「testing, testing」に関連した英語例文の一覧と使い方(189ページ目) - Weblio英語例文検索

To provide an apparatus for testing packet transmission characteristics capable of analyzing whether streaming data can be reproduced in real time.例文帳に追加

本発明は、ストリーミングデータがリアルタイムで再生可能か否かを解析可能なパケット伝達特性試験装置の提供を目的とする。 - 特許庁

To provide a remote failure diagnosis method of devices by remote testing device which is connectable to devices to be tested through a communication network.例文帳に追加

通信ネットワークを介して被試験装置に接続可能な遠隔試験装置による装置の遠隔故障診断方法を提供する。 - 特許庁

The testing terminals 80, 81, 82 are electrically connected to the source lines 6, or the gate lines 3 or the counter electrode, respectively.例文帳に追加

検査用端子８０，８１，８２は、各ソース線６に、又は各ゲート線３に、又は対向電極に夫々電気的に接続されている。 - 特許庁

To provide a horizontal load testing method of pile for searching for dispersion in level resistance of the pile by a single static horizontal loading test.例文帳に追加

１回の静的水平載荷試験により杭の水平抵抗のばらつきを求める杭の水平載荷試験方法を提供する。 - 特許庁

In addition, the semiconductor testing device is provided with phase regulating circuits 22, 24, and 26 to each regulate the phase of the output of the pattern generators 14, 16, 18, and 20.例文帳に追加

また、パターン発生器１４，１６，１８，２０の出力各々の位相を調整する位相調整回路２２，２４，２６を備える - 特許庁

To provide a contact conduction unit applicable to a testing device or the like, having an elongated using lifetime and improved reliability.例文帳に追加

使用寿命が延長すると共に信頼性が向上し、試験装置等に適用することのできる接触通電装置を提供する。 - 特許庁

To provide a system and a method for testing tensile strength of a bond formed from a ball or a bump of molten material such as solder.例文帳に追加

半田などの溶融材料のボール又はバンプから形成されたボンドの引張強度を試験するシステム及び方法を提供すること。 - 特許庁

To provide a contact probe allowing easy and inexpensive maintenance of the contact probe and an electronic circuit testing device using it.例文帳に追加

コンタクトプローブのメンテナンスを簡単且つ安価に行うことが可能なコンタクトプローブ及びこれを用いた電子回路試験装置を提供する。 - 特許庁

To provide a method for testing a lighter eliminating the cost and the difficulty occurring when the lighter with fuel is distributed.例文帳に追加

燃料入りのライターが流通される場合に生じる費用と困難を排除することが可能なライターの試験方法を提供する。 - 特許庁

To provide a semiconductor device wherein a circuit node having any fault can easily be specified during testing even if shortcircuiting occurs in wiring.例文帳に追加

配線ショートがある場合にも、テスト時に不具合のある回路ノードを容易に特定することができる半導体装置を実現する。 - 特許庁

To provide a loading device capable of testing loadings with large instantaneous peak, while constraining jumboizing of device size.例文帳に追加

装置サイズの大型化を抑制しつつ、瞬時的に大きなピークを有する負荷の試験を行うことができる負荷装置を提供する。 - 特許庁

A signal pin in the LSI has a constitution of being equipped with the input-output terminal, an input-output circuit, the terminal resistance circuit and a testing circuit.例文帳に追加

ＬＳＩの信号ピンは入出力端子、入出力回路、終端抵抗回路とテスト用抵抗とを備えて構成されている。 - 特許庁

The resisters 12A to 12D, ... form a shift register, and carry out shift operations, thereby outputting the input signal to a testing pad TP1.例文帳に追加

レジスタ１２Ａ〜１２Ｄ、・・・は、シフトレジスタを形成し、シフト動作を行うことにより、取り込んだ信号をテスト用パッドＴＰ１へ出力する。 - 特許庁

To provide a semiconductor tester capable of reducing the test time for testing pass/fail of multi-value output.例文帳に追加

この発明は、多値出力のパス／フェールを試験する試験時間を短縮した半導体試験装置を提供することを課題とする。 - 特許庁

To provide an operation testing device for an elevator governor capable of conducting an operation test without removing a governor rope from a governor sheave.例文帳に追加

調速機ロープを調速機シーブから外すことなく動作試験を行うことができるエレベータ調速機の動作試験装置の提供。 - 特許庁

A control part 8 controls the power distribution system for testing based on calculated values concerning the voltages and currents from the measuring part 7.例文帳に追加

