「Reduced Inspection」に関連した英語例文の一覧と使い方(5ページ目) - Weblio英語例文検索

To provide a method for detecting pattern defect in which the processing quantity in the detection of defect by the comparison of a pattern to be inspected with a non-defective pattern is reduced to improve the inspection speed.例文帳に追加

検査対象パターンを良品パターンと比較して欠陥を検出するときの処理量を削減して検査速度の向上を図ったパターン欠陥検出方法を提供する。 - 特許庁

To provide a method for producing a synthetic resin assembly which two synthetic resin components are welded, and thereafter, the welding degree is determined by a simple and secure method, thus, the number of inspection steps for the welding degree is reduced, and further, synthetic resin assemblies with poor welding are securely eliminated.例文帳に追加

２つの合成樹脂部品を溶着した後に簡便且つ確実な方法により溶着度を判定して、溶着度に関する検査工数を低減するとともに溶着不良の合成樹脂組立品を確実に排除すること。 - 特許庁

To provide an electronic device in which only a specified function can be selected and inspected and inspection cost can be reduced and to provide a function executing method.例文帳に追加

特定の機能のみを選択して検査することができるとともに、検査コストを削減することができる電子機器および機能実行方法を提供すること。 - 特許庁

To provide an inverter device-integrated electric compressor with reduced size and weight enabling assembling, inspection, checkup, and repair individually in each of the inverter device and the electric compressor.例文帳に追加

組立・検査、点検・修理をインバータ装置、電動圧縮機それぞれ別個に行え、小型軽量化も図れるインバータ装置一体型電動圧縮機を提供するものである。 - 特許庁

To provide a mother substrate for information display for which the frequency of lighting inspection is minimized and saves troubles, and waste in the manufacturing process can be reduced.例文帳に追加

点灯検査の回数を最小限とし手間がかからないとともに、製造工程の無駄を少なくすることができる情報表示用マザー基板を提供する。 - 特許庁

To obtain the coil device for a linear motorcar which can reduce man-hours for installation, reduce the number of connections and hence facilitates inspection and maintenance by a method in which the number of ground coils is reduced.例文帳に追加

地上コイルの低減化を図ることにより、敷設工数の低減化を図り、接続点の低減による点検・保守を容易にすることができるリニアモーターカーのコイル装置を提供する。 - 特許庁

To provide a stool sampling instrument capable of easily sampling a predetermined amount of stool in the inspection of stool being a specimen whether the stool is solid or aqueous stool and reduced in the contamination possibility of the hand.例文帳に追加

便を検体とする検査において、固形便又は水様便のどちらの便であっても容易に所定量の便を採取することができ、しかも手を汚す可能性が少ない採便器具を提供すること。 - 特許庁

To provide a circuit board device for inspecting a wafer high in connection reliability and reduced in manufacturing cost, a probe card provided with the circuit board device for inspecting the wafer, and an wafer inspection device provided therewith.例文帳に追加

製造コストが小さく、接続信頼性の高いウエハ検査用回路基板装置、このウエハ検査用回路基板装置を具えたプローブカードおよびウエハ検査装置を提供する。 - 特許庁

In case of the abdomen, the fan beam is squeezed to cover the abdomen and radiated to the subject 3 like as the head inspection, and the exposure from unnecessary scattered X-rays can be reduced.例文帳に追加

また腹部の場合も頭部検査と同様に、腹部をカバーできるファンビームに絞り被検者に照射することにより不必要な散乱線からの被曝低減を実現できる。 - 特許庁

To provide a single-turn induction heating coil in which facility cost in composing an induction heating furnace for a metal strip can be reduced, and for which maintenance and inspection of the coil are easy.例文帳に追加

金属帯板の誘導加熱炉を構成する際の設備費を低減でき、コイルの保守・点検が容易なシングルターン型誘導加熱コイルを実現する。 - 特許庁

To provide an illumination apparatus for image processing with which production costs can be reduced in simple structure and further sufficient inspection accuracy can be expected in spite of a wide component to be inspected.例文帳に追加

