「test section」に関連した英語例文の一覧と使い方(9ページ目) - Weblio英語例文検索

To provide a composite wireless device that can detect a fault of a reception section in itself without the need for separate provision of a test device for detecting a fault in the reception section.例文帳に追加

受信部の故障検出用の試験装置を別途用意することなく、当該複合無線装置内で受信部の故障検出を行い得る複合無線装置を提供することを目的とする。 - 特許庁

A second IC includes a signal processor, to which the interface section of the first IC is connected, and a detecting section for detecting a judgement information for judging the result of processing of a signal for test.例文帳に追加

第２のＩＣは、第１のＩＣのインターフェース部が接続される信号処理プロセッサと、テスト用信号を処理した結果を判定するための判定情報を検出する検出部とを備える。 - 特許庁

Next, the test program is stored in a first address of a memory section which is provided in the semiconductor circuit and the argument set with the predetermined value is stored in a second address of the memory section.例文帳に追加

次に、前記テストプログラムを前記半導体回路内に設けられる記憶部の第１のアドレスに格納し、かつ、前記所定の値が設定された引数を前記記憶部の第２のアドレスに格納する。 - 特許庁

The test circuit 40 decides whether the input signal of a frame unit from the unit length dividing circuit 20 is a voiced section or an unvoiced section, and forwards the result of the decision to a unit length converting circuit 50.例文帳に追加

検定回路４０は単位長分割回路２０からのフレーム単位の入力信号に対して音声区間か無音声区間かを判定し、判定結果を単位長変換回路５０に渡す。 - 特許庁

A statistic test section 14 decides whether or not the dispersion of the normal white noise component is displaced from a specified range in a reference distribution.例文帳に追加

統計検定部１４は、正規白色雑音成分の分散が基準分布における所定の範囲から外れているか否かを判定する。 - 特許庁

The self-test section is provided with an address counter (35) that corresponds to a plurality of addressings in which updating methods of the X address, the Y address and the bank address are made different.例文帳に追加

セルフテスト部は、Ｘアドレス、Ｙアドレス及びバンクアドレスの更新の仕方の異なる複数のアドレシングに対応したアドレスカウンタ（３５）を有する。 - 特許庁

In addition, when generating data for changing an expectation value, the main control section changes the test value depending on detection of a detection object control command after that.例文帳に追加

また、主制御部は期待値変更用データを生成すると、その後検出対象制御コマンドの検出に応じて検査値を変更する。 - 特許庁

The determination section obtains an inherent resistance value specific to the mounting test board, and determines the acceptance and based on the inherent resistance value.例文帳に追加

前記判定部は、前記装着テストボードに対して固有である固有抵抗値を取得し、前記固有抵抗値に基づいて、合否を判定する。 - 特許庁

A computing section 23 computes the optical characteristic value of the test lens L in accordance with two or more results of light reception obtained by the light-receiving device 115.例文帳に追加

演算部２３は、受光装置１１５により得られた２以上の受光結果に基づいて、被検レンズＬの光学特性値を演算する。 - 特許庁

On the other hand, the CPU 205 controls a printer section 203 to perform a print job of a test page by feeding a sheet from a specified sheet feed tray.例文帳に追加

また、ＣＰＵ２０５は、特定された給紙トレイから用紙を給紙してテストページの印刷ジョブを実行するようプリンタ部２０３を制御する。 - 特許庁

The test pattern is read by a defective head detecting section 20 and it is judged whether or not the head is damaged based on defective dots corresponding to respective nozzles.例文帳に追加

テストパターンを不良ヘッド検出部２０により読み取り、各ノズルに対応するドットの欠けに基づき、不良ヘッドか否かを判定する。 - 特許庁

When projection data are acquired by the CT scanning, an image formation section 20 forms test images from the projection data by two-dimensional image reconstruction.例文帳に追加

ＣＴ撮影により投影データが得られると、画像形成部２０は、２次元画像再構成により投影データからテスト画像を形成する。 - 特許庁

A wireless section 1 of a wireless telephone set makes wireless communication with a nearby base station being a component of a wireless network being a test target during movement.例文帳に追加

