動方向である鉛直方向に沿って案内される。 - 特許庁

An image pattern 600 is image data for a piece of paper which has been transmitted from the reading section, and a grid pattern 601 is the test pattern which has been formed in the first IC 510 of the circuit 502.例文帳に追加

画像パターン６００は、読取部から転送されてきた用紙１枚分の画像データであり、格子パターン６０１は、ＬＥＤ書込部制御回路５０２の第１ＩＣ５１０にて生成されたテストパターンである。 - 特許庁

To provide a thermostatic device for testing where a sample placement section is deflected less even if temperature is adjusted to an extremely low temperature or a high temperature by improving the thermostatic device for testing used for the performance test or the like of a semiconductor wafer.例文帳に追加

半導体ウエハの性能試験等に使用される試験用恒温装置を改良し、極低温や高温に温度調節しても試料配置部の撓みが少ない試験用恒温装置を提供する。 - 特許庁

The terminal device 20 has a display controller 22a which displays a shmoo plot about at least two of shmoo data sets obtained by the test apparatus main unit 10, on the display section 26 in their superimposed state.例文帳に追加

端末装置２０は、試験装置本体１０で得られたシュムデータのうちの少なくとも２つのシュムデータについてのシュムプロットを、重ね合わせた状態で表示部２６に表示する表示制御部２２ａを備える。 - 特許庁

A CPU 120 acquires an instruction of denoting an inspection mode corresponding to a correction condition to be applied to the density of the image via a UI section 11 to instruct an image forming unit 14 or the like to output a test image.例文帳に追加

ＣＰＵ１２０は、画像の濃度に対する補正条件に対応する検査モードを示す指示をＵＩ部１１を介して取得し、画像形成ユニット１４などに対してテスト画像を出力するように指示する。 - 特許庁

The perfusion image-generating section (35) calculates the myocardial perfusion data of the heart of the test subject in the second contrast radiography using the corrected contrast medium densities in the arterial blood and myocardial tissue in the second medical images.例文帳に追加

灌流画像生成部３５は、補正された第２の医用画像群における動脈血及び心筋組織の造影剤濃度を用いて、第２の造影検査における被検体の心筋灌流データを算出する。 - 特許庁

The index image projection section 30 together with the half mirror 26 and the objective lens 11 constitutes an index projection optical system which projects two index images onto the test object S from different directions via the objective lens 11.例文帳に追加

指標像投射部３０はハーフミラー２６および対物レンズ１１と共に、対物レンズ１１を介して被検体Ｓに二つの指標像を異なる方向から投影する指標投影光学系を構成している。 - 特許庁

To provide an evaluation test method for obtaining the flange shape design guideline of actual parts for automobile having a hat-shaped section or the result of stretch flange formability which is directly utilized for establishing the design limit.例文帳に追加

ハット型断面を有する自動車用実部品の伸びフランジ形状設計指針もしくは設計限界を策定するのに直接利用可能な伸びフランジ性評価結果を得るための評価試験方法を提供する。 - 特許庁

A first test circuit section TCi1 receives an address signal a'', a scan-in signal SIN, a scan select signal SS, and a shift clock signal SCLK and outputs an address signal a''' and a scan-out signal SiOUT1.例文帳に追加

第１テスト回路部ＴＣｉ１は，アドレス信号ａ’’，スキャンイン信号ＳＩＮ，スキャンセレクト信号ＳＳ，およびシフトクロック信号ＳＣＬＫを受け，アドレス信号ａ’’’およびスキャンアウト信号ＳｉＯＵＴ１を出力する。 - 特許庁

The communication application 10 and the cipher communications software 11 or the encryption protocol processor 12 make encrypted communications with the testing host 2 through an outside communications section 13 using the cryptograph data, based on the test data.例文帳に追加

通信アプリケーション１０と暗号通信ソフト１１または暗号化プロトコル処理部１２は、試験データに基づいた暗号文データを用いて、外部通信部１３を介して試験用ホスト２と暗号化通信を行う。 - 特許庁