シンプルな構造で製作コストを低減できる上、被検査部品が幅広であっても充分の検査精度を期待できる画像処理用照明装置を提供すること。 - 特許庁

To provide a circuit board, a mobile electronic apparatus, and a manufacturing method of the circuit board that facilitate inspection, with reduced cost and improved yield.例文帳に追加

コスト低減及び歩留まり向上を図りつつ容易に検査を行うことができる回路基板、携帯電子機器及び回路基板の製造方法を提供する。 - 特許庁

Thus, the peripheral direction leakage magnetic field of a magnetic field center by the magnet 2 is efficiently suppressed and the size limitations of the inspection window and the gateway on the wall surface are reduced.例文帳に追加

これにより、磁石２による磁場中心の周方向漏洩磁場を効率良く抑制して、璧面の検査窓や出入り口の大きさ制限を緩和することができる。 - 特許庁

To meet the generally contradictory requirements that sensitivity for detecting pattern defects be increased and that the speed of inspection be increased or the amount of false information be reduced.例文帳に追加

パターン欠陥検出感度を高くすることと、検査速度を速くしたり・虚報を少なくしようとすることは、一般的には矛盾した要求となる。 - 特許庁

Since a defect is extracted by using the reduced image information wherein a frequency component is maintained, while reducing the image size furthermore than an image corresponding to original image information, high-speed defect inspection can be performed by suppressing cost increase.例文帳に追加

元の画像情報に対応した画像よりも画像サイズを縮小する一方で、周波数成分を維持した縮小画像情報を用いて欠陥を抽出するので、コストの増大を抑えて高速に欠陥検査を行うことができる。 - 特許庁

To provide a load measuring device, load measuring method, and training machine that can prevent accuracy from being reduced by degradation with time and do not require regular calibration by an inspection person.例文帳に追加

経時的劣化に伴う精度の低下を防止でき、点検者による定期的な校正が不要な荷重計測装置、荷重計測方法及び訓練機の提供を目的としている。 - 特許庁

The work of adjusting the nonvolatile memory 62 is performed in conjunction with a finished goods inspection performed after packaging of the tuner system IC 20, so that the relevant work can be reduced.例文帳に追加

この不揮発性メモリ６２の調整作業を、チューナーシステムＩＣ２０のパッケージング後の完成品検査にて併せて行うことで当該作業の省力化が図れる。 - 特許庁

To provide an eddy current flaw detector, capable of simply and efficiently performing the flaw detection work of pipings having a bent part, such as an elbow or the like, having high accuracy, and being relatively simple in constitution and capable of being reduced in cost and inspection cost.例文帳に追加

エルボ等の曲部を有する配管の探傷作業が簡便に、かつ能率よく、高精度にて行うことができ、しかも構成が比較的簡易で装置コストおよび検査コスト等の低廉化も図れるようにする。 - 特許庁

To provide a substrate of high connection reliability together with its manufacturing method by inspecting rationally according to the nature of a conductor such as a terminal at a reduced cost wither less number of inspection steps.例文帳に追加

検査される端子などの導体の性質に応じてより合理的な検査を行い、費用と検査工数を低減可能とする基板の製造方法、及び接続信頼性の高い基板を提供する。 - 特許庁

Hereby, PLLs to the number of S can be inspected at the first try, and the inspection time of PLLs in LSI loaded with the plurality of PLLs can be reduced.例文帳に追加

これにより、Ｓ個のＰＬＬを一回で検査することが可能となり、複数のＰＬＬが搭載されたＬＳＩにおけるＰＬＬの検査時間を低減することができる。 - 特許庁

To provide an inertial load control device, capable of attaining control of inertial load with reduced costs for configuration and preparation operation, and a vehicle traveling inspection device using the same.例文帳に追加