制御部８は、計測部７からの電圧及び電流に関する計算値に基づいた試験をするために配電系統を制御する。 - 特許庁

A chemical substance from the reactive flow is sent to a device for testing the physical properties of the chemical substance exhibiting the state of a chemical reaction.例文帳に追加

反応流からの化学物質が、化学反応の状態を示す化学物質の物理的性質を試験する装置に送られる。 - 特許庁

This SCC testing device 30 is provided with a seawater extracting tube 31 for extracting seawater introduced into the condenser 20 to the outside of it, a test piece formed of the same material as a possible part of a stress corrosion crack, a testing device part 32 communicated with the seawater extracting tube 31, and a seawater discharging tube 33 discharging seawater fed into the testing device part 32.例文帳に追加

ＳＣＣ試験装置３０を、復水器２０に導入される海水を復水器外へ抽出するための海水抽出配管３１と、応力腐食割れが懸念される部分の材質と同一の材質により作製された試験片と、海水抽出配管３１に連通接続する試験装置部３２と、試験装置部３２内に供給された海水を排出する海水排出管３３とを備えた構成とする。 - 特許庁

To provide a close-down apparatus for testing piping withstand pressure that can be easily fitted to piping and can be used repeatedly.例文帳に追加

配管への装着が容易で且つ何度も繰り返し使用することのできる配管耐圧試験用閉止装置を提供すること。 - 特許庁

A rail testing apparatus 1 is provided, which has a portal frame 2 and a rail side moving section 3 being attached to the portal frame 2 movably up and down.例文帳に追加

レール試験装置１は、門型フレーム２を有し、この門型フレーム２にはレール側移動部３が昇降自在に取り付けられている。 - 特許庁

The semiconductor circuits 101 are set in test mode for testing the operation of the plurality of semiconductor circuits 101 by the setting circuits 102.例文帳に追加

設定回路１０２により、半導体回路１０１を、複数の半導体回路１０１の動作を試験する試験モードに設定する。 - 特許庁

The drainage testing device (1) of an indoor unit of an air conditioner uses a powder source voltage different from the rated voltage of the air conditioner.例文帳に追加

空気調和機の定格電圧とは異なる電源電圧を用いる、前記空気調和機の室内機のドレン排水試験装置（１）。 - 特許庁

The present invention provides an improved IC tester for testing an object to be tested outputting a multistage voltages from a plurality of pins.例文帳に追加

本発明は、複数ピンから多段階電圧を出力する被試験対象を試験するＩＣテスタに改良を加えたものである。 - 特許庁

To provide a vibration testing device capable of performing a vibration test of vibrating a work with long period and large acceleration amplitude.例文帳に追加

長周期且つ大加速度振幅でワークを振動させるような振動試験を行うことが可能な振動試験装置提供する。 - 特許庁

To provide an apparatus and a method of electron beam testing of liquid crystal displays comprising non-uniform electrodes having a conductive portion and a dielectric portion.例文帳に追加

導電部と絶縁部を有する不均一電極を備えた液晶ディスプレイの電子ビームテスト装置及び方法を提供する。 - 特許庁

SEPARATION TOOL OF BLOOD PLASMA OR SERUM, SAMPLING METHOD OF BLOOD PLASMA OR SERUM, SEPARATION METHOD OF BLOOD PLASMA OR SERUM, TESTING CARRIER, AND GLASS FIBER例文帳に追加

血漿又は血清分離具、血漿又は血清の採取方法、血漿又は血清分離方法、試験担体及びガラス繊維 - 特許庁

To provide a D/A converter and an operation testing method thereof that can shorten a test time without using a high-precision voltmeter.例文帳に追加

高精度な電圧計を使用することなくテスト時間の短縮を図ることができるＤ／Ａコンバータ及びその動作テスト方法を得る。 - 特許庁

To provide a digital circuit capable of testing a particular digital circuit module in a short time with a simple and small scale structure.例文帳に追加

簡単かつ小規模な構成で、特定のデジタル回路モジュールのテストを短時間で行えるデジタル回路を提供することを目的とする。 - 特許庁

A circuit and a method for testing a memory cell of a ferroelectric memory device equipped with an array consisting of ferroelectric memory is provided.例文帳に追加

強誘電体メモリセルからなるアレイを具備する強誘電体メモリ装置のメモリセルをテストする回路及び方法が提供される。 - 特許庁

To provide a semiconductor testing device capable of enhancing computation efficiency of the device by making a using temperature of a semiconductor element proper.例文帳に追加

