「test state」に関連した英語例文の一覧と使い方 - Weblio英語例文検索

TEST STATE EVALUATING METHOD, TESTING MACHINE, AND TEST CONDITION EVALUATING METHOD例文帳に追加

試験状態の評価方法及び試験機及び試験条件の評価方法。 - 特許庁

TEST METHOD AND TEST DEVICE OF PRESS STATE OF CRIMPING TERMINAL例文帳に追加

圧着端子の圧着状態検査方法及び検査装置 - 特許庁

A test may also be performed, in a state where the test piece 1 is arranged in water.例文帳に追加

試験片１を水中に配置して試験を行うこともできる。 - 特許庁

Please state your name and test number. 例文帳に追加

受験番号と名前を言ってください。 - Weblio Email例文集

TWO-PASS MULTIPLE STATE PARALLEL TEST FOR SEMICONDUCTOR DEVICE例文帳に追加

半導体素子用ツ—パス多重状態並列試験 - 特許庁

METHOD FOR EVALUATING PHYSIOLOGICAL STATE OF TEST AQUATIC ORGANISM例文帳に追加

被検水棲生物の生理状態を評価する方法 - 特許庁

A state of the SDRAM is calculated after a radiation test.例文帳に追加

放射線試験後にＳＤＲＡＭの状態が算出される。 - 特許庁

state approved test laboratories (acceptance, management, duties) 例文帳に追加

州の承認試験所（受入れ，マネジメント，責務） - 経済産業省

A test case creating part 17 creates a new test case on the basis of the created test data and a test case generating transition to a present state, and the test case is registered in a test case storage 18.例文帳に追加

テストケース生成部１７は、生成されたテストデータと現在の状態までの遷移を発生させるテストケースを元に新たなテストケースを生成し、テストケース記憶装置１８に登録する。 - 特許庁

If the same test process existed in the past, corresponding test conditions are stored in the test condition memory section 13, the test process is implemented, and the process history of the test conditions is stored in an implementation state memory section 15 after the completion of the test process.例文帳に追加

過去に同一の試験処理があれば、対応する試験条件を試験条件記憶部１３に保持させ、試験処理を実行し、試験処理終了後に、実行状況記憶部１５にこの試験条件の処理履歴を記憶する。 - 特許庁

Finally, a state transition for realizing the remaining test patterns is added to the test series (step 8).例文帳に追加

最後に、残ったテストパターンを実現する状態遷移をテスト系列に追加する（ｓｔｅｐ８）。 - 特許庁

To provide a status transition test support device for supporting the efficient execution of a state transition test.例文帳に追加

状態遷移テストの効率的な実行を支援する状態遷移テスト支援装置を提供する。 - 特許庁

BOX TYPE HOUSING HOLDER FOR EXPOSURE TEST PIECE, AND EXPOSURE TEST PIECE CORROSION STATE MEASURING METHOD USING BOX TYPE HOUSING HOLDER FOR EXPOSURE TEST PIECE例文帳に追加

暴露試験片の箱型収納ホルダーと、この暴露試験片の箱型収納ホルダーを使用した、暴露試験片の腐食状態測定方法 - 特許庁

To insert and extract a testing board inside the test head in a state where a connection for placing a test device is disposed on the test head.例文帳に追加

テストヘッド上に被試験デバイスを載置するための接続部を載置している状態で、内部の試験ボードを挿抜する。 - 特許庁

To provide a test piece manufacturing method which enables a compression test to be performed with respect to a test piece in a state near to actual construction time.例文帳に追加

実際の施工時に近い状態の供試体で圧縮試験を行うことができる供試体作成方法を得る。 - 特許庁

In the test state, the test fuse is cut so as to realize two test delay time reduction modes.例文帳に追加

前記テスト状態において、テスト用ヒューズの切る状況によって、二つのテスト用遅延時間短縮モードを実現する。 - 特許庁

To provide a material testing machine, capable of reliably recovering a test piece after testing, regardless of the state of the test piece at the completion of the test.例文帳に追加

試験終了時における試験片の状態に係わらず、試験後の試験片を確実に回収することのできる材料試験機を提供する。 - 特許庁

To provide a unit test support device which achieves reducing the operation frequency of test stab creation, decreasing a workload required for a unit test using the test stab and shortening an execution time when performing the unit test of a test object module described based on a state transition chart or a state transition table.例文帳に追加

