「Probe current」に関連した英語例文の一覧と使い方(4ページ目) - Weblio英語例文検索

The probe 3 and a current passage pattern 4 are formed continuously with Si prepared by doping B.例文帳に追加

探針３及び電流通路パターン４を、ＢをドープしたＳｉによって連続して形成する。 - 特許庁

(a) An annular current probe 3 is provided on a surface of a conductive mat 1 of an evaluation object.例文帳に追加

（ａ）評価対象の導電マット１の表面に環状の電流プローブ３を設置する。 - 特許庁

Upon ending current application, the application needle is used as a probe for inspecting the electrical characteristics.例文帳に追加

電流印加の終了後、その印加針をプローブとして用いて、電気的特性を検査する。 - 特許庁

To execute burn-in test using a simple-structured probe card without requiring a high current.例文帳に追加

構造が簡単なプローブカードを用いて、大電流を必要とすることなくバーンインテストを行なう。 - 特許庁

To provide a pulse eddy current linear/two-dimensional sensor array probe for the inspection of conductive components.例文帳に追加

導電性部品の検査のためのパルス渦電流直線及び２次元センサアレイプローブに関する。 - 特許庁

High-resolution STEM requires the smallest possible probe with the highest possible current. 例文帳に追加

高分解能STEMは、可能な限り高い電流量を有する可能な限り小さなプローブを必要とする。 - 科学技術論文動詞集

To provide an eddy current flaw detection probe, an eddy current flaw detection device, and an eddy current flaw detection method for performing flaw detection of a defect inside a capillary, and eliminating an error resulting from lift-off of a probe included in a flaw detection signal.例文帳に追加

細管内面の欠陥を探傷することができると共に、探傷信号に含まれるプローブのリフトオフに起因する誤差をなくすことができる渦流探傷プローブ、渦流探傷装置、及び渦流探傷方法を提供する。 - 特許庁

To provide a probe for eddy current flaw detection capable of detecting proximate flaws individually by narrowing a range wherein a magnetic flux of an excitation coil is spread in the coil axis direction, concerning the probe for eddy current flaw detection utilizing a uniform eddy current.例文帳に追加

一様渦電流を利用する渦電流探傷用プローブにおいて、励磁コイルの磁束がコイル軸方向へ広がる範囲を狭くして近接するキズを個別に検知できる渦電流探傷用プローブを提供すること。 - 特許庁

To provide a probe current controlled external power supply unit which can stabilize the control by effectively attenuating AC components contained in a probe current and also can speed up the control response of a cathode corrosionproof current.例文帳に追加

プローブ電流に含まれる交流成分を効果的に減衰させて制御の安定化を図るとともに、カソード防食電流の制御応答の高速化を図ることができるプローブ電流制御型外部電源装置を提供すること。 - 特許庁

A current probe which is used for implantation of bulk current to a transmission line in a BCI test is considered as a voltage source which directly implants the bulk current to the transmission line, and modeled.例文帳に追加

ＢＣＩ試験で伝送線にバルク電流の注入に用いるカレントプローブは、伝送線にバルク電流を直接、注入する電圧源と見なし、モデル化する。 - 特許庁

A current feeding brush 35 advances and retreats relative to the electric conductive collar 22, and a current feeding brush 33 is put in slide contact with the collar 22 so as to feed the current to the probe 26 rotating.例文帳に追加

通電ブラシ３５は、導電性カラー２２に対して進退し、通電ブラシ３３をカラー２２に摺動接離させて回転する測定子２６に給電する。 - 特許庁

The eddy current inspection apparatus (10) includes a holder (16) for a specimen (12), a holder (22) for an eddy current probe (20), and an eddy current instrument (32) operatively joined thereto.例文帳に追加

渦電流探傷検査装置（１０）は、試験品（１２）用ホルダー（１６）、渦電流プローブ（２０）用ホルダー（２２）、及び作動的に結合する渦電流機器（３２）を含む。 - 特許庁

