「working sample」に関連した英語例文の一覧と使い方 - Weblio英語例文検索

WORKING OBSERVATION METHOD FOR MINUTE SAMPLE AND APPARATUS例文帳に追加

微小試料加工観察方法及び装置 - 特許庁

Only a working electrode portion is provided with a sample reservoir around a face exposed to the sample.例文帳に追加

また、試料に晒される面を囲んで作用電極部分のみに試料溜めを設ける。 - 特許庁

SAMPLE HOLDER FOR FOCUSING ION BEAM WORKING AND FOCUSING TON BEAM WORKING DEVICE USING IT例文帳に追加

集束イオンビーム加工用試料ホルダー及びそれを用いた集束イオンビーム加工装置 - 特許庁

The thin sample piece 30 cut out from a solid sample by cut- working the solid sample using a converged ion beam working method is fixed onto a microgrid 50.例文帳に追加

集束イオンビーム加工法を用いて固体試料を切削加工することで固体試料から切り出した薄片試料（３０）をマイクログリッド（５０）上に固着する。 - 特許庁

To provide a sample holder capable of working and observing a sample from a plurality of directions.例文帳に追加

本発明の目的は、複数方向からの加工や観察の可能な試料ホールダを提供することにある。 - 特許庁

To provide a sample support member for electron microscopic observation capable of easily fixing and safely treating an extracted minute sample piece when extracting a more minute sample piece from a sample by FIB working and working it into a TEM sample.例文帳に追加

本発明の目的は、FIB加工で試料から、より微小な試料片を摘出し、TEM用試料に加工する際に、摘出した前記微小試料片を容易に固定、安全に取扱うことが可能な電子顕微鏡観察用試料支持部材を提供することにある。 - 特許庁

This liquid sample holder 100 prevents the removal of liquid or vapor portions of a sample material from a sample reservoir 101 when a working fluid is desorbed from the sample material.例文帳に追加

液体サンプルホルダ１００は、作動流体が材料サンプルから脱着されるとき、材料サンプルの液体又は蒸気部分がサンプル貯蔵部１０１から除去されることを防止する。 - 特許庁

To provide a sample purifying apparatus and a sample purifying method capable of shortening working time and reducing costs.例文帳に追加

作業時間を短縮することができ、コストを削減することのできる試料精製装置および方法を提供する。 - 特許庁

The sample covers sufficiently a counter electrode and a working electrode of the electrochemical sensor.例文帳に追加

試料が電気化学的センサの対電極及び作用電極を十分に覆う。 - 特許庁

A sample 10 is held by a sample holder 14, and is fed a prescribed amount by a prescribed amount, into a working chamber 21 through an opening 15.例文帳に追加

試料１０は、試料ホルダ１４で保持され、開口部１５を通って加工室１１内に所定量づつ送り込まれる。 - 特許庁

As a result, measurement of the working depth with high-precision without damaging the sample is enabled.例文帳に追加

高精度で試料にダメージを与えることなく加工穴深さの計測が可能となる。 - 特許庁

The fine tip 21 is moved to a working location of the sample S, electric field is applied between the fine tip 21 and the sample S and the sample S is doped with elements in introduced gas.例文帳に追加

そして試料(S)の加工位置に微細端(21)を移動させ、微細端(21)と試料（S）との間に電界を供給し、試料(S)に対し導入ガス中の元素をドーピングする。 - 特許庁

To provide an apparatus for working and observing a sample capable of efficiently working and observing a large cross section while securing cross section position accuracy; and a method of working and observing a cross section.例文帳に追加

大断面を、断面位置精度を確保しつつ効率良く加工して観察することが可能な試料加工・観察装置及び断面加工・観察方法を提供する。 - 特許庁

The substrate surface has fluid-tight relation with the sample channel, and the working electrode domain is in the fluid-communication state with the sample channel.例文帳に追加

基材表面は、試料流路と流密関係にあり、作用電極領域は、試料流路と流体連通状態にある。 - 特許庁

Then, a working position of the sample is determined by using the optical microscope whose position is adjusted.例文帳に追加

その後、位置調整が行われた光学顕微鏡が用いられて試料加工位置が決められる。 - 特許庁

To improve working efficiency when performing the spectral measurement of a sample being installed in a closed container.例文帳に追加

密閉容器内に設置した試料の分光測定を行なう際の作業性を改善する。 - 特許庁

To radiate an ion beam onto the surface of a thin-film sample to level the surface of the sample while ionizing a working gas in a clustered state as well as accelerating it.例文帳に追加

クラスタ状態の作動ガスをイオン化すると共に加速させて薄膜試料の表面にイオンビームを照射して、試料の表面を平坦化する。 - 特許庁

A working fluid 5 containing particles causing tribo-chemical reaction in the machining sample 10 is supplied between the machining sample 10 and the grinding wheel 6 to perform lapping.例文帳に追加

