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Weblio 辞書 > 英和辞典・和英辞典 > test stateに関連した英語例文

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test stateの部分一致の例文一覧と使い方

該当件数 : 1226



例文

In this positioning mechanism of the LSI tester equipped with a test head, a template, a DIF board, the DUTIF unit, and a cover arranged in the state covering the DUTIF unit, a rough guide pin is provided on the DUTIF unit, and a positioning part to be engaged with the rough guide pin is provided on the template.例文帳に追加

テストヘッドと、テンプレートと、DIFボードと、DUTIFユニットと、このDUTIFユニットを覆って配置されたカバーを具備するLSIテスタの位置決め機構において、DUTIFユニットにラフガイドピンを設けるとともにテンプレートにラフガイドピンと係合する位置決め部を設けた。 - 特許庁

The data processor 3 is an NMS managed by SNMP and is provided with a communication line state management means 321 for confirming the validity of the plural communication routes (communication route to the agent through the transmission lines 1 and 2 is decided) by sequentially issuing a test command message through the plural communication routes to the agents in each cycle set beforehand.例文帳に追加

データ処理装置3は、SNMPで管理されるNMSであって、予め設定された周期毎にエージェントに試験コマンドメッセージを複数の通信ルートを介して順々に発行することにより複数の通信ルート(伝送路1,2を介してエージェントへの通信ルートを決める)の有効性を確認する通信路状態管理手段321を有することを特徴とする。 - 特許庁

The hold voltage Vhold is applied to an upper electrode 14, while the grounding voltage Vss is applied to a lower electrode 15, and subsequently the voltage BE on the lower electrode 15 is used as the test voltage Vtest to separate the hold voltage Vhold on the upper electrode 14 so that the voltage TE on the upper electrode 14 may be placed in a high impedance state (hi-Z).例文帳に追加

上部電極14にはホールド電圧Vholdを、下部電極15には接地電圧Vssを印加し、その後、下部電極15の電圧BEを試験電圧Vtestとしてから上部電極14のホールド電圧Vholdを切り離して上部電極14の電圧TEを高インピーダンス状態(hi−Z)とする。 - 特許庁

This three-dimensional random loop connection structure produced by bending continuous filaments having300 dtex to form random loops, and bringing the loops into contact with each other in a melted state to fuse most of the contact portions, is characterized in that the compressive strain retention of the structure is60% in a light resistance test using a carbon arc lamp.例文帳に追加

300デシテックス以上の連続線状体を曲がりくねらせランダムループを形成し、夫々のループを互いに溶融状態で接触せしめて、接触部の大部分を融着させてなる三次元ランダムループ接合構造体であり、カーボンアーク燈による耐光試験において圧縮歪み保持率が60%以上であることを特徴とする弾性網状構造体。 - 特許庁

例文

The AND or OR circuit 24 or 25 generates one signal which can detect abnormality even when the abnormality exists in only one output buffer 21 from the compared results and inputs the signal to a circuit 50 for comparing expected value of LSI tester on a tester side from a test result outputting terminal 13 to judge the normal/ abnormal state of the DC tests.例文帳に追加

AND回路又はOR回路は前記比較結果から前記出力バッファ中1個でも異常があるとこれを検出し得るひとつの信号を作成し、これをテスト結果出力端子からテスタ側のLSIテスタ期待値比較回路に入力して、DCテストの正常異常を判定させる。 - 特許庁


例文

Additionally, the state of the scan FF is locked so that an undefined value will not propagate to a combination circuit that should be subjected to a scanning test from the scan FF for composing the bypassed partial scan path.例文帳に追加

スキャンFFのシリアル接続で構成される部分スキャンパスとセレクタとが交互に接続されて形成されるスキャンパスに対して、部分スキャンパス選択情報を与え、特定の部分スキャンパスをバイパスしてスキャンパターンを印加することと、バイパスされた部分スキャンパスを構成するスキャンFFからの不定値がスキャンテスト対象の組合せ回路に伝搬しないように、スキャンFFの状態をロックする。 - 特許庁

The semiconductor device has a bonding pad 51 including a bonding region 55 for wire bonding and a proving region 53 which is disposed adjacently to the bonding region 55 and into which a test probe is entered obliquely from above to be brought into contact in a state wherein measurements can be taken from two different directions in level with the bonding region 55.例文帳に追加

ワイヤボンディング用のボンディング領域55と、ボンディング領域55に隣接して配置され、試験用プローブを上方斜め方向から進入させて、ボンディング領域55と同一平面上で異なる2方向から試験用プローブを測定可能に接触させるプロービング領域53と、を含むボンディングパッド51を備える。 - 特許庁

