「電子顕微分析」に関連した英語例文の一覧と使い方 - Weblio英語例文検索

光学顕微鏡と電子顕微鏡とによる分析方法例文帳に追加

ANALYSIS METHOD BY OPTICAL MICROSCOPE AND ELECTRON MICROSCOPY - 特許庁

透過電子顕微鏡又は走査型透過電子顕微鏡を用いた試料の分析方法及び分析装置例文帳に追加

METHOD AND APPARATUS FOR ANALYZING SAMPLE USING TRANSMISSION ELECTRON MICROSCOPE OR SCANNING TYPE TRANSMISSION ELECTRON MICROSCOPE - 特許庁

電子エネルギー分析器及びそれを用いた電子顕微鏡例文帳に追加

ELECTRON ENERGY ANALYZER AND ELECTRON MICROSCOPE USING THE SAME - 特許庁

走査電子顕微鏡による分析方法例文帳に追加

ANALYTICAL METHOD BY SCANNING ELECTRON MICROSCOPE - 特許庁

分析電子顕微鏡のシャッタ機構例文帳に追加

SHUTTER MECHANISM OF ANALYTIC ELECTRON MICROSCOPE - 特許庁

化学分析用複合放出電子顕微鏡装置例文帳に追加

COMPOSITE EMISSION ELECTRON MICROSCOPE FOR CHEMICAL ANALYSIS - 特許庁

分析装置および透過電子顕微鏡例文帳に追加

ANALYZER AND TRANSMISSION ELECTRON MICROSCOPE - 特許庁

試料ホルダ、元素分析装置、電子顕微鏡、及び、元素分析方法例文帳に追加

SAMPLE HOLDER, ELEMENT ANALYZER, ELECTRON MICROSCOPE AND ELEMENT ANALYZING METHOD - 特許庁

真空分析装置、質量分析装置および電子顕微鏡装置例文帳に追加

VACUUM ANALYZER, MASS SPECTROMETER AND ELECTRON MICROSCOPIC APPARATUS - 特許庁

電子顕微鏡またはＸ線分析装置及び試料の分析方法例文帳に追加

ELECTRON MICROSCOPE OR X-RAY ANALYSIS APPARATUS, AND METHOD FOR ANALYZING SAMPLE - 特許庁

電子線分光器、それを備えた電子顕微鏡及び分析方法例文帳に追加

ELECTRON BEAM SPECTROSCOPE, ELECTRON MICROSCOPE EQUIPPED WITH THE SAME, AND ANALYTICAL METHOD - 特許庁

陽電子分析顕微鏡および陽電子ビームを用いた測定方法例文帳に追加

POSITIVE ELECTRON ANALYSIS MICROSCOPE AND MEASUREMENT METHOD USING POSITIVE ELECTRON BEAM - 特許庁

分析電子顕微鏡において、電子線照射時の試料汚染を防止する。例文帳に追加

To prevent sample contamination in electron irradiation in an analytical electron microscope. - 特許庁

電子顕微鏡装置と共に用いる分析装置、及び、第１の分析装置と共に用いる第２の分析装置例文帳に追加

ANALYZER USED WITH ELECTRON MICROSCOPE APPARATUS, AND SECOND ANALYZER USED WITH FIRST ONE - 特許庁

分析電子顕微鏡における予備排気方法及び予備排気室例文帳に追加

PRELIMINARY EXHAUST METHOD AND PRELIMINARY EXHAUST ROOM IN ANALYTICAL ELECTRON MICROSCOPE - 特許庁

元素分析装置及び走査透過型電子顕微鏡並びに元素分析方法例文帳に追加

ELEMENT ANALYZING APPARATUS AND SCANNING TRANSMISSION ELECTRON MICROSCOPE AND ELEMENT ANALYZING METHOD - 特許庁

設定した分析点に正確に電子ビームを照射して分析を行うことができる電子顕微鏡における分析方法を実現する。例文帳に追加

To realize an analyzing method in an electron microscope capable of accurately irradiating a set analyzing point with electron beam to perform analysis. - 特許庁

