「test state」に関連した英語例文の一覧と使い方(2ページ目) - Weblio英語例文検索

The imaging apparatus has a test operation mode for checking a connection state, and is configured to output a result obtained by processing the digital signal generated by the test signal generation circuit from a digital image output interface in a test mode state.例文帳に追加

撮像装置に接続状態をチェックするテスト動作モードを設け、テストモード状態では該テスト信号発生回路が発生するデジタル信号を処理した結果をデジタルの画像出力インターフェースから出力する。 - 特許庁

Then, during debugging of the test class 30, the test system 100 controls the test class thread 31 to a stopped state, and controls the tool thread 11 to an operating state.例文帳に追加

そして、この試験システム１００は、テストクラス３０のデバッグ中に、テストクラス・スレッド３１を停止状態に制御するとともに、ツール・スレッド１１を動作状態に制御する。 - 特許庁

By this constitution, the density state in the test piece 30 becomes almost equal to that of the evaluation target layer of the on-the-spot ground, and the compression test is performed with respect to the test piece 30 in the state near to the actual execution time.例文帳に追加

これにより、供試体３０内部の疎密状態が、現地地盤の評価対象層とほぼ同等となり、実際の施工時に近い状態の供試体３０で圧縮試験を行うことができる。 - 特許庁

Upon receiving a test start event from an event reception section 11, a control process section 12 confirms the presence or absence of the same test process by referring the past test process implementation state to an implementation state memory section 15.例文帳に追加

制御処理部１２は、イベント受信部１１から試験開始イベントが入力されると、実行状況記憶部１５に、過去の試験処理実行状況を参照して、同一の試験処理の有無を確認する。 - 特許庁

Further, the correlation of a staining state after a test and the staining state in actual exposure is made large to set the coating film after test to a staining state approximate to the staining state in actual exposure.例文帳に追加

また、試験後の汚れ状態と実際の暴露における汚れ状態との相関を大きくして、試験後の塗膜を、実際の暴露における汚れ状態に近似した汚れ状態とすることができる。 - 特許庁

The test circuit is provided with a bit 7 of a register 5 for test to hold a state value to indicate state of the microcomputer peripheral function and a comparator 7 to output a state change signal to the output terminal for test of the microcomputer through an OR gate 4 according to changes in the state value held by the bit 7.例文帳に追加

マイコン周辺機能の状態を示す状態値を保持するテスト用レジスタ５のビット７と、そのビット７に保持された状態値の変化に応じて状態変化信号をＯＲゲート４を通じてマイコンのテスト用出力端子に出力する比較器７とを備えた。 - 特許庁

A test vector altering part 9 alters test vectors so that the special cell may come into a standby state at the timing.例文帳に追加

テストベクタ変更部９は、そのタイミングにおける特殊セルがスタンバイ状態になるようにテストベクタを変更する。 - 特許庁

Then, a test mode signal is input by the test mode setting input pin 4, and its state is stored by the shift register 7.例文帳に追加

次に、テストモード設定用入力ピン４からテストモード信号が入力され、その状態は、シフトレジスタ７に記憶される。 - 特許庁

A failure state database memory for memorizing data associating a self-diagnosis result of the test object with the order of test items is added.例文帳に追加

被試験体の自己診断結果と試験項目の順序を対応付けたデータを記憶する故障状況データベース記憶器を付加する。 - 特許庁

The scan test self-synchronization control circuit 101-103 is set in such a state as handshake ends before third way at the time of test.例文帳に追加

スキャンテスト対応自己同期制御回路１０１〜１０３は、テスト時に３ウェイ目までハンドシェイクが終了した状態に設定される。 - 特許庁

To enable verification of the operation state of each pixel in a pixel array part and to simplify a device test to shorten the test time.例文帳に追加

ピクセルアレイ部の各ピクセル（画素）の動作状態の検証を可能にするとともに、デバイステストを簡略化してテスト時間の短縮する。 - 特許庁

A base end 7 of the test piece 1 displaces relatively in the vertical direction with respect to the abutting section 5, thereby putting the test piece 1 into the bent state.例文帳に追加

試験片１の基端部７が当接部５に対し上下方向に相対的に変位することにより、試験片１は曲げ状態となる。 - 特許庁

To provide a test device of a semiconductor device which can improve reliability of an operation test in a wafer state by utilizing BOST and BIST.例文帳に追加

ＢＯＳＴ及びＢＩＳＴを活用して、ウェハ状態での動作試験の信頼性を向上させ得る半導体装置の試験装置を提供する。 - 特許庁

To provide a decoder circuit capable of easily performing a test inclusive of the state of a transistor added for the test.例文帳に追加

テスト用に追加されたトランジスタの状態も含めてテストを容易に行うことができるデコーダ回路を提供する。 - 特許庁

To develop a creep testing machine capable of performing a creep test in a state of keeping actual stress constant by adjusting the tensile force acting on a test piece.例文帳に追加

