「Probe current」に関連した英語例文の一覧と使い方(6ページ目) - Weblio英語例文検索

Therefore, when the current is supplied to the conductive part 3 to raise the temperature of the probe 1, an emission opening part 4b is enlarged.例文帳に追加

したがって、導電部３に電流を供給してプローブ１の温度を高くすると、出射開口部４ｂが大きくなる。 - 特許庁

The probe antenna consists of a LC resonance circuit, and a high-frequency current flows in a conductor of the antenna at signal detection from the sample.例文帳に追加

プローブアンテナはＬＣ共振回路であり、試料からの信号検出時に高周波電流がアンテナの導体に流れる。 - 特許庁

To perform wide-range flaw detection by one probe in an eddy current flaw detecting apparatus and reduce lift-off noise.例文帳に追加

渦電流探傷装置において、１個のプローブで広い範囲の探傷を可能にすること及びリフトオフ雑音を小さくすこと。 - 特許庁

Thus, the connection of a probe for supplying electric current is dispensed and a dispersion in measurement is eliminated.例文帳に追加

これにより、電流供給用のプローブの接続を変更する必要がなくなり、測定時のばらつきを無くすことができる。 - 特許庁

To provide a scanning probe microscope and its using method capable of preventing generation of a photoelectric current by a laser beam in a sample.例文帳に追加

レーザー光による光起電流を試料に発生させない走査型プローブ顕微鏡およびその使用方法を提供する。 - 特許庁

It is therefore possible to prevent oscillation of a current flowing through the probe pin 4b, and hence to improve measurement reproducibility and measurement accuracy.例文帳に追加

従って、プローブピン４ｂに流れる電流の発振を防ぎ、測定再現性および測定精度を向上させることができる。 - 特許庁

The multilayer electric probe may further include at least a third strip layer, having the capability of enduring current and the desired mechanical strength.例文帳に追加

多層電気プローブは少なくとも、耐電流能力および所望の機械強度を有する第３ストリップ層をさらに含んでよい。 - 特許庁

An electron probe emitted by the emitter is captured by the Faraday cup 18, and its current is measured by an ampere meter 20.例文帳に追加

エミッタから放出された電子プローブはファラディーカップ１８に捕らえられ、その電流値が電流計２０により測定される。 - 特許庁

Electric current is passed through between one or more electrodes on a probe and a plurality of electrodes arranged on a human body surface.例文帳に追加

電流をプローブ上の１つまたはそれ以上の電極と体表面に配置した複数の電極との間に流す。 - 特許庁

To provide an eddy current flaw detection probe, capable of reducing generation of noise based on lift-off and capable of contributing to enhancement of detection accuracy.例文帳に追加

リフトオフに基づくノイズの発生を低減でき、検出精度の向上に寄与しうる渦電流探傷プローブを提供する。 - 特許庁

To provide an eddy current flaw detection probe suitable for both of the grasping of a surface flaw distribution state and the evaluation of the depth of a flaw.例文帳に追加

表面欠陥分布状態の把握と欠陥深さ評価の双方に適した渦電流探傷プローブを提供すること。 - 特許庁

The probe is approached to a surface of a magnetic sample to detect a condition of the surface of the sample based on a tunnel current generated between the probe and the surface of the sample.例文帳に追加

そして、この深針を磁性試料の表面に近接させ、前記深針と前記磁性試料の前記表面との間に生じたトンネル電流より、前記磁性試料の前記表面の状態を検出する。 - 特許庁

To prevent breakage and burning of a probe needle due to the influence of excessive current, without having to increase the number of elements mounted on a probe card by improving inspection efficiency, when inspecting a semiconductor element on a wafer.例文帳に追加

ウェハー上の半導体素子を検査するとき、検査効率が向上し、プローブカード上に搭載する素子数が増大することなく、過電流の影響によるプローブ針の破壊、焼失を防止する。 - 特許庁

To stably observe the surface of a sample without changing a state of a probe and a state of the sample surface when making the probe scan to measure tunnel current.例文帳に追加

探針を走査させてトンネル電流の測定を行なうときに、探針の状態及び試料表面の状態を変化させることなく、安定した試料の表面観察を行なうことができるようにする。 - 特許庁

When an irregular image in a wide range of a sample 2 is observed, the distance between the head of a probe 1 and the surface of the sample 2 is such a distance that a field emission current flows between the probe 1 and the sample 2.例文帳に追加

試料２の広い範囲の凹凸像を観察する場合、探針１の先端と試料２の表面との距離は、探針１と試料２との間にフィールドエミッション電流が流れる距離となされる。 - 特許庁

To remove AC components induced by high-voltage transmission lines, electric railway, AC power sources or the like from a probe current without degrading the responsive speed of an entire feedback loop in a cathodic corrosion protective device for an external power supply of the probe current control system.例文帳に追加

