「test section」に関連した英語例文の一覧と使い方(3ページ目) - Weblio英語例文検索

An imaging section 10 forms a test pattern image 9 on a printing medium 1, and a detecting section 2 detects its density.例文帳に追加

印刷媒体１に、作像部１０がテストパターン画像９を形成し、検出部２がその濃度を検出する。 - 特許庁

An replacement component test results information input receiving section 122 receives replacement component test results information showing failure recurrence test results of the component replaced by the maintenance work, and stores the replacement component test results information in a replacement component test results DB 112.例文帳に追加

交換部品試験結果情報入力受付部１２２は，保守作業において交換された部品の障害再現試験結果を示す交換部品試験結果情報を受け付け，交換部品試験結果ＤＢ１１２に格納する。 - 特許庁

At the time of performing a tensile test, both ends (clamp sections for tensile test) of the parallel section of the test piece are adjusted to larger sizes and the surfaces of the clamp sections are used for measuring the surface characteristic and hardness of the test piece.例文帳に追加

引張試験を行なう場合は、平行部の両端（引張試験における把持部）を大きめのサイズに調製し、把持部表面を表面特性や硬さ測定のの試験面とする。 - 特許庁

Using the execution mode information 1320, a test information management section 1430 makes an application execution section (AP execution section) correspond to an execution mode.例文帳に追加

テスト情報管理部１４３０は、実行モード情報１３２０を用いてアプリケーション実行部（ＡＰ実行部）と実行モードとを対応付ける。 - 特許庁

The connectability test section 3 stores the statistic of quality deterioration provided by the statistical processing section 2 into a simulation parameter storage section 32.例文帳に追加

接続性試験部３において、模擬パラメータ記憶部３２には、統計処理部２から提供された品質劣化の統計量が記憶される。 - 特許庁

Since a printer section 3 is provided with the executing signal generating section triggering execution of test print, test print can be executed even if an abnormality is present in an arrangement other than printer section 3, e.g. a controller 28.例文帳に追加

また、テスト印字を実行するトリガーとなる実行信号発生部をプリンタ部３に備えることで、プリンタ部３以外のコントローラ２８等の構成に異状が有ってもテスト印字の実行を可能にする。 - 特許庁

When a reading section 10 reads the test pattern, a data processing section 20 determines the necessity of adjusting the recording head 60 based on the test pattern read by the reading section 10, and a printing adjusting section 90 adjusts the recording head.例文帳に追加

さらに読み取り部１０が前記テストパターンを読み取ると、前記読み取り部１０で読み取ったテストパターンに基づき記録ヘッド６０の調整の要否をデータ処理部２０が判断し、印字調整部９０が記録ヘッドを調整する。 - 特許庁

To provide a device and a system that are effective when selection of the test mode of an information communication device to be tested is required in the house test for the information communication device comprising e.g. a central processing section, a storage section, a communication control section and a peripheral control section.例文帳に追加

たとえば中央処理部、記憶部、通信制御部、周辺制御部から構成される情報通信機器の社内試験等を行う際に、機器の試験モード切替えが必要な場合に有効な装置、方式を提供する。 - 特許庁

A control part of the image forming apparatus allows an image forming section or the like to perform the output operation of the test image based on the output instructions of the test image from the command section (#12).例文帳に追加

画像形成装置の制御部は、指令部からの試験画像の出力指示に基づき、試験画像の出力動作を画像形成部等に行わせる（♯１２）。 - 特許庁

The test liquid injected to the storage section 21 is reciprocatingly fed between the storage sections 21, 22 to allow the test substance to react with the reaction section 12 by driving an air pump 30.例文帳に追加

貯留部２１に注入された試験液は、空気ポンプ３０を駆動することで、貯留部２１，２２間を往復送液されて試験物質が反応部１２と反応する。 - 特許庁

The internal stress measuring device also comprises a calculation section having an expression for correcting the material and structure of the resin test strip and a test strip restricting section such as the clamp based on a load value acquired from the load cell.例文帳に追加