状態遷移図や状態遷移表に基づいて記述された試験対象モジュールの単体試験にあたり、テストスタブ作成の作業頻度の低減や、テストスタブを用いた単体試験に要する作業量の削減や実施時間の短縮化を実現できる単体試験支援装置を提供する。 - 特許庁

BONDING STATE EVALUATION METHOD AND DEVICE, TEST PIECE FOR BONDING STATE EVALUATION, MANUFACTURING METHOD OF TEST PIECE FOR BONDING STATE EVALUATION, AND SEMICONDUCTOR ELEMENT HAVING TEST PIECE FOR BONDING STATE EVALUATION例文帳に追加

接合状態評価方法、接合状態評価用試験片、接合状態評価用試験片の製造方法及び接合状態評価用試験片を有した半導体素子並びに接合状態評価装置 - 特許庁

If no same test process existed in the past, the test conditions are stored in the test condition memory section 13 from a test condition set section 14, the test process is implemented, and the process history of the test conditions is stored in the implementation state memory section 15 after the completion of the test process.例文帳に追加

過去に同一の試験処理がなければ、その試験条件を試験条件設定部１４から試験条件記憶部１３に記憶させて試験処理を実行し、この試験処理終了後、実行状況記憶部１５にその試験条件の処理履歴を記憶する。 - 特許庁

To provide a test case management device that reduces the working process by a test person for classifying test cases for each testing object screen under operation and a test condition varying in response to a test execution state and registering the test cases and reduces the working process by the test person for acquiring the test case adapting to the testing object screen and the test condition during the test.例文帳に追加

本発明は、テスト担当者が操作中のテスト対象画面およびテスト実行状態に応じて変化するテスト条件毎に分類してテストケースを登録する作業工程を削減し、さらにテスト担当者がテスト中にテスト対象画面およびテスト条件と適合する、テストケースを取得する作業工程を削減することを可能とするテストケース管理装置を提供する。 - 特許庁

A test influence determination part 140 determines whether there are any Web applications influenced by the test results, and the internal state reproduction part 120 reproduces the states before the test from the test influence to continue the test.例文帳に追加

テスト影響判定部１４０にて前記テスト結果の影響を受けたＷｅｂアプリケーションの有無を判定し、テストの継続を実現するために内部状態再現部１２０にてテストの影響をテスト実施前の状態に再現する。 - 特許庁

When monitoring information 401 received from a communication device 201 indicates "initializing the test associated apparatus", the maintenance terminal applies test release and test acquisition to an object test part 302 on the basis of the monitoring information 401 and the stored test execution state.例文帳に追加

そこで、通信装置201から受信した監視情報401が「試験関連装置が初期化」を示すと、この監視情報401と保持されている試験実行状態とに基づいて、対象試験箇所302の試験解放および試験捕捉を行なう。 - 特許庁

To provide a semiconductor device which goes into a test mode according to an implementation test signal applied from outside, by changing an environment (test property) of the semiconductor device in the implementation state, capable of entering the test mode at the implementation state.例文帳に追加

実装状態でもテストモードに入ることができ、実装状態で半導体装置の環境（内部特性）を変化させ、外部から印加される実装テスト信号に応じてテストモードに入る半導体装置を提供すること。 - 特許庁

To provide a nobel and improved device test system, setting state display device and setting state display method capable of improving the test efficiency by a user who is grasping the test terminal number and the name of the terminal and simultaneously grasping the attribute information of the test terminal visually and sensuously.例文帳に追加

ユーザが、テスト端子番号やテスト端子名と同時に、そのテスト端子の属性情報を視覚的かつ感覚的に把握し、作業効率を向上させることが可能となる。 - 特許庁

To enable a logic analyzer to precisely test the overflow state and the underflow state of a stack memory inside a device under test.例文帳に追加

ロジック・アナライザで、被試験装置内のスタック・メモリのオーバーフロー状態及びアンダーフロー状態を正確に試験する。 - 特許庁

To provide a simple breathing function test device performing a breathing function test in a state without the need of breathing effort, such as a quiet breathing state.例文帳に追加

安静呼吸状態等の呼吸努力を要しない状態で呼吸機能検査を行うことができる簡易な呼吸機能検査装置を提供する。 - 特許庁

To collect logs regardless of the state of a test object computer state without providing a means for collecting logs on the test object computer.例文帳に追加

試験対象計算機上にログを収集する手段を設けず、かつ、試験対象計算機状態に関わらずログを収集可能とする。 - 特許庁

Therefore, the arrangement state in the circuit block does not change before and after insertion of the test point, namely, the test point can be inserted without changing the arrangement state in the circuit block.例文帳に追加

