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Weblio 辞書 > 英和辞典・和英辞典 > 電子分析器の意味・解説 > 電子分析器に関連した英語例文

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電子分析器の部分一致の例文一覧と使い方

該当件数 : 116



例文

電子スピン分析例文帳に追加

ELECTRON SPIN ANALYZER - 特許庁

電子衝撃型反跳水素分析例文帳に追加

ELECTRON BOMBARDED RECOIL HYDROGEN ANALYZER - 特許庁

高分解能電子エネルギー分析例文帳に追加

HIGH RESOLUTION ELECTRON ENERGY ANALYZER - 特許庁

電子および分析システム例文帳に追加

ELECTRONIC APPARATUS AND ANALYSIS SYSTEM - 特許庁

例文

電子エネルギー分析及びそれを用いた電子顕微鏡例文帳に追加

ELECTRON ENERGY ANALYZER AND ELECTRON MICROSCOPE USING THE SAME - 特許庁


例文

散乱ターゲット保持機構及び電子スピン分析例文帳に追加

SCATTERING TARGET HOLDING MECHANISM AND ELECTRON SPIN ANALYZER - 特許庁

信号粒子検出及び電子分析装置例文帳に追加

SIGNAL PARTICLE DETECTOR AND ELECTRON BEAM ANALYZER - 特許庁

電子冷却およびこれを用いた分析装置例文帳に追加

ELECTRONIC COOLER AND ANALYZER USING IT - 特許庁

電子分光装置および電子分光ならびに試料分析方法例文帳に追加

ELECTRON-SPECTROSCOPE DEVICE, ELECTRON SPECTROSCOPE AND SAMPLE ANALYSIS METHOD - 特許庁

例文

電子線分光、それを備えた電子顕微鏡及び分析方法例文帳に追加

ELECTRON BEAM SPECTROSCOPE, ELECTRON MICROSCOPE EQUIPPED WITH THE SAME, AND ANALYTICAL METHOD - 特許庁

例文

放出極角が26±2度の範囲にある電子のみを分析する円筒鏡電子エネルギー分析を準備し、この円筒鏡電子エネルギー分析内に飛行時間型イオン質量分析を配置する。例文帳に追加

A cylindrical mirror electron energy analyzer for analyzing only electrons each having an emission polar angle in a range of 26±2 degrees is prepared, and a time-of-flight type ion mass analyzer is arranged in the cylindrical mirror electron energy analyzer. - 特許庁

質量分析室は質量分析31と電子増倍管35を備える。例文帳に追加

The mass spectrometric analysis room is equipped with a mass spectrograph 31 and an electron multiplier tube 35. - 特許庁

試料表面のスピン状態分布を高精度に分析するための電子スピン分析を提供する。例文帳に追加

To provide an electron spin analyzer for analysis of a spin state distribution of a sample surface with high accuracy. - 特許庁

周波数分析3は、振動レベル計2の計測データを周波数分析する手段であり、分析専用の電子回路を備える。例文帳に追加

The frequency analyzer 3 is a means for analyzing frequency of the measurement data of the vibration level gauge 2, and provided with an electronic circuit specialized for analyzing. - 特許庁

多段多重磁極子レンズ系及びそれを用いた電子エネルギー分析例文帳に追加

MULTISTAGE AND MULTIPLEX MAGNETIC POLE LENS SYSTEM, AND ELECTRON ENERGY ANALYZER USING THE SAME - 特許庁

発光体と、これを用いた電子線検出、走査型電子顕微鏡及び質量分析装置例文帳に追加

ILLUMINANT, AND ELECTRON BEAM DETECTOR, SCANNING ELECTRON MICROSCOPE AND MASS SPECTROMETER USING THE SAME - 特許庁

角度分解型入射レンズシステムを備えた電子分光及び分光を用いた分析方法例文帳に追加

ANALYSIS METHOD USING ELECTRON SPECTROSCOPE WITH ANGLE RESOLVING INCIDENT LENS SYSTEM - 特許庁

情報記憶装置2’は、電子1’から送られてきた音声情報に基づき声紋分析を行う。例文帳に追加

The information storage apparatus 2' executes a voiceprint analysis of the audio information transmitted from the electronic apparatus 1'. - 特許庁

