「抑制検査」に関連した英語例文の一覧と使い方 - Weblio英語例文検索

非特異的ハイブリダイゼーション抑制剤、臨床検査薬及び臨床検査法例文帳に追加

NON-PARTICULAR HYBRIDIZATION INHIBITOR, CLINICAL EXAMINATION SOLUTION AND CLINICAL EXAMINATION METHOD - 特許庁

検査対象物を迂回して超音波受信装置に到達する回折波を抑制することで、検査対象物の端部の検査を精度よく行う。例文帳に追加

To highly accurately inspect an end portion of an inspection object by suppressing a diffraction wave detouring the inspection object and reaching an ultrasonic receiver. - 特許庁

検査作業時間の長時間化を抑制して、検査作業のスループットの向上がはかれるようにした漏洩検査装置を提供する例文帳に追加

To provide a leakage inspection device capable of attempting to enhancement in throughput of inspection task by inhibiting long-temporalized of inspection task hours. - 特許庁

試料台から被検査試料を離脱する際の発塵を抑制することができる半導体検査装置及び半導体検査方法を提供する。例文帳に追加

To provide a semiconductor inspection device capable of suppressing dust emission that may occur when an inspected sample is separated from a sample stage, and a semiconductor inspection method. - 特許庁

ノイズ成分を抑制した２次電子画像を得て、高精度の欠陥検査を可能とする欠陥検査方法ないし欠陥検査装置を提供する。例文帳に追加

To provide a method for inspecting defects capable of inspecting defects with high accuracy, by acquiring a secondary electron image with the noise components suppressed, and to provide a device for the method. - 特許庁

微細化に伴うボンディング性の低下を抑制する半導体装置の検査方法、半導体検査装置及び検査用部材を提供する。例文帳に追加

To provide a method for inspecting a semiconductor device inhibiting the deterioration of a bonding property with a fining, a device for inspecting a semiconductor, and a member for an inspection. - 特許庁

コストの増加を抑制しつつ、検査時に接触子を確実に所望の検査点に接触させることのできる基板検査装置を提供する。例文帳に追加

To provide a substrate inspection device capable of contacting the contact shoes with inspection points surely at the time of inspection while suppressing the increase in cost. - 特許庁

検査時間を短縮するとともに、検査の精度が低下するのを抑制することが可能な探傷検査方法を提供する。例文帳に追加

To provide a flaw inspection method that shortens the inspection time and can suppress reduction in the inspection accuracy. - 特許庁

被検査回路の破損を抑制しつつ、適切に動作試験や品質評価を行うことができる回路検査装置及び回路検査方法を提供する。例文帳に追加

To appropriately conduct an operational test and a quality evaluation while preventing the damage on the circuit to be inspected. - 特許庁

癌転移能検査方法、および癌転移抑制薬のスクリーニング方法例文帳に追加

CANCER METASTASIS EXAMINATION METHOD AND SCREENING OF CANCER METASTASIS SUPPRESSING AGENT - 特許庁

隣接する検査対象間でのクロストークの影響を抑制する。例文帳に追加

To restrain an influence of crosstalk between adjacent inspection objects. - 特許庁

装置コストを抑制しつつ、磁気検査を高速かつ高精度に行うこと。例文帳に追加

To speedily and accurately perform magnetic inspection while suppressing device cost. - 特許庁

疑似欠陥の検出を抑制し、且つ検査領域を拡大する。例文帳に追加

To suppress detection of false defects, and to enlarge an inspection region. - 特許庁

圧力抑制室の内壁面を遠隔操作で目視検査する。例文帳に追加

To inspect the inner wall surface of a pressure suppression chamber visually by a remote operation. - 特許庁

光増幅器内のＦＷＭクロストーク値検査において、検査コストの増大を抑制し、正確なＦＷＭクロストーク値の検査を実現可能な光増幅器検査方法および光増幅器検査装置を提供すること。例文帳に追加

To provide an optical amplifier inspection method and optical amplifier inspecting apparatus, capable of realizing accurate inspection of the FWM cross stroke value inside an optical amplifier, while suppressing increase in the inspection cost. - 特許庁

農産物の内部検査及び外部検査を共に実施し得る一方、装置コストの上昇を可及的に抑制することができる検査器、及び該検査器を備える検査装置を提供する。例文帳に追加

To provide a tester and an inspection device equipped with the tester capable of executing both internal inspection and external inspection of agricultural produce, and suppressing device cost increase to the utmost. - 特許庁