プローブ電流制御方式の外部電源用カソード防食装置において、全体の帰還ループの応答速度を低下させることなく、高圧送電線、電鉄、交流電源等の誘導による交流成分をプローブ電流から除去することにある。 - 特許庁

Further, the operation control part 40 compares a signal on the lissajous plane which is generated in a process for adhering the eddy current probe 3 closely to a body to be tested with the lift-off allowable area A to evaluate lift-off quantity generated when pressing the eddy current probe 3 to an arbitrary curved surface.例文帳に追加

さらに、演算制御部４０は、渦電流プローブを被検査体に密着させる過程で発生するリサージュ平面上の信号とリフトオフ許容領域Ａを比較して、任意曲面に渦電流プローブを押付けた際のリフトオフ量を評価する。 - 特許庁

A probe electrode is provided in a quantum bit circuit, while a bias so as to pull out a quasi current in the probe electrode is applied, by coupling the quantum bit circuit with an electrical resonator, the single artificial-atom maser excited by current injection is constituted.例文帳に追加

量子ビット回路にプローブ電極を設け、当該プローブ電極に準電流を引き出すようなバイアスを与えると共に、当該量子ビット回路を電気的共振器と結合することにより、電流注入型単一人工原子メーザを構成する。 - 特許庁

A measuring signal generator 72 generates a probe current Ia (measuring signal), and transmits the probe current Ia to the body B of a subject through surface electrodes Hc and Lc which are conductively attached to surface areas at specified two locations being separated from each other on the body B of the subject.例文帳に追加

測定信号発生器７２は、プローブ電流Ｉａ（測定信号）を生成し、被験者の体Ｂの互いに隔たる所定の２箇所の表面部位に導電可能に付けた表面電極Ｈｃ及びＬｃを介して、被験者の体Ｂに送出する。 - 特許庁

To provide an eddy current flaw detection probe, wherein a vertically placed detection coil is arranged inside an exciting coil, capable of detecting flaws in full directions for a large area by moving an eddy current flaw detection probe in the scanning direction while rotating the detection coil.例文帳に追加

励磁コイル内に縦置型の検出コイルを配置した渦電流探傷プローブにおいて、検出コイルを回転させながら渦電流探傷プローブを走査方向へ移動して、広い範囲の全方向のキズを検出できる渦電流探傷プローブを提供すること。 - 特許庁

To improve inspection accuracy in a deep part of an inspection body by an eddy current flaw detecting device and an eddy current flaw detecting method of the inspection body having a probe with a simple structure.例文帳に追加

簡易な構造のプローブを有する被検査体の渦電流探傷装置及び渦電流探傷法により、被検査体の深部における検査精度を向上させる点にある。 - 特許庁

To provide a method for determining a current value of an electric current applied to a sample in order to obtain a voltage value required for measuring the sample in four-probe resistivity measurement.例文帳に追加

４探針抵抗率測定において試料の測定に必要な電圧値を実現するために、試料に供給すべき電流の電流値を決定する方法を提供する。 - 特許庁

The device 1 for current application and voltage measurement, for example, is a chip prober in which a probe is applied to an electrode of the semiconductor light-emitting element 2 being in the wafer state to apply current and measure voltage.例文帳に追加

電流印加・電圧測定装置１は、たとえば、チッププローバであり、ウェハ状態の半導体発光素子２の電極にプローブをあて電流印加、電圧測定を行っている。 - 特許庁

A magnetic wave generating section for generating an eddy current in the metal top panel 2, and a magnetic wave detecting section for detecting a state that a magnetic flux is changed by the eddy current are embedded in the probe 4.例文帳に追加

プローブ４には、金属製の天板２に渦電流を発生させる磁波発生部、及び、渦電流によって磁束が変化する状況を検出する磁波検出部を内蔵する。 - 特許庁

The difference in the voltage when an electrolytic cell 2 is operated at different two current levels is monitored by repeatedly measuring with a probe in a short time at a second level while plating is performed at a first current level.例文帳に追加

電解セル中での写真定着溶液からの銀の回収が、望ましくない副次効果を最小にしながら、高い電流効率を維持するよう制御される。 - 特許庁

Thus, a current position is properly corrected by using the correction information with the corrected current position when the probe car 102 leaves the facility, thereby improving the current position detection accuracy after leaving the facility.例文帳に追加

これにより、プローブカー１０２が施設を退出したときに現在位置を補正された補正情報を用い、適切に現在位置を補正することができるので、施設退出後の現在位置検出精度を向上することができる。 - 特許庁

In the eddy current flaw detection probe equipped with a coil for producing an eddy current in an object to be inspected and detecting the disturbance of the eddy current due to the flaw of the object to be inspected, the coil comprises at least two coils 1 and 2 having different coil winding diameters.例文帳に追加