Furthermore, the substrate test-use jig unit is composed of: the substrate jig board 11; and a substrate holder having an aperture section which contacts with a portion area side to be tested this time in the substrate to be tested 101 and exposes it.例文帳に追加

また、基板検査用治具ユニットは、上記基板治具ボード１１と、被検査基板１０１における今回検査分の部分領域側と当接してこれを表出させる開口部を有する基板ホルダとで構成した。 - 特許庁

The signal generating section 2 activates an ICLKBK signal 105 as an ICLKB signal 106 in a normal operation mode, and activates the ICLKB signal 105 as an ICLKBT signal 107 in a test mode.例文帳に追加

信号生成部２は、通常動作モード時にＩＣＬＫＢ信号１０５をＩＣＬＫＢＫ信号１０６として活性化し、テストモード時にＩＣＬＫＢ信号１０５をＩＣＬＫＢＴ信号１０７として活性化する。 - 特許庁

In a smoke tester configured to atomize smoking material 33 stored in a tank section 32, and to discharge the smoking material 33 in a mist form to a smoke detector SD for performing an operation test, porous core material 34 is inserted into the tank section 32, and a coil heater 35 as heating means is wound around the core material 34.例文帳に追加

タンク部３２に収容された発煙材３３を霧化し、その霧状の発煙材３３を煙感知器ＳＤに放出して動作試験を行う加煙試験器において、タンク部３２内に多孔質状の芯材３４を挿入し、その芯材３４に加熱手段であるコイルヒーター３５を巻き付けた。 - 特許庁

When contacts c, a of a relay RL4 are closed, a control section of a line terminator allows a drive circuit 201 to open relays RL1, RL2 and to remain a relay RL3 open and the control section spplies a test signal received from an in-station device to the hybrid transformer T1 via the relay RL4.例文帳に追加

リレーＲＬ４が接点ｃとａを閉状態とさせている場合、回線終端装置の制御部は、駆動回路２０１によってリレーＲＬ１及びＲＬ２を開状態にし、リレーＲＬ３は開状態としたままで、局内装置から受信した試験用の信号を、リレーＲＬ４を介してハイブリッドトランスＴ１に加える。 - 特許庁

The PDS control section comprising a subscriber multiplex/ demultiplex part 21, a service multiplex/demultiplex part 22 and a test mode circuit part 23, and an Ethernet interface section comprising an Ethernet (trademark) signal terminating function part 25, a filtering function part 26, an Ethernet packet processing function part 27 and a common control part 28 are made into one chip LSI.例文帳に追加

加入者多重分離機能部２１とサービス多重分離機能部２２とテストモード回路部２３とからなるＰＤＳ制御部、及び、イーサネット（登録商標）信号終端機能部２５とフィルタリング機能部２６とイーサネットパケット処理機能部２７と共通制御部２８とからなるイーサインタフェース部を１チップＬＳＩ化する。 - 特許庁

The scholastic ability indices by each subject are computed by an arithmetic section 3 using the coefficients of a coefficient DB 7 from the test results and the acceptance achievement indices by each subject are computed by the arithmetic section 3 according to the target scores of a target score DB 9 and the scholastic ability indices, and are registered into an acceptance achievement index DB 11.例文帳に追加

試験結果から係数ＤＢ７の係数を用いて科目毎の学力指数が演算部３により演算され、目標得点ＤＢ９の目標得点と学力指数に基づいて演算部３により科目毎の合格達成指数が演算され、合格達成指数ＤＢ１１に登録される。 - 特許庁

By this method the installing angle of the ball distributing rolling section 26 can be automatically revised to the designed value even when the installing angle of the ball distributing rolling section 26 is misaligned from the designed value by imposing errors or the state of installation and the pachinko balls can be distributed by the ball distributing property exactly as the design data and/or test data.例文帳に追加

これにより、組付誤差や設置状態等によって球振分転動部２６の設置角度が設計値に対してずれていても、球振分転動部２６の設置角度を自動的に設計値に修正することができ、設計データや試験データ通りの球振分特性でパチンコ球を振り分けることができる。 - 特許庁