電子線照射装置、及び走査型電子顕微鏡装置、Ｘ線分析装置例文帳に追加

ELECTRON BEAM IRRADIATION APPARATUS, SCANNING ELECTRON MICROSCOPE APPARATUS, AND X-RAY ANALYSIS APPARATUS - 特許庁

発光体と、これを用いた電子線検出器、走査型電子顕微鏡及び質量分析装置例文帳に追加

ILLUMINANT, AND ELECTRON BEAM DETECTOR, SCANNING ELECTRON MICROSCOPE AND MASS SPECTROMETER USING THE SAME - 特許庁

光学顕微鏡で観察された特定の物質それ自体を電子顕微鏡で観察することを可能とする分析方法を提案すること。例文帳に追加

To provide an analysis method of observing, with an electron microscopy, a specific matter itself observed with an optical microscope. - 特許庁

透過電子顕微鏡の３次元分析のための３軸駆動が可能な試片ホルダー例文帳に追加

SPECIMEN HOLDER CAPABLE OF PERFORMING THREE-AXIS DRIVE FOR THREE-DIMENSIONAL ANALYSIS OF TRANSMISSION ELECTRON MICROSCOPE - 特許庁

走査電子顕微鏡本体側と外部分析装置側に同等の回路を備えることなく、簡単な構成により、試料の特定領域の元素分析や元素マッピングを正しい分析位置（電子ビーム一致）で正確に行うことができる分析機能を有した分析走査電子顕微鏡を実現する。例文帳に追加

To provide a scanning electron microscope for analysis having an analyzing function accurately performing element analysis and element mapping at a specific area of a sample at a correct analysis position (consonance of electron beam) with a simple constitution without providing an equivalent circuit on a scanning electron microscope side and an external analyzer side. - 特許庁

共焦点顕微鏡からの出力される各種画像情報と電子顕微鏡の出力画像情報とが合成された特有の画像情報を出力でき、試料分析に有用な複合型顕微鏡装置を実現する。例文帳に追加

To provide a compound microscope device effective to analyze a sample and capable of outputting a proper image information obtained by synthesizing various image information output from a confocal microscope and image information output from an electronic microscope. - 特許庁

走査透過型電子顕微鏡装置で分析対象物（５）を透過した電子線は元素マッピング装置に入射する。例文帳に追加

An electron beam transmitting through an object 5 to be analyzed in this scanning transmission electron microscope enters the element mapping device. - 特許庁

分析時間の短縮を図れるとともに分析対象体表面のコンタミネーションの発生を抑制して分析精度の向上を図れるといった、優れた電子顕微鏡装置と共に用いる分析装置を提供する。例文帳に追加

To provide an analyzer used with an excellent electron microscope apparatus capable of shortening the analyzing time and improving the analyzing accuracy by suppressing the occurrence of the contamination on an analysis object surface. - 特許庁

入射像面および入射瞳面を有し、試料を通過した電子の分析方法として１種類またはそれ以上の種類の分析方法を実施可能とする、適応性の高い分析系を備える透過電子顕微鏡を提供する。例文帳に追加

To provide a transmission electron microscope having an analysis system with high adaptability, which has an incident image surface and an incident pupil surface and can perform one or more kinds of analysis methods as an analysis method for electrons passing through samples. - 特許庁

分解能の高い光電子観察画像を得るために、試料上で、オージェ電子分光分析による分析部位と光電子観測部位との位置合わせが容易な光電子顕微鏡装置を得る。例文帳に追加

To obtain a photoemission electron microscope of which position alignment of an analysis portion and a photoelectron observation portion by an Auger electron spectral analysis on the test piece for obtaining a photoelectron observation image with high resolution is easy. - 特許庁

走査型又は透過型電子顕微鏡、オージェ電子分光装置等の表面分析装置、電子線露光機、特に、電子ビームの加速電圧が１ｋＶ以下の低加速で用いられる走査型電子顕微鏡、ＣＤ ＳＥＭ、ＤＲＳＥＭ等の半導体ウェハ検査装置に用いられる電子源を提供する。例文帳に追加

