「test section」に関連した英語例文の一覧と使い方(4ページ目) - Weblio英語例文検索

Accordingly, after the completion of the test, the sound recorded in the recording section 23 can be confirmed by verifying the sound recorded in the recording section 23 with the depth information.例文帳に追加

よって、試験終了後、記録部１３に記録された音を深さ情報と照合して確認することができる。 - 特許庁

In a test mode, an internal address ADi generated in an address supply section 22 is given to a RAM 12, and data Dt for test is given to the RAM 12 from a data supply section 23.例文帳に追加

テストモードのとき、アドレス供給部２２で生成した内部アドレスＡＤｉがＲＡＭ１２に与えられ、テスト用データＤｔがデータ供給部２３からＲＡＭ１２に与えられる。 - 特許庁

An update processing function section 29 executes updating the in-operation station data stored in a storage medium when the test result from the test processing function section 35 indicates a successful result.例文帳に追加

更新処理機能部２９は試験処理機能部３５からの試験結果が良好の場合には記憶媒体３３に格納されている稼働中局データに対する更新を実施する。 - 特許庁

An image read section 20 reads the test image outputted from the image forming unit 14 or the like and outputs RGB image data resulting from separating the test image to a storage section 128.例文帳に追加

画像読取部２０は、画像形成ユニット１４などにより出力されたテスト画像を読取り、テスト画像を分解したＲＧＢの画像データを記憶部１２８に対して出力する。 - 特許庁

The test results inputted from an input section 1 under the control of a control section 4 are registered in a test result DB 6 and the number of correct answers by fields is registered into the number-of-correct-answer-by-field DB 10.例文帳に追加

制御部４の制御下、入力部１より入力された試験結果は試験結果ＤＢ６に登録され、分野別正解数が分野別正解数ＤＢ１０に登録される。 - 特許庁

Which test data are in use and at which loopback point the data are looped back are instructed by a control section 3 to the test section 1, a time division switch 2 and the high efficiency code CODEC 4.例文帳に追加

いずれの試験データを使用し、また、いずれの折り返しポイントで折り返すかは、制御部３が試験部１，時分割スイッチ２および高能率符号ＣＯＤＥＣ４に指示する。 - 特許庁

A density calculation section 220 calculates an average density of patches configuring a test pattern image by each prescribed main scanning directional position on the basis of the test pattern image read by an image reading section.例文帳に追加

濃度算出部220は、画像読取部によって読み込まれたテストパターン画像に基づいて、所定の主走査方向位置毎に、テストパターン画像を構成する各パッチの平均濃度を算出する。 - 特許庁

A circuit 2 for driving a semiconductor element 1 comprises a test signal recognizing section 31, which delivers an inherent feedback signal 32, in response to a test signal 30 from a microcomputer control section 3.例文帳に追加

半導体素子１を駆動する駆動回路２は、マイコン制御部３からの試験信号３０に応答して固有フィードバック信号３２を出力する試験信号認識部３１を含む。 - 特許庁

A test device 1 is provided with a script storage section 2, that stores a message denoting contents of a test and its procedure and a message processing section 3, that reads this message and conducts processing according to the message.例文帳に追加

試験装置１には、試験の内容や手順を表すメッセージを収納するスクリプト収納部２と、このメッセージを読出して、メッセージに従って処理するメッセージ処理部３を設けた。 - 特許庁

Based on a test method D102 specified from the outside, data of an unnecessary test point is deleted from the design data stored in the storage device 700 by a test point delete section K104, and design data D103 including no unnecessary test point is output by a data output section K105.例文帳に追加

そして、外部から指定されたテスト手法Ｄ１０２に基づいて、記憶装置７００に格納された設計データから、不要なテストポイントのデータがテストポイント削除部Ｋ１０４により削除され、不要なテストポイントを含まない設計データＤ１０３が、データ出力部Ｋ１０５により出力される。 - 特許庁

Another embodiment is possible in which a test pattern is formed on a recording paper 16 instead of forming a test pattern on the belt 33; the test pattern is read by a test pattern-reading section provided separately from an adsorption belt conveyance section; and the speed variation data of the recording paper 16 is determined from the reading result for storing.例文帳に追加