A probe assembly 60 for inspecting a gas turbine engine rotor disk 54 comprises an eddy current probe 100 including a body portion 104, a tip portion 118 extended from the body portion, and an eddy current probe coil 140 mounted within the tip portion.例文帳に追加

ガスタービンエンジンロータディスク（５４）を検査するためのプローブ組立体（６０）は、本体部分（１０４）、本体部分から延びる先端部分（１１８）、及び先端部分内に取付けられた渦電流プローブコイル（１４０）を含む渦電流プローブ（１００）を含む。 - 特許庁

To provide such a contact probe of a socket for electronic parts and the socket for the electronic parts using the contact probe that a current path is unchanging with a simple structure.例文帳に追加

簡単な構造で、常に電流経路が一定となる電子部品用ソケットのコンタクトプローブ及び該コンタクトプローブを用いた電子部品用ソケットを提供する。 - 特許庁

A current source 210 is connected to the first and fourth probe needles 200, 203, and a voltmeter 220 is connected to the second and third probe needles 201, 202.例文帳に追加

第１及び第４プローブ針２００，２０３に電流源２１０を接続し、第２及び第３のプローブ針２０１，２０２に電圧計２２０を接続する。 - 特許庁

To improve the throughput by decreasing the frequency to clean the probe tip of a power terminal of a probe, in which there is no need to take into account the current amount which flows from the power terminal of the probe.例文帳に追加

プローブの電源端子から流れる電流量を考慮する必要がなく、プローブの電源端子の針先を掃除する頻度を少なくしてスループットの向上が図れるようにすること。 - 特許庁

Each probe sensor head is constituted such that a probe part of supplying an electric current to an electrode and a sensor part of determining open/short defect by detecting the electric current supplied to the line are integrally formed.例文帳に追加

プローブセンサーヘッドは、電極に電流を供給するプローブ部と、配線に供給された電流を検出してオープン／ショート欠陥を判別するセンサー部とが一体となって構成されている。 - 特許庁

To facilitate the positioning or attaching work of a detection coil at the time of manufacture of the upper placing type eddy current flaw detection probe and to enhance the attaching strength of the detection coil in a tangential type upper placing type eddy current flaw detection probe.例文帳に追加

タンジェンシャル型の上置型渦電流探傷プローブにおいて、その渦電流探傷プローブを作製する際の検出コイルの位置決めや取付け作業を容易にし、取付け強度を高くすること。 - 特許庁

The ion current detector 1 includes a probe part 10, a compensation electrode 40, and an electric circuit 50 including an electric power source 51 and a current measuring part 52, and is constituted to bring a probe 11 of the prove part into contact with a flame F.例文帳に追加

イオン電流検出装置(1)は、プローブ部(10)、補償極(40)、電源(51)及び電流測定部(52)を含む電気回路(50)を備え、プローブ部の探針(11)を火炎(F)に接触させるように構成される。 - 特許庁

To provide a probe card in which concentration of current of the probe card used for a test process in manufacture of a semiconductor device of SOC (System On Chip) consuming large current is prevented and damage of concentration is prevented.例文帳に追加

大電流を消費するＳＯＣ(System On Chip)などの半導体装置の製造における試験工程に用いるプローブカードの電流集中を防いでその損傷を防ぐプローブカードを提供する。 - 特許庁

To provide an eddy current flaw detection probe capable of simultaneously detecting flaws in two directions or more (in two planes or more) of an object of flaw detection by one eddy current flaw detection probe.例文帳に追加

渦電流探傷プローブにおいて、１個の渦電流探傷プローブにより、探傷対象物の２方向以上（２面以上）の探傷面を同時に探傷できる渦電流探傷プローブを提供すること。 - 特許庁

The probe current is measured by a probe current measuring means 10 which includes a low-pass filter 12 of a cut-off frequency larger than a commercial frequency and smaller than twice the commercial frequency and which has a current range set according to a difference between an acceptable maximum value and an acceptable minimum value of a probe current found from the cathodic protection standard.例文帳に追加

