「100 inspection」に関連した英語例文の一覧と使い方 - Weblio英語例文検索

An inspection device 100 preliminarily stores inspection processing end information showing a terminal whose inspection processing has ended and inspection processing time information showing a time when the inspection processing of the terminal has ended.例文帳に追加

検疫装置１００は、予め検疫処理済の端末を示す検疫処理済情報と端末を検疫処理した時を示す検疫処理時情報とを記憶する。 - 特許庁

Each inspection unit includes a main position 100, an inspection position 70, a sub-position 200, inspection tables 30, 40, 50 and a sub-inspection table 60.例文帳に追加

各検査ユニットは、メインポジション１００、検査ポジション７０と、サブポジション２００を有し、更に検査台３０，４０，５０とサブ検査台６０を備える。 - 特許庁

The inspection system 100 includes a processor 150 receiving image data 145 or 165 showing the object 130.例文帳に追加

検査システム(100)は、対象物(130)を表す画像データ(145又は165)を受信するプロセッサ(150)を含む。 - 特許庁

A management terminal 100 transmits inspection request 101 to an inspection host 700 to obtain inspection propriety information 701.例文帳に追加

管理端末１００は検査ホスト７００に検査要求情報１０１を送信し、検査可否情報７０１を得る。 - 特許庁

This device has an inspection head 4 for photographing each fuel rod 100 which is an inspection object, a moving means for moving the fuel rod 100 and the inspection head 4, and a fuel rod inspection control device 6 for performing visual dimension inspection or defect inspection from an appearance image of the fuel rod 100 photographed by the inspection head 4.例文帳に追加

被検査体である燃料棒１００を撮影する検査ヘッド４と、燃料棒１００または検査ヘッド４を移動させる移動手段と、検査ヘッド４で撮影した燃料棒１００の外観画像から外観寸法検査または欠陥検査をする燃料棒検査制御装置６とを有する。 - 特許庁

To provide an inspection carrying device suitable for 100% inspection without reducing productivity.例文帳に追加

生産性を落とすことなく全数検査を行なうのに適した検査用搬送装置を提供する。 - 特許庁

A macro inspection device 100 examines the size variation of a rugged pattern of the surface of an inspection object 2.例文帳に追加

被検査物２の表面の凹凸パターンのサイズ変動を検査するマクロ検査装置１００である。 - 特許庁

The inspection device 100 has the low-temperature vessel 6 and the conveyors 2a, 2b.例文帳に追加

検査装置１００は、低温槽６とコンベア２ａ、２ｂを備えている。 - 特許庁

An openable/closable inspection lid 100 is fitted to the inspection hole 82, and the inspection lid 100 is provided with a confirmation aperture 107 allowing the visual observation of the liquid quantity of the liquid tank 44.例文帳に追加

この点検孔８２に開閉可能な点検用リッド１００を嵌め、この点検用リッド１００に液体タンク４４の液量を目視できる確認窓１０７を備えた。 - 特許庁

A leakage detection device 100 includes an inspection opening 50 penetrating the flange 1f, and an inspection rod 5 inserted into the inspection opening 50.例文帳に追加

漏洩検出装置１００は、フランジ１ｆに貫通された点検開口５０と、点検開口５０に挿入される点検棒５と、を備える。 - 特許庁

A silk inspection window is set to the circumference of the relevant electronic component 100.例文帳に追加

該当する電子部品１００の周囲にシルク検査ウインドウを設定する。 - 特許庁

An overhead wire inspection apparatus 100 includes a pair of movable frames 20, 30.例文帳に追加

架空線点検装置１００は、一対の移動フレーム２０・３０を備える。 - 特許庁

The optical image imaged by the inspection device 100 is converted to a bitmap.例文帳に追加

検査装置１００で撮像された光学画像はビットマップに変換される。 - 特許庁

By preparing an inspection plate 100 and making a master information carrier 2 closely contact the plate 100 for inspection instead of a direct defect inspection using the master information carrier, defects on the master information carrier 2 are transferred to the plate 100 for inspection, and the defects are indirectly inspected on the plate 100.例文帳に追加

マスタ情報担体での直接的な欠陥検査に代わって、検査用基板１００を用意し、マスタ情報担体２を検査用基板１００に密着させることにより、マスタ情報担体２上の欠陥を検査用基板１００に転写し、検査用基板１００において間接的にマスタ情報担体２の欠陥を検査する。 - 特許庁

An expansion member 190 which expands at a predetermined temperature or more is equipped between the peripheral end of the inspection lid 100 and an inspection lid stub 40 when the peripheral end of the inspection lid 100 is closed with respect to the underframe 30 of the inspection lid 100 facing to the inspection lid stub 40 of the underframe 30.例文帳に追加