慣性負荷の制御を、構成上、準備作業上、低コストにて実現できる慣性負荷制御装置、これを用いた車両走行検査装置を提供する。 - 特許庁

To provide a movable power spray apparatus provided with a structure, in which the load of labor for users is reduced and maintenance and inspection ability and handling ability of the hose are improved.例文帳に追加

使用者への労力負担を低減できるようにすると共に保守点検性およびホースの取り扱い性を向上させることが可能な構成を備えた移動式動力噴霧装置を提供する。 - 特許庁

To provide a release film excellent in handling properties at a time of use for protecting the self-adhesive layer of a liquid crystal polarizing plate, reduced in the precipitation quantity of an oligomer to the utmost, good in transparency and easy in the inspection accompanied by optical evaluation.例文帳に追加

液晶偏光板粘着剤層保護用として用いた際の取り扱い性に優れ、オリゴマー析出量が極力少なく、透明性良好であり、光学的評価を伴う検査が容易な離型フィルムを提供する。 - 特許庁

Furthermore, since the inspection board 90 functions also as a relay board and a distributor, the number of parts can be reduced in comparison with the case of providing the relay board and the distributor separately.例文帳に追加

しかも、検査基盤９０は、中継基盤及び分配器としても作用するので、これら中継基盤及び分配器を別途設けた場合に比べて部品点数の削減が図られる。 - 特許庁

Trial drive of the heater 21b is carried out supplying only the voltage, which is reduced the effective value by a diode 12, by making the temperature control switch 11 turn OFF and making the switch 13 for inspection turn ON.例文帳に追加

温度制御スイッチ１１をＯＦＦ、検査用スイッチ１３をＯＮとすることで、ダイオード１２により実行値を低減した電圧のみをヒータ２１ｂへと供給しての試験的なヒータ２１ｂの駆動を行う。 - 特許庁

To provide a method and a device for inspecting a memory, in which the number of access to the memory is reduced and the electric conduction of the address lines and data lines of memory parts loaded on a board is confirmed in a short inspection time.例文帳に追加

メモリへのアクセス回数を少なくし、短い検査時間でボード上に搭載したメモリ部品のアドレス線とデータ線の導通を確認するメモリー検査方法およびメモリー検査装置を提供する点にある。 - 特許庁

Thus the counters may be reset also to change control to the inspection of following portions of the received data, and if the circuit status is poor, the period between inspections can be reduced.例文帳に追加

また、これにより、カウンタをリセットして受信データの後続部に対する検査に切換えることができ、回線状況が悪いときには検査周期を短くすることができる。 - 特許庁

To provide a new liquid crystal display device and its driving method in which a high speed operation is made possible, power consumption is reduced to a certain degree and an inspection is easily conducted.例文帳に追加

高速動作が可能で、ある程度の消費電力の削減も図れ、かつ検査も容易に行える、新規な液晶表示装置及びその駆動方方法を提供すること。 - 特許庁

To provide a remote controller of television or the like in which connection of the terminal of an inspection device, or the like, can be facilitated and risk such as leakage or a short circuit can be reduced.例文帳に追加

テレビその他のリモコンに関するものであり、検査装置等の端子を容易に接続することが可能であり、かつ漏電やショートの危険が少ないリモコンを開発する。 - 特許庁

To provide an ultrasonic endoscope capable of being smoothly insert into a part to be observed, and of quickly displaying ultrasonic images of the part to be observed, resulting in reduced inspection time.例文帳に追加

観察部位までの挿入をスムーズに行え、かつ観察目的部位の超音波画像を速やかに表示して、検査時間の短縮を図れる超音波内視鏡を提供すること。 - 特許庁

To provide a check sheet registration system in which development costs of a check sheet to be used for work process management, inspection report and the like can be reduced and efficiency in a check sheet entry job can be improved.例文帳に追加

作業の工程管理、検査報告等で用いるチェックシートの開発コストを軽減すると共に、チェックシート記入業務の効率向上が可能なチェックシート登録システムを提供する。 - 特許庁

The number of times of the movement of the inspection position can be sharply reduced and the surface of the lens can be inspected in a magnified state to easily and certainly inspect a damage or the like.例文帳に追加

