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Weblio 辞書 > 英和辞典・和英辞典 > Interlayerの意味・解説 > Interlayerに関連した英語例文

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Interlayerを含む例文一覧と使い方

該当件数 : 6425



例文

A pad electrode 23 covered with a cap metal 24 is formed on the third interlayer insulating film 20, and the pad electrode 23 and the cap metal 24 are covered with first and second passivation films 25 and 26.例文帳に追加

第3の層間絶縁膜20上には、キャップメタル24に覆われたパッド電極23が形成され、それらは第1及び第2のパッシベーション膜25,26に覆われる。 - 特許庁

To provide a semiconductor device in which a low permittivity film exhibiting excellent bonding resistance in the assembling process and exhibiting excellent breakdown voltage between interconnect lines on the same layer is employed as an interlayer insulation film.例文帳に追加

組立工程でのボンディング耐性に優れ、また同層配線間耐圧に優れた、低誘電率膜を層間絶縁膜に用いた半導体装置を提供する。 - 特許庁

As the interlayer 4, an aluminum oxide layer or an oxide silicon layer, for example, can be used and can be formed by a sputtering method or an evaporation method, for example.例文帳に追加

中間層4としては、例えば酸化アルミニウム層又は酸化シリコン層を用いることができ、例えばスパッタ法又は蒸着法により形成することができる。 - 特許庁

To provide a semiconductor device and a method for manufacturing it, in which the thickness of an interlayer insulating film of higher controllability is secured, related to a planarization process using a CMP technology.例文帳に追加

CMP技術による平坦化工程において、より制御性の高い層間絶縁膜の厚さを確保できる半導体装置及びその製造方法を提供する。 - 特許庁

例文

A second contact 15 and a second copper wiring 16 being wiring of the uppermost layer are embedded in a second interlayer insulating film 14 on a silicon substrate 10.例文帳に追加

シリコン基板10上の第2の層間絶縁膜14には第2のコンタクト15および最上層の配線である第2の銅配線16が埋め込まれている。 - 特許庁


例文

The method for producing the pigment comprises an insertion process for obtaining the interlayer compound by inserting the dye between the interlayers of the laminar inorganic compound and a vaporization process for vaporizing the dye.例文帳に追加

顔料の製造方法は、層状無機化合物の層間に染料を挿入して層間化合物を得る挿入工程と、染料を気化させる気化工程とを含む。 - 特許庁

An electrode pad 104, a surface protective film 106, an interlayer insulating film 110, a base metal layer 112, and a re-wiring layer 116 are formed on an insulating film 102 provided on a wafer 100.例文帳に追加

ウェハ100の絶縁膜102上に,電極パッド104,表面保護膜106,層間絶縁膜110,下地金属層112,再配線層116を形成する。 - 特許庁

To provide a manufacturing method of semiconductor device which is less likely to generate cracks on an interlayer insulating film, under a hydrogen diffusion preventing film, even if annealing is conducted thereto.例文帳に追加

水素拡散防止膜を形成した後にアニールを行っても、その下の層間絶縁膜にクラックが生じにくい半導体装置の製造方法を提供する。 - 特許庁

Moreover, an interlayer insulating film 8 and a contact 9 which comes into contact with the gate electrode 6 through the insulating film 8 are formed on the substrate.例文帳に追加

さらに、基板上には、層間絶縁膜8が形成されており、層間絶縁膜8を貫通してゲート電極6に接触するコンタクト9が形成されている。 - 特許庁

例文

A transparent conductive material layer 13b is laminated and formed on an alignment film side which is opposite to the interlayer film 18 of the aluminum alloy material layer 13a.例文帳に追加

そして、このアルミニウム合金材料層13aの層間膜18と反対側となる配向膜側には、透明導電材料層13bが積層形成されている。 - 特許庁

例文

The peripheral NMOS Tr 52 region and the peripheral PMOS Tr 53 region are provided via a gate oxide film 3 on the semiconductor substrate 1 of this peripheral region, and these are coated with a first interlayer insulating film 11.例文帳に追加

この周辺領域の半導体基板1上には、ゲート酸化膜3を介して周辺NMOSTr52と周辺PMOSTr53とが設けられ、これらは第1の層間絶縁膜11で覆われている。 - 特許庁

In succession, after the surface of the silicon substrate 1 has been cleaned, a polysilicon film 12 is formed on the interlayer insulating film 10 so as to cover the inner surfaces of the contact holes 11.例文帳に追加