プローブ電流を、商用周波数より大きく商用周波数の２倍より小さいカットオフ周波数のローパス・フィルタ１２を備え、カソード防食基準から求められるプローブ電流の合格最大値と合格最小値との差によって設定される電流レンジを有するプローブ電流計測手段１０によって計測する。 - 特許庁

A plasma measurement equipment consists of a probe loaded into the plasma which is an object to be measured, a high frequency power supply for impressing high frequency to the probe, a voltmeter which measures the voltage of the probe, an ammeter which measures the high frequency current which flows to a probe, and a data-processing device which presumes the plasma characteristic from the high frequency current voltage.例文帳に追加

被計測対象であるプラズマ中に装荷されたプローブ、このプローブに高周波を印加するための高周波電源、プローブの電圧を測定する電圧計、プローブに流れる高周波電流を測定する電流計、高周波電流電圧からプラズマ特性を推定するデータ処理機からなる。 - 特許庁

To provide an eddy current flaw detection probe suitable for the flaw detection of the thickness surface of a plate-shaped inspection target having a square cross section in a piercing type eddy current flaw detection probe and producing an eddy current only on the thickness surface to efficiently perform flaw detection.例文帳に追加

貫通型の渦電流探傷プローブにおいて、断面が四角形で板状の被検査体の厚み面の探傷に適し、渦電流を厚み面にのみ発生して効率的な探傷が可能な渦電流探傷プローブを提供すること。 - 特許庁

A voltage prove 6 detects an output voltage VR of the rectifier 2 and a current probe 5 detects a current I flowing in the battery set 1.例文帳に追加

電圧プローブ６は、整流装置２の出力電圧ＶＲを検出し、電流プローブ５は組電池１を流れる電流Ｉを検出する。 - 特許庁

To provide a contact probe for avoiding a problem from occurring due to heat generated by a current even if the current flows.例文帳に追加

電流が流れる場合であっても、電流に伴い発生する熱による問題の発生を回避することができるコンタクトプローブを提供する。 - 特許庁

To provide a probe for the measurement of a voltage/a current in a low-voltage distribution line by which the voltage and the current in the low-voltage distribution line can be simultaneously measured.例文帳に追加

低圧配電線の電圧と電流とを同時に測定できる低圧配電線の電圧／電流測定用プローブを提供する。 - 特許庁

To enhance evaluation precision for a lift-off amount of an eddy current flaw detecting probe with respect to a curved face shape part.例文帳に追加

曲面形状部に対する渦電流探傷プローブのリフトオフ量の評価精度を向上させる。 - 特許庁

To provide a novel probe that can be used for direct current detection in a non-contact state.例文帳に追加

非接触で電流を直接検出するために用いることができる新規なプローブを提供する。 - 特許庁

The upper placing type eddy current flaw detection probe 2 is composed of exciting coils 211 and 212, a bobbin 23 and the detection coil 22.例文帳に追加

上置型渦電流探傷プローブ２は、励磁コイル２１１，２１２、ボビン２３、検出コイル２２からなる。 - 特許庁

A current is supplied to the conductive part 3, to thereby enable to raise the temperature of the probe 1.例文帳に追加

導電部３に電流を供給することによって、プローブ１の温度を高くすることが可能となる。 - 特許庁

A single tilted hot wire current meter probe 10 with a hot wire tilted against a rotary shaft A is used.例文帳に追加

熱線が回転軸Ａに対し傾斜した単一傾斜熱線流速計プローブ１０を用いる。 - 特許庁

To reduce electric resistance and inductance on an electric current flowing at inspection time in a contact probe.例文帳に追加

コンタクトプローブにおいて、検査時に流れる電流についての電気抵抗およびインダクタンスを低減する。 - 特許庁

To provide a Kelvin probe instrument, across which a large voltage drop will not generate, even if a large current is made to flow.例文帳に追加

