「Reduced Inspection」に関連した英語例文の一覧と使い方(3ページ目) - Weblio英語例文検索

To provide a color image forming device in which workload for maintenance and inspection, is reduced and its handling is simplified by making the image forming unit requiring high frequency of the maintenance, inspection or the like to be independently operated.例文帳に追加

保守点検等の頻度が高い画像形成ユニットだけを独立して操作できるようにして保守点検の作業負担の軽減及びハンドリングが簡単なカラー画像形成装置を提供すること。 - 特許庁

To provide an inspection device for printed matter capable of detecting flaws that have reduced feature quantities, such as hickey defects, or the like, and to provide an inspection method for the printed matter.例文帳に追加

ヒッキー不良等の特徴量が少ない欠陥を検出することを可能とする印刷物検査装置及び印刷物検査方法を提供する。 - 特許庁

When the flaw inspection probe 11 is positioned on the detection portion of the flaw or the reduced thickness area of the object to be inspected, a stopping device 13 stops the sliding and scanning operation of the flaw inspection probe 11 in accordance with a stop command issued from the measuring device 12.例文帳に追加

そして、探傷プローブ１１が検査対象物のきずや減肉の検出部位に位置したとき、測定器１２からの停止指令により、停止装置１３は探傷プローブ１１の摺動走査の動作を停止させる。 - 特許庁

When a difference between an increased current amount having the reference current value reduced from the inspection current value and an increased current amount at the normal time is not smaller than a predetermined value, it is judged that the inspection channel is abnormal (S306 and S307).例文帳に追加

検査電流値から参照電流値を引いた増加電流量と正常時における増加電流量と差が所定値以上であるときに当該検査チャネルに異常があると判断する（Ｓ３０６、Ｓ３０７）。 - 特許庁

To provide a reticle, an inspection system for an aligner, an inspection method for an aligner, and a method for manufacturing a reticle by which the time required for correcting an optical system can be significantly reduced in the process of manufacturing a semiconductor device.例文帳に追加

半導体装置製造工程において光学系の補正にかかる時間を大幅に短縮することができるレチクル、露光装置検査システム、露光装置検査方法及びレチクルの製造方法を提供する。 - 特許庁

When the inspection light transmits through the measuring part 50a, the energy of the inspection light is reduced by the degree of degradation of oil to be inspected at the interface between the light guide member 50 and oil to be inspected.例文帳に追加

検査光が測定部５０ａを伝搬するとき、導光部材５０と被検査オイルとの界面で、被検査オイルの劣化の程度によって検査光のエネルギーが減少する。 - 特許庁

To provide a mask ROM in which unnecessary stock and a material cost can be reduced even when various kinds of mask ROMs are manufactured in small amount, while inspection efficiency and reliability can be improved, and to provide its inspection method.例文帳に追加

少量多品種のマスクＲＯＭを生産する場合であっても不要在庫や材料コストを低減できるともに、検査効率や信頼性も改善できるマスクＲＯＭ及びその検査方法を提供する。 - 特許庁

Thus, labor and a cost concerning the inspection are drastically reduced compared with a conventional form where inspection vehicles are individually travelled on the whole lanes to directly measure and inspect the road surface state.例文帳に追加

これにより、従来のように全車線について個別に調査用車両を走行させて路面状態を直接的に計測調査するといった形態に比べると、調査に関する労力ならびにコストを大幅に削減できるようになる。 - 特許庁

To provide a semiconductor integrated circuit device wherein the development period for an inspection program is shortened, while the occurrence of 'good item/defective determination trouble' at delivery inspection in a production factory is reduced.例文帳に追加

検査プログラム開発期間を短縮し、量産工場出荷検査での「良品／不良品判定トラブル」の発生頻度を減らす半導体集積回路装置を提供する。 - 特許庁

According to the schedule function, the inspection efficiency is improved and the inspection time can be reduced, by changing the order of the test items, in response to the use condition of the measurement unit.例文帳に追加

スケジュール機能により、測定ユニットの使用状況に応じて試験項目の順番の変更を行うことで、検査効率を向上させ、検査時間を削減することが可能となる。 - 特許庁

As the lifting-up work of the governor 10 can be performed by one worker, and the work can be easily performed in the narrow hoistway pit, the efficiency in the inspection work can be improved, and the cost for maintenance and inspection can be reduced.例文帳に追加