電子の省電力化方法、顧客動線分析システム用送信ユニット及び歩数計例文帳に追加

POWER SAVING METHOD FOR ELECTRONIC EQUIPMENT, TRANSMISSION UNIT FOR CUSTOMER FLOW LINE ANALYSIS SYSTEM, AND PEDOMETER - 特許庁

また,電子の操作手順達成状況を収集し,分析し,報告するシステム。例文帳に追加

The system gathers, analyzes, and reports an operation procedure attaining state of the electronic equipment. - 特許庁

分光装置、固体撮像装置、画像表示装置、分析装置および電子情報機例文帳に追加

SPECTRAL DEVICE, SOLID-STATE IMAGING DEVICE, IMAGE DISPLAY DEVICE, ANALYZER, AND ELECTRONIC INFORMATION APPARATUS - 特許庁

前記円筒鏡電子エネルギー分析の前方に試料を設置し、前記試料からの電子を検出し、前記飛行時間型イオン質量分析で前記試料からのイオンを検出する。例文帳に追加

A sample is arranged in front of the cylindrical mirror electron energy analyzer to detect electrons from the sample, and ions from the sample are detected by the time-of-flight type ion mass analyzer. - 特許庁

品質分析装置は、この指示に基づき車両内の電子に所定の信号を送り込み、電子の反応に応じて車両の品質を分析する。例文帳に追加

The quality analyzing device sent a predetermined signal to electric equipment in a vehicle on the basis of the instruction, thereby analyzing vehicle quality according to reactions of the electric equipment. - 特許庁

試料7から放出された光電子電子分光11で検出され、試料分析手段21は、試料7の極表面の元素情報を得る。例文帳に追加

A photoelectron emitted from the sample 7 is detected by an electron spectroscope 11, and a sample analyzing means 21 provides elementary information of a sample 7 electrode surface. - 特許庁

装置を小型化した場合においても、散乱電子を効率よく検出することのできる電子スピン分析を提供する。例文帳に追加

To provide an electron spin analyzer that can effectively detect scattered electrons even when the apparatus are made smaller. - 特許庁

また、表面分析装置1は、試料S表面に1次電子線を照射する電子線鏡筒3と、上記スピン検出5と、を有する。例文帳に追加

The surface analyzer 1 includes an electron beam lens barrel 3 for irradiating a sample S surface with primary electron beams, and the spin detector 5. - 特許庁

試料のガス反応処理を分析室で行え、その場合でも、S/N比の良いスペクトルを短時間に得ることができる電子分光装置および電子分光ならびに試料分析方法を提供する。例文帳に追加

To provide an electron-spectroscope device, an electron spectroscope and a sample analysis method which are capable of conducting gas reaction treatment in an analytical laboratory and further obtaining a spectrum having a superior S/N ratio in a short time even if it is conducted in such a case. - 特許庁

表示制御手段11は設定分析エネルギーE_0、E_1を決めると、電子線が試料上で走査されるように偏向信号発生手段13を制御すると共に、電子分光10の分析エネルギーが前記E_0、E_1に設定されるように分析エネルギー設定手段12を制御する。例文帳に追加

When set analysis energy levels E0, E1 are determined, a display control means 11 controls a deflection signal generation means 13 so that an electron beam is scanned on a sample, and controls an analysis energy setting means 12 so that the analysis energy of an electron spectroscope 10 is set to the energy levels E0, E1. - 特許庁

環境を保存(保護)するため、蛍光X線分光装置が、EU指令で規制される電気機電子中の有害物質を分析することに使われる。例文帳に追加

To conserve the environment, X-ray fluorescence spectrometers are used to analyze hazardous substances in electric and electronic devices, which are regulated by the EU Directive.  - 科学技術論文動詞集

回折面アパチャー透過エネルギー制御方式の角度分解型電子分光及びこの分光を用いた分析方法例文帳に追加

ANGLE RESOLVING ELECTRON SPECTROSCOPE OF DIFFRACTION PLANAR APERTURE TRANSMISSIVE ENERGY CONTROL TYPE, AND ANALYSIS METHOD USING THE SAME - 特許庁

