「test state」に関連した英語例文の一覧と使い方(11ページ目) - Weblio英語例文検索

To provide a testing apparatus for a vehicle which is capable of improving reliability of test results and ensuring safety by confirming fixed state of a test vehicle set on a chassis dynamometer, detecting it when the preparation of test is incomplete or insufficient, and disturbing the continuation of the improper test due to carelessness of workers.例文帳に追加

シャシダイナモメータ上にセットする試験車両の固定状態を確認して、試験の準備が未完または不十分である場合にはこれを検知して、作業者の不注意による不適切な試験の続行を阻止することにより、試験結果の信頼性を向上させると共に安全性を確保できる車両の試験装置を提供する。 - 特許庁

To provide a semiconductor integrated circuit testing device and a test method enabling an operator to easily grasp the test state of each lot even if a semiconductor integrated circuit of a different lot is arranged in a furnace of a thermostat used when performing a burn-in test, capable of shortening furthermore a time required for the test, and hereby capable of reducing a manufacturing cost of the semiconductor integrated circuit.例文帳に追加

バーンイン試験を行う際に用いられる恒温層の炉内に異なるロットの半導体集積回路が配置されていても、作業者が各ロット毎の試験状況を容易に把握することができるとともに、試験に要する時間を更に短縮することができ、ひいては半導体集積回路の製造コストを低下させることができる半導体集積回路試験装置及び試験方法を提供する。 - 特許庁

Each of a plurality of stacked semiconductor chips 21 to 24 comprises: a bump electrode BP_0; a test pad PAD_0; a test buffer TD_0 that receives signals, which are supplied from the test pad, and supplies it to the bump electrode; and a buffer control part BC that supplies control signals which control the active/inactive state of the test buffer.例文帳に追加

積層された複数の半導体チップ２１〜２４のそれぞれが、バンプ電極ＢＰ＿０と、テストパッドＰＡＤ＿０と、テストパッドから供給される信号を受け取りバンプ電極に供給するテストバッファＴＤ＿０と、テストバッファの活性状態と非活性状態とを制御する制御信号を供給するバッファ制御部ＢＣとを含む。 - 特許庁

A storage-determining section 7 inputs the surface temperature information on the test device 30; compares a predetermined temperature Ts, stored previously when the test device 30, is properly sucked and fixed to the pressing element 22 with the monitored surface temperature of the test device 30; and determines the quality of the contact state of the sucked and fixed test device 30.例文帳に追加

記憶・判定部７は、テストデバイス３０の表面温度情報が入力され、予め記憶されているテストデバイス３０が押圧子２２に良好に吸引固定されたときの所定温度Ｔｓとモニターされたテストデバイス３０の表面温度を比較し、吸引固定されたテストデバイス３０の接触状態の良否を判定する。 - 特許庁

In this method for measuring a test substance by adding the test substance and a reactive substance for generating an insoluble high molecular complex by reacting with the test substance in a liquid phase, an adding substance having reactivity equal to the test substance is mixed with the reactive substance in the liquid phase, and is reacted in a jacking-up state covering a detecting limit with every so-called measuring apparatus.例文帳に追加

液相中において被験物質とその被験物質に反応して不溶性の高分子複合体を生じる反応性物質とを添加することにより被験物質を測定する方法であって、液相中には、反応性物質に対して被験物質と同等の反応性を有する添加物質を混合させておき、いわゆる測定器毎の検出限界をカバーするゲタを履かせた状態として反応させることを特徴とする。 - 特許庁

The endurance test method for an optical product includes: a scratch resistance test process for pressing a scratch part to an optical product in the state that a prescribed load is imposed and performing relative exercise of the optical product and the scratch part; and a synthetic sweat test method for immersing the optical product after the scratch resistance test process in synthetic sweat for a prescribed period of time.例文帳に追加

光学製品の耐久性試験方法において、光学製品に擦傷部を所定の荷重がかかる状態で押し付け、光学製品と擦傷部を相対運動させる耐擦傷性試験工程と、当該耐擦傷性試験工程後の前記光学製品を、所定時間人工汗に浸漬させる人工汗試験工程を備えさせる。 - 特許庁

The server is provided with a server side test information communication section 12 for receiving the test signal, and a non-connection apparatus information acquisition section that detects the metering apparatus 1 in which the lapse of time after reception of the test signal is a prescribed time or over, or the metering apparatus 1 without receiving the test signal within a prescribed time as an apparatus with an improper connection state.例文帳に追加

