「testing, testing」に関連した英語例文の一覧と使い方(188ページ目) - Weblio英語例文検索

To shorten the test time of testing a device under test including a scan chain comprising a plurality of flip-flops.例文帳に追加

複数のフリップフロップから構成されるスキャンチェインを有する被試験デバイスの試験の試験時間の短縮化を図ることを目的とする。 - 特許庁

To provide a cable defect simulation method, capable of significantly reducing the testing cost of reliability, and a discharge tester.例文帳に追加

信頼性を試験する経費を相当に低減することのできるケーブルの欠陥シミュレーション方法および放電試験器を提供する。 - 特許庁

To provide a memory device allowing a simultaneous testing of plural memory devices each having an address space whose size is different from one another.例文帳に追加

アドレス空間の大きさが異なる複数のメモリ装置を同時にテストすることができるメモリ装置を提供することを課題とする。 - 特許庁

A vibration testing device 100 places the object 13 to be tested in a 1 freedom degree system on a table 1 and excites the object to be tested by a shaker 2 for excitation tests.例文帳に追加

振動試験装置１００は、一自由度系の被試験体１３をテーブル１に搭載し、加振機２で加振して加振試験する。 - 特許庁

To provide a semiconductor device capable of shortening time for development of the semiconductor device, and to provide a method of testing the semiconductor device.例文帳に追加

半導体装置の開発時間を短縮することができる半導体装置及び半導体装置の試験方法を提供すること。 - 特許庁

To facilitate testing disconnection between IC chips in a semiconductor integrated circuit including a plurality of IC chips in a package.例文帳に追加

１つのパッケージに複数のＩＣチップが内蔵された半導体集積回路において、ＩＣチップ間の断線テストを容易に実現する。 - 特許庁

To provide drop testing equipment which can automatically altering a plurality of the predetermined dropping postures to a landing surface of a test target.例文帳に追加

試験対象物の着地面への複数の所定の落下姿勢を自動的に変更することが可能な落下試験装置を提供する。 - 特許庁

To provide a test tool and a test method for efficiently testing basic software corresponding to the difference of the specifications of hardware.例文帳に追加

ハードウェアの仕様の違いに対応した基本ソフトウェアを効率的にテストする、テストツール及びテスト方法を提供することができる。 - 特許庁

To provide an apparatus for testing desulfurization in which design values necessary for designing an apparatus for desulfurizing an organism can accurately be determined.例文帳に追加

生物脱硫装置を設計するために必要な設計値を精度良く求めることができる脱硫試験装置を提供する。 - 特許庁

To provide a semiconductor integrated circuit device that reduces the number of electrodes included in a measurement patterns, and to provide a method of testing the same.例文帳に追加

測定パターンに含まれる電極数を低減することのできる、半導体集積回路装置、及びそのテスト方法を提供する。 - 特許庁

To provide a method for easily and quickly testing genetic toxicity, capable of applying to several mg of a quantity of a specimen.例文帳に追加

本発明の課題は、数ｍｇの検体量に適用可能であり、簡便かつ迅速な遺伝毒性の試験法を提供することにある。 - 特許庁

To improve efficiency in testing by quickly and easily performing suspension work of an object to be tested when performing a drop test repeatedly and continuously.例文帳に追加

落下試験を繰り返し連続的に行う際に、被試験体の吊上げ作業が短時間で簡単にできて試験効率を良くする。 - 特許庁

To provide a semiconductor inspection device and a method of inspecting a semiconductor device for testing contact resistance under the same conditions.例文帳に追加

接触抵抗が同じ条件でテストを行うことができる、半導体検査装置、及び半導体装置の検査方法を提供する。 - 特許庁

The device 100 for testing flexibility includes a pendulum mechanism 10, a driving mechanism 20, a ball screw actuator 23 and a back and forth moving mechanism 30.例文帳に追加

耐屈曲性試験装置１００は、振り子機構１０、駆動機構２０、ボールねじアクチュエータ２３および往復機構３０を備える。 - 特許庁

To provide an environmental testing device, provided with a shielding function capable of shielding an electromagnetic wave to measure an accurate temperature/humidity.例文帳に追加

この発明は、電磁波をシールドして正確な温・湿度の測定を行うことができるシールド機能を備えた環境試験器に関する。 - 特許庁

BIOCHEMICAL REACTION CARTRIDGE, BIOCHEMICAL RECTOR, AND BIOCHEMICAL REACTION TESTING SYSTEM USING THE BIOCHEMICAL REACTION CARTRIDGE AND THE BIOCHEMICAL RECTOR例文帳に追加

