「testing, testing」に関連した英語例文の一覧と使い方(187ページ目) - Weblio英語例文検索

The housing type aircraft ground testing equipment A comprises a resistance plate 10 situated in a given position situated downstream of an air introduction passage 1 of the aircraft ground testing equipment A and having a given size and a given aperture ratio; and an exhaust duct 20 through which exhaust gas from an engine is exhausted.例文帳に追加

航空機地上試験設備Ａの空気導入路１の下流所定位置に設けられた所定サイズで所定開口率の抵抗板１０と、エンジンからの排気を排出する排気ダクト２０とを備えてなる格納型航空機地上試験設備Ａである。 - 特許庁

To obtain a high-detection rate while expecting effects by a reduction in the number of pins and an increase in the speed of testing by performing a logic BIST test.例文帳に追加

ロジックＢＩＳＴテストを行なうことによるテストの高速化およびピン数削減の効果を期待しつつ、高検出率を得る。 - 特許庁

To provide a method and a device for holding a tire that can shorten a measuring cycle of dynamic unbalance of the tire and can simplify a tire testing machine.例文帳に追加

タイヤの動的不釣合測定サイクルを短くでき、タイヤ試験機を簡素化できるタイヤ保持方法及び保持装置の提供。 - 特許庁

To provide a liquid tank type thermal shock testing device capable of reducing a consumption by diffusion of a bath liquid, and suitable for a test for a long period.例文帳に追加

浴液の拡散による消費が少なく、長期間の試験にも適した液槽式冷熱衝撃試験装置を提供する。 - 特許庁

To provide a measuring control apparatus for a material testing machine having an operation part good in operability and capable of achieving the filling-up of visual data.例文帳に追加

操作性がよく視覚情報の充実が図られる操作部を備えた材料試験機用計測制御装置を提供する。 - 特許庁

To provide a tester device capable of suppressing useless power consumption, when testing a device to be tested formed on a wafer.例文帳に追加

ウエハーに形成されている被試験デバイスのテストを行う際における、無駄な消費電力の抑制を図ったテスター装置を提供する。 - 特許庁

To provide a test circuit for testing a synchronous memory circuit 3 which is operated with a high clock frequency and which is capable of adjusting test latency.例文帳に追加

高クロック周波数で動作する、テストレイテンシーが調節可能な、同期メモリ回路３をテストするためのテスト回路を提供する。 - 特許庁

Fixing members 6, 7 fix the support members 5 onto the ground surface plate 4, and fixing jigs 8 fix the testing object 1 onto the support parts 5.例文帳に追加

固定部材６，７は、移動地面板４上に支持部５を固定し、固定用治具８は試験対象物１を支持部５に固定する。 - 特許庁

The method prevents the dilution of a sample in an apparatus such as a diagnostic analyzer or an apparatus for immunohematological testing of blood.例文帳に追加

本方法は免疫血液のテストに用いる装置又は臨床分析器の如き装置におけるサンプルの希釈を阻止することに関する。 - 特許庁

The present invention provides an improved IC tester for testing a tested object, on the basis of the pattern data stored in a pattern memory.例文帳に追加

本発明は、パターンメモリに格納されたパターンデータに基づいて、被試験対象の試験を行うＩＣテスタに改良を加えたものである。 - 特許庁

To propose a bearing test device capable of accurately testing contact revolutions or the like of a hydrodynamic bearing without adopting the AE method.例文帳に追加

ＡＥ法を採用することなく、精度良く、動圧軸受の接触回転数等を検査可能な軸受検査装置を提案すること。 - 特許庁

The test result input section 22 receives the input of the test result of the test pattern carried out in the test pattern testing section 1 based on the evaluating conditions.例文帳に追加

試験結果入力部２２は、評価条件に基づき、テストパターン試験部１で行ったテストパターンの試験結果が入力される。 - 特許庁

To provide a penetration testing machine capable of recording a sound propagating a penetration rod and increasing the degree of accuracy of the estimation of a soil by the sound.例文帳に追加

貫入ロッドを伝播する音を記録し、音による土質の推定の精度を高めることができる貫入試験機の提供。 - 特許庁

Each logical part 5, 6, 7 receives the data to be stored in its new data area, and it transmits an answer through the LAN 2 to a monitoring and testing part 3.例文帳に追加

各論理部はそのデータを受信すると、自身の新データエリアに格納し、ＬＡＮ２を介してモニタ・試験部３にアンサを送信する。 - 特許庁

To provide a testing device of an A/D converter which measures nonlinear errors with high precise and substantially eliminates data processing time.例文帳に追加

