「Probe current」に関連した英語例文の一覧と使い方(10ページ目) - Weblio英語例文検索

A controlling device 90 controls the main motor 50 so as to change the guaranteed highest printing speed to 120 cpm when the set highest printing speed is 121 cpm or higher and the main motor current value sent from a probe 67 is larger than the limit current value of the main motor 50.例文帳に追加

制御装置９０は、設定最高印刷速度が１２１ｃｐｍ以上であり、かつ、プローブ６７からのメインモータ電流値６８がメインモータ５０の限界電流値以上になったときに、１２０ｃｐｍの保証最高印刷速度に変えるべくメインモータ５０を制御することを特徴とする。 - 特許庁

A region whose electric characteristics in a sample are to be measured is set to be a blanking region, the number of direct irradiation of charged particles is set to one or none, and the current position of a probe tip is calculated from an image obtained in the past or an image at a peripheral region, thus bringing the probe into contact with a target location.例文帳に追加

試料の電気特性測定対象領域をブランキング領域とし、直接荷電粒子を照射する回数を１回ないし皆無にした上で、過去に得られた画像あるいは周辺領域の画像から探針先端の現在位置を演算することで探針を目的の場所に接触させる。 - 特許庁

The gap between the steel plate 3 and the eddy current detection sensors 1a, 1b is enlarged by disposing two probe coils 2 in parallel, generating repelling magnetic fields from two probe coils 2 to the steel plate 3 and extending a region of the magnetic fields acting on the steel plate.例文帳に追加

２つのプローブコイル２を並列に配置して設けるとともに、上記２つのプローブコイル２同士の磁場が相互に反発するようにして鋼板３に対する磁界を発生させ、上記鋼板に作用する磁場の範囲を広げるようにすることにより、鋼板３と渦流検出センサ１ａ、１ｂとの間のギャップを拡大できるようにする。 - 特許庁

In the probe for an eddy current test, the interval of the coil of the probe is 10-50 mm, the inside diameter and the width of the coil are, preferably 1-50 mmϕ and 1-10 mm, respectively; and furthermore, a magnet, ferrite, or a high-permeability metal are, preferably arranged inside the coil.例文帳に追加

本発明の渦流探傷試験用プローブは、プローブのコイルの間隔が１０〜５０ｍｍであることを特徴とし、コイルの内径が１〜５０ｍｍφ、コイルの幅が１〜１０ｍｍであることが好ましく、更にコイルの内側に磁石、フェライトまたは高透磁率金属を配置していることが好ましい。 - 特許庁

While observing with a scanning electron microscope, a plurality of probes 1, 2, 3 and 4 each having a sharp tip are made to approach sample electrodes 5, 6, 7 and 8, respectively, and made to come into contact with them completely until a contact current saturates by the use of probe moving mechanisms 14, 15, 16 and 17 under the control of a probe movement control circuit 18.例文帳に追加

走査型電子顕微鏡で観察しながら、探針移動制御回路１８による制御で、探針移動機構１４、１５、１６、１７により、鋭利な先端を有する複数の探針１、２、３、４を、それぞれ試料電極５、６、７、８に接触電流が飽和するまで接近させ、確実に接触させる。 - 特許庁

When taking a magnetic head 1 into consideration from among a plurality of magnetic heads 1A-1D, the current application probe pin 5a is extended to a pad 2a from its +Y side and brought into contact with the pad 2a, and the voltage measuring probe pin 6a is extended from the -Y side of the pad 2a and brought into contact with the pad 2a.例文帳に追加

複数個の磁気ヘッド１Ａ〜１Ｄの内で、磁気ヘッド１について考察すると、パッド２ａに対し、その＋Ｙ側から電流印加プローブピン５ａを差し延べて該パッド２ａに接触させ、このパッド２ａの−Ｙ側から電圧測定プローブピン６ａを差し延べて該パッド２ａに接触させる。 - 特許庁

In the ultrasonic diagnostic apparatus, a preliminarily acquired reference image 42, an ultrasonic image 41 being currently imaged, and position information 44 indicating relation between a position of the ultrasonic probe in transmission/reception of ultrasonic waves for producing the reference image 42 and a current position of the ultrasonic probe are displayed on a display part as navigation information.例文帳に追加