したがって、テストポイントを挿入する前後において回路ブロック内の配置の状態が変わることがない。 - 特許庁

A test state display program 203 reads the test state information on all the machines to be tested for each interval designated by display interval information 206.例文帳に追加

試験状況表示プログラム２０３は、表示間隔情報２０６で指定された間隔毎に全被試験機の試験状況情報を読み込む。 - 特許庁

The test tubes on the guide are moved in a mutual contact state and finally discharged from the guide to be preserved in a test tube housing part (214) in a refrigerated state.例文帳に追加

ガイド上の試験管は玉突き状に移動し、最終的にガイドから排出されて試験管格納部（２１４）で冷蔵保存される。 - 特許庁

Validates a 2/3 region (state) code.sample?php// Include the packagerequire_once('Validate/AU.php');$badRegion = 'asdf';$result = Validate_AU::region($badVAT);echo 'Test ' . 例文帳に追加

2/3 文字の地域 (州) コードの検証を行います。 - PEAR

PHOTOIRRADIATION APPARATUS, TEST APPARATUS OF SOLID STATE IMAGING DEVICE, AND RELAY DEVICE例文帳に追加

光照射装置、固体撮像装置の試験装置、中継装置 - 特許庁

When a fuse blow confirming test is performed, a switch is made a conduction state.例文帳に追加

ヒューズブローの確認試験をするときは、スイッチを導通状態にする。 - 特許庁

BURN-IN APPARATUS, BURN-IN TEST METHOD, AND CONTACT STATE DETECTION METHOD例文帳に追加

バーンイン装置、バーンイン試験方法および接触状態検知方法 - 特許庁

TEST METHOD FOR REPRODUCING TROUBLE GENERATION STATE OF DISK ARRAY DEVICE例文帳に追加

ディスクアレイ装置における障害発生時の再現テスト方法 - 特許庁

TEST BOARD AND METHOD FOR DETERMINING LATENT FAILED STATE例文帳に追加

潜在的な不具合状況を確定する試験台および方法 - 特許庁

METHOD AND APPARATUS FOR DETECTING STATE OF CIRCUIT UNDER TEST例文帳に追加

被テスト回路の状態検出方法及び状態検出装置 - 特許庁

A connecting state can be easily recognized without performing a special test before shipping.例文帳に追加

出荷前に特別な試験をせずに容易に接続状態を認識できる。 - 特許庁

To provide a method and an apparatus for detecting a state of a circuit under test, capable of simply modeling the state of the circuit under test and easily evaluating the state of the circuit under test.例文帳に追加

被テスト回路の状態を簡単にモデル化することができ、被テスト回路の状態を容易に評価することができる被テスト回路の状態検出方法及び状態検出装置を提供すること。 - 特許庁

The test piece 7 is retreated from the opening 4 and the auxiliary valve 5 with the valve element 51 closed, the deterioration state of the test piece 7 is visually confirmed, and the deterioration state of the inside of the valve casing 1 is grasped from the deterioration state of the test piece 7.例文帳に追加

また、弁体５１の弁閉状態で試験片７を開口４と補助弁５から退避させて、試験片７の劣化状況を目視により確認し、試験片７の劣化状況から弁箱１内部の劣化状況を把握する。 - 特許庁

To provide a valve and valve seat abrasion testing machine capable of carrying out a test in a state close to a practical state.例文帳に追加

実機に近い状態で試験を行えるバルブ・バルブシート摩耗試験機を提供する。 - 特許庁

DEVICE TEST SYSTEM, SETTING STATE DISPLAY DEVICE AND SETTING STATE DISPLAY METHOD例文帳に追加

デバイス試験システム、設定状態表示装置および設定状態表示方法 - 特許庁

DEVICE STATE INFORMATION EXTRACTION METHOD, DEVICE STATE TEST UNIT, NETWORK DEVICE AND SERVICE DIAGNOSTIC SYSTEM例文帳に追加

機器状態情報抽出方法、機器状態試験装置、ネットワーク機器及びサービス診断システム - 特許庁

A test control trunk 40 decodes the test line information, recognizes the test line, monitors the state of use of the test line, and transmits the line switching signal for avoiding the closing of the line during the test when the line is idle to perform test control.例文帳に追加

試験制御トランク４０は、試験回線情報の解読を行い試験回線を認識して、試験回線の使用状態を監視し、回線が空きの場合は、試験中の回線閉塞を回避するための回線切替信号を送出して、試験制御を行う。 - 特許庁