角度分解・リターディング独立動作型入射レンズシステムを備えた電子分光及び分光を用いた分析方法例文帳に追加

ELECTRON SPECTROSCOPE EQUIPPED ANGLE WITH RESOLVING AND RETARDING INDEPENDENTLY OPERATING TYPE INCIDENT LENS SYSTEM, AND ANALYSIS METHOD USING THE SAME - 特許庁

イオン化装置、質量分析、イオン移動度計、電子捕獲検出およびクロマトグラフ用荷電粒子計測装置例文帳に追加

IONIZATION DEVICE, MASS SPECTROGRAPH, IONIC MOBILITY METER, ELECTRON CAPTURE DETECTOR, AND CHARGED PARTICLE MEASURING DEVICE FOR CHROMATOGRAPH - 特許庁

本発明のAES分析装置は、真空槽2内に、絶縁性試料10に対して所定の電子ビームを照射するための電子銃4と、絶縁性試料10から放出されたオージェ電子のエネルギーを分析する電子エネルギー分析5と、絶縁性試料10に対してリチウム導電膜を形成するための蒸着源6とを有する。例文帳に追加

The advanced encryption standard (AES) analyzing apparatus comprises an electron gun 4 for emitting a specific electron beam against the insulating material sample 10, an electron energy analyzer 5 for analyzing the energy of an Auger electron emitted from the sample 10 and a vapor deposition source 6 for forming a lithium conductive film on the sample 10. - 特許庁

イオン付着質量分析装置によって付着性ガス等を質量分析する場合に測定感度を低下させることなく、安価な装置構成で、集束レンズ、Qポール型質量分析電子増倍管の性能劣化という悪い影響を防止する。例文帳に追加

To prevent an adverse effect of performance deterioration of a focusing lens, a Q-pole type mass spectrograph and an electron amplifier by an inexpensive device constitution without lowering measuring sensitivity when adhesive gas is analyzed mass-spectrometrically by a mass spectrograph with ion. - 特許庁

その新型300kV分析電子顕微鏡は、ウルトラスィン・ウインドウ半導体(リチウム)検出を有するEDS装置を備え付けている。例文帳に追加

The new 300 kV analytical electron microscope is fitted with an EDS system having an ultra-thin window Si (Li) detector.  - 科学技術論文動詞集

半導体ウエハに対してガス処理を行うための真空容に、電子付加型質量分析装置を接続する。例文帳に追加

An electron addition type mass spectrometer is connected to a vacuum vessel for conducting gas treatment on a semiconductor wafer. - 特許庁

目的の一つは、各装置の電子分光の感度を正確に比較することができるX線分析装置を提供すること。例文帳に追加

To provide an X-ray analyzer capable of accurately comparing the sensitivities of the electronic spectroscopes of respective apparatuses. - 特許庁

透過型電子顕微鏡の検出システムにおいて、画像取得期間の間に、画像データがピクセルから読み出され、分析される。例文帳に追加

In a detector system for a transmission electron microscope, during an image acquisition period, image data is read out from a pixel and is analyzed. - 特許庁

電気信号は各々が光信号の強度を示し、分析のため各検出から電子データ収集システムに通される。例文帳に追加

The electronic signals, each representing the intensity of an optical signal, pass from each detector to an electronic data acquisition system for analysis. - 特許庁

電子噴霧イオン化質量分析を利用して、試料と反応せずにイオン化を容易にするための方法を提供する。例文帳に追加

To provide a method for facilitating ionization without reacting with a sample, using an electronic atomization ionization mass spectrograph. - 特許庁

また、分析装置であって、前記発明のいずれかの電子冷却を試料処理部に用いたことを特徴とする。例文帳に追加

In this analyzer, the electronic cooler is used in a sample treatment part. - 特許庁

Thorbecke(2012)においても、2007 年から2011 年までの我が国の電子の輸出価格動向に着目した分析を行っている。例文帳に追加

Thorbecke (2012) analyzes the trend of export price of Japan’s electronic equipment between 2007 and 2011. - 経済産業省