予め取得されたリファレンス画像４２と、現在撮影中の超音波画像４１と、リファレンス画像４２を生成するための超音波の送受信時における超音波プローブの位置と、現在の超音波プローブの位置との関係を示す位置情報４４とをナビゲーション情報として表示部に表示する。 - 特許庁

Thereafter, the probe 2 is forced to approach the silver fine particle deposition film 6, and feedback is made off, voltage operation is performed by a power supply device 8, and a current change and a conductance change are measured by an ampere meter 10.例文帳に追加

その後、探針２を銀微粒子堆積膜６に接近させ、フィードバックをオフにした後、電源装置８により電圧操作を行ない、電流計１０により電流変化、コンダクタンス変化を測定する。 - 特許庁

For detecting an oxide film or a similar layer 3 on the surface of reactor structure parts 1 with an eddy current or ultrasonic detector, characteristics 31 of a distance measurement probe 21 are required according to it.例文帳に追加

原子炉構造部品（１）の表面における酸化膜或いは同様な層（３）を渦電流或いは超音波検出器で調査するために、それに応じた距離測定プローブ（２１）の特性（３１）が必要である。 - 特許庁

To provide a probe aggregate wherein microscopically small-sized probes, providing stable contact because of small contact marks and having large current capacity, are disposed so as to correspond to a wide variety of electrodes.例文帳に追加

本発明は、接触痕が小さく安定接触が可能な、電流容量を大きくすることができる微細小型のプローブを多彩な電極に対応配置させたプローブ集合体を提供することを目的とする。 - 特許庁

By adjusting the cumulative frame number suitable for the calculated amount of the probe current and the contrast suitable for the sample image (S17), slimming of the sample is suppressed, and the optimum sample image having high visibility is obtained to measure length (S18).例文帳に追加

算出したプローブ電流量に適した積算フレーム数と、試料像に適したコントラストを調整することにより（Ｓ１７）、試料のスリミングを抑え、視認性のよい最適な試料画像を得て測長する（Ｓ１８）。 - 特許庁

The probe 40 detects an induced electromotive force generated in the coil 40a as a time variation of the magnetic field, and a computer 51 calculates the amount of the high frequency current from the induced electromotive force according to a given calculation principle.例文帳に追加

プローブ４０は、コイル４０ａに生じる誘導起電力を、磁界の時間変化量として検出し、コンピュータ５１がその誘導起電力から所定の算出原理により高周波電流量を算出する。 - 特許庁

To provide an eddy current probe for detecting a metal surface flaw capable of effectovely detecting the flaw and further detecting directivity of the flaw by reducing an influence of a lifting-off effect and a material discontinuous part.例文帳に追加

リフトオフ効果及び材質不連続部の影響を低減させて、確実に傷を検出するようにし、さらに傷の方向性を検出し得るようにした金属表面探傷用渦流プローブを提供する。 - 特許庁

An ice accretion sensor 51 is disposed at a prescribed position near an evaporation tube 27, and detects an electric resistance value, that is, the electric conductivity of cooling water and the like on the basis of ion current flowing between two probe electrodes.例文帳に追加

氷着センサ５１は、蒸発管２７の近傍、所定の位置に設置されており、２つのプローブ電極の間に流れるイオン電流に基づいて、冷却水等の電気抵抗値、即ち導電率を検出する。 - 特許庁

A surface contact probe for electrically contacting the other side electrode for performing an electrical treatment to the other side electrode by voltage application, current measurement or the like, and an electrical treatment device using thereof are provided.例文帳に追加

相手側電極に対して電圧印加や電流測定等によって電気的処理を行うために相手側電極に電気的に接触する面接触プローブ及びそれを用いた電気的処理装置である。 - 特許庁

To efficiently supply a pulse current having a quick rise time by decreasing the inductance by constituting the probe without adopting a magnetic material such as steel or the like in a plasma crusher for destroying rock or the like.例文帳に追加