この調速機１０の上昇作業は作業は一人の作業員によって行うことができ、狭隘な昇降路ピットにおいても容易に作業できて点検作業能率が向上し保守、点検の費用を低減する。 - 特許庁

To provide a halftone type phase shift mask blank or the like which is a halftone phase shift mask blank of a multilayered type and is reduced in transmittance to inspection light by making the reflectivity of multilayered films to the inspection light higher.例文帳に追加

多層型のハーフトーン位相シフトマスクにおいて多層膜の検査光に対する反射率を高くすることによって、検査光に対する透過率を低減したハーフトーン型位相シフトマスクブランク等を提供する。 - 特許庁

To establish an inspection technique capable of achieving accurate inspection, even in a lengthy pipe including a curved part as a boiler heat transfer tube, for flaws such as reduced thickness or cracks developed at a forward part from the curved part.例文帳に追加

ボイラ伝熱管のように曲がり部が存在する長尺管であっても、その曲がり部より先に発生する減肉や割れなどキズの検査が高精度で実現できる検査技術を確立すること。 - 特許庁

The probability that the inspection cover might fall from the housing can be reduced even when the inspection cover is unfastened because the fixing member is damaged or released due to the collision with foreign objects, etc., during vehicle travelling, while the noise leakage can be prevented by the grounding potentialization.例文帳に追加

車両走行中の異物衝突等の影響で固定金具が破損または、開放によって点検カバーが外れても筐体から脱落する確率を下げると共に、接地電位化することでノイズ漏れの防止が可能となる。 - 特許庁

Furthermore, anxiety as to misoperations is eliminated, inspection can be rapidly performed, the number of the treatments of the liquid to be treated can be increased, and the cost required in inspection can be reduced.例文帳に追加

また、操作の間違いに対する不安が無くなり、検査を速やかにできるようになり、被検査液を処理する数を増加可能になり検査に要するコストを削減することができる。 - 特許庁

Thus, even if the drive scale on which the master scale and the scale to be inspected are placed is kept moving at constant speed without stopping, inspection and measurement are made possible and inspection time can be reduced.例文帳に追加

従って、マスタスケールと被検査スケールが載置される駆動ステージを止まること無く一定速度で移動続けていても検査測定が可能かつ検査時間の短縮が図れる。 - 特許庁

To facilitate inspection, analysis, or the like in respective inspection modes by controlling optimally the number of input/output terminals controlled from the outside in accordance with respective mode sections and enabling inspection in operation in which operation trouble occurrence main cause outside of a memory-macro is reduced.例文帳に追加

外部から制御する入出力端子数を各モード区分に合わせて最適に制御し、メモリマクロ外部での動作不具合発生要因を削減した動作での検査が可能であり、それぞれの検査モードで検査・解析等を容易に実施できるようにする。 - 特許庁

In this manner, the image of the entire wafer is read and then a processing for judging whether each inspection region is conforming or not is made, so that time required for inspection can be drastically reduced as compared with a case where the scanning and judgment processing is repeated for each inspection region.例文帳に追加

このように，ウェーハ全体の画像を取り込んだ上で，各検査領域毎に良／不良の判断処理を行うため，各検査領域毎に走査，判断処理を繰り返す場合と比べて検査に要する時間が大幅に短縮される。 - 特許庁

To provide an array substrate whose cost is capable of being reduced without lowering the measuring accuracy of a circuit for inspection and an inspection method which is an inspection method inspecting short circuits and disconnection of a display device capable of making pixels to be highly accurate and is capable of being applied to the array substrate.例文帳に追加

画素の高精細化が可能な表示装置の短絡を検査する検査方法であって、検査用回路の測定精度を低減することなくコストを低減できるアレイ基板およびこのアレイ基板に適用される検査方法を提供することを目的とする。 - 特許庁

Thus, the difference in temperature between the fuel cell stack and the inspection gas is minimized or dissolved from the initial stage of the supply of inspection gas, and the time required to stabilize the pressure of the inspection gas within the fuel cell stack 11 can be consequently reduced.例文帳に追加

したがって、燃料電池スタックと検査ガスとの温度差は、検査ガスの供給当初から少ないか若しくは解消され、燃料電池スタック１１内部の検査ガスの圧力が安定するまでに要する時間が短縮されることとなる。 - 特許庁

A mask region setting section 31e sets the outside of the boundary of the reduced region as a mask region and a first foreign matter inspection section 31g inspects the mixture of foreign matters for an inspection region inside the mask region set by an inspection region setting section 31f.例文帳に追加

