「Reduced Inspection」に関連した英語例文の一覧と使い方 - Weblio英語例文検索

To provide a camera module inspection device for which calibration is facilitated and space for the inspection device is reduced, and a camera module inspection method.例文帳に追加

校正が容易で、検査装置用スペースを削減したカメラモジュール検査装置及びカメラモジュール検査方法を得ること。 - 特許庁

To provide a liquid crystal display panel and its inspection method by which cost of inspection is reduced and highly precise inspection is made possible.例文帳に追加

検査コストを削減し、かつ、高精度の検査が可能な液晶表示パネル及びその検査方法を提供する。 - 特許庁

As a result, the required working efforts can be reduced during the TEG inspection time.例文帳に追加

このため、ＴＥＧの検査時に必要な労力を少なくすることができる。 - 特許庁

To provide a semiconductor inspection system that realizes reduced testing cost.例文帳に追加

テストコストの削減を実現する半導体検査システムを提供する。 - 特許庁

To provide an inspection lid which ensures strength of the same even if a thickness of a lid plate is reduced.例文帳に追加

蓋板の厚みを薄くしても点検蓋の強度を保てるようにする。 - 特許庁

In a neutron non-destructive inspection device utilizing epithermal neutrons, noise by thermal neutrons at the time of inspection is reduced to improve the reliability of inspection, and the inspection time can be reduced.例文帳に追加

エピサーマル中性子を利用した中性子非破壊検査装置において、検査時の熱中性子によるノイズを低減して検査の信頼性を高め、また検査時間を短くできる。 - 特許庁

Therefore, the time required for inspection work by the movement time of the inspection machine 21 is reduced, and the time required for the inspection work of the plurality of organic EL displays D is reduced.例文帳に追加

これにより、検査機２１の移動時間分だけ検査作業に要する時間が短くなるため、複数の有機ＥＬディスプレイＤの検査作業に要する時間が短くなる。 - 特許庁

An inspection time per one sheet of the substrate is shortened, and all the substrates are inspected even in the reduced number of substrate inspection devices, and even in the reduced number of optical systems provided in the one inspection device.例文帳に追加

基板１枚当たりの検査時間が短くなり、基板検査装置の数が少なくても、または１つの検査装置に設けられた光学系の数が少なくても、全ての基板の検査が可能となる。 - 特許庁

It is judged that the inspection channel is abnormal when a difference between a reduced current amount having the reference current value reduced from the inspection current value and a reduced current amount at the normal time is not smaller than a predetermined value (S206 and S207).例文帳に追加

検査電流値から参照電流値を引いた減少電流量と正常時における減少電流量と差が所定値以上であるときに当該検査チャネルに異常があると判断する（Ｓ２０６、Ｓ２０７）。 - 特許庁

To provide a system for inspecting a quantity of oil in a vehicle bogie which improves inspection accuracy and inspection efficiency by an operator, while a space for storage of inspection results is reduced and a retrieval of the inspection results is facilitated.例文帳に追加

検査精度を向上させ、作業員による検査効率を向上させるとともに、検査結果の保管スペースを減少させ、検査結果の検索を容易にする車両台車油量検査システムを提供する。 - 特許庁

Thus, since a device for inspection is communalized between the tuner device 25 and the demodulation device 35, the inspection costs are reduced.例文帳に追加

これにより、チューナ機器２５と復調機器３５とで検査用装置を共通化できるため、検査コストを削減することができる。 - 特許庁

To provide an image-capturing apparatus reduced in cost by enabling the contraction of an inspection space and the shortening of an inspection time.例文帳に追加

本発明は、検査スペースの縮小および検査時間の短縮を可能にし、装置コストの低廉化をも可能にした画像取込み装置を提供する。 - 特許庁

Thus, the false defects can be accurately determined, the false defects detected in an inspection process are reduced, and hence the accuracy and efficiency of the inspection are improved.例文帳に追加

これにより、擬似欠陥が精度良く判別され、検査過程で検出される擬似欠陥が低減されて、検査の高精度化及び効率化が図られる。 - 特許庁

To provide an inspection device for a glass substrate having high inspection accuracy for the glass substrate and allowing the device cost to be reduced.例文帳に追加

本発明は、ガラス基板の検査精度が高く、しかも、装置価格も低廉とすることができるガラス基板の検査装置を提供する。 - 特許庁

When the simple inspection mode is selected, order acceptance and image inspection are performed using the reduced size image data.例文帳に追加

簡易検定モードが選択されると、縮小画像データを使用して注文受付と画像検定とが行なわれる。 - 特許庁

Accordingly, the waiting time till stabilizing of voltage become unnecessary and the inspection time can be shortened, and thus the inspection costs can be reduced.例文帳に追加