高精度な非直線性誤差の測定を行い、且つデータ処理時間を大幅に削減するＡ／Ｄ変換器試験装置を提供する。 - 特許庁

To provide a programmable self-test controller useful in self-testing for many types of memory defects of different manufacturers or different design methods.例文帳に追加

メーカや設計方式が異なる種々のメモリの不良を自己テストするのに有用な、プログラム可能な自己テスト・コントローラを提供する。 - 特許庁

To provide a holder capable of improving measurement accuracy of characteristics of an object to be tested, and capable of composing a comparatively simple testing device, and a testing device provided with the holder in regard to a testing device applying acceleration to an object to be tested to investigate its characteristics.例文帳に追加

この発明は、特性に関する信号が出力される被試験体に所定の物理量が作用したときの少なくとも１の軸に関する該被試験体の特性について試験する試験装置に採用される保持具において、被試験体の特性の測定精度を向上できると共に試験装置を比較的単純に構成可能な保持具およびその保持具を備えた試験装置を提供することである。 - 特許庁

This system enables testing of communications equipment by using a modified test pattern which is more serviceable than standard test pattern.例文帳に追加

標準のテスト・パターンと比較して修正され、それよりも活用的なテスト・パターンを使用して通信機器をテストすることが可能である。 - 特許庁

To provide a load tester which accomplishes load testing under better desired conditions as done for flexible members such as anti-seismic rubbers.例文帳に追加

免震ゴムなどの可撓性部材を加力試験する際、より所望の条件下で加力試験できる加力試験装置を提供する。 - 特許庁

To provide a microcomputer capable of carrying out various self-tests including a function of a security circuit without providing a pad for testing on a chip.例文帳に追加

チップ上に試験用のパッドを設けずに、セキュリティ回路の機能を含む各種の自己試験ができるマイクロコンピュータを提供する。 - 特許庁

The machine for testing contour and barrier of the bottle 10 continuously-fed to two test stations through conveyor 12 is disclosed.例文帳に追加

コンベア１２により連続的に２つの検査ステーションに供給される瓶１０の輪郭及び壁を検査する機械が開示されている。 - 特許庁

To quickly make alignment of a lens under testing while capable of under standing the moving direction of the lens at the time of making the alignment of the point marking etc.例文帳に追加

被検レンズへ印点等のアライメントに際し、レンズの移動方向を一目で判断でき、アライメントを迅速に行えるようにする。 - 特許庁

To provide a life testing apparatus for portable terminals with sliding mechanism having high accuracy of a life test and inexpensively performing the test.例文帳に追加

寿命試験の精度が高く、しかも試験が安価に実施できる摺動機構付き携帯端末の寿命試験装置の提供。 - 特許庁

To provide a testing device for a signal protection system which can improve a test efficiency at a test of the signal protection system.例文帳に追加

信号保安システムの試験において試験効率を向上させることができる信号保安システムの試験装置を得ることである。 - 特許庁

To provide a materials testing machine capable of more rapidly and more surely reporting changes in the characteristics of a test object during a test to an operator.例文帳に追加

試験中における試験体の特性変化を、より早くより確実にオペレータに報知することができる材料試験機の提供。 - 特許庁

This semiconductor integrated circuit 1 has a memory function block 11 having a variable memory capacity, a functional block 12 and a terminal group 14 for testing.例文帳に追加

半導体集積回路１は、メモリ容量が可変のメモリ機能ブロック１１、機能ブロック１２、およびテスト用の端子群１４を備える。 - 特許庁

The cover 15 has an electromagnetic transparency capable of measuring the unnecessary radiation waves of the object 9 to be tested in the testing chamber 14.例文帳に追加

そして、カバー１５が、試験室１４内の被試験体９の不要輻射波を測定することが可能な電磁透過性を有している。 - 特許庁

To reduce the attenuation of a signal obtained during transmission, and further to accurately measure the electric characteristics of an object for testing with low signal attenuation.例文帳に追加

送信中に得られる信号の減衰を減らし、さらに、低い信号減衰で、テスト用物体の電気的特性を正確に測ること。 - 特許庁

To provide an apparatus and method for testing a device by which a test can be speeded up by shortening time for writing data.例文帳に追加

データの書込み時間を短縮することで試験の高速化を可能とするデバイス試験装置およびデバイス試験方法を提供する。 - 特許庁

To provide a sugar urine testing device suitably used in estimating and displaying a specific instantaneous sugar urine value, even when the sugar urine is measured at an indefinite time after eating.例文帳に追加