マスク領域設定部３１ｅが縮小領域の境界より外側をマスク領域として設定し、検査領域設定部３１ｆにおいて設定されたマスク領域よりも内側の検査領域について、第１異物検出部３１ｇが異物混入の検査を行う。 - 特許庁

To solve such problems in an inspection method that the service life of a probe N is shortened by scrubbing and that yield of a device is reduced by damaging the inspection electrode P as shown in (b) of figure 7 when the probe N is brought into contact with an inspection electrode P electrically by scrubbing operation.例文帳に追加

スクラブ操作によりプローブＮと検査用電極Ｐを電気的に接触させると、スクラブによりプローブＮの寿命を縮めたり、図７の（ｂ）に示すように検査用電極Ｐを傷つけてデバイスの歩留りを低下させる。 - 特許庁

To provide an inspection jig which is equipped with a test head connecting to a test contact point of a printed wiring board, wherein the test jig is constituted, without using a long pin 10, and a substantial reduction of a part cost is made, so that the cost of inspection in the printed wiring board is reduced, using the inspection jig.例文帳に追加

プリント配線基板の検査接点に当接する検査ヘッドを備えたプリント配線基板の検査治具において、ロングピン１０を用いずに検査治具を構成し、部材コストを大幅に低廉化するとともに、この発明の検査治具を用いることでプリント配線基板の検査コストを削減する。 - 特許庁

A measuring device 12 measures a detection signal of the flaw inspection probe 11 being slid and scanned along the surface of the object to be inspected, and judges the flaw inspection probe 11 to be positioned on the detection portion of the flaw or the reduced thickness area of the object to be inspected, based on the detection signal of the flaw inspection probe 11.例文帳に追加

測定器１２は、検査対象物の表面を摺動走査する探傷プローブ１１の検出信号を測定するとともに、探傷プローブ１１の検出信号に基づいて探傷プローブ１１が検査対象物のきずや減肉の検出部位に位置したことを判定する。 - 特許庁

In a Pachinko game machine, since control data ROMs 55B, 56B, 70B can be inspected by an inspection board 90 attached to the Pachinko game machine, outside connecting work of a game machine inspection means heretofore required is reduced to facilitate inspection.例文帳に追加

本発明に係るパチンコ遊技機によれば、各制御データＲＯＭ５５Ｂ，５６Ｂ，７０Ｂの検査を、パチンコ遊技機に組み付けられた検査基盤９０によって行うことができるので、従来の必要とされた遊技機検査手段の外付け接続作業が軽減され、検査を容易に行うことができる。 - 特許庁

To provide a washing machine installed in each home for which a part requiring a periodical inspection is inspected when the periodical inspection is required, the inspection and treatment is performed in a stage before resulting in a fault, the service life is prolonged as a result and waste is reduced.例文帳に追加

各家庭に設置されている洗濯機に対して、定期点検が必要な箇所を、定期点検が必要な時期に点検することが可能となり、故障にいたる前の段階で点検、処置が可能となり、結果として製品の寿命を延ばすことができて廃棄物の削減を図れる洗濯機を得る。 - 特許庁

Independent installation of the mask inspection device is made unnecessary, the facility space in the manufacturing plant of a semiconductor device is reduced, and the cost for the device as a whole for manufacturing the semiconductor device is also reduced.例文帳に追加

マスク検査装置を独立した装置として構成する必要がなくなり、半導体装置の製造工場等における設備スペースの低減、及び半導体装置を製造する装置全体のコスト削減に有利となる - 特許庁

Hereby, dismantlement of the inspection chip 1A can be performed easily, and the labor or the time can be reduced significantly, and deformation of the component at the dismantling time can be greatly reduced, so that reuse of plastic parts.例文帳に追加

これによって検査用チップ１Ａの解体が容易に行え、手間や時間の削減が可能であり、また、解体時の部品の変形を大きく減少できるので、プラスチック製部品の再利用も容易に行うことが可能になる。 - 特許庁

To conduct work for checking and inspection, maintenance and the like over a wide range for a furnace bottom section, by removal of the reduced number of control rod guide tubes or the like, or in a reduced installation frequency of a working device.例文帳に追加

少数の制御棒案内管等の撤去あるいは炉底部への作業装置の少ない設置回数で炉底部の広い範囲の点検検査、補修等の作業を行うことのできる炉底部作業装置を提供する。 - 特許庁