検査位置の移動回数を大幅に減らすことができ、モニタ上で拡大して検査することができるため、傷などの検査を容易かつ確実に行うことができる。 - 特許庁

After a wafer tray 10 and an inspection substrate 4 for retaining a semiconductor wafer 1 are brought closer each other for forming a closed space 22, the pressure of the closed space 22 is reduced and a probe terminal 8 is pressed against an external electrode 2.例文帳に追加

半導体ウエハ１を保持しているウエハトレイ１０と検査用基板４とを接近させて密封空間２２を形成した後、該密封空間２２を減圧してプローブ端子８を外部電極２に押し付ける。 - 特許庁

To provide a method for estimating the exact duration time of metal water supply pipes only from the corrosion speed of the metal inspection member by using a simple method and with low costs and reduced labor.例文帳に追加

簡便な方法により、且つ少ない経費と労力の負担で、金属製検査部材の腐食速度のみから正確な金属製水道管の耐用期間を推測できる方法を提供する。 - 特許庁

When multiple records are to be accumulated on an inspection table 481, in other words, when the image processing is determined as being performed in multiple modes by the parallel processing, the information processing apparatus displays only the image of a first record and thins out other image display; so that since the load of the apparatus can be reduced, a scheme for prioritizing the image inspection is obtained.例文帳に追加

検査テーブル４８１に複数のレコードが蓄積されていた場合、つまり画像処理が並列処理によって複数動作していると判定された場合に、先頭レコードの画像のみ表示させ、他の画像表示を間引くことで、情報処理装置の負荷が減らすことができるので、画像検査を優先させる仕組みを実現し得ることが可能となる。 - 特許庁

If an inspection waveform stabilizing sheet 20, in through-holes of which inspection waveform adjusting components such as a resistor, an LED, an LR circuit and a capacitor are inserted, is interposed between the anisotropic conductive sheet 1 and the IC 4, the current and signal, etc., from the IC terminals can be introduced to the anisotropic conductive sheet 1 with the noises included therein reduced.例文帳に追加

異方導電性シート１とＩＣ４との間に、貫通孔内に抵抗、ＬＥＤ、ＬＲ回路、コンデンサ等の検査波形調整部品を挿入した検査波形安定化シート２０を介在さると、ＩＣ端子からの電流や信号等をそれに含まれるノイズ低減させた上で異方導電性シート１に導入することができる。 - 特許庁

To provide an inspection method of a resin sheet capable of enhancing measuring sensitivity while suppressing an irregularity of measurement to inspect the thermal shrinkage factor of the resin sheet with higher precision, and to provide a solar cell sealing material reduced in shrinkage at the time of thermal welding by adapting the inspection method and causing no quality defectiveness in a final product as a result.例文帳に追加

測定感度を向上するとともに測定のばらつきを抑えることができ、これにより、より高精度で樹脂シートの加熱収縮率の検査を行うことができる樹脂シートの検査方法、および、この検査方法を適用することで、より加熱溶着時における収縮が少なく、結果として最終製品における品質不良を生ずることがない太陽電池封止材を提供する。 - 特許庁

Even if it does not reach derailment, overthrow, or collision, it can execute diagnosis on the flatness of wheels, diagnosis of abnormality in axles or bearings, evaluation of comfort in ride or inspection of railway, which were performed conventionally in visual search by a maintenance member or with a special abnormality diagnosis device in a periodic inspection, consequently personnel expenses or capital investment can be reduced.例文帳に追加

脱線、転覆、衝突に至らなくても、定期検査で保守点検員の目視による調査や専用の異常診断装置によって行われていた車輪のフラット或いは車軸や軸受についての異常診断、乗り心地評価、或いは軌道の検査を、通常の営業車両で実行できるようになるため、人件費や設備投資の削減ができる。 - 特許庁