実用上有用な「その場」観察によって、試料の表面および内部に含まれる含有水素を正確にかつ簡便に分析することができる電子衝撃型反跳水素分析を提供する。例文帳に追加

To provide an electron bombarded recoil hydrogen analyzer that can accurately and easily analyze hydrogen contained on the surface of a sample and in the sample by 'on the spot' observation being practically useful. - 特許庁

信号分析装置、信号処理装置、音声認識装置、信号分析プログラム、信号処理プログラムおよび音声認識プログラム、記録媒体、並びに電子例文帳に追加

SIGNAL ANALYZER, SIGNAL PROCESSOR, VOICE RECOGNITION DEVICE, SIGNAL ANALYSIS PROGRAM, SIGNAL PROCESSING PROGRAM, VOICE RECOGNITION PROGRAM, RECORDING MEDIUM AND ELECTRONIC EQUIPMENT - 特許庁

分析位置を電子分光のフォーカス点に合わせることができる電子線装置における試料ステージ制御方法および電子線装置を提供すること。例文帳に追加

To provide a sample stage control method and an electron beam device in an electron beam device capable of adjusting an analysis position to a focus point of an electrospectrometer. - 特許庁

半導体装置は、当該半導体装置を有する第1の電子とは別の第2の電子から得られた認証情報を用いて、第2の電子を認証する機認証部と、機認証部による認証結果を含む認証経過情報を記憶する第1の記憶部と、前記認証経過情報を参照して、前記機認証部による認証結果を分析する認証分析部と、を備える。例文帳に追加

The semiconductor device comprises an equipment authentication part for authenticating second electronic equipment using authentication information obtained from the second electronic equipment different from the first electronic equipment having the semiconductor device, a first storage part for storing authentication process information including the authentication result by the equipment authentication part, and an authentication analysis part for analyzing the authentication result by the equipment authentication part. - 特許庁

なお、流通型収量分析18は、電子スピン共鳴装置11から取り出された反応生成物を電子スピン共鳴装置11の磁場掃引機構14による磁場の掃引と対応付けて分析し、収量検出磁気共鳴スペクトルを求める。例文帳に追加

The flow-through type yield analyzer 18 analyzes the reaction product taken out from the electron spin resonance device 11 by making correspond to sweep of the magnetic field by a magnetic field sweeping mechanism 14 of the electron spin resonance device 11 to obtain the yield detecting magnetic resonance spectrum. - 特許庁

一方、小型パルス電子分光分析装置は、この短パルス電子ビーム発生装置10と、分光用短パルスレーザー発生装置80と、短パルスレーザーと高周波とを同期させる同期回路と、分光分析用試料を透過した短パルスレーザーを測定する測定とを備えた構成とした。例文帳に追加

The small-sized pulse electron spectroscopic analyzing device is provided with the short pulse electron beam generating device 10, a spectroscopic short pulse laser generating device 80, a synchronous circuit for synchronizing the short pulse laser and the high frequency, and a measuring instrument for measuring the short pulse laser passing though a sample for spectroscopic analyzing. - 特許庁

測定時のX線の利用効率を高めると共に、このX線が照射された結果として放出される分析対象物からの電子信号のS/N比を向上させることにより、測定結果の信頼性を一段と高めたX線電子分光分析を提供する。例文帳に追加

To provide an X-ray electron spectroscopic analyzer which increases the reliability of the result of a measurement by a method wherein the utilization efficiency of X-rays in the measurement is increased and the S/N ratio of an electronic signal from an object, to be analyzed, discharged when it is irradiated with the X-rays is enhanced. - 特許庁

例文

流体中の凝縮物の分離する電子冷却に関し、効率の良い気液分離が可能で、コンパクトな電子冷却、およびこれを用いたエネルギー効率の高いコンパクトな高精度の分析装置を提供する。例文帳に追加

To provide a compact electronic cooler capable of separating a condensate in a fluid and enabling efficient gas-liquid separation, and a compact analyzer of high precision enhanced in energy efficiency using it. - 特許庁

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