続いて、シリコン基板1の表面を洗浄した後、コンタクトホール11の内面を覆うようにして層間絶縁膜10の上にポリシリコン膜12を形成する。 - 特許庁

A first interlayer insulating film 80 is formed on all the surface of a semiconductor substrate 50 on which a lower electrode elctrically connected to an impurity injection region is formed.例文帳に追加

不純物注入領域と電気的に連結された下部電極パッド78が形成された半導体基板50の全面に、第1層間絶縁膜80を形成する。 - 特許庁

Also, the metallic wiring 124 is elongated and formed on a groove 123 formed on the interlayer insulating film 117 between the metallic wiring 124 and the etching stop film 121.例文帳に追加

また、金属配線124とエッチングストップ膜121との間は、層間絶縁膜117に形成された溝123に金属配線124が延伸形成されている。 - 特許庁

Interlayer insulation layers 20, 22, 24 and 26 on a semiconductor layer 10, the wiring layers 30, 32 and 34, and a pad wiring layer 40 consist of a pad 100 and a wiring 200.例文帳に追加

半導体層10上の層間絶縁層20,22,24、26と、配線層30,32,34、パッド配線層40は、パッド部100と配線部200とからなる。 - 特許庁

The source/drain regions of the thin-film transistor and the semiconductor plug come into contact with a metal plug, and the metal plug is extended via at least one portion of the interlayer insulating film.例文帳に追加

該薄膜トランジスタのソース/ドレイン領域及び該半導体プラグは金属プラグと接触し、該金属プラグは該層間絶縁膜の少なくとも一部を介して延長される。 - 特許庁

Next, connection wiring 43 is formed through the contact holes 44 and 45 especially atop the interlayer insulation film 29 by connecting the same to the scanning line 5 and one electrode 41.例文帳に追加

次に、特に、層間絶縁膜29の上面に接続配線43をコンタクトホール44、45を介して走査ライン5および一方の電極41に接続させて形成する。 - 特許庁

To provide a method for manufacturing a semiconductor device to which an interlayer insulating layer can be embedded sufficiently among wiring layers by forming the wiring layer of excellent shape.例文帳に追加

良好な形状を有する配線層を形成することで、配線層間に良好に層間絶縁層が埋め込むことができる、半導体装置の製造方法を提供する。 - 特許庁

To provide a thin film transistor array having a shape advantageous for forming a gate insulating film or an interlayer dielectric having an opening, and to provide its manufacturing method.例文帳に追加

開口部を有するゲート絶縁膜や層間絶縁膜を形成する際に有利な形状を有する薄膜トランジスタアレイ及びその製造方法を提供すること。 - 特許庁

To provide a method of manufacturing semiconductor device in which conductors near voids hardly causes a short circuit even when the voids are produced in an interlayer insulating film between gate electrodes.例文帳に追加

ゲート電極間の層間絶縁膜内にボイドが発生した際にも、ボイド近傍の導体部がショートを起こすことの無い半導体装置の製造方法を提供する。 - 特許庁

To provide a multilayer oriented polyamide resin film which has a barrier property, interlayer anti-exfoliation strength and a high adhesiveness to a sealant resin and which can be used as a shock absorbing material for packing.例文帳に追加

梱包用の緩衝材として使用しうる、バリア性と層間剥離強力を有し、シーラント樹脂との接着性の高い多層延伸ポリアミド系フィルムを提供する。 - 特許庁

To provide a resin composition which is excellent in electrical characteristics and processability, and besides, with which when a interlayer insulation layer of a multilayer printed circuit board is formed, can obtain excellent surface smoothness.例文帳に追加

電気特性および加工性に優れると共に、多層配線板の層間絶縁層を形成した際に、優れた表面平滑性が得られる樹脂組成物を提供する。 - 特許庁

The interlayer insulation material for a printed wiring board is composed of a thermoplastic resin whose glass transition temperature or melting point is 260°C or above which is added with 1-50 mass% of hydrogenated fullerene.例文帳に追加

ガラス転移温度または融点が260℃以上である熱可塑性樹脂に水素化フラーレンを1〜50質量%含むプリント配線基板用層間絶縁材料。 - 特許庁

A wiring 10 of a conductor film is formed on the surface of interlayer insulating film 9, and the wiring 10 forms a short circuit at the source 4, drain 5, and diffusion layer 6 through a contact C.例文帳に追加

層間絶縁膜9の表面には導電体膜の配線10が形成され、配線10は、コンタクトCを介して、ソース4,ドレイン5及び拡散層6を電気的に短絡させている。 - 特許庁

At least a portion of the barrier metal layer AL is oxidized by thermally diffusing oxygen of the interlayer dielectric IL1 to form an oxide barrier layer BL1.例文帳に追加