ベルト３３にテストパターンを形成する代わりに記録紙１６上にテストパターンを形成し、該テストパターンを吸着ベルト搬送部とは別に設けられたテストパターン読取部によって読み取り、その読取結果から記録紙１６の速度変動データを求めて記憶しておく態様も可能である。 - 特許庁

The test device 1 has a feedback loop where a signal of a node N13 on the output side of the multiplexer MUX1 is inputted into a test signal generating section 6 of the test circuit 5, and is inputted to one of the input sides of the multiplexer MUX1 via a test signal generating section 6.例文帳に追加

マルチプレクサＭＵＸ１の出力側のノードＮ１３の信号が試験回路５のテスト信号発生部６に入力され、その信号がテスト信号発生部６を介してマルチプレクサＭＵＸ１の入力側の一方に入力される帰還ループが形成されている。 - 特許庁

Also, at the lower side being closer to the center between the test tube housing sections facing each other in each test tube housing section, a cutting-out roller for cutting out the test tubes one by one is arranged.例文帳に追加

また各試験管収容部における対向する試験管収容部どうしの中央寄りの下部側には、試験管を一本ずつ切り出すための切出ローラが配置されている。 - 特許庁

The test signal generating section 811a generating current, the absolute value of which increases for every one period, only for a predetermined period as the positive test current and the negative test current.例文帳に追加

また、検査信号生成部８１１ａは、正検査電流及び負検査電流として、その絶対値が１周期毎に増大する電流を所定周期分だけ生成するものである。 - 特許庁

The test data of a bit map image and a plotting command are held in a storage section 12 of a scanner 100 and when carrying out test printing, these test data are transmitted to a printer 200 via an interface 15.例文帳に追加

スキャナ１００の記憶部１２にビットマップイメージと描画コマンドのテストデータを保持し、テストプリント実行時にこれらのテストデータをインターフェース１５を介してプリンタ２００に送信する。 - 特許庁

When a control section 11 makes a display section 13 display N-pieces test patterns, it generates the screen data in which one test pattern is disposed on one screen and outputs the same with the driving level information set in the test pattern to the display section 13 to switch and display the one pattern on the one screen respectively.例文帳に追加

Ｎ個のテストパターンを表示部１３に表示させる際、制御部１１は一画面に一のテストパターンを配置した画面データを生成し、そのテストパターンに設定された駆動レベルの情報とともに表示部１３に出力することにより、一画面に一パターンづつ切り替え表示させる。 - 特許庁

When a control section 11 makes a display section 13 display N-pieces test patterns, it generates the screen data in which one test pattern is disposed on one screen and outputs the same with the driving level information set in the test pattern to the display section 13 to switch and display the one pattern on the one screen respectively.例文帳に追加

制御部１１は、Ｎ個のテストパターンを表示部１３に表示させる際、一画面に一のテストパターンを配置した画面データを生成し、そのテストパターンに設定された駆動レベルの情報とともに表示部１３に出力することにより、一画面に一パターンづつ切り替え表示させる。 - 特許庁

The system automatically generates a test program and an analogue section test pattern of a mixed-signal LSI to be tested by a digital section test program of the mixed-signal LSI to be tested, and an analogue core test program model file and an analogue core test pattern model file which are retrieved based on an analogue core information file which is retrieved from an analogue core test database.例文帳に追加

被試験ミックスドシグナルＬＳＩのデジタル部テストプログラムと、アナログコアテストデータベースから取り込まれるアナログコア情報ファイルに基づいて取り込まれるアナログコアテストプログラム雛型ファイル及びアナログコアテストパタン雛型ファイルと、によって被試験ミックスドシグナルＬＳＩのテストプログラム及びアナログ部テストパタンを自動生成するシステム及びそのシステムをプログラムとして記録した記録媒体。 - 特許庁

To obtain a semiconductor integrated circuit in which the BIST (built in self test) can be performed in a short period of time with respect to a storage section such as a memory or a register.例文帳に追加

メモリやレジスタ等の記憶部に対してＢＩＳＴ（Built In Self Test）を短時間に行うことが可能な半導体集積回路を実現する。 - 特許庁

The varying temperature section includes a plurality of mobile heat conduction sections, in which each contact surface with the test object can move according to the shape of test object.例文帳に追加