岩石等を破壊するプラズマ破砕装置において、プローブを鋼材等の磁性材料で構成するとインダクタンスが大きくなり、早い立ち上がりをもったパルス電流を効率よく供給することが出来ない。 - 特許庁

Primary particle beam of which probe current is measured beforehand is made directly enter into a secondary particle detector, and an output pulse counting rate of the secondary particle detector is measured.例文帳に追加

検出器に一次粒子線を直接入射させ、検出器のパルス計数率を測定し、プローブ電流から計算できる検出器に単位時間あたりに入射した粒子数との比を取って、計数効率を決定する。 - 特許庁

To make the phases of flaw signals constant, with respect to flaws in all of directions in an eddy-current flaw detecting probe constituted so that two exciting coils are arranged so as to allow the coil axes of them to cross each other at a right angle and separate exciting power supplies are respectively connected to the exciting coils.例文帳に追加

２個の励磁コイルをコイル軸が直交するように配置し、夫々に別の励磁電源を接続する渦電流探傷プローブにおいて、全方向のキズについてキズ信号の位相を一定にすること。 - 特許庁

A distributed high capacitance for an NMR resonance probe coil is obtained by an encircled conductive surface separated jointly with a main part of an RF current density distribution on the surface of an induction member of the resonance device.例文帳に追加

ＮＭＲ共鳴プローブコイルのための分布高キャパシタンスは、共鳴装置の誘導部材の表面上のＲＦ電流密度分布の主要部分と合同で離隔された包囲導電表面によって得られる。 - 特許庁

To avoid a possibility of erroneously evaluating adhesiveness when an arrangement place is defective in evaluation when evaluating the adhesiveness of an eddy current flaw detection probe to a body to be inspected by the amount of lift-off.例文帳に追加

渦電流探傷プローブの被検査体への密着性をリフトオフ量で評価する際に、その評価時に配置場所に欠陥がある場合、密着性を誤評価する可能性があるので、これを回避する。 - 特許庁

The one or plurality of conforming-shaped jaws has a plurality of eddy current coils, and a probe 10 has at least one sensor 36 constituted to sense at least one of a position and moving.例文帳に追加

この共形の１つ又は複数のジョーはまた、複数の渦電流コイル（３４）を有し、プローブ（１０）は、位置又は移動の少なくとも１つを感知するよう構成された少なくとも１つのセンサ（３６）を有する。 - 特許庁

By mutual action between a magnetic field generated in a gap of a magnetic core 201 by a current flowing through a coil 202 and the magnetic field generated by a magnetized magnetic body 204 of the probe 101, a force acts between both.例文帳に追加

コイル２０２に流れる電流により磁気コア２０１のギャップ内に生じる磁界とプローブ１０１の磁化されている磁性体２０４により生じる磁界との相互作用により、両者間に力が働く。 - 特許庁

The circuit 28 pulse-drives the probe light source 16 at the same frequency as that of the clock signal outputted from the BPF 26 and adjusts the phase of the pulse so as to synchronize it with a current pulse generated from the modulator 18.例文帳に追加

駆動回路２８は、ＢＰＦ２６からのクロック信号と同じ周波数でプローブ光源をパルス駆動する共に、そのパルス位相をＥＡ変調器１８からの電流パルスに同期するように調整する。 - 特許庁

An operator moves a Z direction driving mechanism 5 in such a manner that a probe 8 is made far from a sample 11 and controls a heating power source 27 so as to make the electric current of about several A to flow through an evaporation source fitting part 19.例文帳に追加

オペレータは、探針８が試料１１から遠ざかるようにＺ方向駆動機構５を移動させ、蒸着源取付部１９に数Ａ程度の電流が流れるように加熱電源２７を制御する。 - 特許庁

In the reading of the magnetized information, the change of a tunnel current is used, which flows between the metal probe and the multilayer film which accompanies the change of the quantum well level caused by the change in the relative magnetization direction between the magnetic metal layers.例文帳に追加

磁化情報の読み取りには、磁性金属層間の相対的な磁化方向の変化による量子井戸準位の変化に伴う金属探針と多層膜との間に流れるトンネル電流の変化を利用する。 - 特許庁

