「Probe current」に関連した英語例文の一覧と使い方(8ページ目) - Weblio英語例文検索

According to the invention, the moving acceleration of the probe provided in the ultrasonic diagnostic apparatus is measured, and the magnitude of a holding current for restraining the movement of the transducer is controlled according to the acceleration, whereby when the probe does not move, a small quantity of holding current is caused to flow, thereby restraining generation of heat.例文帳に追加

本発明によれば、超音波診断装置に備えられるプローブの動き加速度を測定し、その加速度に応じてトランスデューサの動きを抑制するホールディング電流の大きさを調節することにより、プローブに動きがない場合には少量のホールディング電流を流して発熱を抑制することができる。 - 特許庁

A current signal exceeding a rated current is transmitted to a circuit inside the mobile terminal 1 from a probe 21 in a state that the probe 21 is connected to an input/output connector 11 of the mobile terminal 1 such as the cellphone to non-recoverably destroy the circuit inside the mobile terminal, so that the data are easily and certainly erased.例文帳に追加

携帯電話等の携帯端末１の入出力コネクタ１１にプローブ２１を接続した状態で、プローブ２１から携帯端末１内の回路に対し、定格を超える電流信号が送信され、携帯端末内の回路を復元不能に破壊する事が出来、容易かつ確実にデータを消去する。 - 特許庁

To settle a probe surface temperature within a safety standard by calculating power consumption and predicting a temperature without the need of a high-speed A/D converter capable of measuring a high frequency current, regardless of a mode, and without the need of a current measuring circuit for each of a plurality of vibrators inside a probe.例文帳に追加

高周波電流を測定可能な高速のＡ／Ｄ変換器を必要とすることなく、かつモードに関係なく、かつ電流測定回路をプローブ内の複数の振動子の各々ごとに必要とすることなく、消費電力算出、温度予測を行ってプローブ表面温度が安全規格内に収まるように制御する。 - 特許庁

To accurately measure the value of a built-in current sensing resistor in a semiconductor integrated circuit for sensing a large current having the built-in current sensing resistor without being influenced by additional resistance owing to terminals and/or a testing probe, and to adjust the threshold value for the current sensing based on the measurement result without requiring large current flow and special additional equipment.例文帳に追加

電流検出用抵抗を内蔵し、大きな電流を検出する半導体集積回路において、電流検出用抵抗の値を端子やテスト用プローブの付加抵抗の影響を受けることなく正確に測定すると共に、大きな電流を流したり特別な付加装置を設けることなく電流検出の閾値を測定結果に基づいて調整すること。 - 特許庁

An inspection target is subjected to demagnetization treatment (demagnetization unit 12) prior to (eddy current flaw detection unit 13) for detecting the magnitude of the eddy current in the inspection target using an eddy current flaw detection probe and/or a change therein to inspect the presence of the flaw in the inspection target.例文帳に追加

渦流探傷プローブを用いて検査対象物における渦電流の大きさおよび／またはその変化を検出して前記検査対象物における傷の有無を検査する（渦流探傷ユニット１３）に先立ち、前記検査対象物を脱磁処理する（脱磁ユニット１２）。 - 特許庁

The energization test of the detection means 90 is conducted by abutting the probe pin 82 against the voltage application pad, applying a voltage to the resistance part to detect a current value from the current detection pad, and comparing a resistance value calculated based on the detected current value and an actual resistance value of the resistance part.例文帳に追加

検出手段９０の通電検査は、プローブピン８２を電圧印加パッドに当接させて、抵抗部に電圧を印加して電流検出パッドからの電流値を検出して、検出した電流値に基づいて算出した抵抗値と抵抗部の実際の抵抗値とを比較して行う。 - 特許庁

Accordingly, excessive current can be suppressed, without having to interrupt the inspection, and the breakage of the probe needle due to the influence of the excessive current can be prevented with a small amount of the elements, by controlling the excessive current that flows instantaneously without interruption, from the power source unit of the inspection device to the device.例文帳に追加