A defect is determined by an image processing unit 232 (image processing unit 332) in the macro inspection camera part 230 (micro inspection camera part 330), the radio communication information frame 600 is transmitted together with a substrate image data of a substrate 30 only when required, a data of the radio-transmitted radio communication information frame 600 is reduced thereby to prevent convergence of a communication band and to attain smooth communication.例文帳に追加

マクロ検査カメラ部２３０（ミクロ検査カメラ部３３０）では、画像処理ユニット２３２（画像処理ユニット３３２）で欠陥を判別し、必要な場合にのみ、無線通信情報フレーム６００に基板３０の基板画像データを乗せて送信することで、無線通信される無線通信情報フレーム６００のデータを減らして、通信帯域の輻輳を防止し、円滑な通信を実現する。 - 特許庁

To provide a method for inspecting a color filter for a liquid crystal display device, with which errors in detecting shape defects are reduced without sacrificing inspection efficiency in detecting the translucent patterned shape defects such as photo-spacers, alignment control protrusions and so on formed on the color filter by using a visual inspection device for the color filter.例文帳に追加

カラーフィルタ用の外観検査機を用いてカラーフィルタ上に形成されたフォトスペーサーや配向制御突起など半透明パターンの形状欠陥を検出する際に、検査の効率を犠牲にせず、形状欠陥の検出のエラーを減少させる液晶表示装置用カラーフィルタの検査方法を提供することを課題とする。 - 特許庁

Instead of assembling and disassembling a transformer in the manufacturing plant, components constituting the transformer are transported directly to the installation site by a transportation means, and by making them assembled first and acceptance inspection is conducted at the installation site, so that the number of steps for both manufacturing and inspection is reduced.例文帳に追加

本発明は、変圧器を製作工場内で組立、分解することなく、変圧器を構成する部品を直接輸送手段により据付現場に輸送し、据付現場にて初めて変圧器の組立及び受入試験を実施することにより、変圧器の製作工程及び試験工程を短縮することができるようになった。 - 特許庁

The work time is reduced and the possibility of error is reduced comparing with the present man power work and passive inspection, the maintenance of all processes and safety and dynamic state of the article to be maintained existing in a transportation process can be effectively monitored, a consumer can know the maintenance status of the article, and the satisfaction to customer's overall maintenance service is raised.例文帳に追加

現行の人力作業と受動検査に比べ、作業時間を節減しエラーの可能性を低下させ、全行程メンテナンス及び運送プロセスにあるメンテナンスすべき品の安全と動態を効果的にモニタ可能で、消費者は商品のメンテナンス状況を知ることができ、顧客の全体的メンテナンスサービスに対する満足度を向上させる。 - 特許庁

To provide laser welding equipment and a laser welding method in which a welding stage by the laser welding equipment and a stage for performing quality inspection for the joining strength of a weld zone can be performed in the same stage (same equipment), thus time/cost can be reduced.例文帳に追加

レーザー溶接装置による溶接工程と、溶接部の接合強度の品質検査が行われる工程とを同一工程（同一装置）において行うことができ、時間・コストを削減することができるレーザー溶接装置及びレーザー溶接方法を提供すること。 - 特許庁

To provide a method and system for manufacturing a semiconductor device, wherein resist size and shape variances caused by exposure process variation are reduced without performing inspection operation in advance in exposure processing for manufacture of the semiconductor device.例文帳に追加

半導体デバイスの製造の露光処理において、事前の点検作業を行うことなく露光プロセス変動によって発生するレジスト寸法および形状ばらつきを低減することができる半導体デバイスの製造方法およびその製造システムを提供する。 - 特許庁

To provide a structure such that parasitic inductance is reduced when a semiconductor device is incorporated into an inverter circuit and an inspection at the final structure where the semiconductor device is incorporated into the inverter circuit is made possible, when the semiconductor device is inspected.例文帳に追加

半導体装置がインバータ回路に組み込まれたときに上記寄生インダクタンスが低減されると共に、半導体装置が検査される際にインバータ回路に組み込まれた最終構造での検査が可能となる構造を提供する。 - 特許庁