加工サンプル１０にトライボケミカル反応を起こさせるような粒子を含む加工液５を加工サンプル１０と砥石６との間に供給してラッピング加工する。 - 特許庁

Complete the following steps to create a Rails version of the sample project presented in the Working With Ruby Files section.例文帳に追加

次の手順に従って、「Ruby ファイルでの作業」の節で紹介したプロジェクト例の Rails 版を作成します。 - NetBeans

The above steps got me to the point where I have the working sample app and pages that demonstrate adding users, etc. 例文帳に追加

この手順に従うと、サンプルアプリケーションを動作させてユーザの追加などができるようになります。 - PEAR

The voltage is related to an attractive force caused by the chemical bonding strength working between the probe 6 and a sample 1.例文帳に追加

この電圧は、探針６と試料１との間に働く化学結合力による引力に関係する。 - 特許庁

If you need to compare your project with a working solution, you can download the sample application.例文帳に追加

プロジェクトを、正常に機能するソリューションと比較する必要がある場合は、サンプルアプリケーションをダウンロードできます。 - NetBeans

This enclosed space includes a zone where an analyte in the sample reacts with reagent(s) deposited at the working electrode.例文帳に追加

この包囲されたスペースは、サンプル内のアナライトが作用電極に配置された試薬と反応する領域を含む。 - 特許庁

When supplying a liquid sample to a sample analysis device having a working electrode and a counter electrode, a potential is applied between the electrodes to determine a current, and thereby initial filling speed of the sample into the device is calculated.例文帳に追加

作用電極及び対電極を有するサンプル分析デバイスに血液サンプルを供給する際、電極間に電位を印加し電流を求める事により、サンプルのデバイスへの初期充填速度を計算する。 - 特許庁

When supplying a sample to a sample analysis device having a working electrode and a counter electrode, the initial filling speed of the sample to the device is determined by calculating initial current after applying a potential between the electrodes.例文帳に追加

作用電極及び対電極を有するサンプル分析デバイスにサンプルを供給する際、電極間に電位を印加した後の初期電流を求めることにより、サンプルのデバイスへの初期充填速度を決定する。 - 特許庁

In the working method by the scanning probe, the probe 6a supported by a cantilever is relatively scanned on a sample 2 at a predetermined scanning speed to work the sample 2.例文帳に追加

カンチレバーにより支持された探針６ａを、所定の走査速度で試料２上を相対走査して試料２を加工する走査型プローブによる加工方法である。 - 特許庁

Therefore, the working position of the sample being positioned is accurately irradiated with an ion beam, and the sample with the desired cross section for an electron microscope can be produced.例文帳に追加

このため、位置決めされた試料加工位置にイオンビームが正確に照射され、所望の断面を有する電子顕微鏡用試料を作製することができる。 - 特許庁

To provide a method of preparing a sample and a device therefor wherein only a sample piece including a desired specific area from a semiconductor and a device chip is taken out, and the sample is mounted on the sample stage of an analyzer/measuring device, dispensing with a hand-working sample preparation process which requires experience, skills and time.例文帳に追加

半導体ウエハやデバイスチップから所望の特定領域を含む試料片のみをサンプリング（摘出）して、分析／計測装置の試料ステ−ジに、経験や熟練や時間のかかる手作業の試料作り工程を経ることなく、マウント（搭載）する試料作製方法およびその装置を提供すること。 - 特許庁

A sample liquid including the test substance, and the sensitizing dye are brought into contact with the surface of a working electrode to fix the sensitizing dye onto the working electrode through specific bonding.例文帳に追加

作用電極の表面に、被検物質を含む試料液および増感色素を接触させて、特異的結合を介して増感色素を作用電極に固定させる。 - 特許庁

An application voltage V1 corresponding to a peak 31 of the attractive force working between the probe 6 and the sample 1 is detected.例文帳に追加

探針６と試料１との間に作用する引力のピーク３１に対応する印加電圧Ｖ１を検出する。 - 特許庁

Therefore, the sample can be prevented from escaping through the control valve 3 widely opening just after injecting the sample, and the quantitative property of analysis and the sensitivity for traces of components are improved, and the ease of working for injecting the sample is also improved.例文帳に追加

これにより試料注入直後に大きく開いた制御弁３から試料が逃げることを防止でき、分析の定量性と微量成分の検出感度が向上し試料注入の作業性も改善される。 - 特許庁

A sample working position S_0 on the sample 6 and its periphery are finally etched by an ion beam I_B emitted on the sample 6 using an edge end part 12a of the shielding material 12 as a boundary, as shown in Fig. (c).例文帳に追加

そして最終的に図９（ｃ）に示すように、遮蔽材１２のエッジ端部１２ａを境界として試料６に照射されたイオンビームＩ_Ｂによって、試料６上の前記試料加工位置Ｓ_０およびその周辺部がエッチングされる。 - 特許庁

A sample image including the appearance of the sample is displayed on a display device of a control computer of the charged particle beam device, and an irradiation position of the charged particle beams, and the track of observation/working operation are superimposed and displayed on this sample image.例文帳に追加