大きな電流を流しても大きな電圧降下が生じないケルビン検査用治具を提供する。 - 特許庁

To easily detect faults other than a leakage current occurring in the short-channel effect in a probe test.例文帳に追加

プローブテストにおいて、短チャネル効果などに発生するリーク電流以外の不良を容易に検出する。 - 特許庁

When an eddy current flaw detection probe P scans in the X2 direction to perform flaw detection, a flaw signal FS is generated.例文帳に追加

渦電流探傷プローブＰをＸ２方向へ走査して探傷すると、キズ信号ＦＳが発生する。 - 特許庁

In stead of the direct- current voltage current characteristic, by using the high frequency voltage current characteristic, the plasma measurement which cannot easily receive disturbance of the fluctuate condition on the surface of the probe is attained.例文帳に追加

直流電圧電流特性に換えて高周波電圧電流特性を用いることで、プローブ表面の状態変動の外乱を受け難いプラズマ計測が可能となる。 - 特許庁

This system contains an eddy current probe (18) for detecting an eddy current from the component, and an analog/digital converter (26), configured so as to convert eddy current into digital signal.例文帳に追加

本システムは、構成部品から渦電流を検知するための渦電流プローブ（１８）と、渦電流をデジタル信号に変換するように構成されたアナログ・デジタル変換器（２６）とを含む。 - 特許庁

A probe feeding electric current or voltage to the sample 7 when the heating and cooling device is brought into contact with the sample 7 surface for measuring an electrical characteristic of the sample 7 is arranged, and the probe is a coaxial type probe for vacuum.例文帳に追加

上記の加熱冷却装置と試料表面を接触させて、試料に電流又は電圧を供給し、試料の電気特性の測定を行うプローブを具備し、このプローブは真空用同軸型プローブである。 - 特許庁

To provide an ultrasonic probe for furthermore improving the sensitivity by enhancing the linearity response of a displacement current with respect to a displacement of vibration and to provide an array probe and a method of manufacturing the ultrasonic probe.例文帳に追加

振動の変位に対する変位電流の直線応答性を良くすることにより、感度のさらなる向上を図った超音波探触子、アレイ探触子および超音波探触子の製造方法を提供する。 - 特許庁

By measuring with a measurement means of four-terminal method, comprising a current probe 40, a voltage probe 42, a constant current source 44, and a measurement part 52, etc., the resistance value of the metal resistor 14 is adjusted at high precision.例文帳に追加

電流用プローブ４０、電圧用プローブ４２、定電流源４４及び測定部５２などの４端子法の測定手段８により測定しつつ金属抵抗体１４の抵抗値を高精度に調整する。 - 特許庁

To provide an eddy-current test probe and an eddy-current test method using the probe having high detection precision to detect defects of a heat exchanger tube with inner fins.例文帳に追加

インナーフィン付き伝熱管における伝熱管自体に発生した欠陥の検出精度を向上させることができる渦流探傷検査用プローブおよびこれを用いる渦流探傷検査方法を提供することである。 - 特許庁

To provide an eddy current flaw detection probe, capable of performing accurate flaw detection without deforming a coil, and to provide an eddy current flaw detector.例文帳に追加

本発明は、コイルを変形させることなく、正確な探傷が行える渦電流探傷プローブ及び渦電流探傷装置を提供することにある。 - 特許庁

Here in this invention, a current probe (16) is connected to the secondary side, and the zero cross of the resonance current that flows in the series resonance circuit at the secondary side is detected.例文帳に追加

そこで、本発明では、二次側に電流プローブ(16)を接続し、二次側の直列共振回路を流れる共振電流の零クロスを検出する。 - 特許庁

To provide a phased scanning method and a phased scan eddy current array probe suitable for an in-situ eddy current inspection of a structure without scanning mechanically.例文帳に追加

機械的に走査することなく、構造体の現場での渦電流検査に適する同期式走査方法及び同期式走査渦電流アレイプローブを提供する。 - 特許庁