空気差圧式の漏洩検査装置において、該洩検査装置と被検査体との間の熱交換を抑制して、装置及び被検査体の検査中の温度変化を低減することにより、温度変化に起因する差圧検出値のバラツキを低減して、検査精度の向上を図るための技術を提案する。例文帳に追加

To reduce dispersion of a differential pressure detection value caused by a temperature change, and to thereby improve inspection accuracy, by suppressing heat exchange between a leak inspection device and an inspection object, and by reducing a temperature change during inspection of the device and the inspection object, concerning the leak inspection device of an air differential pressure type. - 特許庁

検査用照明光を液晶パネルに照射して検査を行う場合に液晶パネルでの温度ムラの発生を抑制することのできる液晶パネル検査装置、および液晶パネル検査方法を提供すること。例文帳に追加

To provide a liquid crystal panel inspection device and a liquid crystal panel inspection method capable of suppressing occurrence of temperature unevenness in a liquid crystal panel when performing inspection by radiating inspecting illumination light to the liquid crystal panel. - 特許庁

レチクルを静止させた状態での検査の際の、検査光照射によるレチクルの損傷を抑制するレチクル欠陥検査装置およびレチクル検査方法を提供する。例文帳に追加

To provide a reticle defect inspection device and a reticle defect inspection method, which suppresses damages on a reticle by irradiation with inspection light when a reticle is inspected in a still state. - 特許庁

絶縁検査に起因する絶縁劣化を抑制するとともに結線作業の良否を確実に検査することができる絶縁検査装置および絶縁検査方法を提供すること。例文帳に追加

To provide an insulation inspection device and an insulation inspection method capable of surely inspecting the quality of a connecting work while suppressing insulation deterioration resulted from insulation inspection. - 特許庁

検査対象物の屈曲した被検査面や湾曲した被検査面に対して適正な照明を与えるとともに、従来技術の問題点を抑制する欠陥検査装置を提供する。例文帳に追加

To provide a defect inspecting device that imparts proper illumination to a surface to be inspected with an object to be inspected which is bent and a surface to be inspected which is bent, and that suppresses the problems of conventional technologies. - 特許庁

ＰＴＰシートの製造過程における不良検査に際し、スミア現象を防止しつつ、検査に際しての処理の複雑化を抑制し、検査精度の向上を図ることのできる不良検査装置、及び、ＰＴＰ包装機を提供する。例文帳に追加

To provide a defect inspection device capable of suppressing complication of processing in inspection, and improving inspection accuracy, while preventing a smear phenomenon, in defect inspection in a manufacturing process of a PTP sheet, and a PTP packaging machine. - 特許庁

枚葉シートに切り取られたフィルムをシワの無い一様な被検査面に形成して外観検査を容易にし、検査精度を向上することが可能で、しかも設備費用が抑制された自動検査装置を提供する。例文帳に追加

To provide an automatic inspection device that forms an unwrinkled uniform inspection surface from a flat sheet film, to facilitate appearance inspection and improve inspection accuracy, while suppressing facility cost. - 特許庁

検査工程のタクトタイムが長くなったり、コストが増大することを抑制したりできると共に、正回転及び逆回転の検査ができる回転検出装置の検査装置及び検査用ロータを提供すること。例文帳に追加

To provide an inspection apparatus and a rotor for inspection for inhibiting extension of cycle time of an inspection step and increase of costs, and of performing an inspection of forward and reverse rotations. - 特許庁

半導体検査装置から出力される複数の信号の信号遅延差を容易に抑制することができる半導体検査方法を提供する。例文帳に追加

To provide a semiconductor inspection method for easily inhibiting the signal delay difference among a plurality of signals that are outputted from a semiconductor inspection apparatus. - 特許庁

より効率良く、より高い精度で不良品の流出を抑制することが可能な半導体装置の検査方法と検査装置を提供する。例文帳に追加

To provide a method and apparatus for testing semiconductor devices which can more efficiently and accurately suppress the effluence of defective products. - 特許庁

ジッタ耐性検査における検査コストの低減を図りつつ、入力される主信号の特性劣化を抑制できる半導体集積回路を提供する。例文帳に追加

To provide a semiconductor integrated circuit that suppresses characteristic degradation of an input main signal while reducing an inspection cost of jitter tolerance inspection. - 特許庁

検査端子から発せられるノイズを抑制することが出来る多層回路基板及びその検査方法を提供する。例文帳に追加

To provide a multilayer circuit capable of suppressing noise generated from an inspection terminal, and to provide a method of inspecting the same. - 特許庁