被検体に渦電流を発生させるとともに、被検体の欠陥による渦電流の乱れを検出するコイルを備えた渦電流探傷プローブにおいて、コイルは２つ以上の異なるコイル巻き径をもつコイル１，２である。 - 特許庁

In operation of the eddy current test on a bearing ring surface part or a rolling element surface part of the rolling bearing, the eddy current test is carried out on the surface part by using an eddy current test probe with a detection coil diameter of 1 mm or less.例文帳に追加

転がり軸受の軌道輪表層部または転動体表層部を渦流探傷検査するに際して、検出コイル径が１ｍｍ以下の渦流探傷プローブを用いて前記表層部を渦流探傷検査する。 - 特許庁

A probe 10 for an eddy-current flaw detector detects the flaw of a metal pipe as an external conductor for a coaxial cable 20 as a change in an eddy current generated in the metal pipe, and eddy-current value is sent to a flaw detector body.例文帳に追加

渦流探傷器のプローブ１０は、同軸ケーブル２０の外導体である金属パイプの傷をこの金属パイプに生じせしめた渦電流の変化を検出し、この渦電流値を渦流探傷器の本体に送る。 - 特許庁

To provide a probe for eddy current examination capable of always keeping lift-off between the probe and a measuring object constant, acquiring an action effect similar to the case of holding vertically without intentionally holding the probe vertically, and thereby quickly performing accurate and precise measurement without requiring any skill in an eddy current examination work.例文帳に追加

プローブと測定対象物とのリフトオフを常に一定に保ち、且つ、プローブを意識的に垂直に保持することなく、垂直に保持したと同様の作用効果が得られ、以て、渦流探傷作業に際し、何ら熟練を要することなく、正確で精密な測定を迅速に行なうことが可能な渦流探傷用プローブを提供することを課題とする。 - 特許庁

The multi-layer electric probe 200 may further include at least a third strip layer having a withstand current capability and desired mechanical strength.例文帳に追加

多層電気プローブ２００は少なくとも、耐電流能力および所望の機械強度を有する第３ストリップ層をさらに含んでよい。 - 特許庁

A probe of a detector 100 is immersed in the fat and oil in the detection tank 200 to measure an electric current value and oil temperature of the fat and oil.例文帳に追加

検知槽２００の油脂には検知器１００のプローブが浸されており、その油脂の電流値および油温度が測定される。 - 特許庁

NARROW DIRECTIVITY ELECTROMAGNETIC FIELD ANTENNA PROBE, ELECTROMAGNETIC FIELD MEASURING APPARATUS USING THE SAME, AND CURRENT DISTRIBUTION EXPLORATION APPARATUSOR OR ELECTRICAL WIRING DIAGNOSTIC DEVICE例文帳に追加

狭指向性電磁界アンテナプローブおよびこれを用いた電磁界測定装置、電流分布探査装置または電気的配線診断装置 - 特許庁

(d) A discharge amount of the charge charged in the capacity 8 of the metal member 7 is observed based on an output signal of the current probe 3.例文帳に追加

（ｄ）電流プローブ３の出力信号に基づき、金属部材７の容量８に充電された電荷の放電量を観測する。 - 特許庁

The controlled specimen 1 for four-probe resistance measurement device arranges a probe 11 for current and two conductor members 3 and 4, whose probe 12 for voltage is touched by insulating from each other and is constituted by connecting the conductor members 3 and 4 by way of a specified resistor 5.例文帳に追加

四探針抵抗測定装置用管理試料１は、電流用探針１１および電圧用探針１２を当接させる二つの導電部材３、４を、互いに絶縁して配設すると共に、それらの導電部材３、４を所定の抵抗５を介して互いに接続して構成されている。 - 特許庁

When the tip of the diamond probe 1 for machining is worn away or altering of the probe tip shape is needed, machining of the tip of the diamond probe for machining is performed by selective irradiation of an electron beam 4 to only a region requiring with increase in amount of water vapor and current of the electron beam 4.例文帳に追加

加工用ダイヤモンド探針1の先端が磨耗している場合や探針先端形状の変更が必要な場合は水蒸気量と電子ビーム4の電流量を増やして電子ビーム4を必要な領域のみ選択照射して加工用ダイヤモンド探針先端を加工する。 - 特許庁

To improve measurement accuracy by preventing a measurement error caused by a parasitic capacity of a probe pin, by improving a technology for measuring the inductance of a magnetic head by bringing a current application probe pin and a voltage measuring probe pin into contact with a pad of the magnetic head formed on a wafer.例文帳に追加

