「顕微鏡観察」に関連した英語例文の一覧と使い方(12ページ目) - Weblio英語例文検索

光学顕微鏡の像に重なる別の観察手段の像に自然なボケをもたせる。例文帳に追加

To make an image by another observation means superposed on an image by an optical microscope naturally unsharp. - 特許庁

動きのある試料の立体像を観察可能な共焦点顕微鏡を提供する。例文帳に追加

To provide a confocal microscope with which stereoscopic images of a moving sample can be observed. - 特許庁

顕微鏡観察下における微粒子の３次元位置を、速やかに高精度で検出する。例文帳に追加

To quickly and highly accurately detect the three-dimensional position of a particle under observation by a microscope. - 特許庁

光学顕微鏡及びオートフォーカス方法ならびにそれを用いた観察方法。例文帳に追加

OPTICAL MICROSCOPE, AUTOFOCUS METHOD AND OBSERVING METHOD USING THE SAME - 特許庁

重畳装置３４は、顕微鏡観察視野に神経モニタ４２の画像を重畳するための装置である。例文帳に追加

A superimposing device 34 superimposes the image of a nerve monitor 42 on a microscope observing field. - 特許庁

顕微鏡において、標本を動かさずに、標本の観察視野を移動調整する。例文帳に追加

To shift and adjust the observation field of a sample without shifting the sample, regarding a microscope. - 特許庁

ホストシステム２は、観察体１９を撮像して得られる時系列の顕微鏡画像を動画像として取得すると共に、当該顕微鏡画像の各々に対応付けられている情報であって当該顕微鏡画像が撮像されたときの顕微鏡装置１の観察状態を示している当該情報である顕微鏡情報を取得する。例文帳に追加

A host system 2 captures a time series of microscope images obtained by photographing the image of a specimen 19 as a dynamic images, and also captures microscope information to be made correspond to respective microscope image and representing an observing state of a microscope device 1 when the microscope image photographed. - 特許庁

そして、当該顕微鏡情報に含まれており前記顕微鏡画像が撮像されたときの観察体１９の位置を示している位置情報に基づいて、当該動画像を構成している各顕微鏡画像を合成することで、当該顕微鏡画像よりも視野の広いワイド画像を生成する。例文帳に追加

On the basis of position information included in the microscope information and representing the position of the specimen 19 when each microscope image is photographed, the microscope images constituting the dynamic image are composed, thereby forming a wide image wider in view field than the microscope image. - 特許庁

各観察法により異なる発生源をもつ熱や、環境温度からの熱等の、顕微鏡本体に伝搬する各々の熱による顕微鏡の変形から生ずる像ボケを軽減し、かつ顕微鏡のステージの安定度を維持し、また簡易で安価な構成の顕微鏡を提供すること。例文帳に追加

To provide a microscope which reduces an image blurring arising from the deformation of the microscope by various kinds of the heat propagating to the microscopic body, such as a heat from generating sources varying with respective observation methods, a heat from environmental temperature, etc., maintains the stability of the stage of the microscope and has a simple and inexpensive constitution. - 特許庁

更に、半導体デバイスの特定箇所の断面を走査型顕微鏡で観察した後、同一観察断面を透過型電子顕微鏡で観察すべく作製される観察試料において、前記観察断面上に非晶質構造の保護膜を有することを特徴とする。例文帳に追加

Furthermore, after the cross section of the specific place of the semiconductor device is observed by the scanning microscope, the protective film of the amorphous structure is provided on the observation cross section in an observation sample formed in order to observe the same observation cross section by the transmission electron microscope. - 特許庁

光学顕微鏡によって観察対象物を観察するための顕微観察方法であって、複数種の構成材料を含む観察対象物の表面に少なくとも光を吸収又は散乱する薄膜を形成する薄膜形成工程を実施することにより観察用試料を作製し、さらに、該観察用試料を光学顕微鏡によって観察する観察工程を実施する顕微観察方法を提供する。例文帳に追加

A microscopic observation method for observing an observation object by an optical microscope is provided for performing the steps including: a thin film-forming step of forming a thin film at least absorbing or scattering light on a surface of the observation object containing a plurality of types of constituent materials to thereby prepare an observation sample; and an observing step of observing the observation sample by the optical microscope. - 特許庁

イオンミリングによって試料の表面を削り取り、走査電子顕微鏡による走査像を観察し、ケミカルエッチングによって試料の表面を除去し、再度、走査電子顕微鏡による走査像を観察することによって、走査顕微鏡用の試料を作製する。例文帳に追加