画素欠陥検査についてコストの上昇を抑制しつつ良好な検査精度を得ることができる液晶表示装置を提供する。例文帳に追加

To provide a liquid crystal display apparatus for obtaining favorable inspection accuracy while suppressing increase in the cost for inspecting a pixel defect. - 特許庁

乗員検知システムの誤動作を効果的に抑制できる乗員検知システムの検査装置および検査方法を提供すること。例文帳に追加

To provide an inspection device and inspection method for occupant detection system capable of effectively suppressing malfunction of an occupant detection system. - 特許庁

各種タイヤ測定（検査）を効率良く行え、設置スペースの抑制および設備コストの削減を図ることができるタイヤ検査システムを供する。例文帳に追加

To provide a tire inspection system for efficiently performing various kinds of tire measurement (inspection), suppressing an installation space, and reducing facility costs. - 特許庁

検査信号等の電気信号の伝送特性の低下を抑制しつつ、製造容易な検査プローブ治具を実現する。例文帳に追加

To realize an easy-to-manufacture inspection probe tool while preventing the transmission characteristics of electric signals such as inspection signals from deteriorating. - 特許庁

浮動小数点を含む実数を用いるプログラムの検査において計算量を抑制したプログラム検査装置を提供することを課題とする。例文帳に追加

To provide a program inspection device with which the amount of calculation is suppressed in a program inspection using real numbers including floating points. - 特許庁

被検査基板における欠陥発生状況の把握を妨げることなく、管理すべき欠陥データ量を抑制できる欠陥検査装置の提供。例文帳に追加

To provide a defect inspection device capable of suppressing a defect data amount to be managed without impeding acquisition of a defect generation state on a substrate to be inspected. - 特許庁

ノズルからの流体の吐出状態を検査する吐出検査においてノズルでの流体の増粘をより抑制する。例文帳に追加

To more suppress viscosity increase of a fluid at a nozzle in ejection inspection in which an ejection state of the fluid from the nozzle is inspected. - 特許庁

試料の温度調整を局所的に行うことにより、試料ドリフトを抑制することができる検査装置及び検査方法を提供する。例文帳に追加

To provide an inspection device and an inspection method capable of suppressing a sample drift by locally adjusting the temperature of a sample. - 特許庁

シャドウマスクの撓みを抑制して検査位置に保持するワーク保持プレートを備えたシャドウマスク検査装置を提供する。例文帳に追加

To provide a shadow mask inspection device having a work holding plate which suppresses deflection of a shadow mask and holds it in the inspection position. - 特許庁

少なくとも一部分が埋設されている被検査体をガイド波の減衰を抑制しながら超音波検査する。例文帳に追加

To ultrasonically inspect an inspection target at least a part of which is embedded, while suppressing the attenuation of guide waves. - 特許庁

煩雑な手動調整を行うことなく、被検査基板のチャージアップやダメージを抑制しつつ、必要な検査解像度を得る。例文帳に追加

To provide necessary inspection resolution, while suppressing damages or charge-ups of an inspected substrate, without complicated manual adjustment. - 特許庁

装置の大型化を伴うことなく、被検査基板への異物の付着を抑制すると共に光学系の冷却が可能な欠陥検査装置を実現する。例文帳に追加

To obtain a defect inspecting apparatus suppressing adhesion of foreign substances to a substrate to be inspected, and cooling an optical system, without upsizing the apparatus. - 特許庁

試料の温度調整を局所的に行うことにより、試料ドリフトを抑制することができる検査装置及び検査方法を提供する。例文帳に追加

To provide an inspection apparatus and an inspection method capable of suppressing sample drift by locally adjusting the temperatures of a sample. - 特許庁

この変化点を検査条件として設定することにより帯電量を抑制し、安定したウエハの検査を行うことができる。例文帳に追加

This change point is set as an inspection condition, whereby stable inspection of the wafer can be performed while suppressing the charging quantity. - 特許庁

溶接部位の検査時間を短縮しつつ、製品の品質のばらつきを抑制するスポット溶接自動検査装置を提供する。例文帳に追加

To provide a spot welding automatic inspection device for suppressing the dispersion of product quality while reducing the inspection time of a welded portion. - 特許庁

検査手段における振動の発生を抑制し、高分解能での微細なパターンの検査を適切に行う。例文帳に追加

To suppress the generation of a vibration in an inspection means and to appropriately inspect a fine pattern with a high resolution. - 特許庁

検査完了までに要する時間の増加を抑制しつつ詳細な欠陥レビュー検査を可能にする。例文帳に追加

To provide a substrate inspection device allowing a detailed defect review inspection to be performed while inhibiting increase in time required for complete inspection. - 特許庁