「抑制検査」に関連した英語例文の一覧と使い方(6ページ目) - Weblio英語例文検索

最終製品での電気特性検査において半導体装置の歩留まりが低下するのを抑制することが可能な半導体装置の品質評価方法を提供する。例文帳に追加

To provide a semiconductor device quality evaluating method of preventing deterioration in yield of semiconductor devices in electrical characteristics inspection for final products. - 特許庁

電極パッドを有する半導体装置における高温でのプローブ針を用いた検査において、配線間の低誘電率膜からなる層間絶縁膜に生じるクラックを抑制することを可能にする。例文帳に追加

To suppress cracks caused in an interlayer insulating film composed of a low dielectric film between wirings in an inspection using a probe needle at a high temperature in a semiconductor device having an electrode pad. - 特許庁

分析装置が設置された検査室等の空気の流動に影響されることなく、試薬庫内での結露の発生を好適に抑制することが可能な分析装置を提供する。例文帳に追加

To provide an analyzer which properly inhibits a dew condensation from being generated within a reagent warehouse by undergoing no effect due to an air flow in an inspection room in which the analyzer is installed. - 特許庁

焼成時において前記駆動に用いる電極による反りを抑制するとともに、前記複数の圧電層の、前記圧力室側からの亀裂の有無を検査する。例文帳に追加

To suppress warpage caused by electrodes used for driving during calcining, and to inspect the presence of cracks from a pressure room side in a plurality of piezoelectric layers. - 特許庁

プローブカードの熱膨張の有無に起因した、半導体装置の電極に対するプローブ針の位置ずれを抑制することができる半導体検査装置を提供する。例文帳に追加

To provide a semiconductor inspection device capable of suppressing displacement of the probe needle, relative to an electrode of the semiconductor device caused by the existence thermal expansion of a probe card. - 特許庁

燃料圧力を検出するセンサを備えた燃料噴射弁において、センサに対する各種試験検査の作業性向上、及び燃料噴射弁の製造歩留まり低下抑制を図った燃料噴射弁を提供する。例文帳に追加

To provide a fuel injection valve including a sensor that detects fuel pressure improved in workability for various examinations and tests with respect to the sensor and suppressed in the deterioration of a manufacturing yield of the fuel injection valve. - 特許庁

駆動電圧に検査用電圧を重畳してロータ角度を検知する際に生じる耳障りなノイズの発生を抑制したＤＣブラシレスモータの角度検出装置を提供する。例文帳に追加

To provide an angle detector of a DC brushless motor in which an offensive noise is suppressed which occurs when a drive voltage is superposed with a detection voltage to detect a rotor angle. - 特許庁

迷光が回折格子側に漏れてしまうことを抑制し、凹凸形状を有する回折格子の形状を高精度に形成可能とし、その形状が高精度に形成されたか否かの検査を容易かつ確実に行う。例文帳に追加

To suppress leakage of stray light to a diffraction grating side, to enable formation of a shape of the diffraction grating having a concavo-convex shape with high accuracy, and to readily and reliably perform test for checking whether the shape has been formed with high accuracy. - 特許庁

低密度ガスが封入され、二重カバー構造を有するディスク・ドライブ装置において、外側カバーのリーク検査をより確実に行うことができると共に、外側カバーの接合に起因する不具合を抑制する。例文帳に追加

To surely perform check of leakage of gas from an outer cover and suppress trouble caused by junction of the outer cover in a disk drive device having low density gas enclosed therein and having double a cover structure. - 特許庁

プローブカードそのものの熱変形量を少なくし、撓みなどの機械的変形を抑制しプローブテストの精度を向上し得るプローブカードを使用する半導体検査装置を提供する。例文帳に追加

To provide a semiconductor inspection apparatus using a probe card and capable of reducing the amount of thermal deformation of the probe card itself, suppressing mechanical deformations such as bending, and improving probe test accuracy. - 特許庁

品質に関わる検査を安定して行うことが可能であり、しかも、製造歩留まりの低下を抑制することが可能な表示装置及び表示装置用マザー基板を提供することを目的とする。例文帳に追加

To provide a display apparatus and a mother board for the same which enable inspection related to quality to be stably performed and realize suppressing a decrease in the production yield thereof. - 特許庁