点検蓋１００の周縁部が台枠３０の点検蓋受４０に対向することとなる点検蓋１００の台枠３０に対する閉じ状態で、点検蓋１００の周縁部と点検蓋受４０との間に、所定の温度以上になると膨張する膨張材１９０が備えられている。 - 特許庁

Since various inspection steps of the substrate are carried out with the integrated substrate inspection apparatus 100, the efficiency of the substrate inspection steps is enhanced, and reliability of the various substrate inspection steps is enhanced.例文帳に追加

多様な基板の検査工程を統合基板検査装置１００を通じて実施するので基板検査工程の効率が向上し、多様な基板検査工程の信頼度が向上する。 - 特許庁

An inspection device 100 inspects the pressure loss in a DPF 10 as follows.例文帳に追加

検査装置１００は、次のとおりＤＰＦ１０の圧力損失を検査する。 - 特許庁

The inspection system inspects an apparatus having a server 200 and mobile terminal 100.例文帳に追加

サーバ２００と携帯端末１００とを備えた機器を点検する点検システム。 - 特許庁

A front surface 100a of an inspection object 100 is convexly curved toward an outside of the inspection object 100 at least from a transmitter 2 to a receiver 3.例文帳に追加

被検査体１００の表面１００ａは、少なくとも送信子２及び受信子３間において被検査体１００の外側に向けて凸状の曲面である。 - 特許庁

Inspection equipment 100 acquires the communication contents of a Web site 50 and a browser 14.例文帳に追加

検査装置１００は、ウェブサイト５０とブラウザ１４との通信内容を取得する。 - 特許庁

This surface inspection device 100 includes a focal point adjusting part 101, a storage part 102 and a surface inspection determination part 103.例文帳に追加

表面検査装置１００は、焦点調整部１０１と記憶部１０２と表面検査判定部１０３とを備えている。 - 特許庁

The clearance 100 allows an opening 5 of the roof floor inspection hole 6 to communicate with the space 200, thereby reducing aerodynamic noise caused by airflow between the outside of the cover body 23 and the roof floor inspection hole 6 when the roof floor inspection hole 6 is closed.例文帳に追加

これにより、屋上点検口６の閉鎖時に蓋体２３の外部と屋上点検口６の間に生じる空気流の空力騒音を低減させる。 - 特許庁

This inspection score control system 100 has a host computer 110, and sends data on an inspection reference data file 120 to a PC 130, and prepares an inspection indicating slip 200.例文帳に追加

検査成績管理システム１００は、ホストコンピュータ１１０を有し、検査基準データファイル１２０のデータをＰＣ１３０へ送り、検査指示票２００を作成する。 - 特許庁

X-RAY MICROSCOPE OF REFLECTOR TYPE AND INSPECTION SYSTEM WHICH INSPECT OBJECT ON WAVELENGTH ≤100 nm例文帳に追加

波長≦１００ｎｍで物体を検査する反射型Ｘ線顕微鏡および検査系 - 特許庁

The sub-inspection table 60 is set in the main position 100 during the time when the liquid crystal display panel 10 is inspected in the inspection position 70.例文帳に追加

液晶表示パネル１０が検査ポジション７０で検査されている間、サブ検査台６０がメインポジション１００にセットされる。 - 特許庁

The sub-inspection table 60 set in the main position 100 is moved and another liquid crystal display panel 10 is set in another inspection position.例文帳に追加

他の液晶表示パネル１０がメインポジション１００にセットされたサブ検査台６０を移動して、他の検査ポジションにセットされる。 - 特許庁

The coil inspection system 100 has a bobbin holding jig 21, an insulation inspection device 31, a coil tank 4, and a data processing computer 5.例文帳に追加

コイル検査システム１００は，ボビン保持治具２１と，絶縁検査装置３１と，コイルタンク４と，データ処理計算機５とを有している。 - 特許庁

The feature amount of the texture variation section of the inspection object 100 is measured by transmitting the ultrasonic wave from a probe 7 to the inspection object 100 and receiving back scattered wave.例文帳に追加

検査対象１００に探触子７から超音波を送信すると共に後方散乱波を受信することにより検査対象１００における組織変化部の特徴量を測定する。 - 特許庁

At least one of a large number of steps 1 connected in an endless form is taken as an inspection step 100, and a movement sound-collection device 10 is installed at the inside of the inspection step 100.例文帳に追加

無端状に連結された多数のステップ１の少なくとも１つを検査用ステップ１００とし、この検査用ステップ１００内部に移動集音装置１０を設置する。 - 特許庁

Also, the inspection device 100 decides whether or not the transmission origin terminal is connected to external equipment after the inspection processing time of the transmission origin terminal shown by the inspection processing time information stored in the inspection information storage part.例文帳に追加

また、検疫装置１００は、検疫情報記憶部が記憶した検疫処理時情報が示す送信元端末を検疫処理した時の後、送信元端末が外部の機器へ接続したか否かを判定する。 - 特許庁