The surface of the sample is shaven off by ion milling and the scanning image by the scanning electron microscope is observed while the surface of the sample is removed by chemical etching and the scanning image by the scanning electron microscope is again observed to prepare the sample for the scanning electron microscope. - 特許庁

光学顕微鏡で観測した平均繊維長（Ｌ１）が１０μｍ以上４０μｍ以下であって、透過型電子顕微鏡によるフィラー端面観察においてグラフェンシートが閉じており、走査型電子顕微鏡での観察表面が実質的に平坦であるピッチ系炭素短繊維フィラー。例文帳に追加

The pitch-based carbon short fiber filler has >10 to ≤40 μm average fiber diameter (L1) observed under an optical microscope, a closed graphene sheet in observation of a filler end face under a transmission type electron microscope, and a substantially flat surface observed under a scanning electron microscope. - 特許庁

本発明は、術者の必要なときのみ顕微鏡観察像への指標の表示を行ない、不必要な指標が顕微鏡観察像の妨げとなることを防止することができる手術用顕微鏡を提供することを最も主要な特徴とする。例文帳に追加

To provide a microscope for surgical operation which makes display of an index to a microscopic observation image only when an operator is needed and is capable of preventing the unnecessary index from hindering the microscopic observation image. - 特許庁

光学式欠陥検査装置または光学式外観検査装置で検出した欠陥を観察する電子顕微鏡5において、欠陥を再検出する光学顕微鏡14を搭載し、この光学顕微鏡14で暗視野観察する際に瞳面に分布フィルタを挿入する構成とする。例文帳に追加

In an electronic microscope 5 for observing the defects detected by an optical defect inspection apparatus or an optical visual inspection apparatus, an optical microscope 14 for redetecting defects is mounted thereupon and a distribution filter is inserted in its pupil surface, when the optical microscope 14 is used to observe dark field. - 特許庁

観察対象物を観察する顕微鏡本体に接続可能であり、光源の照明光を顕微鏡本体に導くライトガイドＯＦと顕微鏡本体との接続状態が解除されたとき、ライトガイドＯＦの光路を遮断する遮光部材２６をライトガイドＯＦの一端部に設けた。例文帳に追加

One end part of a light guide OF is provided with a light shielding member 26, which can be connected to a microscope body for observing an observation object and intercepts an optical path of the light guide OF when the connecting state between the light guide OF for guiding illuminating light of a light source to the microscope body and the microscope body is released. - 特許庁

光学式欠陥検査装置または光学式外観検査装置で検出した欠陥を観察する電子顕微鏡5において、欠陥を再検出する光学顕微鏡14を搭載し、この光学顕微鏡14で暗視野観察する際に瞳面に分布偏光素子及び空間フィルタを挿入する構成とする。例文帳に追加

The electron microscope 5 for observing a defect detected by the optical defect inspection device or the optical appearance inspection device has a constitution wherein an optical microscope 14 for re-detecting the defect is loaded, and a distribution polarization element and a space filter are inserted onto a pupil surface when performing dark field observation by the optical microscope 14. - 特許庁

角膜乱視の矯正を目的とした眼内レンズの挿入手術において、顕微鏡の接眼部を通して観察される手術眼の観察像内に乱視軸位置を呈示可能な眼科用手術顕微鏡および眼科用手術顕微鏡の拡張ユニットを提供する。例文帳に追加

To provide an ophthalmic operation microscope and an extension unit of the ophthalmic operation microscope which can present an astigmatism axis position in an image to be observed of an eye to undergo an operation observed via an eyepiece part of the microscope in an intraocular lens insertion operation aiming at correction of corneal astigmatism. - 特許庁

光学顕微鏡で観測した平均繊維長（Ｌ１）が４０μｍ以上８０μｍ未満であって、透過型電子顕微鏡によるフィラー端面観察においてグラフェンシートが閉じており、走査型電子顕微鏡での観察表面が実質的に平坦であるピッチ系炭素短繊維フィラー。例文帳に追加

The pitch-based carbon short fiber filler has a mean fiber length (L1) of 40 μm or more but less than 80 μm observed with an optical microscope, a closed graphene sheet by filler end face observation with a transmission electron microscope, and a substantially flat surface observed with a scanning electron microscope. - 特許庁

マイクロカプセルを含む試料から、透過型電子顕微鏡による観察が可能な観察用試料を作製することにより、マイクロカプセル内の材料を透過型電子顕微鏡により解析する方法を確立すること。例文帳に追加

To establish a method for analyzing materials in a microcapsule by a transmission electron microscope by manufacturing a sample for observation capable of observation by a transmission electron microscope from a sample containing the microcapsule. - 特許庁