The terminal function section 124 sends a radio signal to a signal processing section of a base station 102 or 103 through an antenna of the base station 102, and call connection processing between the terminal function part 124 and a test server 112 is performed through the antenna of the base station 101, and the antenna and signal processing part 122 of the base station 102 (route 192).例文帳に追加

端末機能部１２４から、基地局１０１のアンテナを介して、基地局１０２又は１０３の信号処理部に無線信号を送信し、基地局１０１のアンテナと、基地局１０２のアンテナ及び信号処理部１２２とを介して（経路１９２）、端末機能部１２４とテストサーバ１１２との呼接続処理を実行する。 - 特許庁

To provide the fixing structure of a substrate, which can correspond quickly, so that the pawl section of a retaining piece will not slip off from the substrate by reinforcing the retaining piece by a long screw and can fix the substrate, so as not to be slipped off when the pawl section of the retaining piece is slipped of from the substrate by drop test or the like.例文帳に追加

落下テスト等によって係止片の爪部が基板から外れた場合に、係止片を長ビスで補強することによって、係止片の爪部が基板から外れないようにすぐに対応することができて、基板を外れないように固定することができる基板の固定構造を提供する。 - 特許庁

Then, by comparing signals detected by a signal detection section 540 with the test signals at the connection end at the side of a charging device 160 of the power lines PWR-H, PWR-C by means of the abnormality detection section 530, the disconnection and short-circuit of the power lines PWR-H, PWR-C are detected.例文帳に追加

そして、電力線ＰＷＲ−Ｈ，ＰＷＲ−Ｃの充電装置１６０側の接続端において、信号検出部５４０により検出された信号と、上記試験信号とを、異常検出部５３０で比較することにより、電力線ＰＷＲ−Ｈ，ＰＷＲ−Ｃの断線，短絡を検出する。 - 特許庁

In the test circuit for determining right/wrong of information obtained by a memory access, specific fail-information among pieces of sequentially obtained fail-information in accordance with a wrong-determination result is held in a first storage section (51), and differences in serial two pieces of fail-information sequentially continuing from the specific fail-information are held in a second storage section (61).例文帳に追加

メモリアクセスによって得られる情報の正否を判定するテスト回路に、否の判定結果に応じて順次得られるフェイル情報の内の特定のフェイル情報を第１記憶部（５１）に保持させ、前記特定のフェイル情報に順次連続する前後のフェイル情報の差分を第２記憶部（６１）に保持させる。 - 特許庁

Here, in a controller 40, when an object image formed using a prescribed test chart as an object, is used as a new photographic object, a white balance gain is derived on the basis of the difference between the image data corrected by the section 76 and target data and is set to the section 76.例文帳に追加

ここで、コントローラ４０では、ＣＰＵ８４によって所定のテストチャートを被写体として形成された被写体像を新たな被写体としたときにホワイトバランス補正部７６によって補正が行われた画像データと目標データとの差分に基づいてホワイトバランスゲインが導出されホワイトバランス補正部７６に設定される。 - 特許庁

In the test piece, a slit 4 is provided between a beam 1 and a beam 2, a solid cross section portion 3 is provided for connecting the beam 1 and 2, and a shape of the solid cross section portion 3 is formed so that a stress intensity factor becomes a combination diagram of increase and decrease following crack development.例文帳に追加

本発明に係る試験片は、梁１と梁２との間にスリット４を設ける一方、梁１と梁２とを接続させる中実断面部分３を備えるとともに、中実断面部分３の形状を、き裂進展に伴い応力拡大係数が増加、減少の組合せ線図になるように形成する。 - 特許庁

The device comprises a vibration table for placing a test specimen, a rotation moment measuring section 25 for measuring the rotation moment of the vibration table, and an excitation stopping section 26 for inputting the output of the rotation moment measuring device 25 and controlling for stopping excitation when the rotation moment of the vibration table exceeds a permissible range.例文帳に追加