マルチタスクシステムにおいて、システムのリソース消費量を抑制しつつ、検査時等の特殊処理時における作業効率の向上を実現することを目的とする。例文帳に追加

To improve working efficiency in special processing such as inspection in a multitask system while suppressing resource consumption of the system. - 特許庁

ポリシリコン膜５は、ＩＬＤ膜７よりも強度があり、衝撃に対する耐性が高いため、プローブ検査の際にクラックの発生を抑制することができる。例文帳に追加

Since the polysilicon film 5 has higher mechanical strength and higher resistance against a mechanical shock than the ILD film 7, cracks can be suppressed when the semiconductor device is subjected to probe inspection. - 特許庁

短絡欠陥による歩留りの低下を抑制することができる全固体リチウム二次電池の製造方法及び全固体リチウム二次電池の検査方法を提供する。例文帳に追加

To provide a method for manufacturing an all-solid lithium secondary battery, by which deterioration in yield due to short-circuit defects can be suppressed, and a method for inspecting an all-solid lithium secondary battery. - 特許庁

単位面積あたりに配置可能な電極パッド数を減らすことなく、プローブ検査により生じるクラックの影響を抑制し、信頼性を向上させた半導体装置を提供する。例文帳に追加

To provide a semiconductor device improved in reliability by restraining influence of a crack occurring due to probe inspection without reducing the number of electrode pads arrangeable per unit area. - 特許庁

表示パネル上の配線不良を安定して検査することが可能であり、しかも、製造歩留まりの低下を抑制することが可能な表示装置を提供することを目的とする。例文帳に追加

To provide a display apparatus capable of stably inspecting wiring failures on a display panel and suppressing the degradation of production yield. - 特許庁

面方向の収縮を抑制して変形を低減するとともに寸法精度を高精度化し、絶縁層の厚み方向の配置を容易な方法で検査することを可能にしたセラミック多層基板を提供する。例文帳に追加

To provide a ceramic multilayer substrate which can reduce deformation and increase a dimensional accuracy by suppressing a shrinkage in a surface direction, and can inspect the location of an insulating layer in a thickness direction in an easy manner. - 特許庁

試料表面の撮像画像を検査して試料表面のパターンの欠陥を検出する欠陥検出において疑似欠陥の発生を効果的に抑制する。例文帳に追加

To suppress effectively generation of pseudo-defects, in defect detection for detecting pattern defects on a sample surface, by inspecting a photographed image on the sample surface. - 特許庁

不死化し変形した細胞にしばしば起こる、遺伝子のメチル化現象を解明し、腫瘍抑制に有用なメチル化遺伝子の新規な検査法を提供する。例文帳に追加

To provide a new examination method of methylation gene useful for tumor suppression by elucidating gene methylation phenomena frequently caused in immortalized and deformed cells. - 特許庁

これによって、試料室内等で付着する不純物を除去することができるため、測定，検査後の半導体製造工程における不良発生を抑制することが可能となる。例文帳に追加

Accordingly, since the impure substances adhered inside the sample chamber or the like can be removed, generation of defects at the semiconductor manufacturing processes, after the measurement and inspection, can be restrained. - 特許庁

また、撮影装置１により検査対象部位の動態を撮影した複数の画像データに基づく動態画像を医師の診断用に表示する前に、前処理として粒状抑制処理を施す。例文帳に追加

In addition, granularity is suppressed as preprocessing, before displaying dynamic images on the basis of the plurality of image data obtained by photographing the dynamic states of the region to be inspected with the photographing apparatus 1, to be diagnosed by doctors. - 特許庁

半導体集積回路装置の検査に用いるプローブカードにおいて、そのプローブ端子の先端部に付着した不純物を除去してプローブカードの信頼性の低下を抑制できるようにする。例文帳に追加

To realize suppressing of a decrease in reliability of a probe card by removing impurities adhered to a tip of a probe terminal of the card used to inspect a semiconductor integrated circuit device. - 特許庁

基板上の膜に形成されたパターンの線幅の変動を抑制するために適切な検査を行うことができる基板処理装置および基板処理方法を提供することである。例文帳に追加

To provide a substrate processor and processing method in which an appropriate inspection can be carried out in order to suppress variation in the line width of a pattern formed in a film on a substrate. - 特許庁