サーバー側には、このテスト信号を受信するサーバー側テスト情報通信部１２と、テスト信号受信後の経過時間が所定の時間以上である検針機器１、もしくは、所定時間内にテスト信号の受信が無い検針機器１を接続状態が不良なものとして検出する非接続機器情報取得部を設ける。 - 特許庁

A test piece 9 is arranged between an input rod 2 and an output rod 3 via a replaceable collision plate 8, the test piece 9 is compressed in a state of not exerting influence of bending force, and a dynamic compression breaking test is performed by replacing the collision plate 8 without replacing the input rod 2 and the output rod 3 to obtain test data for evaluating dynamic compression breaking strength of a ceramic material.例文帳に追加

交換可能な衝突板８を介して入力ロッド２と出力ロッド３の間に試験片９を配置し、曲げ力の影響を与えない状態で試験片９を圧縮し、入力ロッド２と出力ロッド３を取り替えることなく衝突板８を交換することで、動的圧縮破壊試験を実施してセラミックス材料の動的圧縮破壊強度を評価する試験データを得る。 - 特許庁

The method for deciding the write current for the magnetic memory cell includes a step for supplying test write current for the test magnetic memory cell, a step for determining the response to the switching for the test magnetic memory cell by detecting a magnetization state for the test magnetic memory cell and a step for generating the write current having the quantity dependent on the switching response.例文帳に追加

磁気メモリセルのための書込み電流を決定するための方法は、テスト磁気メモリセルにテスト書込み電流を供給するステップと、テスト磁気メモリセルの磁気状態を検知してテスト磁気メモリセルの切替え応答を判定するステップと、切替え応答に依存する量を有する書込み電流を生成するステップを含む。 - 特許庁

An internal voltage switching control circuit 110 generates control signals VUP and VWD in accordance with test mode signals /TACU, /TACD and /TSBU, and /TSBD set independently in an active state and a standby state respectively at the time of an operation test.例文帳に追加

内部電圧切換制御回路１１０は、動作テスト時において、アクティブ状態およびスタンドバイ状態のそれぞれにおいて独立に設定されるテストモード信号／ＴＡＣＵ，／ＴＡＣＤおよび／ＴＳＢＵ，／ＴＳＢＤに応じて、制御信号ＶＵＰおよびＶＤＷを生成する。 - 特許庁

To provide an operation method for a pressurized-fluidized combined power generation plant in multi-coal type burning test, capable of performing operation adapted to an operation state by clarifying the criterion for whether the operation state in the multi-coal type burning test is poor, and an operation management device for managing the operation.例文帳に追加

多炭種燃焼試験時の運転状態が不良である否かの判定基準を明確し、運転状態に適応した運転を行うことが可能な多炭種燃焼試験時の加圧流動床複合発電プラントの運転方法及びこれら運転を管理する運転管理装置を提供する。 - 特許庁

To provide a state evaluation method capable of quantitatively evaluating the state of a measuring target in a case for continuously monitoring the destructive behavior of a film, using an acoustic emission (AE) method, for example, in a high-temperature tensile test or a heat cycle oxidation test.例文帳に追加

本発明は、例えば、高温引張試験及び熱サイクル酸化試験にアコースティックエミッション（AE）法を用いて皮膜の破壊挙動を連続的にモニターする場合等において、測定対象物の状態を定量的に評価が可能な状態評価方法を提供することを目的とする。 - 特許庁

The controller 100 controls the air conditioner 7 so that the output of the air conditioner in a first state where the capacity changing member 10 is provided in the test chamber 5 is smaller than that in a second state where the capacity changing member 10 is not provided in the test chamber 5.例文帳に追加

そして、制御装置１００は、試験室５内に容量変更部材１０が設けられた第１の状態において、空調機器７の出力が試験室５内に容量変更部材１０が設けられていない第２の状態におけるよりも小さくなるように、空調機器７を制御する。 - 特許庁

To provide a testing and evaluating method of an electronic part capable of shortening the period required in a heat shock test, capable of simply performing work for confirming the deteriorated state of the jointing part of an electronic component, after the heat shock test in a short time and is capable of simply and precisely evaluating the deteriorated state.例文帳に追加

熱衝撃試験に要する期間を短縮することができ、また、熱衝撃試験後の電子部品の接合部の劣化状態を確認する作業を短時間でかつ簡単に行うことができ、しかも劣化状態を簡易に、精度良く評価することのできる電子部品の試験評価方法を提供すること。 - 特許庁

To obtain a device for inspecting the sealed state of a connected pipe joint capable of obtaining reliable test results by speedily supplying and discharging water from a test band for testing the sealed state of the sealed part of the pipe joint and performing pressure-proof tests by a manual pressurization.例文帳に追加