これにより、検査装置の電源ユニットからデバイスへと瞬時的に流れる過電流を過渡的に制御することにより、少量の素子で、かつ検査を中断することなく過電流を抑制することができ、ひいては過電流の影響によるプローブ針の破壊を防止することができる。 - 特許庁

In regard to a precursor for manufacturing metal nanowire, applied voltage or electric current is acted on a surface of the precursor from a tip end portion of a probe to draw the metal nanowire at the probe tip end portion, thereby successively forming the metal nanowire.例文帳に追加

金属ナノワイヤ製造用前駆体に対し、前駆体表面にプローブの先端部から印加電圧又は電流を作用させプローブ先端部で金属ナノワイヤをひき出し、該金属ナノワイヤを連続的に形成する金属ナノワイヤの製造方法。 - 特許庁

A condenser lens 1 is controlled by the condenser lens control part 6 such that the probe current of the charged particle irradiated to a sample 3 is kept constant, and the objective lens 2 is controlled by the objective lens control part 8 to stabilize a focusing condition of the charged particle probe.例文帳に追加

コンデンサレンズ制御部６は、試料３に照射される荷電粒子プローブの電流を一定に維持するようにコンデンサレンズ１を制御し、対物レンズ制御部８は、対物レンズ２を制御して荷電粒子プローブのフォーカス状態を安定化する。 - 特許庁

When a voltage is impressed on the two probes, and a sample 13 is brought close, electrons 14 emitted from the tipmost atom 12 of one probe are collected by the tipmost atom 12 of the other probe through the sample 13 to pass a tunneling current.例文帳に追加

この２本の探針に電圧を印加し、試料を近づけていくと、一方の探針の最先端の原子１２から出た電子１４を試料１３を通してもう一方の探針の最先端の原子１２で拾い、トンネル電流が流れる。 - 特許庁

A conductor with an insulator formed on the surface is used as a probe for sampling a thin-piece test piece, and a potential difference is given between a conductive part as an electrode and the test piece by a direct current power source to form an electric field between the probe and the test piece.例文帳に追加

薄片試料採取用プローブとして、表面に絶縁体を形成した導電体を用い、導電部を電極として直流電源によって試料との間に電位差を付与することで、プローブと試料の間に電界を形成する。 - 特許庁

In inspection, the capacitor 14 is separated from the circuit by the select means, and a current waveform flowing through the driving power supply line Vcc outside the head unit 11 is detected by the current probe 211 of an oscilloscope 21 to be displayed on the screen.例文帳に追加

そして、検査時には、選択手段にてコンデンサを回路から切離し、ヘッドユニットの外部の駆動電源供給ラインＶccに流れる電流波形をオシロスコープ２１の電流プローブ２１１で検出して画面表示する。 - 特許庁

To prevent a lift-off noise from generating, even if the positions of an exciting coil and a detecting coil are shifted, in relation to an inspection plane of an object to be inspected, in an operation of a probe for detecting eddy current flaw using uniform eddy current.例文帳に追加

一様渦電流を利用する渦電流探傷用プローブにおいて、検査体の検査面に対する励磁コイル及び検出コイルの位置がずれてもリフトオフ雑音が発生しない渦電流探傷用プローブを提供すること。 - 特許庁

To provide an apparatus and a method for measuring current, capable of measuring minute current which flows in a measurement sample such as a semiconductor substrate or the like under a probe irradiation such as an electron beam or the like, over a wide frequency band with low noises.例文帳に追加

電子ビーム等のプローブ照射により半導体基板等の測定サンプルに流れる微小電流を、低ノイズでかつ広周波数帯域で測定できる電流測定装置及び電流測定方法を提供する。 - 特許庁

The insulating resistance IR is measured by a measuring instrument by contacting the measuring probe to a terminal electrode 3 for signal and the terminal electrode 5 for grounding, and by applying the direct-current voltage from the direct current power supply between the measuring probes.例文帳に追加

絶縁抵抗ＩＲは、信号用端子電極３と接地用端子電極５とに測定プローブをそれぞれ接触させ、測定プローブ間に直流電源から直流電圧を印加して、測定器により測定する。 - 特許庁