本発明は、走査顕微鏡内で反応容器の接触物質を用いて被観察試料と接触させ、その接触場所を走査電子顕微鏡で良好に観察することを課題とする。例文帳に追加

To observe a contact point with an observed sample satisfactorily with a scanning electron microscope by using a contact substance in a reaction container to come in contact with the observed sample in the scanning microscope. - 特許庁

観察者に、顕微鏡観察像と共に複数の各種画像をそれらの像情報を失うことなく同時に提供することの出来る実体顕微鏡を提供する。例文帳に追加

To provide a stereomicroscope which can simultaneously provide an observer with various kinds of plural images together with microscopic observation images without losing their image information. - 特許庁

欠陥修正機能付き顕微鏡装置１は、被検査対象物の欠陥を観察するための観察顕微鏡２０と、欠陥を修正するためのレーザ装置とを有している。例文帳に追加

The microscope device 1 with the function of correcting the defects has an observation microscope 20 for observing the defects of an inspected object and a laser device for correcting the defects. - 特許庁

グリース中の金属石鹸粒子の顕微鏡観察方法において、グリースを透明な２枚の板の間に所定の強度の力で挟み、微分干渉もしくは偏光機能を有した光学顕微鏡で観察する。例文帳に追加

In this microscopic observation method of metallic soap particles in grease, the grease is sandwiched between the two transparent plates with a force having prescribed strength and observed by an optical microscope having differential interference or polarization function. - 特許庁

顕微鏡観察を再現する動画の表示や、その動画上の特定部位に関する噴出説明も任意に自動表示させる顕微鏡観察再現方法、その装置、プログラムならびに記録媒体を提供する。例文帳に追加

To provide a microscope observation reproducing method, and its apparatus, program and record medium, displaying an animation reproducing the microscope observation and automatically jetting and displaying description on a specified region on the animation arbitrarily. - 特許庁

カプセルを含む試料から、電子顕微鏡による観察が可能な観察用試料を作製することにより、カプセル内の材料の分布状態を電子顕微鏡により解析する方法を確立する。例文帳に追加

To establish a method for analyzing a distribution condition of a material inside a capsule by means of an electron microscope by preparing an observation sample observable by the electron microscope from a sample containing the capsule. - 特許庁

実体顕微鏡のための双眼鏡筒をそのまま用いて、試料を立体的に双眼観察することや鉛直方向から平面的に双眼観察することができる顕微鏡を提供すること。例文帳に追加

To provide a microscope which permits three-dimensional binocular observation of a sample or flat binocular observation thereof from a perpendicular direction by using a binocular tube for a stereomicroscope as it is. - 特許庁

観察しながら観察物体に作業を施すとき、邪魔にならないように設置することの可能な実体顕微鏡用撮影装置、及びその撮影装置を備えた実体顕微鏡装置を提供すること。例文帳に追加

To provide a photographing device for a stereoscopic microscope capable of being installed so as not to become an obstruction in performing work to an observation object while performing observation, and a stereoscopic microscope device provided with the photographing device. - 特許庁

顕微鏡で位相差観察または変調コントラスト観察を実現するための位相シフト方法および装置において、多数の異なる変調器を使用せずに、顕微鏡の使用中に連続的な位相シフトを可能にさせる。例文帳に追加

To continuously shift a phase while using a microscope without using many different modulators in a phase shift method and device for realizing phase difference observation or modulation contrast observation in the microscope. - 特許庁

顕微鏡観察において複数の画像を取得した場合に、関連ある観察画像の管理を容易にする顕微鏡画像管理装置及びプログラムを提供する。例文帳に追加

To provide a microscopic image management apparatus and a program which facilitate the management of related observation images when a plurality of images are acquired in microscopic observation. - 特許庁

顕微鏡、実態顕微鏡、双眼鏡などの双眼観察光学装置および双眼観察光学装置で用いる接眼レンズにおいて、左右の像の融合などを行ないやすくする。例文帳に追加

To provide an ocular which is used in a microscope, a stereomicroscope, a binocular observation optical device such as binoculars and in the binocular observation optical device and facilitates to merge right and left images. - 特許庁

それぞれ異なる像方向の各ポートや顕微鏡アダプタなどの構成ユニットのいずれに取り付けても、観察者の必要とする表示方向に観察像を表示できる顕微鏡用電子カメラを提供すること。例文帳に追加

To provide a microscope electronic camera that can display an observed image in a display direction required by a viewer even when the electronic camera is mounted to each port and a configuration unit such as a microscope adaptor whose image directions differ from each other. - 特許庁