試験片に作用する引張力を調整して、真応力を一定に維持しながらクリープ試験を実施できるクリープ試験機を開発すること。 - 特許庁

To provide a portable electronic apparatus in which a predetermined test can be performed in a state that a test point does not expose the outside.例文帳に追加

本発明は、テストポイントが外部に露出しない状態で所定の検査を行うことができる携帯電子機器を提供することを目的とする。 - 特許庁

Therefore, an electricity test of a state of conduction between the external electrode terminals 9a and 9b for test is conducted to determine whether the peeling is occurring.例文帳に追加

したがって、テスト用外部電極端子９ａおよび９ｂの導通状態を電気テストすることによって、当該剥離の有無を判定できる。 - 特許庁

In a state where a flat belt type running test device 100 performs a running test of a tire, a remote switch 32 is turned on.例文帳に追加

フラットベルト式走行試験装置１００がタイヤの走行試験を行っている状態で、リモートスイッチ３２をオン操作する。 - 特許庁

After a memory device is subjected to a data holding property test (step S4) in a wafer state, test data are rewritten to data of reverse pattern (step S6).例文帳に追加

ウエハ状態でのデータ保持特性試験（ステップＳ４）終了後、テストデータを逆パタンのデータに書き換える（ステップＳ６）。 - 特許庁

To use a tool in a such a state that the performance of a test class is stopped in debugging the test class by a debugger.例文帳に追加

デバッガにてテストクラスのデバッグをするときに、テストクラスの実行を停止したままの状態でツールを使用できるようにする。 - 特許庁

Before storing system information in a disk 18, test write is executed to a dedicated test cylinder to inspect the state of each head.例文帳に追加

ディスク１８にシステム情報を保存する前に、テスト専用シリンダに対して試験的にライトを実施し、各ヘッドの状態を検査する。 - 特許庁

To provide a semiconductor memory device including a test circuit performing write-mask operation, in a test of a wafer state.例文帳に追加

ウェーハ状態の試験において、ライトマスク動作を実行するテスト回路を備えた半導体記憶装置を提供する。 - 特許庁

To provide a DSP where a holding test for judging the operation stop state of a DSP core can be conducted during the self-test of the DSP core.例文帳に追加

ＤＳＰコアのセルフテスト中に、ＤＳＰコアの動作停止状態を判定するホールドテストが実施可能になるＤＳＰを提供する。 - 特許庁

In the state that the oxygen concentration is heightened, the test piece 2 is deteriorated with the lamp 4 by irradiating the test piece 2 with the lamp 4.例文帳に追加

酸素濃度が高められた状態で、ランプ４によって被試験体２に光照射することによって、当該被試験体２が劣化される。 - 特許庁

To provide an environmental test device capable of suppressing dew condensation inside and outside of a test tank which is put into a low-temperature state.例文帳に追加

低温状態とされる試験槽の槽内および槽外で結露が発生することを抑制することができる環境試験装置を提供すること。 - 特許庁

When executing the maintenance test of a communication terminal 301, a maintenance terminal 101 manages and stores an execution state of the test.例文帳に追加

保守端末装置101は、通信端末301の保守試験を実行する際、この試験の実行状態を管理し、保持している。 - 特許庁

To measure highly accurately a switching time of an output signal from a test device in the insulated state from the test device.例文帳に追加

被試験デバイスと絶縁して、当該被試験デバイスの出力信号のスイッチング時間を高精度に測定する。 - 特許庁

To produce a set of test sequences for operating each edge-device in a main area of interest in the state of maintaining a minimum test time.例文帳に追加

試験時間を最小に維持した状態で、注目主領域で各エッジ装置を作動させる試験シーケンスのセットを作り出す。 - 特許庁

To speedily and accurately verify phase test by bringing a main circuit into a final state of connection and automating phase test processes.例文帳に追加

主回路を最終の接続状態にした上で検相工程を自動化することにより、検相確認を迅速にかつ正確に行えるようにする。 - 特許庁

PROGRAMMABLE MEMORY BUILT-IN SELF-TEST COMBINING MICRO- CODE AND FINITE STATE MACHINE SELF-TEST例文帳に追加

マイクロコードと有限状態機械セルフテストを組み合わせるプログラマブル・メモリビルトイン・セルフテスト - 特許庁

To provide a device capable of performing an environmental test in a more similar state to an actual using environment by reproducing temperature variation generated in a test object.例文帳に追加

被試験物に生じる温度ばらつきを再現し、実際の使用環境により近い状態で環境試験を行うことができる装置を開発する。 - 特許庁

To provide a unit for substrate connection test which is easy in a check of connection state, and enables a substrate connection test at a substrate center.例文帳に追加

接続状態のチェックが容易であると共に、基板中央部での基板接続試験の可能な基板接続試験用ユニットを提供すること。 - 特許庁

The test patterns are subjected to X-extraction (step 3), and each test pattern is mapped in the state transition of an FSM (step 4).例文帳に追加