焼成時において前記駆動に用いる電極２１，２２による反りを抑制するとともに、圧電層１５の、圧力室１４Ａａ側からの亀裂の有無を検査する機能を有する。例文帳に追加

The warpage caused by the electrodes 21 and 22 used for driving during calcining is suppressed, and there is the function of inspecting the presence of the cracks from the pressure room 14Aa side of the piezoelectric layer 15. - 特許庁

表示パネル上の配線不良を防止すること及びこのような配線不良を安定して検査することが可能であり、しかも、製造歩留まりの低下を抑制することが可能な表示装置を提供することを目的とする。例文帳に追加

To provide a display device capable of preventing a wiring defect on a display panel and stably inspecting such wiring defect and, moreover, capable of suppressing deterioration of manufacturing yield. - 特許庁

コストの上昇や、美観および信頼性の低下を招くことなく、プローブからのノイズの侵入を効果的に抑制できるアクティブプローブを備えた電気特性検査装置を提供する。例文帳に追加

To provide an electric characteristic inspection device provided with an active probe capable of restraining effectively noise from intruding in from a probe, without increasing cost and while preventing beautiful appearance and reliability from getting worse. - 特許庁

電気光学装置におけるダミー電極パターンに起因する製品不良や製品品位低下を抑制することのできる構造及び製造方法並びに検査方法を提供する。例文帳に追加

To provide a structure and a method for manufacture and inspection for suppressing product failure and degradation in product quality caused by a dummy electrode pattern in an electrooptical device. - 特許庁

低密度ガスが封入され、二重カバー構造を有するディスク・ドライブ装置において、二次カバーのリーク検査をより確実に行うことができると共に、二次カバーの接合に起因する不具合を抑制する。例文帳に追加

To surely inspect leakage of a secondary cover more and to reduce faults caused by joint of the secondary cover, in a disk driving device having low-density gas sealed therein and having a dual cover structure. - 特許庁

磁気継手の熱減磁及び渦電流発生による伝達トルク低下を抑制し、脱調に対するトルク余裕を増加させ信頼性を向上させて、検査回数の合理化を可能とする制御棒駆動機構を提供する。例文帳に追加

To provide a control rod driving mechanism capable of rationalizing the number of inspection times by suppressing drop in transmission torque caused by thermal demagnetization of a magnetic joint and the generation of eddy current, increasing torque margin to power swing, and enhancing reliability. - 特許庁

コンピュータウイルスの検査によるジョブ処理への影響を抑え、生産性の低下を抑制することができるジョブ処理システムおよび画像処理装置を提供する。例文帳に追加

To provide a job processing system and an image processing apparatus, capable of suppressing deterioration of productivity by reducing the effect on job processing of computer virus check. - 特許庁

噴射ノズルから紫外線の照射によって硬化するインクを噴射する液体噴射装置において、ノズル抜けの検査にかかるコストを抑制可能とする。例文帳に追加

To suppress cost for inspection of nozzle omission in a liquid ejector which ejects ink cured by irradiation of ultraviolet rays from an ejection nozzle. - 特許庁

ＬＤＰＣ−ＣＣを用いた符号化方法において、パリティ検査行列Ｈにフィードバックがある場合に、送信する情報に対応するパリティを求める際の演算規模を抑制する。例文帳に追加

To suppress operation scale when parity corresponding to information to be transmitted is obtained when there is feedback in a parity check matrix H in an encoding method using LDPC-CC. - 特許庁

これにより、被膜からの反射が抑制され、被膜自体の異常を観察せず、鋼板の地肌を観察することができ、高精度な検査が可能になる。例文帳に追加

Thus, reflection from the coated film is suppressed, abnormality of the coated film itself is not observed, and the background of the steel plate can be observed, thereby enabling high accuracy inspection. - 特許庁

強力な光源を得つつも、投光器に対する検査対象の距離を十分確保し且つ光量のムラを抑制し得る照度安定機構を提供する。例文帳に追加

To provide an illuminance stabilizing mechanism capable of fully securing the distance of an inspection object to a projector, and suppressing unevenness in the quantity of light, while acquiring a strong light source. - 特許庁

鏡面の曲面を有する対象物に対する、欠陥検出の支障となる照明の映り込みを抑制し、確実な欠陥検出を可能とする画像検査装置を提供する。例文帳に追加

To provide an image inspection apparatus for detecting defects, without fail, by suppressing reflection of illumination obstructing detection of defects to a target having a curved surface of a mirror surface. - 特許庁