供試体が載置される振動台と、該振動台の回転モーメントを測定する回転モーメント測定部２５と、該回転モーメント測定装置２５の出力が入力され、前記振動台の回転モーメントが許容範囲を超えた場合、加振を停止する制御を行う加振停止部２６とを備えていることを特徴とする。 - 特許庁

The test chip 1 is made up such that a resin film covers the upper surface of a substrate 10 comprising; a saliva reservoir 11; a dilution liquid injecting section 12; a mixing pod 13 which brings the saliva and dilution liquid to flow into each other; a reagent injecting section 14; and a microchannel 24 through which diluted specimen flows from the mixing pod 13.例文帳に追加

唾液溜１１、希釈用液注入部１２、唾液と希釈用液とを合流させる混合ポッド１３、試薬注入部１４、混合ポッド１３から希釈された検体が流れるマイクロ流路２４…とが形成された基板１０の上面側を樹脂膜で覆ってなる検査チップ１である。 - 特許庁

To provide a JTAG test system which enables even a test data collection section such as a logic analyzer whose trace quantity is not so much to collect sufficient data, by converting serial data into parallel data, and is capable of shortening a final analysis time sharply, by performing a part of analysis of trace data in real time during the data collection.例文帳に追加

シリアルデータをパラレルデータに変換することによりトレース量がそれほど多くないロジックアナライザなどのテストデータ収集部でも十分なデータを収集できるようにするとともに、トレースデータの解析の一部をデータ収集中にリアルタイムで行うことにより、最終的な解析時間を大幅に短縮できるＪＴＡＧテストシステムを提供すること。 - 特許庁

A gradation correction data creator 93 creates gradation correction data for copy imaging based on the image data of a test image read out by a scanner 77, creates gradation correction data for print imaging based on the image data obtained by correcting the test image data by the scanner correction data, and stores them in a gradation correction data storage section 94.例文帳に追加

階調補正データ作成部９３は、スキャナ部７７により読み取られたテスト画像の画像データに基づいてコピー画像用の階調補正データを作成し、テスト画像データをスキャナ補正データにより補正した後の画像データに基づいてプリント画像用の階調補正データを作成して階調補正データ格納部９４に格納する。 - 特許庁

A media access control (MAC) section 13 of the wireless LAN device comprises a mode switching means 13a for switching ordinary wireless LAN operation to a transmission test mode and a burst timing control means 13b for stopping ordinary media access control during the transmission test mode and controlling a burst timing so that a frame transmission timing includes a frequency component of specific audible sound.例文帳に追加

無線ＬＡＮ機器のメディアアクセス制御（ＭＡＣ）部１３は、通常の無線ＬＡＮ動作から送信テストモードへ切り替えるモード切替手段１３ａと、送信テストモードにおいて通常のメディアアクセス制御を停止し、フレームの送信タイミングが特定の可聴音の周波数成分を含むようにバーストタイミングを制御するバーストタイミング制御手段１３ｂを備えている。 - 特許庁

In the test circuit of the device 400 equipped with the nonvolatile memory 402, an external reset control section 410 generates an internal reset signal 414 by masking the external reset signal 222 for a predetermined period, and a CPU 401 controls an execution of a self-testing and a write of this test result to the nonvolatile memory 402 based on the internal reset signal 414.例文帳に追加

不揮発性メモリ４０２を備えたデバイス４００のテスト回路であって、外部リセット制御部４１０は外部リセット信号２２２を所定の期間マスクして内部リセット信号４１４を生成し、ＣＰＵ４０１は内部リセット信号４１４に基づいて、自己試験の実行とその結果の不揮発性メモリ４０２への書き込みとを制御する。 - 特許庁

When a first forcible power transmission mode is enabled based on the information set by the test register 216, the power transmission controller 230 controls the power transmission section 250 to continuously drive a primary coil L1 irrespective of the presence or absence of a reception side apparatus.例文帳に追加