After a filter circuit 25 processes a discharge current detection signal output from the current probe 24 and a low frequency capacity component and a high frequency noise component are taken out from the signal, the signal is input to a PWM circuit 26.例文帳に追加

この電流プローブ２４から出力される放電電流検出信号をフィルタ回路２５で処理して該信号から低周波の容量成分や高周波のノイズ成分を取り除き、ＰＷＭ回路２６に入力する。 - 特許庁

To keep the positional relation to an object to be tested of a portable probe constant in the eddy current flaw detection of the object to be tested having various unevennesses such as a welded part and the like.例文帳に追加

溶接部など多様な凹凸を有する被験体の渦流探傷において、携帯型のプローブの被験体に対する位置関係を一定に維持可能する。 - 特許庁

To provide a sensor element capable of accurately detecting the location of flaw of a test specimen and of reducing the time required for the manufacturing time, and to provide an eddy current flaw detection probe.例文帳に追加

試験体の傷の位置を正確に検出するとともに、製作に要する時間を短縮することができるセンサ素子および渦電流探傷プローブを提供する。 - 特許庁

To provide an inspection unit capable of coping with inspection at high frequency and high current after being conducted to direct wiring from a plunger, and capable of facilitating replacement of a probe.例文帳に追加

プランジャから直接配線に導通して、高周波及び高電流での検査に対応可能とすると共に、プローブの交換を容易に行え得る検査ユニットを提供する。 - 特許庁

A measuring part is connected to a probe, and a circuit resistance in a printed wiring board is measured by making a current flow between probes, and by applying a voltage thereto.例文帳に追加

測定部はプローブに接続されており、プローブ間に電流を流したり、電圧を印加したりすることにより、プリント配線板内の回路の抵抗を測定する。 - 特許庁

To provide a method for manufacturing a contact probe having improved fatigue limit and current resistant performance by enhancing mechanical strength and a thermal conductivity in the longitudinal direction.例文帳に追加

機械的強度及び長手方向の熱伝導度を上げることによって疲労限度及び耐電流性能を向上させたコンタクトプローブの製造方法を提供する。 - 特許庁

After that, a probe for inspection is brought into contact with the dummy terminals for testing to inspect whether or not a prescribed current flows in the wiring pattern 22, and the dummy terminals for testing are cut off.例文帳に追加

その後、テスト用ダミー端子に検査用プローブを接触させて配線パターン２２に所定の電流が流れるか否かを検査し、テスト用ダミー端子を切り離す。 - 特許庁

To provide an eddy current testing method capable of confirming adhesion when pressing a probe to a surface to be tested even if a curvature radius of the surface to be tested is unknown.例文帳に追加

被検査面の曲率半径が不明な場合でも、被検査面にプローブを押付けた際の密着性を確認できる渦電流探傷方法を提供することにある。 - 特許庁

To provide a method for inspecting a semiconductor device, capable of measuring the contact resistance between a probe and a pad, with a single measurement using arbitrary applied voltage or current.例文帳に追加

任意の印加電圧又は電流を用い、１回の測定でプローブとパッドとの間の接触抵抗を測定することができる半導体装置の検査方法を提供する。 - 特許庁

To improve high frequency characteristics of a contact probe while securing a desired overdrive amount, a desired needle pressure, and a desired current resistance characteristic.例文帳に追加

所望のオーバードライブ量を確保し、所望の針圧を確保し、かつ、所望の耐電流特性を確保しつつ、コンタクトプローブの高周波特性を向上させることを目的とする。 - 特許庁

A signal generated in each coil is measured 2 when deforming the eddy current flaw detecting probe having a plurality of flexible coils, and a phase θ of the signal is evaluated 4.例文帳に追加

柔軟且つ複数のコイルを有する渦電流探傷プローブを変形した際にコイルに発生する信号を測定２し、その信号の位相θの評価４を行う。 - 特許庁

When the temperature of a specific probe for emitter is set higher than that of the other probes for emitter, the thermal load and the leakage current are increased locally in the semiconductor device 50.例文帳に追加