無線電話機の無線部１は、移動中において試験対象の無線網を構成する最寄の基地局との間で無線通信する。 - 特許庁

The selection section 24 has a selecting device, which distributes chips on wafer rings to a plurality of selection containers based upon test results.例文帳に追加

選別区２４は選別装置を有し、選別装置は試験結果に基づいてウェハーリング上のチップを複数の選別容器中に分配する。 - 特許庁

To provide a semiconductor integrated circuit device with built-in BIST circuit, which can test also an I/F section between a memory and a system logic.例文帳に追加

ＢＩＳＴ回路を内蔵し、メモリとシステムロジックとの間のＩ／Ｆ部分についてもテスト可能な半導体集積回路装置を提供する。 - 特許庁

To provide an electronic component tester capable of preventing contact mistake of an electronic component to be tested with a contact section of a test head.例文帳に追加

被試験電子部品とテストヘッドのコンタクト部とのミスコンタクトを防止することが可能な電子部品試験装置を提供することを目的とする。 - 特許庁

The substrate treatment equipment 10 can be set with treatment conditions for test, i.e. substrate treatment conditions at the time of mecha-run, through an operating section 104.例文帳に追加

基板処理装置１０には、操作部１０４を介してメカラン時の基板処理条件であるテスト用処理条件が設定可能である。 - 特許庁

A replacement information storing section 10 records additional replacement information decided in accordance with a test performed during an assembly process or after the process.例文帳に追加

置換情報記憶部１０は、アセンブリ工程中または工程後に行なったテストに応じて決定された追加置換情報を記録する。 - 特許庁

Then, the controller reproduces the test signal, detects 27 jitters by an evaluation data detecting section 151, and stores them in an evaluation data memory 153.例文帳に追加

その後、そのテスト信号を再生して２７通りのジッタを評価データ検出部１５１で検出して、評価データメモリ部１５３に記憶する。 - 特許庁

The image shift calculating section calculates positional shift of recording using the cross correlation function of the sum density data of the pair of test patterns, for example.例文帳に追加

画像ずれ算出部は例えば一対のテストパターンの加算濃度データの相互相関関数を用いて記録位置ずれ量を算出する。 - 特許庁

Several tomographic images formed as the test images are displayed on a display section 22 and the contents of the images are confirmed by a user (an examiner).例文帳に追加

テスト画像として形成された数枚の断層画像は表示部２２に表示され、ユーザ（検査者）によって画像の内容が確認される。 - 特許庁

When an address generated from the test pattern generating section 105 coincides with a defective address stored in the fail information storing section 108, a checker pattern is inputted to each memory after relieving processing without changing data from the test pattern generating section 105 by using a data scramble section 107 discriminating whether data inputted to a memory is reversed or not in accordance with a value of the least significant bit of a defective address.例文帳に追加

テストパターン生成部１０５から生成されるアドレスがフェイル情報格納部１０８に格納された不良アドレスと一致した場合に、不良アドレスの最下位ビットの値に応じてメモリへのデータ入力を反転させるかどうかを判定するデータスクランブル部１０７を用いることで、テストパターン生成部１０５からのデータを変更することなく、救済処理後の各々のメモリに対して、チェッカーパターンを入力する。 - 特許庁

Both a specific reactant to be specifically bonded to the test material and the capture antibody and a labeling reagent containing the labeling substance to be bonded to a section different from a bonding section of the specific reactant of the test material are made to act with the sample, and the specific reactant bonded to the test material is bonded to the capture antibody to capture the specific reactant.例文帳に追加

試料に対して、当該被検物質及び捕捉抗体とそれぞれ特異的に結合する特定反応物質と、標識物質を含み被検物質の特定反応物質の結合部位とは異なる部位に結合する標識試薬とを作用させるとともに、被検物質と結合した特定反応物質を捕捉抗体と結合させることで捕捉する。 - 特許庁

Since direct inputs to the RAM section from the outside are carried out in addition to operation from the LOGIC section of inputs to the RAM section, a test pattern is input easily from the outside, and the data write, etc., of initial data to the RAM section can also be conducted at high speed from the outside.例文帳に追加