手術用顕微鏡と内視鏡を併用する手術用観察装置において、手術用顕微鏡と内視鏡とで観察像を撮像する撮像手段を共有する。例文帳に追加

To provide an observation unit for surgery, which concurrently uses an operating microscope and an endoscope, and in which an imaging means for obtaining an observation image is shared by the operating microscope and the endoscope. - 特許庁

観察者の疲労感を抑制し、被検物を立体的に良好に観察できるようにした結像光学系、顕微鏡装置及び実体顕微鏡装置を提供する。例文帳に追加

To provide an imaging optical system, a microscope device and a stereomicroscope device which reduce feeling of fatigue of a viewer and allow for good stereoscopic observation of a specimen. - 特許庁

顕微鏡から得られる観察画像の撮像時に、操作者に対して余計な労力をあたえず、円滑な観察環境を提供することができる顕微鏡用撮像装置を提供すること。例文帳に追加

To provide a microscopic image pickup unit having a smooth observation environment without giving unnecessary labor to an operator at the time of picking up an observation image obtained by a microscope. - 特許庁

２．前記１．における多孔質体の顕微鏡観察試料マウント製作方法において、前記硬化型樹脂が１５分前後で硬化する短時間硬化型樹脂であることを特徴とする多孔質体の顕微鏡観察試料マウントの製作方法。例文帳に追加

In the microscope observation sample mount-manufacturing method of a porous body in 1 above, the cured resin is cured in approximately 15 minutes (2). - 特許庁

工業分野における微小構造体の詳細観察や、基礎研究分野における顕微鏡観察に利用することのできる、分解能の高い、顕微鏡に準じたＸ線ＣＴ装置を提供する。例文帳に追加

To provide an X-ray CT apparatus of high resolution, equivalent to a microscope, used for detail observation of a micro structure in an industry field, and microscopic observation in a basic research field. - 特許庁

多光子蛍光観察専用のレーザ顕微鏡に当該レーザ顕微鏡の構成を変更することなくアドオンされてＣＡＲＳ光観察の機能を追加する。例文帳に追加

To provide a unit for CARS light which is added on a laser microscope used only for multiphoton fluorescent observation without changing a constitution of the laser microscope so as to add a function for CARS light observation. - 特許庁

標本Ｓが培養液の彎曲液面の中心軸から外れた位置にあっても観察視野の中央で適正な顕微鏡観察ができる光学顕微鏡を提供すること。例文帳に追加

To provide an optical microscope with which appropriate microscopic observation can be realized in the center of observation field even when a sample S is at a position deviated from the center axis of the curved liquid level of a culture solution. - 特許庁

助手用カメラを顕微鏡本体の内部へ組込まずに、主術者は術部の光学像を肉眼で観察できながら、助手は術部の電子映像をステレオビュアで観察できる立体顕微鏡を提供する。例文帳に追加

To provide a stereoscope microscope which enables an assistant to observe the electron image of an operation part by a stereoscopic viewer while observing the optical image of operation part by the naked eye of a master operator without incorporating an assistant's camera in a microscope main body. - 特許庁

グレアーが少なく視認性の良い観察を行うことが可能な手術用顕微鏡及び観察プリズムを提供する。例文帳に追加

To provide a microscope for an operation and an observation prism with which observation with good visibility and little glare can be performed. - 特許庁

紫外光観察の機能と可視光観察の機能とを併せ持ち、しかも、自動合焦機能を有する顕微鏡を提供する。例文帳に追加

To provide a microscope concurrently having an ultraviolet light observing function and a visible light observing function and also having an automatic focusing function. - 特許庁

顕微鏡で位相差観察または変調コントラスト観察を実現するための位相シフト方法および装置例文帳に追加

PHASE SHIFT METHOD AND DEVICE FOR REALIZING PHASE DIFFERENCE OBSERVATION OR MODULATION CONTRAST OBSERVATION IN MICROSCOPE - 特許庁

電子顕微鏡の観察用試料作製用マスク並びにこのマスクを用いた観察用試料の作製方法および作製装置例文帳に追加

MASK FOR MANUFACTURING OBSERVATION SAMPLE OF ELECTRON MICROSCOPE, MANUFACTURING METHOD AND MANUFACTURING APPARATUS OF OBSERVATION SAMPLE USING MASK - 特許庁

セクショニング分解能が変更可能な共焦点観察と通常の共焦点観察とを切り換えて行うことが可能な顕微鏡装置を提供する。例文帳に追加

To provide a microscope apparatus, which can perform confocal observation capable of changing sectioning resolution and regular confocal observation by switching. - 特許庁