To provide a game machine in which the yield ratio of a sub control substrate realizing performing processing can be enhanced, the operation time of the control processing the sub control substrate can be reduced, and an inspection cost is reduced.例文帳に追加

演出処理を実現する副制御基板の歩留まりを向上するとともに、副制御基板の調整処理の作業時間を短縮して、検査コストを低減した遊技機を提供すること。 - 特許庁

To provide control and inspection bar codes in welding which are available for unitary control and inspection in spot welding, and to provide a work system for weld inspection which is a step of performing unitary inspection, operations, and storage through the use of the bar codes, and in which a burden on an inspector is reduced, accuracy in welding is enhanced, and proper storage is achieved.例文帳に追加

スポット溶接の一元制御・検知に用いられる溶接制御・検査用バーコード及びそれを用いた一元的溶接検査と作業と収納の工程であって、検査作業者の負担と軽減することと、溶接の精度の向上と合格品の適正な収納をおこなうことができる溶接検査用作業システムを提供する。 - 特許庁

In order to detect a defect of the image formed on the recording medium efficiently, an image setting mode and post processing mode are decided from received information together with the image data, an inspection area needing inspection is decided in accordance with the decided mode, and a time for inspection is reduced by inspecting the inspection area only.例文帳に追加

記録媒体上に形成された画像の欠陥を効率的に検出するために、画像データとともに受信した情報から画像設定モードおよび後処理モードを判別し、判別したモードに応じて検査を必要とする検査領域を決定し、その検査領域だけを検査することで検査時間を短縮する。 - 特許庁

Thus, in the maintenance and inspection information management system, since the maintenance the inspection information stored in the external storage device 8 can be confirmed from the operator side and the manager side, the need of individually preserving the maintenance and inspection information on the operator side and the manager side is eliminated and the time and labor required for preserving the maintenance and inspection information are reduced.例文帳に追加

したがって、本発明に係る保守点検情報管理システムは、外部記憶装置８に記憶されている保守点検情報を作業者側と管理者側とから確認することができるため、保守点検情報を作業者側と管理者側とで個別に保存しておく必要はなく、保守点検情報の保存に要する手間を軽減することができる。 - 特許庁

To provide: a processing operation device dispensing with a processing time for only inspection work for mounted component displacement or a dedicated processing work device for inspection work for the mounted component displacement, having mounted component displacement inspection reduced in the length of a processing work device required for the inspection work; a method of inspecting mounted component displacement; or a line or method for assembling a display board module.例文帳に追加

搭載部品ズレ検査作業のみの処理時間が不要な、または搭載部品ズレ検査作業を行なう専用の処理作業装置が不要で、前記検査作業に必要な処理作業装置長を短くできる搭載部品ズレ検査を有する処理作業装置または搭載部品ズレ検査方法、あるいは、表示基板モジュール組立ラインまたは表示基板モジュール組立方法を提供することである。 - 特許庁

To provide a manufacturing method for a contact lens by which inspection work man-hour is reduced by automatizing inspection to confirm whether a spiral groove made on the surface of the contact lens by cutting work is removed by polishing work in the manufacture of the contact lens.例文帳に追加

コンタクトレンズの製造において、切削加工によりコンタクトレンズ表面に発生する螺旋状の溝が研磨加工により除去されたかを確認する検査を自動化して、検査作業工数を低減するためのコンタクトレンズの製造方法を提供すること。 - 特許庁

To provide a method capable of automatizing the selection of an objective measurement device and the procedures of the inspection at the execution of the inspection, the human decision is reduced as much as possible so as to enable even an operator other than a skilled one to inspect the measurement device corresponding to various fuels.例文帳に追加

各種燃料に応じた計量器の検査を熟練者でなくても的確に実施可能とするため、検査の実施に際して人の判断事項を極力減らして、対象となる計量器の選別や検査手順を自動化しうる方法を提供する。 - 特許庁

To provide a listening position inspection method, a listening position inspection system and a loudspeaker apparatus to be used for the system, in which the deviation between a reference listening position to which sounds are outputted from respective loudspeakers and a practical listener's listening position can be inspected in an error-reduced state.例文帳に追加

各スピーカから音声を向けて出力される基準の聴取位置と実際のリスナの聴取位置のずれを誤り少なく検査することができる聴取位置の検査方法、聴取位置検査システム及びこのシステムに用いられるスピーカ装置を提供することを目的としている。 - 特許庁