テストパターンに対してＸ抽出を行ない（ｓｔｅｐ３）、各テストパターンをＦＳＭの状態遷移にマッピングする（ｓｔｅｐ４）。 - 特許庁

Referring to the test image, the operator determines whether or not the information on the operation state inputted by himself is rightly reflected on the test image.例文帳に追加

この試験画像により、操作者は自分が入力した動作状態に関する情報が試験画像に正しく反映されているかを確認する。 - 特許庁

To provide a sheet for patch test through which the state of skin is visually recognizable even in the case that it is pasted to the skin for the patch test.例文帳に追加

パッチテストを行うために肌に貼り付けている場合でも、それを透かして肌の状態を視認可能なパッチテスト用シートを提供する。 - 特許庁

To provide an environmental device capable of bringing a specimen conveyed in a test tank to a state of an environmental test temperature in a short time.例文帳に追加

試験槽内を搬送される被試験品を短時間で環境試験温度の状態に到達させることのできる環境試験装置を提案すること。 - 特許庁

To provide a method for an external appearance test of a semiconductor chip and a probing test in a state of a wafer.例文帳に追加

ウエハの状態で半導体チップの外観検査とプロービングテストを行う方法において、外観検査が適切に行われるようにする。 - 特許庁

FIXTURE FOR EXPOSURE TEST PIECE TO GROUND TRANSFORMER AND CORROSION STATE MEASURING METHOD OF GROUND TRANSFORMER USING FIXTURE FOR EXPOSURE TEST PIECE例文帳に追加

地上用変圧器への暴露試験片の取付具と、この暴露試験片の取付具を使用した地上用変圧器の腐食状態測定方法 - 特許庁

To provide a fatigue test method capable of confirming a crack developing state on a plurality of repetition rates by a one-time test.例文帳に追加

１回の試験で複数の繰返し速度についてのき裂進展状況を確認可能な疲労試験方法の提供。 - 特許庁

example: test of a conversion device is carried out in a state approved test laboratory of a manufacturer, sealing happens after the installation 例文帳に追加

事例：変換器の試験は製造事業者の州政府承認の試験所で行われ，封印は設置後行われる - 経済産業省

The control board has test operation means A15 and A16 for making the game device perform the test operation in a predetermined state corresponding to each command for test operation transmitted from the test command output means when the game mode is transferred to a test mode.例文帳に追加

制御基板に、テストモードに移行した場合に、テストコマンド出力手段から送信される一連のテスト用動作コマンドの各々に対応して予め定められた態様で遊技装置にテスト動作を行わせるテスト動作手段（Ａ１５，Ａ１６）を設ける。 - 特許庁

When a test execution part 68 detects a test execution operation by differently pushing an alarm stop switch 20 in a normal monitoring state, the test execution part 68 outputs a prescribed point in a fire alarm sound of a prescribed pattern, such as a sweep alarm sound to be subjected to acoustic pressure measurement test, as a test sound from a speaker 56.例文帳に追加

試験実行部６８は、通常監視状態における警報停止スイッチ２０の押分け等による試験実行操作を検知した場合、所定パターンの火災警報音の内の音圧測定の対象となるスイープ警報音などの所定箇所をスピーカ５６から試験音として出力させる。 - 特許庁

A test order setting part 62 provided in the tester 36 calculates a failure rate for each test item based on a plurality of tested results obtained by testing a plurality of solid-state imaging devices, and rearranges a test order of each test item in order of a high failure rate to reset the test pattern.例文帳に追加

テスタ３６に設けられた検査順序設定部６２は、複数の固体撮像素子を検査することによって得られた複数の検査結果を基に、検査項目毎の不良率を算出して、この不良率の高い順に各検査項目の検査順序を並べ替え、テストパターンを再設定する。 - 特許庁

To provide a test method and a test device for a semiconductor wafer by which a test can be conducted in a state that the contact resistance of a probe and a test pad of the semiconductor wafer is reduced to a reference value and the test can be conducted with contact resistance which is always the same.例文帳に追加

プローブ針と半導体ウェーハのテストパッドとの接触抵抗を基準値まで低減させた状態でテストすることが可能であり、常に同一の接触抵抗でテストをすることが可能となる半導体ウェーハのテスト方法及び装置を提供する。 - 特許庁

To prevent the rebounding of a test object colliding with a landing surface not only to enable a certain single impact test but also to automate a repeating test at the same time in a drop tester for performing a drop impact test by dropping the test object on a landing surface in a free fall state.例文帳に追加

試験対象物を自由落下状態で落下させて着地面に衝突させることで落下衝撃試験を行う落下試験装置について、着地面に衝突した試験対象物のリバウンドを防止して、確実なシングルインパクト試験を可能とし、同時に繰返し試験の自動化も可能とする。 - 特許庁