To provide an electron source which is used for a semiconductor wafer inspection device such as a scanning or transmission electron microscope, a surface analyzer like an Auger electron spectroscopic analyzer, an electron beam exposure apparatus, especially a scanning electron microscope using an electron beam accelerated with low voltage of 1 kV or less, a CD SEM, or a DRSEM. - 特許庁

その本は、透過電子顕微鏡法における像とコントラスト形成の理論および分析の方法を示す。例文帳に追加

The book presents the theory of image and contrast formation, and the analytical modes in transmission electron microscopy.  - 科学技術論文動詞集

その新型300kV分析電子顕微鏡は、ウルトラスィン・ウインドウ半導体(リチウム)検出器を有するEDS装置を備え付けている。例文帳に追加

The new 300 kV analytical electron microscope is fitted with an EDS system having an ultra-thin window Si (Li) detector.  - 科学技術論文動詞集

検出効率を高めることができるとともに、使用効率を高めることができる分析電子顕微鏡を提供する。例文帳に追加

To provide an analytical electron microscope capable of enhancing detection efficiency and of enhancing use efficiency. - 特許庁

透過型電子顕微鏡の検出器システムにおいて、画像取得期間の間に、画像データがピクセルから読み出され、分析される。例文帳に追加

In a detector system for a transmission electron microscope, during an image acquisition period, image data is read out from a pixel and is analyzed. - 特許庁

すなわち、この発光体１０は、走査型電子顕微鏡や質量分析装置への適応に十分な応答速度及び発光強度を有している。例文帳に追加

Namely, the illuminant 10 has a speed of response and an emission intensity enough for application to scanning electron microscopes and mass spectrometers. - 特許庁

エネルギー損失分光装置の分析方法及びエネルギー損失分光装置を備えた透過電子顕微鏡例文帳に追加

ANALYSIS METHOD OF ENERGY LOSS SPECTROSCOPIC DEVICE, AND TRANSMISSION ELECTRON MICROSCOPE EQUIPPED WITH THE ENERGY LOSS SPECTROSCOPIC DEVICE - 特許庁

走査型電子顕微鏡イメージファイルを用いた半導体ウェーハ表面の粒子成長度数値的分析方法とこれのための装置例文帳に追加

METHOD FOR DIGITALLY ANALYZING GROWTH OF PARTICLE ON SURFACE OF SEMICONDUCTOR WAFER USING SCANNING ELECTROMICROSCOPE IMAGE FILE - 特許庁

本発明による走査電子顕微鏡は、低真空制御が可能な真空排気系１３と、エネルギー分散型Ｘ線検出器１４と、スライドを搭載できる試料ホルダ１５を有することで、偏光顕微鏡で観察するのに使用したスライドをそのまま電子顕微鏡に搭載することが可能となり、同一試料による観察および分析ができる走査電子顕微鏡の提供が可能となる。例文帳に追加

The scanning electron microscope includes; a vacuum evacuation system 13 capable of low vacuum control; an energy dispersion type X-ray detector 14; and a sample holder 15 on which a slide can be mounted, thereby the slide using for observation by a polarization microscope can be mounted on the electron microscope as it is, and the scanning electron microscope can be provided which can perform observation and analysis for the same sample. - 特許庁

本発明はエネルギー損失分光装置の分析方法及びエネルギー損失分光装置を備えた透過電子顕微鏡に関し、処理速度を向上させることができるエネルギー損失分光装置の分析方法及びエネルギー損失分光装置を備えた透過電子顕微鏡を提供することを目的としている。例文帳に追加

To enhance processing speed in an analysis method of an energy loss spectroscopic device and a transmission electron microscope, equipped with the energy loss spectroscopic device. - 特許庁

このコアシェル粒子の分析法には、更に、コアシェル粒子が担持された担体を電子顕微鏡によりコアシェル構造であることを確認する工程、及びコアシェル粒子が担持された担体を電子顕微鏡により組成分析する工程を付加することができる。例文帳に追加

The method for analyzing core-shell particles further includes the steps of: confirming that the carrier having the core-shell particle supported thereon has a core-shell structure by an electron microscopy; and analyzing the composition of the carrier having the core-shell particle supported thereon by the electron microscopy. - 特許庁