To provide an element-accommodating apparatus of a semiconductor element test handler for accurately and surely clamping an element on the accommodating apparatus, by automatically pressing the accommodated semiconductor element from above, when the semiconductor element is accommodated on the element accommodating apparatus and automatically releasing the pressing state, when the element on the accommodating apparatus is carried to a different working location.例文帳に追加

半導体素子が素子収容装置上に収容するとき、収容した半導体素子を自動的に上側から加圧し、収容装置上の素子が異なる作業位置に搬送されるときには、自動的に加圧状態が解除されるようにすることにより、素子が収容装置上に正確かつ確実に圧着され得るようにした半導体素子テストハンドラの素子収容装置を提供する。 - 特許庁

A relay 5 is provided between the external circuit 3 and the semiconductor integrated circuit 1, and the connection destination of first wiring 6 is switched to third wiring 8 for connecting the semiconductor integrated circuit 1 and an LSI tester 4 when executing a system test, thus judging whether the connected state between the external connection terminal of the semiconductor integrated circuit 1 and the first wiring 6 is appropriate or not.例文帳に追加

外部回路3と半導体集積回路1との間にリレー5を設け、システムテストを実施する際に、第1の配線6の接続先を第3の配線8に切り換えて半導体集積回路1とLSIテスタ4を接続することで、半導体集積回路1の外部接続端子と第1の配線6間の接続状態の良否を判定する。 - 特許庁

例文

The communication test means 18 tests whether it is possible to execute the communication function by utilizing the other pattern of the communication setting data stored in the storage means 14, while maintaining a state where it is possible for the communication means 16 to execute the communication function by utilizing the one pattern of the communication setting data.例文帳に追加

通信テスト手段18は、上記の一方のパターンの通信設定データを利用して通信手段16が通信機能を実行することができる状態を維持しながら、記憶手段14に記憶されている他方のパターンの通信設定データを利用して通信機能を実行することができるのか否かをテストする。 - 特許庁

例文

Accordingly, during the test in a wafer state, even if clock terminal, address terminal, and command terminal are commonly connected among the plurality of semiconductor storage devices, since the clock signal can be received from the data input/output terminal DQ, a code for performing fine adjustment of the reference voltage in a pseudo-manner can be supplied by chips.例文帳に追加

これにより、ウェハ状態でのテスト時において、複数の半導体記憶装置間でクロック端子、アドレス端子及びコマンド端子がそれぞれ共通接続されていても、クロック信号をデータ入出力端子DQから受け付けることができることから、基準電圧の微調整を擬似的に行うコードをチップごとに個別に供給することが可能となる。 - 特許庁

A management server 1 executes a Ping test, by accessing a camera system 4 by each prescribed timing, confirms a response from the camera system 4, inspects the connection state; and when the inspection result indicates that the camera system 4 is not connected normally, the management server 1 informs a notice destination corresponding to the user of this.例文帳に追加

管理サーバ1は、カメラシステム4を所定タイミング毎にアクセスすることによってPingテストを実施し、当該カメラシステム4からの応答を確認してその接続状態を検査した結果、カメラシステム4が正常に接続されていない場合には、その旨を当該ユーザ対応の通知先へ報告する。 - 特許庁

To provide an adhesive which, even when laminating such a hard-to-adhere resin film as a polyester film to a steel plate, has excellent adhesive strength at an ordinary state after the lamination process and which is so excellent in the heat resistance as to maintain excellent adhesive strength even after a boiling-water resistant test, and to provide a plastic film-laminated steel plate using the adhesive.例文帳に追加

本発明の課題は、ポリエステルフィルムなどの難接着性樹脂フィルムを鋼板にラミネートした場合でも、ラミネート加工後常態において優れ接着力を示すと共に、耐沸水性試験後においても優れた接着力が確保されれ、耐熱性にも優れる接着剤及びその接着剤を利用してプラスチックフィルムラミネート鋼板を提供することにある。 - 特許庁

In the game machine wherein the winning probability of a variable display device for normal patterns is improved accompanying the probability variable state, the variation time is shortened, the opening time of a normal electric accessory is extended and the number of times of the opening is increased, a connector for a test capable of outputting signals to the outside of the game machine is attached to a game control board.例文帳に追加