The multi-coil probe for eddy current flaw detection includes a frame, a plurality of coils for eddy current flaw detection provided on the frame so as to advance and retreat in a direction of the inspected object, and a plurality of protrusions integrated with the coils and arranged on a side of the coils for eddy current flaw direction facing the inspected object.例文帳に追加

本発明の目的を達成するための手段は、フレームと、前記フレームに被検査体の方向へ進退自在に設けられた複数個の渦電流探傷用コイルと、前記渦電流探傷用コイルの前記被検査体に面する側に配置されて前記コイルと一体にされている複数個の突起物とを備えていることを特徴としている渦電流探傷用マルチコイルプローブである。 - 特許庁

The resistivity measurement method, measuring the electric resistance of a sample with a four-probe resistivity measurement device, supplies an application current for each of a plurality of measuring points of the sample and measures a voltage value and, when the measured voltage value is determined to be beyond a predetermined range of a voltage value at the last measurement point, reconfigure a current value of the application current.例文帳に追加

４探針抵抗率測定装置により試料の電気抵抗を測定する抵抗率測定方法であって、前記試料における複数の測定ポイント毎に印加電流を供給して電圧値を測定し、前記測定した電圧値が前回の測定ポイントの電圧値の所定範囲を超えると判定した場合に、前記印加電流の電流値を再設定する。 - 特許庁

To reduce influences of a lift-off, the flaw shape and the coil shape of an eddy current flaw detection probe, in an eddy current flaw detector which compares a phase angle of a flaw signal of an inspection object with that of the flaw signal of a reference flaw, and estimates whether the flaw of the inspection object is shallow or deep, in comparison with the reference flaw.例文帳に追加

基準キズのキズ信号の位相角と被検査体のキズ信号の位相角を比較して、被検査体のキズが基準キズより浅いか深いかを推定する渦電流探傷装置において、リフトオフ、キズの形状や渦電流探傷プローブのコイルの形状の影響を低減することを目的とする。 - 特許庁

The ultrasonic surgical apparatus 1 comprises: a DDS 26 or the like for outputting an ultrasonic driving current signal for driving an ultrasonic vibrator 2a to the ultrasonic treatment instrument 2 having a holder 10 and a probe 9 connected with the ultrasonic vibrator 2a; a CPU 22 or the like for carrying out modulation of the ultrasonic driving current signal.例文帳に追加

超音波手術装置１は、把持具１０と、超音波振動子２ａが接続されたプローブ９とを有する超音波処置具２へ、超音波振動子２ａを駆動する超音波駆動電流信号を出力するＤＤＳ２６等と、超音波駆動電流信号の変調を行うＣＰＵ２２等とを有する。 - 特許庁

In the non-destructive inspection method of the metal thin plate 1 for performing eddy current flaw detection with respect to the non-magnetic metal thin plate 1, the frequency of a probe 2 is set to 10-100 kHz while the gap between the leading end of the probe and the non-magnetic metal thin plate 1 is set to 1.0 mm or below to inspect the non-magnetic metal thin plate during feed.例文帳に追加

非磁性体の金属薄板１に対して渦流探傷を行う金属薄板の非破壊検査方法であって、プローブ２の周波数を１０ｋＨｚ以上１００ｋＨｚ以下にすると共に、プローブ先端から非磁性体の金属薄板１までのギャップを１．０ｍｍ以下にし、非磁性体の金属薄板１を搬送中に検査する。 - 特許庁

When measuring the irregularities on the sample 1 surface, the tip part of a probe 3 provided movably into/from the inside of a cylindrical extraction electrode 4 is projected from the lead electrode 4, and the projected tip part of the probe 3 is drawn close to the sample 1 surface, and a tunnel current between them is detected, to thereby measure the irregularities on the sample 1 surface.例文帳に追加

試料１の表面の凸凹を測定する場合には、筒状の引出電極４内に出し入れ可能に設けられたプローブ３の先端部を引出電極４から突出させ、この突出されたプローブ３の先端部を試料１の表面に近付け、その間のトンネル電流を検出することにより、試料１の表面の凸凹を測定する。 - 特許庁