層間絶縁膜IL1の酸素を熱拡散させることによってバリア金属層ALの少なくとも一部を酸化することで、酸化物バリア層BL1が形成される。 - 特許庁

To manufacture a multilayer printed circuit board at low cost and stably, in which centers of an upper hole and a lower hole of a step via for interlayer connection are arranged at substantially equal positions.例文帳に追加

層間接続用の、ステップビアの上穴と下穴との中心が略等しい位置に配置された多層プリント配線板を安価かつ安定的に製造すること。 - 特許庁

Thereafter, a wiring layer is formed so as to entirely cover the surface 31S of the interlayer insulating layer 31 and the plug 41 and the wiring layer is patterned into a predetermined shape.例文帳に追加

その後、層間絶縁層31の表面31S及びプラグ41の全体を覆うように配線層を形成し、当該配線層を所定の形状にパターニングする。 - 特許庁

An interlayer insulation film is formed so as to cover the projection part formed thus, and a pixel TFT and a TFT included in a driver circuit formed in the same process.例文帳に追加

こうして形成された凸部および同一工程で形成された画素TFT、駆動回路に含まれるTFTを覆うように層間絶縁膜を形成する。 - 特許庁

To prevent a drop of inversion voltage of a parasitic MOS transistor formed by metal wiring formed on a LOCOS oxide film through an interlayer insulating film.例文帳に追加

LOCOS酸化膜上に層間絶縁膜を介して形成された金属配線によって形成される寄生MOSトランジスタの反転電圧の低下を防止する。 - 特許庁

To provide a flexible wiring board that has a satisfactory high frequency signal transmission characteristic by virtue of an interlayer insulator layer made of a thermoplastic resin and facilitates multilayer construction.例文帳に追加

熱可塑性樹脂からなる層間絶縁体層を有し、高周波信号の伝送特性に優れ、その多層化が容易になるフレキシブル配線板を提供する。 - 特許庁

In this nonvolatile semiconductor memory device 1, a laminate ML is formed by alternately stacking a plurality of interlayer dielectrics ILD and a plurality of control gate electrodes CG.例文帳に追加

不揮発性半導体記憶装置1において、それぞれ複数の層間絶縁膜ILD及び制御ゲート電極CGを交互に積層させて積層体MLを形成する。 - 特許庁

A pad electrode 14 to be connected to a thin film transistor TR is formed on a first substrate 10, and an interlayer insulating film 15 with the pad electrode 14 exposed thereon is formed.例文帳に追加

第1の基板10上において、薄膜トランジスタTRと接続するパッド電極14を形成し、パッド電極14を露出する層間絶縁膜15を形成する。 - 特許庁

To provide a method of manufacturing a multilayer printed wiring board which is high in density, has no void left in conductive paste, and is excellent in the reliability of interlayer connection.例文帳に追加

高密度で、導電性ペースト中のボイドが残留する問題がなく、層間接続信頼性に優れる多層プリント配線板の製造方法を提供する。 - 特許庁

On a semiconductor substrate 1, two or more interlayer insulation films 2 and 3 are so formed that an etching rate may become larger as it comes to an upper layer.例文帳に追加

半導体基板1上に上層になるにしたがって次第に等方性エッチングに対するエッチング速度が速くなるように2層以上の層間絶縁膜2,3を形成する。 - 特許庁

An embedded capacitor core includes a first set of capacitors, a second set of capacitors, and an interlayer dielectric film between the first set of capacitors and the second set of capacitors.例文帳に追加

埋め込みキャパシタコアは、第1の組みのキャパシタ、第2の組みのキャパシタ、および第1の組みのキャパシタと第2の組みのキャパシタとの間の中間層誘電性フィルムを含む。 - 特許庁

To provide a multilayer printed-wiring board that has improved electric connectivity and reliability having interlayer resin insulating layer with excellent heat-resistance, insulation, and crack-resistance and shape-maintaining characteristics.例文帳に追加

耐熱性、絶縁性、耐クラック性、および、形状保持性に優れた層間樹脂絶縁層を有する電気接続性や信頼性に優れた多層プリント配線板を提供する。 - 特許庁

A second interlayer insulating layer 15 consists of a PSG film 9, an SiN film 11 and a photosensitive polyimide layer 13, and has a through hole 17 on the first metal wiring layer 7.例文帳に追加

PSG膜9、SiN膜11及び感光性ポリイミド層13からなり、第1メタル配線層7上にスルーホール17をもつ第2層間絶縁層15を形成する。 - 特許庁

Thereafter, a lower layer metallization 108 is formed on the ozone TEOS film 107 and an interlayer insulation film 109 is deposited on the lower layer metallization 108.例文帳に追加