変温部は、被試験体の形状に応じて、被試験体との各々の接触面が可動する複数の可動式熱伝導部を含む。 - 特許庁

A base end 7 of the test piece 1 displaces relatively in the vertical direction with respect to the abutting section 5, thereby putting the test piece 1 into the bent state.例文帳に追加

試験片１の基端部７が当接部５に対し上下方向に相対的に変位することにより、試験片１は曲げ状態となる。 - 特許庁

To provide a magnetic deformation transducer for generating a torsion wave on a prescribed cross-section of a test object to receive the torsion wave advanced toward the test object.例文帳に追加

試験体の所定の断面にねじり波を発生させ、試験体に進むねじり波を受信する磁気変形トランスデューサを提供する。 - 特許庁

The recognition determining section 141 determines whether the recognized chemical under test and non-chemical under test are arranged in the pocket as predefined patterns or not.例文帳に追加

認識判定部１４１は、認識された被験薬及び非被験薬が所定のパターン通りにポケットに配列されているか否かを判定する。 - 特許庁

The inspecting apparatus 100 carries out an imaging test of the wafer scale lens 2 arranged between the object for test 101 and the light-receiving section 103 at the wafer level.例文帳に追加

検査装置１００は、被写体１０１と、受光部１０３との間に配置されたウエハスケールレンズ２の撮像テストを、ウエハレベルで行う。 - 特許庁

When a switching element 28 is put into an ON state by a control signal from a control section 14, test current is supplied to the test line 26 for making the test current flow from a power supply 27 for test to the primary side of the zero-phase current transformer 24.例文帳に追加

制御部１４からの制御信号により、スイッチング素子２８がオン状態になると、テスト用電源２７から零相変流器２４の一次側にテスト電流を流すためのテストライン２６にテスト電流が供給される。 - 特許庁

A command read control circuit reads commands recorded in a command recording section at a test mode.例文帳に追加

コマンド読み出し制御回路は、試験モード時にコマンド記録部に記録されたコマンドを読み出す。 - 特許庁

A parameter adjusting section 14 adjusts and sets values of ΔT and ΔV by employing a test pattern.例文帳に追加

パラメータ調整部１４は、テストパターンを使用してΔＴとΔＶを調整して設定する。 - 特許庁

The print section 30 prints the first test chart 42T on the paper sheet 42 based on the image data 20D.例文帳に追加

プリント部３０は、画像データ２０Ｄを基に用紙４２に第１テストチャート４２Ｔをプリントする。 - 特許庁

When a user etc. instructs test pattern printing, a control section 10 prints a gradation patch pattern X.例文帳に追加

ユーザ等がテストパターン印刷を指示すると、制御部１０は階調パッチパターンＸを印刷する。 - 特許庁

The scenario editor section 2 uses the test result data D10 in creating the other shared scenario data D3.例文帳に追加

シナリオエディタ部２は、試験結果データＤ１０を、他の共有シナリオデータＤ３の作成に用いる。 - 特許庁

As a result, a pressing force is transmitted from the driven section 5e to a guide unit 11 through a shaft coupling section 6 and a gear mechanism section 7, a slider test piece P_1 being pressed onto a trolley wire test piece P_2 with the almost constant pressing force.例文帳に追加

その結果、被駆動部５ｅから軸継手部６及び歯車機構部７を通じてガイド装置１１に押付力が伝達され、トロリ線試験片Ｐ_2にすり板試験片Ｐ_1が略一定の押付力で押し付けられる。 - 特許庁

In the testing device wherein signals from a pattern generation section put in the body section are sent to test heads through optical fibers, the optical fibers connect the pattern generation section and the test heads through WDM couplers or DWDM couplers.例文帳に追加

本体部に収納されたパターン発生部からの信号を、光ファイバを介してテストヘッドに接続する試験装置において、光ファイバは、ＷＤＭカップラまたはＤＷＤＭカップラを介してパターン発生部とテストヘッドを接続する。 - 特許庁

This testing system is constituted of a test control section (PC) 1 and a transmission-reception control section (TST) 2 and a multiple-frequency encoder (DUT) 4 to be tested is connected to an encoder connecting section (CON) 3.例文帳に追加