テストレジスタ２１６に設定される情報によって、第１強制送電モードがイネーブルとなると、送電制御装置２３０は、送電部２５０を制御して、受電側機器の有無に関係なく、１次コイルＬ１を連続駆動させる。 - 特許庁

The illumination section 12 having the "σ" set at 1 or more illuminates the measurement chart "ob" so that transmitted light generates the zero-order and odd-order diffraction light to be imaged on an imaging surface "im" of a CCD11 with a test lens L0.例文帳に追加

σを１以上に設定している照明部１２により計測チャートｏｂを透過照明して発生する０次及び奇数次の回折光は、被検レンズＬ０によりＣＣＤ１１の撮像面ｉｍに結像される。 - 特許庁

The capture section 20 variably sets the cycle position of a semiconductor device 11a from which the first data are collected, and gives execution instructions respectively corresponding to a plurality of test conditions set so that the cycle position is set differently.例文帳に追加

キャプチャ部２０は、第１のデータを収集する半導体デバイス１１ａのサイクル位置を可変に設定するとともに、サイクル位置の設定が異なるように設定された複数の試験条件のそれぞれに対応して実行指示を行う。 - 特許庁

Element holders (1), (2), (3) each having a light emitting element/ a light receiving element with a different azimuth angle are placed at front face of a main body of the communication apparatus 20 and the communication apparatus 20 has a test mode to confirm whether or not the relaying device 5 can communicate with a light emitting/light receiving section 2.例文帳に追加

通信装置２０の本体前面に相異なる方位角を伴うように発光／受光素子を有する素子ホルダ ， ， を配置し、中継機５と発光／受光部２が通信可能かを確認するためのテストモードを有する。 - 特許庁

During the scan test, a third clock control section 117 stops the supply of the clock to a hard macro 110 such as a ROM and a RAM which are irrelevant to inspection by a control signal from the control signal input terminal 105.例文帳に追加

一方、第３のクロック制御部１１７は、スキャンテスト時に、制御信号入力端子１０５からの制御信号によって、検査に関係の無いＲＯＭやＲＡＭ等のハードマクロ１１０へのクロックの供給を停止させる。 - 特許庁

When the steel sheet is manufactured, the hot-rolled and annealed plate is controlled to have a transition temperature of 60°C or lower in an impact test, and have such a mean crystal grain size D(μm) and Vickers hardness H as to satisfy the relation of D≤4.5×(225-H), in its cross section.例文帳に追加

その製造方法としては、熱延板焼鈍板の衝撃試験における遷移温度が60℃以下であり、熱延板焼鈍板における断面の平均結晶粒径D(μm)とビッカース硬度Hについて、D≦4.5×(225-H)を満足する。 - 特許庁

In the semiconductor tester for implementing the automatic calibration of a test execution section at a predetermined interval at which a stable measurement operation is ensured, the automatic calibration is implemented in parallel with overhead factors other than the automatic calibration.例文帳に追加

安定した測定動作を保証する所定の周期でテスト実行部の自動校正を行う半導体テスト装置において、前記自動校正を、自動校正以外のオーバーヘッド要因と並行に行うことを特徴とするもの。 - 特許庁

The multiplex standard volume pipe 31 is configured such that the fluid is allowed to flow in a direction opposite to the flow direction of the test liquid and that the predetermined section in which the moving element 40 moves is of the straight pipe type.例文帳に追加

多重型基準体積管３１は、流体を試験液の流れる方向に対して逆方向に流すような構成とするとともに、運動子４０が移動する所定区間を直線となる直管式のものとして構成する。 - 特許庁

Also, the control section generates the screen data in which the test pattern to be displayed on each the changeover screen is moved and disposed at the different display position at every time when the screen is switched, and changes the display position of the same on each the changeover screen.例文帳に追加

また、各切替画面においてその画面上に表示するテストパターンを、画面を切り替える毎に移動させて異なる表示位置に配置した画面データを生成し、各切替画面に亘ってその表示位置を変化させる。 - 特許庁