食後不定時に測定しても、所定の瞬間尿糖値を推測表示するに好適な尿糖検査装置を提供する。 - 特許庁

This method 100 and the device for testing the device using a transition stamp is used for evaluating an output signal of the device.例文帳に追加

遷移タイムスタンプを用いてデバイスを試験するための方法１００及び装置が、デバイスの出力信号を評価するのに使用される。 - 特許庁

The testing apparatus also includes a full-power converter assembly test connection (126/128) coupled to the electric power grid simulation device.例文帳に追加

試験装置はまた、電力送電網シミュレーション・デバイスに結合された全出力コンバータ・アセンブリ試験接続部（１２６／１２８）を備えている。 - 特許庁

A high-speed modulating clock signal is generated to allow a jitter testing to be conducted with a receiver combined with downstream.例文帳に追加

ダウンストリームに結合された受信器によってジッターテストを行うことを可能とするために高速変調クロック信号が発生される。 - 特許庁

To detect a differential nonlinear characteristic error and a miss code by a simple test procedure without requiring a special testing device outside.例文帳に追加

外部に特別な試験装置を必要とせず、簡単なテスト手順で微分非直線特性誤差及びミスコードの検出が可能とする。 - 特許庁

According to a result of the testing of the received date data, a subset of the plurality of tangible output templates is identified against the code data.例文帳に追加

受信した日付データのテストの結果にしたがって、複数の有形の出力テンプレートのサブセットがコード・データに照らして特定される。 - 特許庁

At the time of testing, write driver decoders WDC1 and WDC2 are driven in response to inputs to test decoding lines TL1 to TL4.例文帳に追加

テスト時において、テスト用のデコード線ＴＬ１〜ＴＬ４の入力に応答してライトドライバデコーダＷＤＣ１，ＷＤＣ２が駆動される。 - 特許庁

The second leg part 12b contacts with the surface of the testing body by the third apex 14c and the fourth apex 14d in the tip side.例文帳に追加

第２の脚部１２ｂは、先端側の第３の頂点１４ｃと第４の頂点１４ｄとで、試験体表面に接触する。 - 特許庁

(b) Does the Credit Management Division grasp the stress status of credit risks through stress testing based on comprehensive stress scenarios and make use thereof appropriately? 例文帳に追加

ｂ．与信管理部門は、ストレス・シナリオに基づくストレス・テストにより、信用リスクのストレス状況を把握し、適切に活用しているか。 - 金融庁

(ii) Is management of product data provided for use in system testing conducted appropriately, in accordance with the policy and procedures specified by the institution? 例文帳に追加

（ⅱ）本番データの貸与について、方針及び手続きに従った運用を行うなど、本番データの管理を適切に行っているか。 - 金融庁

To provide a tire pressure test device capable of efficiently and safely testing whether or not to endure a predetermined air pressure to be filled.例文帳に追加

充填される所定のエアー圧に耐えるか否かを、効率よくしかも安全にテストすることが出来るタイヤ耐圧テスト装置の提供。 - 特許庁

OPTICAL SIGNAL BIT RATE ADJUSTING APPARATUS, OPTICAL SIGNAL GENERATOR, OPTICAL TESTING APPARATUS, OPTICAL SIGNAL BIT RATE ADJUSTING METHOD AND PROGRAM, RECORDING MEDIUM例文帳に追加

光信号ビットレート調整装置、光信号発生装置、光試験装置、光信号ビットレート調整方法およびプログラム、記録媒体 - 特許庁

To provide a laboratory capable of lowering an average wind amount in the whole test, while ensuring a required wind velocity during actual testing.例文帳に追加

実試験時に必要な風速を確保しつつ、全試験中の平均風量を低下させることができる試験設備を提供すること。 - 特許庁

The semiconductor testing device 1 includes a driver pin block 11, a determination part 12 for adjustment, and a variable delay amount data generation part 14 or the like.例文帳に追加

半導体試験装置１は、ドライバピンブロック１１、調整用判定部１２、及び可変遅延量データ発生部１４等を備える。 - 特許庁

To provide a semiconductor device having a laminated layer CSP, which is capable of testing for every semiconductor chip at a low cost and has no restriction in a chip size.例文帳に追加

低コストで半導体チップ毎にテスト可能でチップサイズの制約のない積層ＣＳＰを有する半導体装置を提供する。 - 特許庁

To provide a load testing device for a manhole for carrying out, on a spot, a load resistance test of the manhole installed in a company yard.例文帳に追加

事業場構内に設置されているマンホールの耐荷重性試験を現地で行うためのマンホール用荷重試験装置を提供する。 - 特許庁