生化学反応カートリッジ、生化学反応装置および生化学反応カートリッジと生化学反応装置を用いた生化学反応検査システム - 特許庁

An adjustment value s of spatial resolution and an adjustment value z of time resolution are output to a testing terminal 17 without restriction.例文帳に追加

検査用端子１７には、空間解像度の調整値ｓ及び時間解像度の調整値ｚが垂れ流し的に出力されている。 - 特許庁

To provide a floor material testing apparatus capable of applying load to a floor material in a state nearer to the walking of a person to perform a test.例文帳に追加

人の歩行により近い状態で床材に荷重をかけて試験を行うことができる床材の試験装置を提供する。 - 特許庁

To provide a test device of a turbocharger capable of testing the turbocharger by easily adjusting the number of revolutions of the turbocharger to a predetermined value.例文帳に追加

容易にターボチャージャの回転数を所定値に調整して、試験することを可能にするターボチャージャの試験装置を提供する。 - 特許庁

To decrease the scale of a microcomputer for testing a memory part and a logic part, and to eliminate the wasted time of the test to shorten a test time.例文帳に追加

メモリ部及びロジック部をテスト可能なマイコンを小規模化し、かつテストにおける無駄な時間を解消し、テスト時間を短縮する。 - 特許庁

The vehicle testing apparatus 30 includes an actuator 40; a pneumatic-pressure-generating device 70; a pneumatic-pressure control device 71; and a control unit 72.例文帳に追加

車両試験装置３０は、アクチュエータ４０と、空圧発生装置７０と、空圧制御装置７１と、制御装置７２とを備える。 - 特許庁

To provide a simple dynamic cone penetration testing machine advantageous from a view to eliminate an irregularity in measuring result while reducing the load of a worker.例文帳に追加

作業者の負担を軽減しつつ測定結果のばらつきをなくす上で有利な簡易動的コーン貫入試験装置を提供する。 - 特許庁

To provide a measurement program starting method that can appropriately prevent unauthorized use of a measurement program that runs on a testing apparatus.例文帳に追加

試験装置において動作する測定プログラムを不正に利用されるのを適正に防止できる測定プログラム起動方法を提供する。 - 特許庁

This makes it possible to determine in which chip defective wire connection exists from the size of an electric current passed through a connection circuit in testing.例文帳に追加

これにより、テスト時に接続回路に流した電流の大きさから、いずれのチップにワイヤ接続の不良があるのかを判別できる。 - 特許庁

To provide a fretting corrosion testing device capable measuring accurately frictional force generated between test pieces when conducting a fine sliding test.例文帳に追加

微摺動試験を行う際に試験片間に生じる摩擦力を正確に測定できるフレッチング腐食試験装置を提供する。 - 特許庁

A test data generation means 53 generates test alarm data for testing the operation of the information processing means 51 in accordance with user's operation.例文帳に追加

テストデータ生成手段５３は、ユーザの操作に従って、情報処理手段５１の動作をテストするためのテスト用アラームデータを生成する。 - 特許庁

To perform a load test without using a network test tool (load tester), in a repeater provided with a load testing function.例文帳に追加

負荷試験機能を備えた中継装置に関し、ネットワークテストツール（負荷試験機）を用いることなく、負荷試験を行うことを可能にする。 - 特許庁

According to the bubble point testing prescribed in JIS K3832, the lowest pressure producing continuously bubbles is 0.05-1.5 MPa.例文帳に追加

ＪＩＳ Ｋ３８３２に規定されているバブルポイント試験法において、気泡が連続的に生じる最低圧力は０．０５〜１．５ＭＰａである。 - 特許庁

To facilitate an access to each board, even when a large number of boards are fitted in a testing device for semiconductor integrated circuits.例文帳に追加

半導体集積回路の試験装置に多数の基板を組み込んだ状態であっても、個々の基板に対するアクセスを容易化する。 - 特許庁

By monitoring the output signals C1 to Cj in testing, it can be easily and accurately tested on whether the DLL circuit 2 is normal or not.例文帳に追加

テスト時の出力信号Ｃ１〜Ｃｊをモニタすることにより、ＤＬＬ回路２が正常か否かを容易かつ正確にテストできる。 - 特許庁

A testing device 900 tests a communication control unit 10 functioning as a protection device for protecting attack to a communication device.例文帳に追加