特定のエミッタ用探針の温度を他のエミッタ用探針よりも高くすると、半導体装置５０の局所に熱負荷と漏れ電流を増大させることができる。 - 特許庁

The eddy current flaw detection probe comprises both an rectangular exciting coil 21 and a spiral-planar-type detection coil 31 and mounted to an L-shaped object 41 of flaw detection.例文帳に追加

渦電流探傷プローブは、矩形状の励磁コイル２１と渦巻き状のプレーナ型の検出コイル３１からなり、Ｌ字状の探傷対象物４１に設置してある。 - 特許庁

The eddy current flaw detecting probe comprises exciting coils 1 and a detecting coil 2 in which two exciting coils 1 are placed in the horizontal direction and the detecting coil 2 is provided in the middle of the exciting coils.例文帳に追加

励磁コイル１と検出コイル２を持つ渦電流探傷プローブにおいて、２個の励磁コイル１を水平方向に並べ、その中央に検出コイル２を配置する。 - 特許庁

The signal generated in the each coil is measured 5 in every time when changing a distance between the eddy current flaw detecting probe and a flat face comprising a material same to that of an inspected object.例文帳に追加

一方、平坦にした渦電流探傷プローブと被検査体と同材の平坦な面との間の距離を変化させる都度、コイルに発生した信号を測定５する。 - 特許庁

To provide the multicoil type probe of an eddy current flaw detector capable of achieving the enhancement of replacing workability and the reduction of the total capacity and the total cost including a replacing unit part.例文帳に追加

交換作業性の向上と、交換ユニット部品を含めた総容量、総コストの削減を図ることのできる渦流探傷装置のマルチコイル式プローブを提供する。 - 特許庁

Positive and negative excitation voltages are combined with the pulse-like excitation voltage applied to the excitation coil of the probe to forcibly attenuate the excitation current of the excitation coil in a short period of time.例文帳に追加

プローブの励磁コイルに印加するパルス状励磁電圧に正負の励磁電圧を組み合わせて、励磁コイルの励磁電流を短時間に強制的に減衰させる。 - 特許庁

A technique for verifying the sensor elements of the eddy current array probe after a permanent or semi-permanent installation so as to face the test structure is also provided.例文帳に追加

更に、検査対象構造体に対向して恒久的又は半恒久的に設置された後、渦電流アレイプローブのセンサ要素を検証するための技法を提供する。 - 特許庁

To provide a probe, for an eddy-current flaw detector, which is brought into close contact with, and moved on, the sheath of a coaxial cable and by which the flaw of a metal pipe (an external conductor) can be detected with constant and good sensitivity.例文帳に追加

同軸ケーブルのシース上を密着移動させて、一定かつ良好な感度で金属パイプ（外導体）の探傷ができる渦流探傷器のプローブを提供する。 - 特許庁

The eddy current flaw detection probe 2 consists of the exciting coil 21 and the detection coil 22 and has the vertically placed detection coil 22 arranged in the exciting coil 21 so as to rotate the coil.例文帳に追加

渦電流探傷プローブ２は、励磁コイル２１と検出コイル２２からなり、励磁コイル２１内に縦置型の検出コイル２２を回転するように配置してある。 - 特許庁

To provide an ultrasound catheter probe which lowers causes of generation of noise including ringing in signals transmitted/received by a transducer assembly to a level lower than the current level.例文帳に追加

リンギングをはじめとする、トランスデューサ・アセンブリが送受信する信号中のノイズの発生原因を現レベルより低下させる超音波カテーテル・プローブを提供する。 - 特許庁

To improve measurement reproducibility and measurement accuracy by suppressing oscillation of a current flowing through a probe pin in DC characteristic measurement of a high frequency semiconductor device.例文帳に追加

高周波用半導体装置の直流特性測定において、プローブピンに流れる電流の発振を抑制し、測定再現性および測定精度を向上させる。 - 特許庁

When detecting an output signal from the magnetic sensor 6, a current is supplied to a plurality of coils 22 provided in the probe card 1 to apply the magnetic field to the magnetic sensor.例文帳に追加