確変状態に付随して普通図柄用可変表示器の当り確率が向上されかつその変動時間が短縮されるとともに普通電役の開放時間が延長されかつその開放回数が増加する遊技機において、信号を遊技機外部へ出力可能な試験用コネクタを遊技制御基板に取付ける。 - 特許庁

To provide an image scanner, image position deviation detecting method, and storage medium in which the state of position deviation between a reading position that is ideal in design for a pattern image formed on a test document or the like and a reading position of an actually read pattern image can be detected without performing any complicated image processing in the image reading device that reads image data of documents.例文帳に追加

原稿の画像データを読取る画像読取装置において、テスト原稿などに形成されたパターン画像に対する設計上理想的な読取位置と実際に読取ったパターン画像の読取位置との位置ずれ状態を複雑な画像処理を行うことなく検出することを可能とする画像読取装置、画像の位置ずれ検出方法、及び記憶媒体を提供すること。 - 特許庁

In the semiconductor operating speed guaranteeing circuit 10 provided in an LSI 13, an operating speed guaranteeing mode selector 11 sets a measuring mode and an operating speed guaranteeing state input circuit 12 generates input data to an input selector 13 to set operations of registers 5, 6 including a combinational circuit 4 in the LSI 3 to a most critical state by using a speed measuring special purpose test vector 1 and an LSI tester 2.例文帳に追加

LSI3に設けられた半導体動作速度保証回路10においては、速度測定専用テストベクタ1とLSIテスタ2を用いることにより、LSI3内の組み合わせ回路4を含むレジスタ5、6間の動作をもっともクリティカルな状態に設定するために、入力セレクタ13に対し、動作速度保証モード選択回路11が測定モードを設定し、動作速度保証状態入力回路12が入力データを生成する。 - 特許庁

The state coat of arms, the national flag or any other national emblem or the coat of arms of an Austrian provincial or local authority shall not be used in trade without authorization for the designation of goods and services or as a component of such a designation, nor shall the signs referred to in Section 4 par 1 subpar 1 lit. c be used without the consent of the entitled party. Accordingly, test or guarantee signs shall not be used without the approval of the authority issuing such test or guarantee signs for the designation, or as a component of the designation, of goods or services for which the sign has been introduced, or for similar goods or services. 例文帳に追加

国の紋章,国旗,その他の国章若しくはオーストリア地方公共団体の紋章は,取引において権限無しに,商品若しくはサービスに係わる識別表示として,又は当該識別表示の構成要素として使用してはならず,また,権限を有する当事者の同意を得ることなく第4条1.(c)に掲げた標識も使用してはならない。同様に,検査又は保証用の標識は,その標識を交付する当局の事前の同意を得ることなしに,標識の使用対象である商品若しくはサービス又はそれに類似する商品若しくはサービスに係わる識別表示として,又は当該識別表示の構成要素として使用してはならない。 - 特許庁

2. Equipment (limited to those with exciting force of 5 kilonewtons or more) capable of generating vibrations with frequency range between 20 hertz and 2,000 hertz and effective rate of acceleration of 98 meters per second squared or more in a state with no test object present, or those capable of generating sounds with sound pressure level of 140 decibels or more when the reference sound pressure is 20 micropascals, or those with total rated acoustic output of 4 kilowatts or more 例文帳に追加

(二) 周波数範囲が二〇ヘルツ以上二、〇〇〇ヘルツ以下で、かつ、試験体がない状態における加速度の実効値が九八メートル毎秒毎秒以上の振動を発生させることができるもの(加振力が五キロニュートン以上のものに限る。)又は基準音圧が二〇マイクロパスカルの場合の音圧レベルが一四〇デシベル以上の音を発生させることができるもの若しくは定格の音響出力の合計が四キロワット以上のもの - 日本法令外国語訳データベースシステム

Article 33 A person who intends to obtain the type certification set forth in Article 32, paragraph (1) or the authorization set forth in Article 32-2, paragraph (1), undergo the calibrations by the Director-General of the Japan Meteorological Agency set forth in the same paragraph, item (ii), Article 32-4, paragraph (1), item (i), or Article 32-7, paragraph (2), or take a verification test conducted by the Director-General of the Japan Meteorological Agency pursuant to the provisions of Article 32-14, paragraph (1) shall pay to the State a fee of which the amount is determined by Ordinance of the Ministry of Land, Infrastructure, Transport and Tourism in light of the actual cost. 例文帳に追加