ウエハに形成されている磁気ヘッドのパッドに、電流印加プローブピンおよび電圧測定プローブピンを接触させて、該磁気ヘッドのインダクタンスを測定する技術を改良し、プローンブピンの寄生容量に起因する測定誤差を防止して測定精度を向上させる。 - 特許庁

The relative tilt angle and the relative distance are determined based on this measured voltage between the probe card on which the probe needles 50 are installed and the wafer 10, and the probe needles 50 are connected to the bonding pads of the wafer 10 to carry out a current feeding test so that the relative position is maintained in accordance with them.例文帳に追加

この測定された電圧に基づいて、プローブ針５０が設けられているプローブカードとウェハ１０との相対傾斜角度及び相対距離とを決定し、これに応じた相対位置を維持するようにプローブ針５０をウェハ１０のボンディングパッドに接続させて通電試験を行なう。 - 特許庁

Specifically, a current probe for sandwiching the spherical conductive material between two counter electrodes so as to contact them and bringing constant current to flow therethrough, and a voltage probe for measuring a potential difference between two points on the surface of the spherical conductive material, are disposed independently, thereby enabling a precise evaluation.例文帳に追加

具体的には、２つの対向電極間に球形導電体を挟み込み接触させ定電流を流すための電流プローブ、および球形導電体表面上の２点間の電位差を測定するための電圧プローブを独立に設置し、正確な評価を可能にした。 - 特許庁

The apparatus 50 for measuring the fuel cell current distribution has a plurality of probe pins 35 each of which makes contact with a non-partitioned area on the outer surface of a separator 3 on one side of the fuel electrode of the pair of the fuel electrode 2 and the air electrode 4; and a current measuring part 44 which measures currents flowing into respective probe pins 35.例文帳に追加

一対の燃料極２及び空気極４における一方の燃料極側セパレータ３の外側表面の非区画領域に接触される複数のプローブピン３５と、各プローブピン３５に流れる電流を測定する電流測定部４４とを備えている。 - 特許庁

An operation control part 40 finds out a lift-off allowable area A on a lissajous plane from a detection signal generated until an eddy current probe 3 is adhered closely to a plane of a test body 20A and a detection signal generated when adhering the eddy current probe 3 closely to a curved surface of a test body 20B.例文帳に追加

演算制御部４０は、試験体２０Ａの平面に渦電流プローブ３を密着させるまでに発生する検出信号と試験体２０Ｂの曲面に渦電流プローブ３を密着させる際に発生する検出信号からリサージュ平面上にリフトオフ許容領域Ａを求める。 - 特許庁

In this probe microscope having a probe, an electrode arranged through a sample and a measuring instrument which applies voltage across the probe and the electrode to detect the current flowing to the sample between the probe and the electrode, voltage is applied across two desired points in the sample to detect the produced migration to thereby determine the insulating failure.例文帳に追加

探針と試料を介して配置される電極と、探針と電極間に電圧を印加して探針と電極間の試料に流れる電流を検出する測定装置を有するプローブ顕微鏡において、試料内における所望の二点間に電圧を印加することにより、発生するマイグレーションを検知して絶縁不良を判定するプローブ顕微鏡にある。 - 特許庁

In the semiconductor wafer resistivity measuring apparatus for measuring the resistivity of a semiconductor wafer 12 by using a 4-probe resistivity measuring instrument, resistivity values on a plurality of positions on a straight line in a radius direction from an edge portion of the semiconductor wafer 12 are measured by a measuring means by changing a probe of a current to be supplied to four probes of the 4-probe probe 14 and a probe of a voltage to be measured.例文帳に追加

４探針抵抗率測定器を用いて半導体ウェーハ１２の抵抗率を測定する半導体ウェーハ抵抗率測定装置において、４探針プローブ１４の４探針に供給する電流の探針と測定する電圧の探針を変更して半導体ウェーハ１２の端部から半径方向の直線上における複数の位置の抵抗率を測定手段により測定する。 - 特許庁

The element 12 is screened by applying a first probe 54 against the metallic film 18c, applying a second probe 56 against the second wiring member 20, and supplying the element 12 with a current.例文帳に追加

金属膜１８ｃに第１のプローブ５４を当て、第２の配線部材２０に第２のプローブ５６を当てて半導体発光素子１２に電流を供給することによって、半導体発光素子１２のスクリーニングが行われる。 - 特許庁

To provide a probe capable of reducing a stray electromagnetic field in the vicinity of a probe tip part to reduce a crosstalk with a neighboring device, capable of making a sufficient current flow, and allowing probing at a high-frequency.例文帳に追加

近隣のデバイスとのクロストークを低減させるべくプローブ先端部付近での漂遊電磁場を低減させ、かつ充分な電流を流すことができる、高周波でのプロービングを可能にするブローブを提供する。 - 特許庁