接続した管継手のシール部のシール性を試験するためのテストバンドへの給排水を迅速に行ない、しかも耐圧試験は手動加圧とすることにより確実な試験結果の得られる管継手の密閉性検査装置を得ることを課題とする。 - 特許庁

To provide a technique that it is possible for an operator to visually recognize to which cell the connection state has been transferred at what time, and whether the transition is a success or a failure, and for the operator to visually recognize the state of progress of the test in the case of the connection test by a virtual base station.例文帳に追加

擬似基地局による接続試験において、どの時間経過において接続状態がどのセルへ遷移し、その遷移が成功か不成功かを、視覚視認できるようにするとともに、併せて試験の進捗状況を視認できるようにすることを目的とする。 - 特許庁

When a test image to confirm the operation states of the printing elements is printed and outputted by a printing device 12, referring to the test image, the operator inputs the number and operation state of the malfunction printing element through an operation section 16, then, an operation reception section 102 receives information on the operation state.例文帳に追加

印字素子の動作状態を確認するための試験画像を印刷装置１２が印刷出力すると、操作者はこの試験画像を参照し、動作不良の印字素子の番号と動作状態とを操作部１６から入力し、操作受付部１０２が動作状態に関する情報を受け付ける。 - 特許庁

The accelerated corrosion resistance test is performed for the execution time (T') determined on the basis of the test time for the steel member in the contact state with the concrete so that the state is approximately the same as the actual use condition, and the corrosion amount of the steel member is measured.例文帳に追加

そして、実際の使用状態とほぼ同じ状態になるように、コンクリートに接触させた状態にある鋼材に対して促進腐食試験を前記の試験時間に基づいて得られた実行時間(Ｔ′)だけ行って、その鋼材の腐食量を測定する。 - 特許庁

Then, the test tubes during feed are set to a vertical state from a horizontal state by the charging chute provided on the terminal side of a feed-out conveyor and the test tubes are supplied in the holding holes of the rack standing by under the charging chute in a vertical posture.例文帳に追加

そして、搬出コンベアの終端側に設けた投入シュートで搬送中の試験管を水平状態から垂直状態となるようにし、垂直姿勢のまま投入シュート下方で待機するラックの保持孔へ立てた状態で試験管を供給するようにしている。 - 特許庁

After bringing the ASW 1-n into a nonconducting state by two types of OFF-state voltages Vgs with different voltage values and holding signals for test written in auxiliary capacitances 13 for a predetermined time, the written signals for test are each read, and signal waveforms obtained from the two signals for test are compared with each other to facilitate the determination of the presence or absence of off-leak failures and classification.例文帳に追加

電圧値の異なる２種類のオフ電圧ＶｇｓでそれぞれＡＳＷ１〜ｎを非導通状態とし、補助容量１３に書き込んだテスト用信号を所定時間保持した後、それぞれ書き込んだテスト用信号を読み取り、２つのテスト用信号から得られた信号波形を比較してオフリーク不良の有無や分類を容易にした。 - 特許庁

A semiconductor device is provided with a chip selecting circuit 10 responding to an input signal and outputting a selecting signal making an internal circuit active, and a test circuit 26 responding to a test input signal and outputting a test active signal switching forcedly an internal circuit to an active state independently of active/non-active state by a selecting signal.例文帳に追加

半導体装置は、入力信号に応答し、内部回路をアクティブにする選択信号を出力するチップセレクト回路１０と、テスト入力信号に応答し、選択信号によるアクティブ／非アクティブの如何に拘わらず内部回路を強制的にアクティブに切り替えるテストアクティブ信号を出力するテスト回路２６とを備えている。 - 特許庁

In a state where the automatic recovery function is not used, a shutter drive coil is excited by depressing a shutter opening and closing switch 12; a movable member 14 is displaced upward by the magnetic attraction of the shutter drive coil, and since a test plug insertion opening 4 is brought into open state; and a test plug can be inserted into the test plug insertion opening 4.例文帳に追加

自動復旧機能が不使用状態のときには、シャッタ開閉スイッチ１２の押下によって、シャッタ駆動コイルが励磁されて、シャッタ駆動コイルの磁気的引力によって、可動部材１４が上方に変位して、テストプラグ挿入口４が開放状態となり、テストプラグのテストプラグ挿入口４への挿入が可能となる。 - 特許庁

The JTAG test system includes a test data collection section 3 for collecting test data in synchronization with a clock with a TAP controller, and a JTAG analysis software processing section, and has a TAP state analysis processing section for performing TAP state analysis between the TAP controller 1 and the collection section 3.例文帳に追加