磁気センサ６の出力信号を検出するとき、プローブカード１に設けられた複数のコイル２２に電流を供給して磁気センサ６に磁界を印加する。 - 特許庁

This method for detecting a defective bonding part of impervious sheet, further, comprises a current detector which is provided with an original electrode, a probe electrode, an original terminal and a probe terminal and detects the current which flows when the voltage is applied between the terminal part of the hollow part into which the electroconductive liquid is filled and the prescribed position near the seal part.例文帳に追加

又、元電極、探針電極、及び、元端子と探針用端子とを備える電流検知器、から構成され、前記導電性液体が注入された前記空洞部の終端部と、前記シール部近傍の所定の位置との間に電圧をかけたときに流れる電流を検知する、遮水シート接合不良検知器である。 - 特許庁

This SQUID microscope is characterized in that a space between an end of the probe of a SQUID microscope part thereof and the specimen to be measured is measured by means of a variation in a tunnel current generated therebetween and that a control part is provided to control the space between the probe and the specimen so that the value of the current becomes a desired value.例文帳に追加

本発明１のＳＱＵＩＤ顕微鏡は、そのＳＱＵＩＤ顕微鏡部のプローブの先端と被測定試料との間隔をその間に生じるトンネル電流の変動にて測定し、この電流値が所望の値となるように前記プローブと被測定試料との間隔を制御する制御部が設けてあることを特徴とする構成を採用した。 - 特許庁

The contact type probe wherein its contact 1a is electrically insulated from probe constituent components 1b, 1c excluding the contact 1a, is provided with a continuity check mechanism 3 which causes current to flow between a measuring object 5 and the constituent components 1b, 1c excluding the contact 1a.例文帳に追加

接触式プローブは、接触子１ａと接触子１ａを除くプローブ構成部品１ｂ、１ｃとが電気的に絶縁され、接触子１ａを除くプローブ構成部品１ｂ、１ｃと被測定対象物５との間に通電する導通チェック機構３を備えている。 - 特許庁

A flexible eddy current array probe 20 is mounted in a contour external surface 26 of the backing piece 18 so as to mutually oppose this probe 20 to the contour surface 26 of the workpiece 12 inspected, when the backing piece 18 is arranged adjacent to the workpiece 12.例文帳に追加

可撓性の渦電流アレープローブ（２０）は、裏当て片（１８）が加工品（１２）に隣接して配置されたとき、このプローブ（２０）が、検査される加工品（１２）の輪郭表面（２６）に向き合うように、裏当て片（１８）の輪郭外部表面（２６）に取り付けられる。 - 特許庁

A moving mechanism control apparatus 11 stops movement of a moving mechanism 8 in the z direction (the direction toward the sample) based on an output from a tunnel current detection apparatus 10 when a predetermined tunnel current I_0 (A) flows between the probe 7b and the sample 6.例文帳に追加

移動機構制御装置１１は、トンネル電流検出装置１０の出力に基づき、探針７ｂと試料６間に所定のトンネル電流Ｉ_０（Ａ）が流れた時点で、移動機構８のｚ方向（試料方向）への移動を停止させる。 - 特許庁

In the signal output process, a probe 1 moves along the surface of the screen 25, an AC power source 2 supplies AC current to a coil to generate magnetic fluxes, and an eddy current flaw detector 3 outputs voltage variation to be induced by the coil as a flaw detection signal.例文帳に追加

信号出力工程では、プローブ１がスクリーン２５の表面に沿って移動し、交流電源２がコイルに交流を流して磁束を発生させ、渦流探傷器３がコイルに誘起される電圧変化を探傷信号として出力する。 - 特許庁

To reduce change of detection sensitivity (deviation of detection sensitivity) that is prone to change depending on the rotation position of a detection coil, in an eddy current flaw detection method using a rotatable eddy current flaw detection probe having a detection coil disposed in an excitation coil.例文帳に追加

励磁コイル内に検出コイルを配置した回転可能な渦電流探傷プローブ用いた渦電流探傷方法において、検出コイルの回転位置によって変化する検出感度の変化（検出感度偏差）を小さくすること。 - 特許庁