試験制御部（ＰＣ）１と送受信制御部（ＴＳＴ）２とで構成され、符号器接続部（ＣＯＮ）３に試験用の符号器（ＤＵＴ）４が接続される。 - 特許庁

A test switch (41) is connected between the first input and the second input of the output amplifier section (40) and is turned on in response to a test signal (TEST) to output the output gradation voltage to the output node (OUT) in a test mode for performing a test related to the output of the D/A converter (50).例文帳に追加

テストスイッチ（４１）は、出力アンプ部（４０）の第１入力と第２入力間に接続され、Ｄ／Ａコンバータ（５０）の出力に関するテストが実施されるテストモードにおいて、テスト信号（ＴＥＳＴ）に応じてオンし、出力階調電圧を出力ノード（ＯＵＴ）に出力する。 - 特許庁

A packet transmission section 108 transmits the return packet generated by the return packet generating section 119 to a test side network terminal 101.例文帳に追加

返信パケット生成部１１９が生成した返信パケットはパケット送信部１０８が試験側ネットワーク端末１０１へ送信する。 - 特許庁

When a test pattern is applied to a memory 101 after relieving processing from a test pattern generating section 105, a data input value is converted utilizing defective address information of a fail information storing section 108 in which fail information of a memory at a wafer test.例文帳に追加

テストパターン生成部１０５からテストパターンを救済処理後のメモリ１０１に印加する際に、ウエハテスト時のメモリのフェイル情報を格納したフェイル情報格納部１０８の不良アドレス情報を利用し、データ入力値を変換する。 - 特許庁

When measurement in each write current value set beforehand is completed, the test execution control section 231 transmits the measurement data to the test computer 51.例文帳に追加

予め設定されている各ライト電流値における測定が終了すると、テスト実行制御部２３１は、測定データをテスト・コンピュータ５１に転送する。 - 特許庁

A test setting control section 58 detecting an external power source potential EXVDD exceeding the prescribed potential is provided in a test mode signal generating circuit 56.例文帳に追加

テストモード信号発生回路５６に外部電源電位ＥＸＶＤＤが所定の電位を超えたことを検知するテスト設定制御部５８を設ける。 - 特許庁

A test pattern output processing section 109 uses the image data of the density patch in an HDD 105 and outputs a test pattern with the determined density patch arrangement.例文帳に追加

テストパターン出力処理部１０９は、ＨＤＤ１０５にある濃度パッチの画像データを用いて、決定した濃度パッチ配置でテストパターンを出力する。 - 特許庁

When performing the airtightness test in the test section, microphones 25-1, 25-2 detect a leak sound generated when the gas leaks from the leak spot P.例文帳に追加

マイク２５−１、２５−２は、試験区間で気密試験を行った場合、漏洩地点Ｐからガスが漏洩する際に発生する漏洩音を検出する。 - 特許庁

The test signal is transmitted to the facsimile machine as a receiver and the frequency characteristic of the test signal is measured by a frequency-measuring section 16.例文帳に追加

このテスト信号が被呼側のファクシミリ装置へと伝送され、このテスト信号の周波数特性が周波数測定部１６により測定される。 - 特許庁

After the test, marking is performed in the test execution section 34 by decrypting the encrypted correct answer data and comparing it with learner's answers.例文帳に追加

テスト実行部３４では、テストの実施後、採点を行なうが、暗号化された正答データを復号し、学習者の解答と比較することにより行う。 - 特許庁

In this section, you perform a test run to verify that the composite application works as expected.The test case that you create invokes the operation1 operation in the PartnerView.wsdl file. 例文帳に追加

この節では、テストを実行して、複合アプリケーションが予想どおりに動作することを検証します。 作成するテストケースは PartnerView.wsdl ファイルの operation1 操作を呼び出します。 - NetBeans

A storage device section 40 stores a test result of a test performed for a memory device under first environment (e.g. environment in which temperature is set to 100°C).例文帳に追加

保存装置部４０は、第１環境（例えば、温度が１００℃に設定された環境）下においてメモリデバイスに対して行う試験の試験結果を保存する。 - 特許庁

A telegraphic message analyzing section 102 prepares test data regulated regarding the timing for transmitting each telegraphic message, on the basis of the content and receiving time of each collected telegraphic message, and stores the test data in the storing section 103.例文帳に追加

電文解析部１０２は、収集された各電文の内容及び受信時刻に基づいて、各電文を送出するタイミングについて規定した試験データを作成し、格納部１０３に格納する。 - 特許庁