TAPコントローラとクロックに同期してテストデータ収集を行うテストデータ収集部とＪＴＡＧ解析ソフトウェア処理実行部とを含むＪＴＡＧテストシステムであって、TAPコントローラとテストデータ収集部の間に、TAPステート解析をリアルタイムで実行するTAPステート解析処理部を設けたことを特徴とするもの。 - 特許庁

In a state in which a fuse judging signal S1 is high, first judgement is performed by making a test mode signal TEST1 'high', after that, in a state in which the fuse judging signal is 'high', a test mode signal TEST2 is made to be 'low', while second judgement is performed by making the test mode signal TEST2 'low'.例文帳に追加

ヒューズ判定信号Ｓ１がハイとなっている状態で、テストモード信号ＴＥＳＴ１をハイとして第１の判定を行い、その後、ヒューズ判定信号Ｓ１がハイとなっている状態で、テストモード信号ＴＥＳＴ２をロウとすると共に、テストモード信号ＴＥＳＴ２をロウとして第２の判定を行う。 - 特許庁

A flow chart production part 20 analyzes a test target source code, and a state analysis part 40 extracts state transition information from an analysis result of the source code on the basis of a state variable supplied through a state variable editing part 60.例文帳に追加

フローチャート作成部２０が試験対象ソースコードを解析し、状態解析部４０は、状態変数編集部６０を介して供給される状態変数に基づいて、ソースコードの解析結果から状態遷移情報を抽出する。 - 特許庁

The water treating apparatus includes a switching mechanism such that, upon the stop of water treatment operation in the water treating part 1, the sensing part 4 is switched, from the state of contact with water within the test water container 3, to the state of noncontact with water, and is then switched again to the state of contact with water within the test water container 3.例文帳に追加

水処理部１における水の処理動作を停止した場合に感応部４が検水容器３内の水と接触している状態から感応部４が水に接触していない状態へと切り替え、次いで感応部４が検水容器３内の水と接触している状態へと切り替える切替機構を具備する。 - 特許庁

When this test case generation device makes the transition phenomena sequentially occur based on system operation specification description to generate the system state transition system, the test case generation device makes a scenario state transition system representing order restriction of the transition phenomena be simultaneously transited, and restricts the transition phenomenon made to sequentially occur to the transition phenomenon capable of transiting in the scenario state transition system.例文帳に追加

システム動作仕様記述に基づいて遷移事象を順次生起させてシステム状態遷移系を生成する際に、遷移事象の順序制約を表現するシナリオ状態遷移系も同時に遷移させ、順次生起させる遷移事象を、当該シナリオ状態遷移系で遷移可能なものに制限する。 - 特許庁

To regularly perform a calibration test in the state where a torque meter is normally mounted by constituting a torque calibrating apparatus in such a manner as to be capable of detecting whether the mounting state of the torque meter is normal or not.例文帳に追加

トルクメータの取付状態が正常であるか否かを検出可能にトルク校正装置を構成することによって、常に、トルクメータが正常に取り付けられた状態で校正試験が行われるようにする。 - 特許庁

A system 10 includes a source for providing the scan-in sequence 14 of the state data as the input simulation to test object devices DUT 18, and the scan-out sequence 16 of the predicted state data.例文帳に追加

システム(10)は、テスト対象装置(DUT)(18)への入力刺激としての状態データのスキャンインシーケンス(14)と予測された状態データのスキャンアウトシーケンス(16)を提供するためのソースを含む。 - 特許庁

In this case, output from the internal circuit 4 to a three-state control circuit 3 is set forcibly by state control circuits 5, 6, and various test operations to the output circuit 2 are performed.例文帳に追加

このとき、状態制御回路５，６により内部回路４からスリーステート制御回路３への出力が強制的に設定されて、出力回路２に対する各種テスト動作が行われる。 - 特許庁

If the coupling power level is not saturated and the corresponding coupling efficiency is as desired or higher, the state of the present test alignment is determined as the improved state of alignment.例文帳に追加

結合パワーレベルが飽和せずかつ対応する結合効率が所望の結合効率以上であれば、現在のテスト位置合わせ状態を改善された位置合わせ状態として決定する。 - 特許庁

A calculation part 45 of the regulator 4 checks the signal from the dew condensation detector 8 against corrosion state evaluation data and determines the dew condensation state of the test object W.例文帳に追加

また、調節器４の演算部４５は、結露検出器８からの信号と腐食状態評価データとを照合し被試験物Ｗの結露状態を判断する。 - 特許庁

To provide an IC tester predicting beforehand a hardware function necessary during execution of a test program, and switching one by one its current-sending state or its small power-consumption state.例文帳に追加