Based on the image obtained by the optical image pickup machine 11, the surface state of the Mg-based cast material 100 is inspected by an image processing-inspection unit 12.例文帳に追加

光学撮像機11により得られた像に基づいて画像処理検査部12により、Mg基鋳造材100の表面状態を検査する。 - 特許庁

A receiver 3 and the transmitter 2 are moved along the front surface 100a of the inspection object 100.例文帳に追加

受信子３及び送信子２を被検査体１００の表面１００ａに沿って移動させる。 - 特許庁

An inspection system 100 includes an illumination part 110, an imaging part 120 and an image processing part 130.例文帳に追加

検査システム１００は、照明部１１０と、撮像部１２０と、画像処理部１３０とを備える。 - 特許庁

This inspection device 100 inspects an article 10 formed by filling a vessel with foaming liquid.例文帳に追加

検査装置１００は、発泡性液体が容器に充填されてなる物品１０を検査する。 - 特許庁

The reproduction inspection program 100 notifies the user terminal 300 of the result of decision on the existence of the reproduction.例文帳に追加

転載検査装置１００は、転載有無の判定結果をユーザ端末３００に通知する。 - 特許庁

In the musical instrument 100, inspection data are generated and transmitted to the keyboard inspection device 200, each time a key switch is switched sequentially on by key-pressing.例文帳に追加

楽器本体１００では、押鍵により鍵スイッチが順次オンされる毎に検査データを発生して鍵盤検査装置２００に送信する。 - 特許庁

An insulation inspection to a coil is executed while the coil bobbin is being held by the bobbin holding jig 21, and a conductor wire is being wound in the coil inspection system 100.例文帳に追加

そして，コイル検査システム１００では，ボビン保持治具２１がコイルボビンを保持し，導線を巻き付けながらコイルの絶縁検査を行う。 - 特許庁

To provide an inspection port plug 100 device for sealing three or more of oppositely arranged inspection ports in a multi-chamber type gas turbine engine.例文帳に追加

マルチチャンバ型ガスタービンエンジン内の３つ以上の対向配置した点検ポートを密閉するための点検ポートプラグ（１００）装置を提供する。 - 特許庁

An inspection apparatus 100 comprises: a semiconductor device 10; a power supply 20; a switching element 24; a control part 50; a switching part 70; and an inspection part 26.例文帳に追加

検査装置１００は、半導体素子１０と、電源２０と、スイッチング素子２４と、制御部５０と、切替部７０と、検査部２６とを備える。 - 特許庁

This open inspection result managing device for a facility management system 100 prepares an inspection result recording document 10 wherein all visual inspection items regarding facility equipment are gathered by decomposing operation units of the facility equipment requiring open inspection.例文帳に追加

設備管理システム１００の開放点検結果管理装置５０は、開放点検が必要な設備機器の分解作業単位に設備機器に係わる全ての目視点検項目を纏めた点検結果記録帳票１０を作成する。 - 特許庁

When receiving a connection request from a terminal 200 to a network, the inspection device 100 decides whether or not the transmission origin terminal is the terminal whose inspection processing has ended based on the inspection processing end information stored in the inspection information storage part.例文帳に追加

検疫装置１００は、端末２００からネットワークへの接続要求を受信すると、検疫情報記憶部が記憶した検疫処理済情報に基づき、送信元端末が検疫処理済の端末であるか否かを判定する。 - 特許庁

A lens transfer mechanism part 6 to transfer a projection lens 18 which is a component of an inspection optical system 5 to project an inspection image displayed on a liquid crystal panel module 100 relative to inspection light in projecting the inspection image is provided.例文帳に追加

液晶パネルモジュール１００に表示した検査画像を投影するための検査光学系５の構成部材である投影レンズ１８を、検査画像の投影時に検査光に対して相対移動させるレンズ移動機構部６を設ける。 - 特許庁

Also, this tester comprises an inspection magnet 101 for operating the reed switches 201 provided in the position indicator 100 and is equipped with an inspection magnet moving body 3 capable of moving lengthwise of the position indicator 100.例文帳に追加

また、位置指示装置１００内に設けられているリードスイッチ２０１を動作させる検査磁石１０１を有し、位置指示装置１００の長手方向に移動可能な検査磁石移動体３を備える。 - 特許庁

A circuit board inspection system 100 is composed of a circuit board 10 as an inspection object, a signal converter 20 and an image display device 30.例文帳に追加

回路基板検査システム１００は、検査対象としての回路基板１０と、信号変換装置２０と、画像表示装置３０とから構成される。 - 特許庁

The module 50 can be dismounted simply from the image inspection device 100 after inspection by removing the pressing operation by the slide type presser foot 30.例文帳に追加

また、検査後には、スライド式の押さえ３０の押し当て動作を解除することで、モジュール５０を画像検査装置１００から簡単に取り外すことができる。 - 特許庁