半導体素子の使用温度を適正化することにより装置の演算効率の向上ができる半導体試験装置を実現する。 - 特許庁

To make performable a burn-in test by control of a small number of pins by applying a memory BIST circuit and reducing a testing circuit inside a memory macro.例文帳に追加

メモリＢＩＳＴ回路を流用することで、メモリマクロ内のテスト回路削減し、少数ピンの制御によるバーンインテストを可能にする。 - 特許庁

Then, the transmitter transmits a stream for testing to the receiver, and the receiver performs a prescribed analysis for deriving analysis result information.例文帳に追加

次に、送信装置が、試験用ストリームを受信装置へ送信し、該受信装置が所定の解析をして、解析結果情報を導出する。 - 特許庁

A testing device 900 tests the communication controlling device 10 functioning as the monitor device monitoring communication data output from the sensor.例文帳に追加

試験装置９００は、センサから送信される通信データを監視する監視装置として機能する通信制御装置１０を試験する。 - 特許庁

To provide an engine testing method and device capable of securing safety as well as easily performing preparatory work before a test.例文帳に追加

安全性を確保でき、且つ、試験前の準備作業を簡単に行うことのできるエンジン試験方法および装置を提供する。 - 特許庁

To realize shortening of testing time in a burn-in acceleration test in a burn-in test method by shortening the burn-in time.例文帳に追加

本発明は、バーンインテスト方法に関し、バーンイン時間の短縮を図り、バーンイン加速試験の試験時間の短縮を実現するものである。 - 特許庁

To provide a semiconductor device comprising a scanning circuit which enables testing of a process monitor as well as semiconductor elements.例文帳に追加

半導体素子のみならず、プロセスモニタをも試験することができるスキャン回路を含む半導体装置を提供することを課題とする。 - 特許庁

A contactor 30 for testing has a measurement terminal 32 that is composed so that it is compressed to a terminal 1a of the plurality of semiconductor devices 1.例文帳に追加

試験用コンタクタ３０は、複数の半導体装置１の端子１ａに圧接されるよう構成された測定端子３２を有する。 - 特許庁

To provide a simple method of quickly testing performance of a cargo pump for a tanker with high reliability.例文帳に追加

タンカーにおけるカーゴポンプの性能試験方法において、簡略、かつ、迅速にして、信頼性の高い試験方法を得ることを目的とする。 - 特許庁

To provide a testing device capable of creating a test program where appropriate settling time detected automatically is reflected and reducing test costs.例文帳に追加

自動的に検出される適切なセットリングタイムが反映されたテストプログラムを作成し、テストコストを低減できる試験装置を提供する。 - 特許庁

To provide an apparatus for testing power transmission systems capable of sufficiently following high-frequency velocity variations of a dynamometer.例文帳に追加

ダイナモメータの高周波の速度変動に対しても十分に追従させることが可能な動力伝達系の試験装置を提供する。 - 特許庁

The first leg part 12a contacts with the surface of a testing body by the first apex 14a and the second apex 14b in a tip side.例文帳に追加

第１の脚部１２ａは、先端側の第１の頂点１４ａと第２の頂点１４ｂとで、試験体表面に接触する。 - 特許庁

To provide a semiconductor testing device which improves an operating ratio by shortening the time required for reloading pattern data after memory diagnosis.例文帳に追加

メモリ診断後のパターンデータの再ロードにかかる時間を短縮し、稼働率を上げることが可能な半導体試験装置を実現する。 - 特許庁

To provide a testing method which tests certainly and readily a defoaming performance of a drip-proof material for preventing a wetness in electronic parts.例文帳に追加

電子部品の防湿を行なう防滴材の消泡性能を、確実且つ容易に検査することのできる検査方法を提供する。 - 特許庁

The kit for measuring the propagation and/or activity of the microorganisms or a kit for testing microorganisms contain the oxidation reduction pigment and the electron transporting material.例文帳に追加

酸化還元色素と電子伝達体とを含む微生物の増殖及び／又は活性測定用キットまたは微生物検査用キット。 - 特許庁

Before testing the lead element 211 in a manufacturing process of a head gimbal assembly, charge on transmission lines 135a, 135b of a trace is discharged.例文帳に追加

ヘッド・ジンバル・アセンブリの製造工程において、リード素子２１１のテスト前に、トレースの伝送線１３５ａ、ｂ上の電荷をディスチャージする。 - 特許庁