これにより、電圧が安定するまでの待ち時間が不要となり、検査時間を短縮して検査コストを削減することができる。 - 特許庁

To provide an optical panel and an inspection probe with which reliable contact with precise signal lines is materialized and inspection cost is significantly reduced.例文帳に追加

細密な信号線に対しても確実なコンタクトを実現でき、検査コストを大幅に低減できる光学パネル、検査プローブの提供。 - 特許庁

To provide a substrate inspection device capable of efficiently inspecting a substrate from different inspection directions in a reduced space.例文帳に追加

少ないスペースで効率良く異なる検査方向から基板の検査を行うことが可能な基板検査装置を提供する。 - 特許庁

During this rolling up display, the inspection images N1, N3 and N4 stand still in the status that luminance is reduced.例文帳に追加

この捲り表示中には、検査画像Ｎ１、Ｎ３、Ｎ４は、輝度が低下された状態で静止している。 - 特許庁

The effect of charging in the inspection condition can be reduced within this voltage range.例文帳に追加

この電圧範囲内であれば、検査条件における帯電の影響を低減できる。 - 特許庁

Accordingly, an image that is high in resolution, and reduced in inspection noise is detected.例文帳に追加

これにより、解像度が高く、欠陥検査上のノイズも低減した画像を検出することを可能にした。 - 特許庁

To provide an image correction method suitable for measurement and inspection of a semiconductor element, and the like, in which noise is reduced.例文帳に追加

半導体素子等の測定や検査に好適で、ノイズの少ない画素補正方法を提供する。 - 特許庁

A defect detection part 25 extracts a defect on an inspection object by using the reduced image information.例文帳に追加

欠陥検出部25は、縮小画像情報を用いて検査対象物上の欠陥を抽出する。 - 特許庁

An image high in resolution and reduced in a noise on the defect inspection is thereby detected.例文帳に追加

これにより、解像度が高く、欠陥検査上のノイズも低減した画像を検出することを可能にした。 - 特許庁

As a result, misoperations can be reduced, and the precision of inspection can be enhanced, to achieve the enhancement of quality.例文帳に追加

その結果、操作の間違いを減少でき、検査の精度が向上して品質向上が実現できる。 - 特許庁

Further, the variation in optical axis for each inspection system due to the variation in parts and assembly errors can be reduced.例文帳に追加

また、部品ばらつきや組立て誤差による、検査装置ごとの光軸ばらつきを低減することができる。 - 特許庁

To provide an X-ray inspection device which has high detection sensitivity and reduced afterglow.例文帳に追加

検出感度が高く、アフターグローの低減された、X線検査装置を提供する。 - 特許庁

To provide a function inspection device/system adaptable to the environment and reduced in cost.例文帳に追加

対環境に適応できるとともに低コストとなる官能検査装置・システムを提供すること - 特許庁

To provide a fuel vapor leakage inspection module, reduced in space for loading.例文帳に追加

搭載するための空間が低減される燃料蒸気漏れ検査モジュールを提供する。 - 特許庁

Therefore, the volume of the PC steel material 3 embedded in the hanging floor slab can be reduced, thus such works as a grout injection and its inspection can be reduced.例文帳に追加

このため、吊床版内に埋め込むＰＣ鋼材３を低減し、グラウトの注入・検査等の作業を減少させることができる。 - 特許庁

To provide a high frequency module inspecting device in which costs required for inspection can be reduced without requiring a dedicated measuring instrument for each inspection, an inspection time can be shortened, efficiency in inspection can be improved and further, an inspection method/decision reference can be easily changed.例文帳に追加

各検査毎に専用の測定器を必要とせず、検査に要するコストを削減することができるとともに、検査時間を短縮して検査効率を上昇させることができ、さらに、検査方法・判定基準を容易に変更することが可能な高周波モジュール検査装置を提供する。 - 特許庁

Accordingly, since the inspection target part is not rubbed against the feed means when the inspection target part revolves on its axis, noise and the damage of the inspection target part are reduced, and since the inspection target part is not vibrated at the time of scanning by the inspection unit 30, a more accurate scanning result can be obtained.例文帳に追加

そのため、被検査部品が自転する際、当該被検査部品と搬送手段とが擦れないので、騒音および当該被検査部品の損傷が低減されるとともに、検査ユニット３０による走査時に被検査部品が振動しないので、より正確な走査結果を得ることができる。 - 特許庁

To provide a high-reliability wiring board which permits surface wirings and surface via conductors to be connected surely even for surface wirings in reduced size and is capable of element inspection at higher speed and of high-speed inspection owing to reduced stray capacitance.例文帳に追加

表面配線を小さくしても表面配線と表面ビア導体とを確実に接続することができ、浮遊容量を小さくすることで、より高速な素子の検査や、高速の検査ができる高信頼性の配線基板を提供する。 - 特許庁