Further, the apparatus measures electrical characteristics of a sample 9 without limiting a role of a signal path connected to the probe 19 to transmission of the absorption current by operating a signal switching part 22 by means of a signal switching control part 15 and by conducting the probe 19 in contact with the sample 9 and a signal wire of a semiconductor characteristic analyzer 25.例文帳に追加

また、信号切換制御部１５により信号切換部２２を動作させ、試料９に接触した探針１９と半導体特性解析装置２５の信号線を導通させることにより、探針１９に繋がる信号経路を吸収電流の伝送に限定することなく、試料９の電気的特性の測定が可能となる。 - 特許庁

An abrasion diagnostic device includes a probe 5 which is detachably provided in a passage 3 for flowing an air current including solid particles 2 and of which tip 5a is disposed so as to project into the passage 3, and abrasion diagnostic means 7 which diagnoses, based on the abrasion degree of the tip of the probe 5, the abrasion of a diagnostic site 4 due to the solid particles 2.例文帳に追加

固体粒子２を含む気流を通す流路３に着脱自在に設けられると共に、先端部５ａが流路３内に突出するように配置されるプローブ５と、プローブ５の先端部の摩耗の度合いを基に、診断部位４の固体粒子２による摩耗を診断する摩耗診断手段７と、を備えたものである。 - 特許庁

A biological material 12 is placed on one main surface of the multilayered structure lamina 11, and a carbon nanotube probe 14 is brought into contact with or close to the biological material 12 from the direction vertical to the main surface, and a voltage is applied between the carbon nanotube probe 14 and the metal thin films 11b, and a current is carried to the biological material 12, to thereby perform measurement.例文帳に追加

この多層構造体薄片１１の一方の主面上にバイオ系物質１２を載せ、この主面に垂直な方向からバイオ系物質１２にカーボンナノチューブプローブ１４を接触または接近させ、このカーボンナノチューブプローブ１４と金属薄膜１１ｂとの間に電圧を印加してバイオ系物質１２に電流を流すことで測定を行う。 - 特許庁

When a sharp probe 311 of a primary side cylindrical metal conductor 31 is brought into contact with a potential detection terminal 21, a via detection terminal 21 or the like on the circuit board 1, an antenna current flows in the primary side cylindrical metal conductor 31.例文帳に追加

１次側棒状金属導体３１の先鋭探針３１１を回路基板１上のポテンシャル検出端子２１やビア検出端子２２等に接触させれば、１次側棒状金属導体３１にはアンテナ電流が流れる。 - 特許庁

In this case, when an inspection signal is outputted from a probe 22, the electric potential of the conductor pattern 101 is changed, and thereby a current is made to flow from the source to the drain, and sent to a signal processing part 16 through the lateral selection part 13.例文帳に追加

この時、プローブ２２から検査信号が出力されると、導体パターン１０１の電位が変化し、これに伴い、ソースからドレインへ電流が流れ、横選択部１３を介して、信号処理部１６へ送出される。 - 特許庁

Alternatively, after the positioning of the foreign substance by AFM function of the conductive AFM, the conductive probe is arranged directly above the foreign substance, to measure current-voltage characteristics by the STS function of the conductive AFM, estimating material of the foreign substance from the measured shape.例文帳に追加

あるいは導電性AFMのAFM機能で異物の位置出しを行い、導電性探針を異物直上に配置して導電性AFMのSTS機能で電流-電圧特性を測定しその形状から異物材料の推定を行う。 - 特許庁

To enable an eddy current flaw detection probe which has a flux detection element and excitation element composed of a conductive plate (laminated conductive plate) obtained by laminating a number, N, of conductive plates, to generate excitation magnetic fluxes N times as many as one conductive plate.例文帳に追加

Ｎ個の導電板を積層した導電板（積層導電板）からなる励磁素子と磁束検出素子を備えた渦電流探傷プローブにおいて、導電板が１個のときのＮ倍の励磁磁束を発生すること。 - 特許庁