周囲の振動、音響の入力により、電子顕微鏡等の顕微分析装置の構成部材がそれぞれの固有振動モードにて振動するとき、その振動エネルギを熱エネルギに変換して前記振動を減衰させること。例文帳に追加

To damp the vibration by converting vibration energy into heat energy when a constituent member of a microscopic analysis device such as an electron microscope is vibrated in a natural vibration mode by the input of ambient vibration, sound. - 特許庁

電子顕微鏡１１とエネルギー分散型Ｘ線分析装置２２とこれらを制御するコンピュータ１３，２４とを備えたエネルギー分散型マイクロアナライザにおいて、電子顕微鏡１１について設定する分析条件と、その条件に対応する条件でエネルギー分散型Ｘ線分析装置２２について設定する分析条件とを記憶した記憶媒体１３ａ，２４ａを設けている。例文帳に追加

In the energy dispersion type microanalyzer equipped with an electron microscope 11, an energy dispersion type X-ray analyzer 22 and computers 13 and 24 for controlling them, memory media 13a and 24a storing the analyzing condition set with respect to the electron microscope 11 and the analyzing condition set with respect to the energy dispersion type X-ray analyzer 22 on the basis of the condition corresponding to the set analyzing condition are provided. - 特許庁

ビームシャワーモードの設定を誰もが最適な条件で簡単に行なうことができ、また、ビームシャワー動作が終了した後には、電子顕微鏡の各パラメータを元の分析や観察のモードに短時間に正確に戻すことができる電子顕微鏡を実現する。例文帳に追加

To provide an electron microscope allowing anyone to easily set a beam shower mode with optimum conditions and return each parameter to an original analysis mode or observation mode correctly in a short time after a beam shower operation finishes. - 特許庁

電子顕微鏡の試料を液体ヘリウムによって極低温（数Ｋ）に冷却して、観察、分析する専用ヘリウム冷却ステージを他の冷却温度として液体窒素による低温（数十Ｋ）でも使用できる電子顕微鏡の試料冷却装置を提供すること。例文帳に追加

To provide a sample cooling device for an electron microscope wherein an exclusive-use helium cooling stage for cooling the sample in the electron microscope to a very low temperature (several K) by liquid helium, and then observing and analyzing it can be also used at a low temperature (several tens of K) as another cooling temperature by the use of liquid nitrogen. - 特許庁

該分析方法は、透過型電子顕微鏡、走査型電子顕微鏡、電子プローブマイクロアナリシス、オージエ電子分光、２次イオン質量分析、アトムプローブ、赤外分光、レーザーラマン分光、誘導結合プラズマ、液体クロマトグラフ、ガスクロマトグラフからなる群より選択される少なくとも一つの方法である。例文帳に追加

The analysis method is at least one method selected from the group consisting of transmission electron microscope, scanning electron microscope, electron probe microanalysis, Auger electron spectroscopy, atom probe, infrared spectroscopy, laser Raman spectroscopy, inductive coupled plasma spectroscopy, liquid chromatography, and gas chromatography. - 特許庁

タングステンおよびその化合物における元素の化学結合状態分析方法において、測定用材料を電子顕微鏡から取得される特性Ｘ線波長を解析することによって、化学結合状態を分析する。例文帳に追加

In this chemical bonding condition analyzing method for elements in tungsten and its compound, the chemical bonding condition of the measuring material is analyzed by analyzing the characteristic X-ray wavelength provided from the electron microscope. - 特許庁

既設の透過型電子顕微鏡（ＴＥＭ）を用いてカソードルミネッセンス分析を容易に行うことを可能とするカソードルミネッセンス用試料ホルダ、及び該カソードルミネッセンス用試料ホルダを用いた分光分析装置を提供する。例文帳に追加

To provide a cathode luminescence specimen holder to easily perform cathode luminescence analysis by using an existing transmission electron microscope (TEM) and a spectroscopic analyzer using the cathode luminescence specimen holder. - 特許庁