Thus, by eliminating the need of arranging cutting components such as cap nuts 181 in through-holes 184 formed in the lid reception parts 52A to weld entire periphery like in conventional cases, costs of material are reduced by virtue of the nonuse of the cutting components, as well as welding inspection and airtight inspection are not required.例文帳に追加

これにより、従来のように、蓋体受け部５２Ａに形成した貫通孔１８４内に袋ナット１８１のような切削部品を配置して全周溶接する必要をなくし、切削部品を用いない分、材料費を低減すると共に、溶接検査や気密検査を不要とする。 - 特許庁

This allows the occupied space and the installation cost to be reduced by simplifying the installation structure without the need for redundantly disposing an inspection device for finding displacement of the printed cream solder S as two-dimensional data and an inspection device for finding the amount of printing as three-dimensional data.例文帳に追加

これにより、印刷されたクリーム半田Ｓの位置ずれを２次元データとして求めるための検査装置と印刷量を３次元データとして求めるための検査装置とを重複して配置する必要がなく、設備構成を簡略化して占有スペースや設備コストを低減させることができる。 - 特許庁

To provide a method of producing a magnetic disk substrate, by which the number of scratches occurring on a surface of a glass substrate is reduced, the yield of an inspection machine of the glass substrate is improved, and further the yield of an inspection machine of a magnetic disk produced form the glass substrate is improved.例文帳に追加

ガラス基板表面に発生する傷（スクラッチ）を低減させ、ガラス基板の検査機歩留まりを向上させ得、さらにはそのガラス基板より得られる磁気ディスクの検査機歩留まりを向上させ得る、磁気ディスク用基板の製造方法を提供する。 - 特許庁

In this case, a time needed to inspect a coefficient of static friction is reduced by tilting the inspection table 26 at the specified tilt angle θ from a horizontal state as fast as possible within a range of an inertial force caused by changing a tilt angle of the inspection table 26 having no effect.例文帳に追加

この際、検査台２６の傾斜角の変更により生ずる慣性力の影響を受けない範囲で可能な限り速く、検査台２６を水平状態から規定の傾斜角度θへと傾斜させることにより、静摩擦係数の検査に要する時間を短縮する。 - 特許庁

Accordingly, the inspection time of the AD converter 2 can be shortened, and the inspection cost can be also reduced.例文帳に追加

デジタル回路（３）とＡＤ変換器（２）を個別に検査するのではなく、デジタル回路（３）とＡＤ変換器（２）を１つの検査パターンで検査することでアナログ入力信号（２１）を外部から取り込む必要がなくなり、ＡＤ変換器（２）の検査時間を短縮でき、かつ、検査コストを削減できる。 - 特許庁

If a single CPU 1020 (display control means) bears the display controls, this machine has an advantage that the burden of a main control part 200 wholly controlling the operations of the game machine and inspection quantity of the inspection mechanism for inspecting it can be reduced.例文帳に追加

また、単一のＣＰＵ１０２０（表示制御手段）がこれらの表示制御を担うようにすれば、遊技機を全体的に動作制御する主制御部２００の制御負担やこれを検査する検査機関での検査量を低減できるという利点も有する。 - 特許庁

To provide a circuit configuration and an inspection method thereof in which a digital circuit is packaged in a wafer-state system LSI, a fault in a digital circuit part to most become a critical path therein is easily verified, an inspection time is shortened and further, a die size is reduced.例文帳に追加

ウエハ状態でのシステムＬＳＩにおいて、デジタル回路を搭載し、その中でも最もクリティカルパスとなるデジタル回路部の故障検証を容易に実施し、かつ検査時間の短縮化を図り、加えてダイサイズの縮小化を可能にする回路構成とその検査方法を提供すること。 - 特許庁

Since the inspection sheet 1 prepared by the device includes all the information needed for the bar arrangement inspection, the inspector does not need to carry around a number of drawings etc., or does not need to find the drawings or documents needed at an inspection site out of a number of documents, whereby the work burden on the inspector can be reduced.例文帳に追加

この装置により作成された検査シート１は、配筋検査に必要な全ての情報を含むため、検査者は多量の図面等を持ち歩く必要が無く、また、検査現場にて必要な図面や書類を多量の書類の中から見つけ出すという必要は無く、検査者の作業負担を軽減することができる。 - 特許庁