ロードセルから得られた荷重値から、樹脂試験片とクランプなどの試験片拘束部の材質と構造を補正する式が設けられた計算部を有する。 - 特許庁

The bulk control section 106 transmits a test pattern PB to each of plural lines which are under the control of the control section 101 at communication start or reception of the test pattern PB.例文帳に追加

制御部１０１の制御下で、バルク制御部１０６は、通信起動時もしくはテストパターンＰB受信時に、前記複数回線各々にテストパターンＰBを送出する。 - 特許庁

A USB connection section 11 connects the control device 10 and the test device 20.例文帳に追加

ＵＳＢ接続部１１は、制御装置１０と試験装置２０との接続を行う。 - 特許庁

To test the application, run the project as described in section Testing index.php. 例文帳に追加

アプリケーションをテストするには、「index.php のテスト」節の説明に従ってプロジェクトを実行します。 - NetBeans

When the fixture 1 for the shearing tests is lowered and comes into contact with the test piece, the flat surface section 2b is attached firmly to the test piece while rotating.例文帳に追加

せん断試験治具１が下降し試験片に接触すると平面部２ｂは回転しながら試験片に密着する。 - 特許庁

For this purpose, an ultrasonic motor 200 for holding a test tube 1 by insertion is disposed in a step section inside a test tube guide pipe 101.例文帳に追加

このため、試験管１を挿入して保持する超音波モータ２００を、試験管ガイドパイプ１０１内側の段差部に設ける。 - 特許庁

During carriage of the article 9 on the conveyor belt 40, a test metal inserting/removing section 60 throws a test metal 61 into the magnetic field.例文帳に追加

コンベヤベルト４０による物品９の搬送中に、テスト金属挿脱部６０が磁界中にテスト金属６１を投入する。 - 特許庁

The communication section 10 receives image data of the first test chart 42T and a second test chart 41T photographed by the digital camera 40.例文帳に追加

通信部１０は、デジタルカメラ４０が撮影した第１テストチャート４２Ｔ及び第２テストチャート４１Ｔの画像データを受信する。 - 特許庁

When the test load being applied to the test piece, i.e., a tensile load, is increased by displacing a lower loading section downward, a large elongation occurs in the test piece as the test piece begins to fracture and the test load applied to the test piece decreases.例文帳に追加

下側荷重負荷部１６を下方へ変位させて、試験片に加わる試験荷重である引張荷重を増大させて行くと、その試験片に破壊が発生し始めたときに、その試験片に大きな伸びが発生するため、それまで試験片に加わっていた試験荷重が低下する。 - 特許庁

The parallel bit test method includes a step in which the test data are stored in the test data storage section, a step in which the test data and the inverted data of the test data are written in the memory cell array and a step in which decision is made to determine whether the data read from the memory cell array are the same as the test data and their inverted data or not.例文帳に追加

並列ビットテスト方法は、テストデータ貯蔵部にテストデータを貯蔵する段階、メモリセルアレイにテストデータやその反転されたデータをライトする段階、メモリセルアレイから読取りしたリードデータが前記テストデータやその反転されたデータと同じであるかを判断する段階を含む。 - 特許庁

In this method, the test process of a semiconductor device under test is proceeded when a customer tray of a loader section is not vacant, while the number of the semiconductor devices under test mounted on a buffer tray of a loader side buffer section is counted if the customer tray is vacant.例文帳に追加

本発明はローダ部のカスタマートレイが空いていなければ、被検査半導体素子の検査過程を進行し、空いていれば、ローダ側バッファ部のバッファトレイに搭載された被検査半導体素子の数をカウントする。 - 特許庁

The reception processing section 123 receives test mode designation information from the power transmission apparatus 10, and the sequence control section 124 executes test sequence processing different from usual sequence processing based on the received test mode designation information.例文帳に追加

受信処理部１２３は、送電装置１０からテストモード指定情報を受信し、シーケンス制御部１２４は、受信したテストモード指定情報に基づいて、通常シーケンス処理とは異なるテストシーケンス処理を実行する。 - 特許庁

The test container is equipped with: a generated gas mixing section to which and from which a sweep gas is supplied and discharged, respectively; and a test piece storage section that is disposed adjacent to the generated gas mixing section, has at least one small hole for discharging gas that is generated during a test to the generated gas mixing section, and seals the test piece for storage except the small hole.例文帳に追加