荷電粒子線装置の制御用コンピュータの表示装置に試料の外観を含む試料画像を表示し、この試料画像に荷電粒子線の照射位置、及び観察・加工操作の軌跡を重畳して表示する。 - 特許庁

To provide an agitating device with high working efficiency, which samples and agitates a sample simultaneously, and also to provide a measurement device which measures substance contained in the sample using the agitating device.例文帳に追加

試料の採取と攪拌の作業を同時に行うことのできる作業効率の高い攪拌装置と、それを用いて試料に含有される物質を測定する測定装置を提供する。 - 特許庁

In the sample producing apparatus, a position adjusting process of an optical microscope 15 and a position adjusting process of a shield 12 using the optical microscope 15 are carried out before working the sample.例文帳に追加

図１の試料作製装置においては、試料加工前に、光学顕微鏡１５の位置調整と、その光学顕微鏡１５を用いた遮蔽材１２の位置調整が行われる。 - 特許庁

A biosensor 1 includes an insulating substrate 10; an electrode system 50 including a working pole 102 and a working pole 202 different from the working pole 102; and concentration measurement area provided on the insulating substrate 10, to which a sample is introduced.例文帳に追加

バイオセンサ１は、絶縁性基板１０と、作用極１０２と、作用極１０２とは異なる作用極２０２と、を含む電極系５０と、絶縁性基板１０に設けられ、試料が導入される濃度測定領域と、を有する。 - 特許庁

The amount of scanning and the amount of interval control are controlled in such a way that the relative velocity between the probe and the sample in the direction of the surface of the sample may be constant in the probe scanning control device, scanning probe microscope, working device, probe scanning control method, measuring method, and working method for detecting information on the sample by relatively scanning the sample with the probe.例文帳に追加

探針を試料に対し相対走査して該試料上の情報を検出するプローブの走査制御装置、走査型プローブ顕微鏡、加工装置、およびプローブの走査制御方法、測定方法、加工方法において、前記試料表面方向において探針と試料とのなす相対速度が一定となるように、走査量と間隔制御量を制御するように構成する。 - 特許庁

The incident side slit working as a light source emits auxiliary light to a spectroscopic object sample by emission of the light source lens unit.例文帳に追加

その光源レンズユニットの発光により入射側スリットが光源となって分光対象試料に対し補助光を発する。 - 特許庁

The second counter/reference electrode layer is exposed to the second sample receiving chamber and is in an opposing relationship to the second working electrode.例文帳に追加

この第二カウンター／参照電極層は、第二試料受け取り室に曝され、第二作用電極に対して対向している。 - 特許庁

The radical plasma-etches the damage layer generated on the cut surface of the thin piece sample 30 by the convereged ion beam working.例文帳に追加

フッ素ラジカルは集束イオンビーム加工によって薄片試料（３０）の切削端面に生じたダメージ層をプラズマエッチング処理する。 - 特許庁

To carry out with a high throughput both of a thin-film working of high precision by ion beam irradiation and a STEM observation of high resolution by electron beam irradiation of a sample, without moving the sample.例文帳に追加

試料のイオンビーム照射による高精度の薄膜加工と電子ビーム照射による高分解能のＳＴＥＭ観察の両者を、ほぼ試料を動かすことなく、高スループットで実施する。 - 特許庁

A biological sample 140 put in the sample guide 110 goes to the bottom of the cone-shaped introducing section and is introduced into the minute section formed above a working electrode 122.例文帳に追加

試料ガイド１１０に投入された生物試料１４０は、擂鉢状の導入領域の底に向かって沈むことにより、作用極１２２の上方に形成された微小領域内に導入される。 - 特許庁

A thin piece sample 30 cut-worked by a converged ion beam working method is heated to a boiling point of a hydrofluoric acid solution 51 or more.例文帳に追加

集束イオンビーム加工法によって切削加工が行われた薄片試料（３０）をフッ化水素酸（５１）の沸点以上に加熱する。 - 特許庁

An irradiation axis of an FIB irradiation system 16 and an irradiation axis of a STEM observation electron beam irradiation system 5 are made almost orthogonal, and the sample 7 is arranged at the intersection position and the FIB cross-section working face of the sample is made a thin-film face of the STEM observation sample.例文帳に追加

ＦＩＢ照射系１６の照射軸とＳＴＥＭ観察用電子ビーム照射系５の照射軸をほぼ直交させ、その交差位置に試料７を配置して、試料のＦＩＢ断面加工面をＳＴＥＭ観察用試料の薄膜面にとる。 - 特許庁

While the sample liquid 1a is maintained under a material movement promoting atmosphere, the potential of the working electrode 2 is set to a desired negative potential, and the analysis object is electrodeposited on the working electrode 2.例文帳に追加

前記試料液１ａ中の物質移動促進雰囲気下を保ちながら作用電極２の電位を所望の負電位に設定して、前記被分析対象を作用電極２に電着させる。 - 特許庁