ＲＡＭ部への入力をＬＯＧＩＣ部から行うという動作に加えて，外部から直接ＲＡＭ部への入力を行うことが可能となるため，外部からのテストパターンの入力等が容易となり，また，ＲＡＭ部への初期データのデータ書き込み等も外部から高速に行うことが可能となる。 - 特許庁

The electronic learning device is provided with an information receiving section for receiving several types of information for generating a test, a received information storing section for storing the received information, a question generating section for generating a question corresponding to the received type of information, and a display section for displaying display contents including the generated question on a screen.例文帳に追加

複数種類のテスト作成用情報を受け入れる情報受信部と、受け入れた情報を格納する受信情報格納部と、受け入れた情報の種類に応じたテスト問題を作成する問題作成部と、作成された問題を含む表示内容を画面に表示する表示部とを備える。 - 特許庁

An operation determination section 12 of the control device 10 determines an operation situation of the test device 20, a hammer driving section 13 controls operation of an actuator hammer 100, a setting input section 14 inputs an impact strength or automatic/manual setting, and a display section 16 displays inputted data or a determination result of operation.例文帳に追加

制御装置１０の動作判定部１２は試験装置２０の動作状況を判定し、ハンマー駆動部１３はアクチュエータハンマー１００の動作を制御し、設定入力部１４は打撃強度や自動・手動等の設定を入力し、表示部１６は入力されたデータを表示したり動作の判定結果等を表示する。 - 特許庁

When a return packet monitor section 115 of the test side network terminal 101 detects the return packet, a return packet decision section 116 decides the normality of the network terminal 102 at the side to be tested and the network 103 and informs a monitor control section 113 about the result.例文帳に追加

試験側ネットワーク端末１０１では、返信パケット監視部１１５が返信パケットを検知したならば、返信パケット判断部１１６が被試験側ネットワーク端末１０２およびネットワーク１０３の正常性を判断し、その結果を監視制御部１１３に知らせる。 - 特許庁

When the test apparatus 100 transmits the measurement signal, a mobile terminal RLC control section 109 notifies an RLC section 152 of suspension of transmission of a signaling signal, and based on the notification, the RLC section 152 suspends transmission of a signaling signal and transmits only the measurement signal.例文帳に追加

被測定用信号の伝送の際、移動端末ＲＬＣ制御部１０９は、ＲＬＣ部１５２にシグナリング信号の送信停止を通知し、ＲＬＣ部１５２は、この通知に基づいてシグナリング信号の送信を停止し、被測定用信号のみを送信する。 - 特許庁

When tempering is performed, the welding bulge section which is cooled below the transformation expiry temperature (for instance, reheating at 750-900°C) is re-heated, and the re-crystallized section A which shows 235-320 Hv in Vickers hardness test is so designed to be 10-60% volume of the bulge section.例文帳に追加

調質に際しては、変態終了温度以下になるまで冷えた圧接膨出部を再加熱（例えば、７５０〜９００℃に再加熱）し、ビッカース硬さＨｖが２３５〜３２０となる再結晶部Ａが前記膨出部のうち１０〜６０体積％になるようにする。 - 特許庁

The multi-display test device 101 simultaneously displays each performance evaluation element received via the maintenance communication cable 109 on the same display section.例文帳に追加

このマルチ表示試験装置１０１は、メンテナンス通信ケーブル１０９を介して受信した各性能評価要素を同一の表示部に同時に表示する。 - 特許庁

To reduce the array pitch of a probe and to enable an electrode section to be used for a conduction test of a densely-arranged specimen.例文帳に追加

プローブの配列ピッチをより小さくして、電極部をより高密度に配置した被検査体の通電試験に用いることができるようにすることにある。 - 特許庁

When an engine vibration Seg is increasing, the correction value calculating section 32 presumes that a test vehicle 4 is being accelerated and calculates a positive correction value.例文帳に追加

補正値算出部３２は、エンジン振動Segが増加している場合には、試験車両４が加速しているものと推定し、正の補正値を算出する。 - 特許庁

The CPU 20 displays, on the display section 40, a review test asking a user questions of the spelling of the keyword stored in the review required word storage table 86.例文帳に追加