当該構成によれば、測定や検査のために行われる電子ビームによって生ずる部分的なパターンのシュリンクを抑制し、半導体ウェーハ全体でパターンの形成精度を向上することが可能となる。例文帳に追加

According to this structure, partial shrinkage of a pattern which is caused by the electron beam emitted for measurement or inspection can be suppressed to improve the overall accuracy of pattern formation in the semiconductor wafer. - 特許庁

比較的簡単な構成として設備コストを抑制しながら検査対象等となる高圧タンクへのガス充填を迅速に行うことができるガス充填装置を提供する。例文帳に追加

To provide a gas filling device with comparatively simple constitution, which is capable of quickly filling a high pressure tank to be inspected with gas with installation cost suppressed. - 特許庁

ＩＣで発生したノイズを抑制することが可能なプリント基板のレイアウトとなっているか否かの判定を、従来よりも正確に行なうことができるレイアウト検査装置を提供する。例文帳に追加

To provide a layout inspection apparatus for more accurately determining whether a printed board is laid out to reduce noise generated at an IC. - 特許庁

表示素子の検査用回路の回路規模の増大を抑制しつつ、より広い電圧範囲で測定可能とし、素子の特性変化をより高い精度で検出することができる表示装置の提供。例文帳に追加

To provide a display device that can perform measurements in a wider range and detect characteristic changes of a display element with high accuracy while suppressing the increase in circuit size of an inspecting circuit of the element. - 特許庁

液体窒素の封入手法によらず、また製造を行う地域の気候によらず缶内圧のバラつきを抑制し、密封性検査を精度よく行うことができる缶詰の製造方法を提供する。例文帳に追加

To provide a method of manufacturing a canned product capable of accurate sealability inspection irrespective of a method of enclosing liquid nitrogen, irrespective of climate of a region of the manufacture and with an inhibited variation in internal pressure in a can. - 特許庁

半導体スイッチング素子の電圧破壊を防止する印加電圧抑制回路は、確実な実装が成されると共に、その設定電圧を周辺回路のＩＣ等を破壊することなく検査できる構成にすること。例文帳に追加

To provide a power converter having a configuration capable of reliably mounting an applied voltage suppressing circuit for preventing damage due to a voltage of a semiconductor switching element, and capable of inspecting its set voltage without damaging IC, or the like, of a peripheral circuit. - 特許庁

従来技術より少ない画像数で、空間分解能が高く被検査物の透過率分布と光源の照明むらの影響を抑制し、２次元的に波面を復元することが可能なＸ線撮像装置を提供する。例文帳に追加

To provide an X-ray imaging apparatus which can two-dimensionally restore front waves by suppressing influence of transmittance distribution of an object to be inspected with high spatial resolution and illumination irregularities of a light source in the number of pixels smaller than the conventional technology. - 特許庁

半導体スイッチング素子の電圧破壊を防止する印加電圧抑制回路は、確実な実装が成されると共に、その設定電圧を周辺回路のＩＣ等を破壊することなく検査できること。例文帳に追加

To provide a power converter having a configuration capable of reliably mounting an applied voltage suppressing circuit for preventing damage due to a voltage of a semiconductor switching element, and capable of inspecting its set voltage without damaging IC, or the like, of a peripheral circuit. - 特許庁

従来のものよりも製造コストを低減し、クロストークや電磁波障害等による電気的障害の発生を抑制することができる高周波検査ソケットを提供する。例文帳に追加

To provide a high frequency inspection socket, capable of reducing a manufacturing cost more than a conventional one, and capable of suppressing generation of electric obstacle by cross talk and electromagnetic wave obstacle or the like. - 特許庁

半導体スイッチング素子の電圧破壊を防止する印加電圧抑制回路を確実に実装すると共に、その設定電圧を周辺回路のＩＣ等を破壊することなく検査できる構成にすること。例文帳に追加

To provide a power converter having a configuration capable of reliably mounting an applied voltage suppressing circuit for preventing damage due to a voltage of a semiconductor switching element, and capable of inspecting its set voltage without damaging IC, or the like, of a peripheral circuit. - 特許庁