第三十三条 第三十二条第一項の型式証明、第三十二条の二第一項の認定、同項第二号、第三十二条の四第一項第一号若しくは第三十二条の七第二項の気象庁長官による校正又は第三十二条の十四第一項の規定により気象庁長官が行う検定を受けようとする者は、実費を勘案して国土交通省令で定める額の手数料を国に納めなければならない。 - 日本法令外国語訳データベースシステム

In this semiconductor testing device constituted so that input terminals of the plurality of DUTs are connected in parallel, and that a test signal is applied thereto simultaneously, the plurality of DUTs are mounted on a common DUT interface board, and a wiring pattern distributed in the branched state to the plurality of DUTs is branched at one branch point, and formed so that each length from the branch point to each DUT point is set to be equal.例文帳に追加

複数のDUTの入力端子を並列接続して試験信号を同時に印加するように構成された半導体試験装置において、 前記複数のDUTは共通のDUTインタフェースボードに実装され、前記複数のDUTに分岐配線する配線パターンは1箇所の分岐点で分岐され、この分岐点から各DUT点までが等しい長さになるように形成されていることを特徴とするもの。 - 特許庁

Because the values of A and B in a multiplexer 13 are in a reversal state, a fault is detect by a special test bench by outputting whether the value is from a clocked buffer of the multiplexer 13 or a clocked buffer to an arbitrary terminal of a LSI chip, therefore a fault of the clocked buffer set in the multiplexer 13 can be detected at the time of inspecting before the shipment.例文帳に追加

マルチプレクサ13のAおよびBの値が反転状態であることから、マルチプレクサ13のクロックドバッファ13aを介した値なのか、あるいは、クロックドバッファ13bを介した値なのかをLSIチップの任意の端子に出力することにより、専用のテストベンチにて故障を発見するため、マルチプレクサ13に配置されたクロックドバッファ13aの故障を出荷検査時に発見することが可能となる。 - 特許庁

This contact state observation method and its device are characterized by collecting the charged particles generated at the friction contact part between a slider and a test subject by applying a positive or negative voltage, detecting the particles as a signal, detecting a signal of acoustic emission generated when part of the material of the subject is broken on the friction surface, starting simultaneously measurement of both signals, and integrating respective signals.例文帳に追加

本発明による接触状態観察方法およびその装置は、プラスあるいはマイナスの電圧を印加することによりスライダーと被検体との摩擦接触部で発生する荷電粒子を捕集し、これを信号として検知するとともに、被検体の材質の一部が摩擦面で破壊するときに発生するアコースティックエミッションの信号を検知し、両者の信号を同時に計測開始し、それぞれの信号を積算することを特徴とする。 - 特許庁

To provide a method of manufacturing a reliable solid-state electrolytic capacitor that holds necessary chemical equivalence even when a film of a conductive polymer is processed in an electrolyte after being formed, and has a small increase in equivalent series resistance even when a reflow and a heat cycle test are conducted.例文帳に追加

弁作用金属からなる焼結体に酸化皮膜を形成し、この酸化皮膜に導電性高分子層及び陰極層を順次積層したコンデンサ素子に樹脂からなる外装を形成し、その後電解液中で電圧を印加したエージング処理する導電性高分子固体電解コンデンサの製造方法において、導電性高分子の膜を形成後に、電解液中で処理をしても、必要な化学当量が保持されるとともに、リフローやヒートサイクル試験を行っても等価直列抵抗が増加することが少ない、信頼性の高い固体電解コンデンサの製造方法を提供すること。 - 特許庁

In this program to be tested resources competition testing method for verifying an operation about competition of computer resources for a program 2 to be tested being a test target operating on a computer, a competitive program 4 having a function for creating a competing state of the computer resources gives disturbance to processing of the program 2 to be tested to verify the operation by intentionally using applicable resources to the computer resources.例文帳に追加

コンピュータ上で動作するテスト対象の被テストプログラム2に対し、コンピュータ資源の競合に関して動作検証する被テストプログラム資源競合テスト方法において、コンピュータ資源に対して意図的に該当資源を使用することで、コンピュータ資源の競合状態を作り出す機能を有する競合プログラム4により、被テストプログラム2の処理に外乱を与えて前記動作検証を行う。 - 特許庁

(3) When obstacles are about to be felled or removed pursuant to the provisions of paragraph (1) (excluding cases in which obstacles are about to be removed or felled in line with a test drilling or boring of land), if it is difficult to obtain the consent of the owners and possessors of the obstacles due to their absence from the place, and when felling or removal does not incredibly damage the existing state, the Minister of Land, Infrastructure, Transport and Tourism, the Prefectures, the municipalities or and individuals ordered or commissioned thereby may, upon obtaining the permission of the mayors of the municipalities that have jurisdiction over the area in which said obstacles located, immediately fell or remove said obstacles, notwithstanding the provisions of the preceding two paragraphs. In such cases, they must notify the owners and possessors without delay that they have felled or removed said obstacles. 例文帳に追加