ＣＰＵ２０は、要復習単語記憶テーブル８６に記憶された見出語の綴りについてユーザに質問する復習テストを表示部４０に表示させる。 - 特許庁

Then, time-series residual data for each section is calculated by using the generated model function of the stationary state, and a statistical test of is performed for the residual data.例文帳に追加

そして、生成した定常状態のモデル関数を利用して、区画ごとに時系列の残差データを算出すると、残差データの統計検定を行う。 - 特許庁

A sensitivity ratio calculation section 86 calculates a sensitivity ratio of each of signals of C and M having sensitivity to cyan for each density value of the test pattern of cyan.例文帳に追加

感度比率算出部８６によって、シアンのテストパターンの濃度値毎に、シアンに感度を有するＣ、Ｍの各信号の感度比率を算出する。 - 特許庁

To provide a hot water supply system capable of deriving a piping capacity from a mixer to a heating section in a bath test operation of supplying water into a bathtub.例文帳に追加

浴槽に水を供給する風呂試運転時に、混合器から加熱部までの配管容量を導出することができる給湯システムを提供する。 - 特許庁

This test equipment for a memory device has a pattern generator 60, a pin data selector 70, a waveform forming device 30, a memory device insertion section 40, and a comparator 50.例文帳に追加

本発明によるメモリデバイス装置は、パターン発生器６０、ピンデータセレクタ７０、波形整形器３０、メモリデバイス差込部４０および比較器５０を有する。 - 特許庁

To provide a method and a system for testing conductivity of Ethernet in an arbitrary test section from a terminal.例文帳に追加

イーサネットワークにおいて、端末機器から任意の試験区間に対して、容易に実施可能な導通性試験方法および導通性試験システムを提供する。 - 特許庁

A system control section 100 performs timing control of adjustment, and at the time of this adjustment, a recording head 60 discharges ink to a recording medium for printing a test pattern.例文帳に追加

システム制御部１００が調整のタイミング制御を行い、この調整の際に記録ヘッド６０が記録媒体にインクを吐出してテストパターンを印字する。 - 特許庁

To previously test characteristic variations in a plurality of differential amplifying circuits being formed on a TFT array substrate for example, before forming a pixel section on the substrate.例文帳に追加

例えばＴＦＴアレイ基板に形成された複数の差動増幅回路の特性ばらつきを、当該基板に画素部を形成する前に予め検査する。 - 特許庁

A reaching-time estimating section 251 estimates a reaching-starting time and a reaching-end time regarding a reaching to a sound-collecting unit 140 for the test sound.例文帳に追加

そして、到達時点推定部２５１が、このテスト音声の集音ユニット１４０への到達について、到達開始時点と到達終了時点とを推定する。 - 特許庁

The fretting corrosion test apparatus 1 is provided with a base 12, a first fixing element 17, a second fixing element 18, a drive section 14, and an elastic connecting member 62.例文帳に追加

フレッチング腐食試験装置１はベース１２と第１の固定具１７と第２の固定具１８と駆動部１４と弾性連結部材６２を備えている。 - 特許庁

To provide a method and a device for promptly measuring pattern dependence in film thickness, etc., by using nondestructive test of surface shape for an optional chip section on a semiconductor wafer.例文帳に追加

半導体ウェハ上の任意のチップ領域の表面形状を非破壊で検査することによって膜厚のパターン依存性等を迅速に計測すること。 - 特許庁

To provide a railway vehicle testing apparatus capable of accurately simulating passage irregularities without measuring track irregularity data of a track of a test section.例文帳に追加

試験区間の軌道の軌道不整データを測定することなく通り不整を正確に模擬することのできる車両試験装置を提供すること。 - 特許庁

Then, an educational material image data generation section 77 generates image data wherein the acquired solution information is added to the image data relevant to test materials.例文帳に追加

次いで、教材画像データ生成部７７は、前記試験教材に係る画像データに対し、前記取得した解法情報を付加した画像データを生成する。 - 特許庁