試験装置９００は、通信装置に対する攻撃を防御する防御装置として機能する通信制御装置１０を試験する。 - 特許庁

By using a measuring instrument 30 for calibration and inputting an error correction value in the digital display gauge 15, precision of a testing machine is improved by calibration.例文帳に追加

校正用計測器30を使用して、デジタル表示計15に誤差の補正値を入力して、校正することで試験機の精度を高める。 - 特許庁

To provide a network load testing method which can give a high load to a network adapter and further, does not need another communication path.例文帳に追加

ネットワークアダプタに高い負荷を与えることができ、さらに、別の通信経路を必要としないネットワーク負荷試験方法を提供する。 - 特許庁

An inert atmosphere testing device 30 is constituted of an air-tight box 20 with inert atmosphere and a heating furnace 1 connected with the air-tight box 20.例文帳に追加

不活性雰囲気試験装置３０は、不活性雰囲気の気密ボックス２０と、気密ボックス２０に連結された加熱炉１とから成る。 - 特許庁

The testing pad 105 is connected with an internal circuit 107 of the semiconductor device 101 via a fuse 108 and a switch 109.例文帳に追加

試験動作用パッド１０５は、半導体装置１０１の内部回路１０７とヒューズ１０８、スイッチ１０９を介して接続している。 - 特許庁

To provide a digital/analog conversion apparatus capable of achieving a high resolution inexpensively, and to provide a DC testing device using the same.例文帳に追加

安価に高分解能を実現することができるデジタルアナログ変換装置及びこれを用いた直流試験装置を提供する。 - 特許庁

To provide a method and a device, capable of testing a multiple memory array regarding multiplex processor cores (105-108) on a single computer chip (100).例文帳に追加

本発明の方法及び装置は、単一コンピュータチップ（100）上の多重プロセッサコア（105〜108）と関連する多重メモリメモリアレーの試験を可能にする。 - 特許庁

To provide a data display capable of easily comparing the changes in test execution time that accompany the correction of a device testing program.例文帳に追加

デバイスの試験用プログラムの修正に伴う試験実行時間の変化を容易に比較することができるデータ表示装置を提供する - 特許庁

To provide a network equipment test system and method for shortening a time for testing network equipment to reduce costs of the network equipment.例文帳に追加

ネットワーク機器の試験時間を短縮してネットワーク機器のコストを低減できるネットワーク機器試験システム及び方法を提供する。 - 特許庁

In a wafer testing process of a device, the capacity load of the variable dummy load 7 can be adjusted to its optimum value.例文帳に追加

本発明によれば、デバイスのウェハ試験工程において、可変ダミーロードの容量負荷を調整して最適値に設定することができる。 - 特許庁

The test terminal is disposed on an unnecessary portion of the semiconductor wafer 10, and when testing the semiconductor wafer 10, a tester 20 is connected to the test terminal 14.例文帳に追加

テスト端子１４は、半導体ウェハ１０の不要部に設けられ、半導体ウェハ１０のテスト時においてテスタ２０が接続される。 - 特許庁

DIAGNOSTIC COMPOSITION, ELEMENT, METHOD AND TESTING KIT FOR AMPLIFYING AND DETECTING TWO OR MORE DNAs HAVING SIMILAR MELTING POINTS例文帳に追加

似通った融点を有する２つ以上のＤＮＡを増幅及び検出するための診断用組成物、要素、方法並びに試験キット - 特許庁

To propose an environmental testing apparatus which can realize miniaturization of a temperature chamber, while securing the residence time of the works inside the chamber.例文帳に追加

ワークの槽内滞留時間を確保しつつ温度槽の小型化を達成することのできる環境試験装置を提案すること。 - 特許庁

In a dynamic load-testing device 1, load-generating devices b1 and b2 and displacement-measuring equipment c1 and c2 are installed on the upper surface of a substrate 8.例文帳に追加

動的負荷試験装置１は、基台８の上面に負荷発生装置ｂ１，ｂ２と変位測定器ｃ１，ｃ２とが設置されている。 - 特許庁

A test vehicle V is fixed through a belt 11 stretched between the test vehicle V loaded on a vehicle testing device and the device itself.例文帳に追加

車両試験装置上に積載された試験車両Ｖとの間に張架したベルト１１を介して、試験車両Ｖを固定する。 - 特許庁