テストプログラム実行中に必要なハードウェア機能を事前に予知してその通電状態または低消費電力状態を逐一切り替えることを可能とするＩＣテスタを実現する。 - 特許庁

Since the pallet 16 is never conveyed outside the test tank 12, it is constantly maintained at a predetermined temperature state once it is heated or cooled to the predetermined temperature state.例文帳に追加

パレット１６は試験槽１２の外に搬出されることがないので、一旦所定温度状態に加熱または冷却された後は、常に所定温度状態に保持される。 - 特許庁

Since the pallet 16 is never conveyed outside the test tank 12, it is constantly maintained at a predetermined temperature state once it is heated or cooled to the predetermined temperature state.例文帳に追加

パレット１６は試験槽１２の外に搬出されることがないので、一旦所定温度状態に加熱あるいは冷却された後は、常に所定温度状態に保持される。 - 特許庁

To provide a socket test device and its method capable of testing whether each contact of a socket used for testing a semiconductor device is in a good state or in a bad state.例文帳に追加

半導体デバイスをテストするために用いられるソケットのコンタクタの良好及び不良状態をテストすることができるソケットテスト装置及びその方法を提供するにある。 - 特許庁

In a transmitting-side apparatus, switching means 14-16 switch a state to transmit a normal communication signal (modulation signal) and a state to transmit a test signal.例文帳に追加

送信側装置では、切り替え手段１４〜１６が、通常の通信信号（変調信号）を送信する状態と、テスト信号を送信する状態を切り替える。 - 特許庁

To provide a game machine capable of accurately executing a test based on a shift of a control state by accurately acquiring the shift of the control state of the game machine in a testing device side.例文帳に追加

試験装置側で遊技機の制御状態の遷移を正確に把握して正確な制御状態の遷移に基づいて試験を行うことができるようにした遊技機を提供すること。 - 特許庁

An external connecting pad 32 is connected electrically to an external pin 31 under the state of a package, and receives a test signal DQM applied to the external pin 31 under the state of the package.例文帳に追加

外部連結パッド32はパッケージ状態における外部ピン31と電気的に連結されるパッドであって、パッケージ状態で外部ピン31に印加されるテスト信号DQMを受信する。 - 特許庁

In a state that a body 1 under test is kept from being conveyed to a conveyance mechanism 2, that is, on condition comprising only an external electromagnetic noise environment condition, a connection state for minimizing the signal level of the combined detection signal is set in the selection part 16.例文帳に追加

そして、被検体１を搬送機構２に搬送させない状態、すなわち、外部の電磁ノイズ環境条件のみの条件において、合成検出信号の信号レベルが最小の接続状態を接続切換部１６に設定する。 - 特許庁

Then, the general controlling part detects normal or defective of the image state on these fixation test images by respectively comparing strength of these normal reflection light and the ideal strength thereof, and detecting the dispersion of the image state from the dispersion of the strength.例文帳に追加

そして統括制御部は、これら正反射光の強度とその理想強度とを比較してそれぞれの定着テスト画像の画像状態の良否を検出し、強度のバラツキから画像状態のバラツキを検出する。 - 特許庁

A meter reading apparatus state display part is provided for displaying to the operator unread meter reading apparatus information in association with unconnected state meter reading apparatus information wherein the test signals could not be received.例文帳に追加

また、未検針の検針機器情報と、テスト信号の受信ができなかった非接続状態の検針機器情報を関連づけてオペレータに表示する検針機器状態表示部を備える。 - 特許庁

A variable resistor (37) is turned into a low resistance state, during normal operation to reduce a signal delay and is switched to a high resistance state during test operation, since logic defects are generated by a leakage current.例文帳に追加

可変抵抗手段（３７）は、通常動作時には、信号遅延の低減を図るために低抵抗状態にされ、テスト動作時には、リーク電流に起因する論理不良を生じさせるために高抵抗状態に切り換えられる。 - 特許庁

At this time, operating states of other processors, whose operation state do not change, are changed from a normal run state into a test run states, as necessary.例文帳に追加

このとき、必要に応じて、動作状態が変化しなかった他のプロセッサの動作状態を通常走行状態から試験走行状態に遷移させる。 - 特許庁

To provide a game machine which can carry out a test based on a correct transition of the control state by accurately grasping the control state of the game machine on the side of a tester.例文帳に追加

試験装置側で遊技機の制御状態の遷移を正確に把握して正確な制御状態の遷移に基づいて試験を行うことができるようにした遊技機を提供すること。 - 特許庁