次に、オゾンTEOS膜107の上に下層の金属配線108を形成した後、該下層の金属配線108の上に層間絶縁膜109を堆積する。 - 特許庁

The air gap 10 is formed by removing a first interlayer insulation film 4 from an area between pieces of copper damascene lower wiring 8A, 8B and pieces of copper damascene lower wiring 8B, 8C.例文帳に追加

銅ダマシン下配線8A,8Bおよび銅ダマシン下配線8B,8C間から第1層間絶縁膜4を除去することにより、エアギャップ10が形成される。 - 特許庁

To provide the formation method of an interlayer insulation film, especially for shortening chemical mechanical polishing process time in the manufacturing method of a semiconductor element.例文帳に追加

半導体素子の製造方法に関し、特に化学的機械研磨工程時間を短縮させるための半導体素子の層間絶縁膜の形成方法に関するものである。 - 特許庁

A passivation film 10, the interlayer dielectric film 8 and an underlay dielectric film 6 in an FET upper part are etched by an RIE method using CF_4 gas.例文帳に追加

次に、CF_4ガスを用いたRIE法により、FET上部におけるパッシベーション膜10、層間誘電体膜8及び下敷き誘電体膜6をエッチングする。 - 特許庁

A measurement hole X1 is formed by removing the first and second interlayer insulation films on the working electrode WE1 with the working electrode WE1 coming out.例文帳に追加

作用電極WE1上の第1層間絶縁膜、第2層間絶縁膜が除去され、作用電極WE1が露出した測定穴X1が形成されている。 - 特許庁

A connecting conductor 30' is embedded in the through hole penetrating the antireflection film 26' and the interlayer insulating film 24' to connect the metal layer 29 and a display electrode 32.例文帳に追加

反射防止膜26’及び層間絶縁膜24’を貫通するスルーホールに接続導体30’を埋め込んで金属層29と表示電極32とを接続する。 - 特許庁

In the manufacturing method of the semiconductor storage, there is prepared a semiconductor substrate having on its surface plugs 1 connected respectively with source or drain electrodes and having a plug-portion interlayer film 2 made of SiO2.例文帳に追加

半導体基板表面にソース電極もしくはドレイン電極に接続されたプラグ1及びSiO_2からなるプラグ部層間絶縁膜2を有する基板を準備する。 - 特許庁

To provide a manufacturing method for a semiconductor device capable of forming an interlayer insulating film on copper wiring by an application method without oxidizing the surface of the copper wiring.例文帳に追加

銅配線表面を酸化させることなく、塗布法を用いて銅配線上に層間絶縁膜を形成することが可能な半導体装置の製造方法を提供する。 - 特許庁

The memory element is formed by using a precursor without containing hydrogen as an interlayer insulation substance.例文帳に追加

メモリ素子及びその製造方法について開示し、該メモリ素子は、層間絶縁物質として水素を含まない前駆体を使用して形成したメモリ素子及びその製造方法である。 - 特許庁

The method further comprises the steps of burying the metal plug in the port, then dry etching exposed surfaces of the fifth interlayer dielectric and the plug with an atmosphere containing a CF4 and executing etching back.例文帳に追加

接続口に金属プラグを埋め込んだ後、第5の層間絶縁膜と金属プラグの露出表面をCF4ガスを含む雰囲気でドライエッチングを行い、エッチバックを実施する。 - 特許庁

In the above structure, first, on a first etching condition, a hole is formed in such a way that it penetrates up and down the interlayer insulating film 5 and exposes the surface of the etching stopper film 4.例文帳に追加

前述の構造においては、まず、第1のエッチング条件で、層間絶縁膜5を上下に貫通し、エッチングストッパ膜4の表面を露出させるホールが形成される。 - 特許庁

The interlayer insulating film 11 is then planarized by CMP method and etched to expose the first metal film 20, and a second metal film 22 such as a tungsten film is further deposited thereon.例文帳に追加

次に層間絶縁膜11をCMP法で平坦化すると共にエッチングで第1金属膜20を露出させ、さらにタングステン膜等の第2金属膜22を堆積する。 - 特許庁

例文

To provide a method for manufacturing a semiconductor device which suppresses the occurrence of a separation residue in a connection hole when the connection hole is formed in an interlayer insulated film.例文帳に追加

層間絶縁膜に接続孔を形成する際に接続孔内に剥離残りが発生するのを抑制できる半導体装置の製造方法を提供する。 - 特許庁




  
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