スイープガスの供給及び排出が行われる発生ガス混合部と、発生ガス混合部に隣接して配置され、試験中に試験体から発生するガスを発生ガス混合部へ排出するための少なくとも１つの小孔部を有し、小孔部以外は試験体を密閉して格納する試験体格納部とを備える。 - 特許庁

An address conversion section 13 converts a test address into an address of a common area 23 being the same areas as the test program 3a of the opposite subordinate unit 2a for an opposite test when receiving an access to the test address from the test program 3 in the subordinate unit 2.例文帳に追加

アドレス変換部１３は、下位装置２内の試験プログラム３から試験用アドレスへのアクセスがあると、対向試験を行う対向側の下位装置２ａの試験プログラム３ａと同一エリアの共通エリア２３へとアドレス変換する。 - 特許庁

The control apparatus 2 includes: test condition setting means for setting the test condition; execution instructing means for instructing the semiconductor testing apparatus 1 to execute the test; and a capture section 20 serving as test data collecting means for collecting first data obtained by the test.例文帳に追加

制御装置２は、試験条件を設定する試験条件設定手段と試験の実行指示を行う実行指示手段と試験によって得られた第１のデータを収集する試験データ収集手段としてのキャプチャ部２０とを備える。 - 特許庁

A test signal transmission section 12 of LTE 1 transmits an optical test signal, the transmitted test signal is relayed and transmitted by a node N1 or the like of the optical transmission network system along the new route and received by a test signal reception section 22 of LTE 2.例文帳に追加

ＬＴＥ１の試験信号送信部１２から光による試験信号が送信され，送信された試験信号は新規ルートに沿って光伝送ネットワークシステムのノードＮ１等により中継伝送され，ＬＴＥ２の試験信号受信部２２に受信される。 - 特許庁

The test execution control section 231 repeats same processing by changing the write current value.例文帳に追加

テスト実行制御部２３１は、ライト電流値を変化させて同様の処理を繰り返す。 - 特許庁

The leak test section checks the airtightness of the space between each sealing tool and the rim.例文帳に追加

リークテスト部は、それぞれのシール治具とリムとの間の空間の気密性を確認する。 - 特許庁

An address data generating section 5 writes test data in each object address of RAM 1 to 4.例文帳に追加

アドレス・データ生成部５はＲＡＭ１〜４の夫々の対象アドレスにテストデータを書き込む。 - 特許庁

A test section 102 detects a defective cell in which a signal is not stored adequately.例文帳に追加

検査部１０２では、信号を正常に記憶していない不良セルの検出を行う。 - 特許庁

A data production section 33 designates the data restriction to an SMT solver and produces test data.例文帳に追加

データ生成部３３は，ＳＭＴソルバにデータ制約を指定してテストデータを生成する。 - 特許庁

The image pickup control section picks up a test image without flash and a main image with flash.例文帳に追加

撮像制御部は、閃光無しのテスト画像と、閃光有りの本画像を撮像する。 - 特許庁

The administration section then controls to start a test print in the printing device (S105).例文帳に追加

そして、管理部は、印刷装置において試し刷りが開始されるように制御する（Ｓ１０５）。 - 特許庁

METHOD OF PREPARING ELECTROLYTIC CORROSION TEST SAMPLE FROM DEFECT GENERATING BASE MATERIAL OF THROUGH HOLE SECTION OF PRINTED BOARD例文帳に追加

プリント板のスルーホール部基材欠陥発生品の電食試験サンプル作製方法 - 特許庁

Test out several copy/cut and paste operationsbefore advancing to the next section. Replacing text 例文帳に追加

次の章に進む前にいくつかのコピー切り取り貼り付けの操作を試してみましょう。 - Gentoo Linux

In this section, you deploy the composite application project and then test that deployed application.例文帳に追加

この節では、複合アプリケーションプロジェクトを配備し、その配備したアプリケーションをテストします。 - NetBeans

SCAN TEST CIRCUIT, SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT, AND SCAN-ENABLE SIGNAL TIMING CONTROLLING CIRCUIT SECTION例文帳に追加