To provide an automatic inspection apparatus for a microscope, in which only one stage is used, in which the movement distance of the stage is reduced and in which a position error in a preliminary positioning operation and in an actual inspection is reduced.例文帳に追加

ステージを一つにするとともに移動距離を少なくし、予備位置決めの際と実際の検査の際の位置誤差を小さくした自動顕微鏡検査装置を提供する。 - 特許庁

To provide an inspection device of a magneto-resistance effect head, in which the number of components of an inspection circuit is reduced and the space at the time for making to be an IC is reduced.例文帳に追加

検査回路の部品点数を削減しＩＣ化する際のスペースを削減することのできる磁気抵抗効果型ヘッド検査装置を提供する。 - 特許庁

To provide a nondestructive inspection device and a method of using a guide wave capable of improving detection accuracy in a thickness-reduced part, by identifying a thickness-reduced part signal generated in a pipe as a virtual image, in a nondestructive inspection of using the guide wave.例文帳に追加

ガイド波を用いた非破壊検査において、配管に生じた減肉部信号を虚像と識別し、減肉部の検出精度を向上できるガイド波を用いた非破壊検査装置及び方法を提供することにある。 - 特許庁

That is, an inspection target image A is binarized at S2, and is reduced by a predetermined amount at S3, so that the reduced binary image A is used as the mask image for the inspection target image A.例文帳に追加

即ち，検査対象画像Ａを２値化し，更に所定量の収縮処理を施したものをその検査対象画像Ａに対するマスク画像として用いる。 - 特許庁

To provide a piping inspection method using a guide wave capable of more shortening the time required in inspection and capable of detecting the depth of a reduced wall thick part and the piping circumferential length of the reduced wall thick part.例文帳に追加

検査に要する時間をより短縮でき、減肉部の深さ及び減肉部の配管周方向長さを検出できるガイド波を用いた配管検査方法を提供する。 - 特許庁

To provide a nondestructive inspection apparatus capable of exactly specifying a detection portion of a flaw or a reduced thickness area, easily carrying out a flaw inspection operation and precisely acquiring a flaw inspection waveform.例文帳に追加

きずや減肉の検出部位を的確に特定でき探傷作業が容易に行え精度のよい探傷波形を得ることができる非破壊検査装置を提供することである。 - 特許庁

To provide an inspection method where a normal burn-in inspection is performed and vain power may be reduced upon inspection and a semiconductor integrated circuit used therefore.例文帳に追加

正常なバーンイン検査を行うとともに、検査時の無駄な電力を削減できる検査方法、およびこれに用いられる半導体集積回路を提供する。 - 特許庁

To provide a manufacturing method of an organic EL display device in which judgement of propriety of repair at an inspection stage of a defective pixel can be made by a simple structure and a working loss at the repair process is reduced, its inspection device, and inspection method.例文帳に追加

簡易的な構成により欠陥画素の検査段階でリペアの可否判定を可能とし、リペア工程での作業ロスを低減した有機ＥＬ表示装置の製造方法、その検査装置及び検査方法を提供する。 - 特許庁

To provide an efficient inspection method for the quality of a CTP plate reduced in work load, capable of accurately inspecting the quality of the CTP plate, and the CTP plate having an inspection scale for performing the inspection method.例文帳に追加

ＣＴＰ版の品質を的確に検査することができ、しかも効率的で作業負荷の小さいＣＴＰ版品質検査方法と、その検査を行なえるようにするための検査用スケールが形成されたＣＴＰ版を提供する。 - 特許庁

Snow accumulation on the floor surface is prevented by making the inspection stand the upright state in normal time, and the labor for removing snow of the inspection stand can be reduced by using the stand in the sideways state in the case of inspection or maintenance work or the like.例文帳に追加

そして、通常時は点検台を起立状態とすることで床面に積雪するが防止され、点検時や保守時等の作業時には、横倒状態にして使用することで点検台の除雪作業の労力を軽減することができる。 - 特許庁

Thus, the time for non-operation of the LSI tester can be reduced, by performing inspection by alternately switching the inspection positions for inspection and transportation.例文帳に追加

これにより、検査用と運搬用の検査位置を交互に切り替えて検査を行う事により、ＬＳＩテスタの稼動していない時間を短縮することができる。 - 特許庁

To provide a nondestructive inspection device for rapidly detecting the flaw place such as reduced wall thickness, or the like, produced in a straight pipe part or piping having a bent part in nondestructive inspection using a guide wave, and a non-destructive inspection technique that uses the guide wave.例文帳に追加

ガイド波を用いた非破壊検査において、直管部あるいは曲げ部を有する配管に生じた減肉などの欠陥箇所を、迅速に検出する装置及び手法を提供する。 - 特許庁