3 第一項の規定により障害物を伐除しようとする場合(土地の試掘又はボーリングに伴う障害物の伐除をしようとする場合を除く。)において、当該障害物の所有者及び占有者がその場所にいないためその同意を得ることが困難であり、かつ、その現状を著しく損傷しないときは、国土交通大臣、都道府県若しくは市町村又はその命じた者若しくは委任した者は、前二項の規定にかかわらず、当該障害物の所在地を管轄する市町村長の許可を受けて、ただちに、当該障害物を伐除することができる。この場合においては、当該障害物を伐除した後、遅滞なく、その旨をその所有者及び占有者に通知しなければならない。 - 日本法令外国語訳データベースシステム

例文

Article 90 (1) The provision of Article 34 shall apply mutatis mutandis to the registration of Prefectural Associations, the provisions of Article 37, Article 37-7, Article 38-3, paragraph (2), Article 38-4, Article 38-6 to Article 38-8, Article 58, Article 60 to Article 62, Article 63, paragraph (3), paragraph (5) (excluding the part pertaining to the president), paragraph (6) and paragraph (8) (excluding the part pertaining to the president), Article 64, Article 65 (excluding the part pertaining to the president), Article 66, paragraph (2) to paragraph (4), Article 68, Article 69, and Article 73 to Article 75 of this Act and Article 4 and Article 78 of the Act on General Incorporated Associations and General Incorporated Foundations shall apply mutatis mutandis to the establishment, management and operation of Prefectural Associations, and the provisions of Article 40-2, Article 41-2, Article 41-4, Article 41-5, Article 41-7 to Article 41-10, Article 42-2 to Article 42-8, Article 70 to Article 72, and Article 75 shall apply mutatis mutandis to the dissolution and liquidation of Prefectural Associations. In this case, the term "the preceding Article" in Article 41-4 shall be deemed to be replaced with "Article 71 as applied mutatis mutandis pursuant to Article 90, paragraph (1);" the term "the Minister of Health, Labour and Welfare" in Article 61, Article 62, paragraph (2), Article 64, paragraph (2), Article 70, paragraph (2), Article 71, Article 72, paragraph (1), Article 73, Article 74, paragraph (1) and Article 75 shall be deemed to be replaced with "the prefectural governor;" the term "Central Trade Skill Test Commissioners" in Article 62, paragraph (1), item (ix) shall be deemed to be replaced with "Prefectural Trade Skill Test Commissioners;" and the term "the State" in Article 72, paragraph (3) shall be deemed to be replaced with "prefectures." 例文帳に追加

第九十条 第三十四条の規定は都道府県協会の登記について、第三十七条、第三十七条の七、第三十八条の三第二項、第三十八条の四、第三十八条の六から第三十八条の八まで、第五十八条、第六十条から第六十二条まで、第六十三条第三項、第五項(理事長に係る部分を除く。)、第六項及び第八項(理事長に係る部分を除く。)、第六十四条、第六十五条(理事長に係る部分を除く。)、第六十六条第二項から第四項まで、第六十八条、第六十九条並びに第七十三条から第七十五条まで並びに一般社団法人及び一般財団法人に関する法律第四条及び第七十八条の規定は都道府県協会の設立、管理及び運営について、第四十条の二、第四十一条の二、第四十一条の四、第四十一条の五、第四十一条の七から第四十一条の十まで、第四十二条の二から第四十二条の八まで、第七十条から第七十二条まで及び第七十五条の規定は都道府県協会の解散及び清算について、それぞれ準用する。この場合において、第四十一条の四中「前条」とあるのは「第九十条第一項において準用する第七十一条」と、第六十一条、第六十二条第二項、第六十四条第二項、第七十条第二項、第七十一条、第七十二条第一項、第七十三条、第七十四条第一項及び第七十五条中「厚生労働大臣」とあるのは「都道府県知事」と、第六十二条第一項第九号中「中央技能検定委員」とあるのは「都道府県技能検定委員」と、第七十二条第三項中「国」とあるのは「都道府県」と読み替えるものとする。 - 日本法令外国語訳データベースシステム

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※この記事は「日本法令外国語訳データベースシステム」の2010年9月現在の情報を転載しております。
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