ＳＣＡＮテスト回路、半導体集積回路及びスキャンイネーブル信号タイミング制御回路部 - 特許庁

In the test chart reconfiguration, the test chart control section 204 refers to the frequency of use of each color for updating the test chart of the operating image-forming device 10 by referring to the test chart of other image-forming devices.例文帳に追加

テストチャート再構成時には、テストチャート制御部２０４は、それぞれの色の使用頻度を参照し、他の画像形成装置のテストチャートを参照して、動作する画像形成装置１０のテストチャートを更新する。 - 特許庁

In order to test a memory 105 operated by a first clock CK1, this circuit is provided with a first test pattern generation section 101 operated by a second clock CK2 to generate test data, and a second test pattern generation section 102 operated by a third clock CK3 which is the inverted clock of the second clock CK2 to generate test data.例文帳に追加

第１のクロックＣＫ１で動作するメモリ１０５をテストするために、第２のクロックＣＫ２で動作し、テストデータを生成する第１のテストパターン生成部１０１と、第２のクロックＣＫ２の反転クロックである第３のクロックＣＫ３で動作し、テストデータを生成する第２のテストパターン生成部１０２とを設ける。 - 特許庁

A test data confirmation section 210 determines which reception antennas 11-13 is out of order from a reception signal related to the test data S8.例文帳に追加

テストデータ確認部２１０は、テストデータＳ８に関する受信信号からどの受信アンテナ１１〜１３が故障しているかを判断する。 - 特許庁

In the image processing apparatus, an image pickup section 11 outputs a test image signal obtained by picking up the monochromatic test pattern where a black frame is arranged on a white background.例文帳に追加

撮像部１１は白地の背景に黒枠を配置したモノクロのテストパターンを撮像して得たテスト画像信号を出力する。 - 特許庁

A printer 100 comprises a section 21 for detecting a state change at each section, a section 23 storing the image data of a plurality of test patterns, and a section 22 for selecting the image data of a test pattern corresponding to a state change detected at the state detecting section 21 among the image data for generating a test pattern stored at the data storage section 23.例文帳に追加

プリンタ１００は、各部位における状態変化を検出する状態検出部２１と、複数のテストパターンの画像データを記憶しているデータ記憶部２２と、データ記憶部２２に記憶されているテストパターン作成用の画像データの中から状態検出部２１によって検出された状態変化に対応したテストパターンの画像データを選択する選択部２２とを備える。 - 特許庁

When the image read section reads a test pattern outputted from an image output section, a paper sheet 300 on which the test pattern image is outputted is set on a platen glass pane 303 of the image read section in a way that a main scanning direction 301 of the image output section at output of the test pattern image is dissident with a main scanning direction 302 of the image read section.例文帳に追加

画像出力部によって出力されたテストパターン画像を画像読取部によって読取る際、テストパターン画像が出力された用紙３００を、テストパターン画像を出力したときの画像出力部の主走査方向３０１と、画像読取部の主走査方向３０２とが一致しないようにして、画像読取部のプラテンガラス３０３上にセットする。 - 特許庁

The JTAG test system includes a test data collection section 3 for collecting test data in synchronization with a clock with a TAP controller, and a JTAG analysis software processing section, and has a TAP state analysis processing section for performing TAP state analysis between the TAP controller 1 and the collection section 3.例文帳に追加

TAPコントローラとクロックに同期してテストデータ収集を行うテストデータ収集部とＪＴＡＧ解析ソフトウェア処理実行部とを含むＪＴＡＧテストシステムであって、TAPコントローラとテストデータ収集部の間に、TAPステート解析をリアルタイムで実行するTAPステート解析処理部を設けたことを特徴とするもの。 - 特許庁

In the learning system, the learner downloads at least learning data wherein correct answer data of a test are encrypted, from a management server 10 to a learning terminal 30, performs learning with a learning execution section 33, and takes a test with a test execution section 34.例文帳に追加

学習者は、少なくともテストの正答データを暗号化した学習用データを、管理サーバ１０から学習端末３０にダウンロードし、学習実行部３３により学習を行い、テスト実行部３４によりテストを実施する。 - 特許庁