For reading magnetized information, the change of an optically induced tunnel current is used, which flows between the metallic probe and the multilayer film along with the change of plasmon resonance energy caused by the change in relative magnetization direction between the magnetic metal layers.例文帳に追加

磁化情報の読み取りには、磁性金属層間の相対的な磁化方向の変化によるプラズモン共鳴エネルギーの変化に伴う、金属探針と多層膜との間に流れる光誘起トンネル電流の変化を利用する。 - 特許庁

In response to the current operation mode of a relevant probe scanner designate by a mode signal SM, a magnification switching section 54 reads out any one of the magnification setting data from the dimensional matter registering section 52 and delivers the data to the attenuator 51.例文帳に追加

倍率切換部５４は、モード信号ＳM により指定される、当該プローブ走査装置の現在の動作モードに応じで、いずれかの倍率設定データを前記寸法関係登録部５２から読み出してアッテネータ５１へ出力する。 - 特許庁

To arrange a detection coil on the outside of an exciting coil in an eddy current flaw detection probe wherein the detection coil is arranged in the exciting coil so that the coil axes of the exciting coil and the detection coil cross with each other at a right angle.例文帳に追加

検出コイルを励磁コイル内に配置し、励磁コイルと検出コイルのコイル軸が直交するように配置した渦電流探傷プローブにおいて、検出コイルを励磁コイルの外側に配置できるように構成すること。 - 特許庁

When the eddy current flaw detection probe is installed on a circumference surface of a cylindrical inspected body T and the disc DS is rotated, the distance (lift off) between the detection coils DC1, DC2 and an inspected surface changes, accordingly, detection sensitivity of flaw signal also changes.例文帳に追加

円筒状の被検査体Ｔの周面に渦電流探傷プローブを設置し、ディスクＤＳを回転すると、検出コイルＤＣ１，ＤＣ２と検査面の距離（リフトオフ）が変化するため、キズ信号の検出感度も変化する。 - 特許庁

In the probe 3, with the introduction of laser beam resonant with vibration from a semiconductor laser 9, an evernescent field is produced from a minute opening at its tip end and the proximity field interaction between the sample 14 and the probe 3 excites a minor carrier at the sample 14, then the semiconductor evaluating device 1 detects changes in optical excitation current for the evaluation of the sample 14.例文帳に追加

プローブ３は半導体レーザ９から振動に共振したレーザー光が導入されると、その先端の微小開口からエバネッセント場が発生して、試料４とプローブ３との近接場相互作用により試料１４に少数キャリアを励起させ、半導体評価装置１は、当該光励起電流の変化を検出して、試料１４の評価を行っている。 - 特許庁

An inductor L is inserted in series to a measurement circuit connected to a probe; an alternating current is applied to a measurement object MOS capacitor 10 formed on a semiconductor wafer from an A.C. power source through the probe to obtain the resonance frequency of the measurement object MOS capacitor 10, and the capacitance of the measurement object MOS capacitor 10 is obtained from the resonance frequency by calculation.例文帳に追加

プローブに接続された測定回路にインダクターＬを直列に挿入すると共に、交流電源からプローブを介して半導体ウエハ上に形成された被測定ＭＯＳキャパシター１０に交流を印加して当該被測定ＭＯＳキャパシター１０の共振周波数を求め、この共振周波数から被測定ＭＯＳキャパシター１０の容量を計算で求める。 - 特許庁

A conductive probe 20 is moved, being contacted with the dielectric 4, and an electrical stimulus is applied between a probe tip 28 and a semiconductor wafer 8 in a shape of AC voltage of a fixed frequency by a fixed amplitude superimposed to a DC voltage swept from a starting voltage to a ending voltage thereby, the leakage current of the dielectric covering the semiconductor wafer can be determined.例文帳に追加

導電性プローブ２０を移動させて誘電体４と接触させ、プローブ先端部２８と半導体ウエハ８との間に、開始電圧から終了電圧に向かって掃引されるＤＣ電圧に重畳された固定振幅で固定周波数のＡＣ電圧の形で電気刺激を印加することにより、半導体ウエハを覆う誘電体の漏洩電流を決定できる。 - 特許庁