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Test Inの部分一致の例文一覧と使い方

該当件数 : 14604



例文

If the same test process existed in the past, corresponding test conditions are stored in the test condition memory section 13, the test process is implemented, and the process history of the test conditions is stored in an implementation state memory section 15 after the completion of the test process.例文帳に追加

過去に同一の試験処理があれば、対応する試験条件を試験条件記憶部13に保持させ、試験処理を実行し、試験処理終了後に、実行状況記憶部15にこの試験条件の処理履歴を記憶する。 - 特許庁

A test pattern for pattern dependency test is stored in the BIST 4, and a test pattern for timing dependency test is stored in the BOST 3, and the pattern dependency test and the timing dependency test are performed by using the BOST 3 and the BIST 4.例文帳に追加

パターン依存試験用試験パターンがBIST4に格納され、タイミング依存試験用試験パターンがBOST3に格納されて、BOST3及びBIST4を使用して、パターン依存試験及びタイミング依存試験が行われる。 - 特許庁

In the above case, the memory test is carried out through a sheet process sequence, in which the test is started from a test board where packing semiconductor devices is finished, and semiconductor devices are removed from a test board whose test is finished.例文帳に追加

この場合、半導体装置を詰め終わったテストボードからテストスタート、テスト終了したテストボードから半導体装置を払い出すという枚葉処理のシーケンスによってメモリテストが実行される。 - 特許庁

In the above case, the memory test is carried out through a sheetfed processing sequence, in which the test is started from a test board which finishes mounting a semiconductor device, and a semiconductor device is removed from a test board whose test is finished.例文帳に追加

この場合、半導体装置を詰め終わったテストボードからテストスタート、テスト終了したテストボードから半導体装置を払い出すという枚葉処理のシーケンスによってメモリテストが実行される。 - 特許庁

例文

To provide a test information processing system, test information processing method, and test information processing program capable of accessing test information stored in a data base in a short time and of easy altering test specifications.例文帳に追加

データベースに格納されたテスト情報に短時間でアクセス可能な、且つテスト仕様の変更が容易なテスト情報処理システム、テスト情報処理方法及びテスト情報処理プログラムを提供する。 - 特許庁


例文

In this case, a memory test is performed through a single board processing sequence, in which the test starts from a test board which is finished mounting semiconductor devices, and a semiconductor device is outputted from a test board whose test is finished.例文帳に追加

この場合、半導体装置を詰め終わったテストボードからテストスタート、テスト終了したテストボードから半導体装置を払い出すという枚葉処理のシーケンスによってメモリテストが実行される。 - 特許庁

To provide a test device and a test method for a semiconductor device, for realizing reduction of test cost and the number of test processes, in a functional test in the semiconductor having a large number of signal terminals.例文帳に追加

多数の信号端子を有する半導体装置の機能試験において、その試験工程数及び試験コストの削減を実現するための半導体装置の試験装置及び試験方法を提供する。 - 特許庁

There is provided the test method for the computer system including a test environment in which one or more test servers are installed and a test management server which manages an operation test of a system to be tested in the tests environment.例文帳に追加

1以上のテスト用サーバを備えたテスト環境と、テスト環境におけるテスト対象システムの動作テストを管理するテスト管理サーバとを備えた計算機システムにおけるテスト方法である。 - 特許庁

The parallel bit test method includes a step in which the test data are stored in the test data storage section, a step in which the test data and the inverted data of the test data are written in the memory cell array and a step in which decision is made to determine whether the data read from the memory cell array are the same as the test data and their inverted data or not.例文帳に追加

並列ビットテスト方法は、テストデータ貯蔵部にテストデータを貯蔵する段階、メモリセルアレイにテストデータやその反転されたデータをライトする段階、メモリセルアレイから読取りしたリードデータが前記テストデータやその反転されたデータと同じであるかを判断する段階を含む。 - 特許庁

例文

To provide an automatic test system for efficiently executing a test in a program generator.例文帳に追加

プログラムジェネレータのテストを効率的に実施するための自動テストシステムを提供する。 - 特許庁

例文

An environmental test is executed in the test condition obtained from the activation energy.例文帳に追加

この活性化エネルギーより求めた試験条件により環境試験を実施する。 - 特許庁

In order to test programmable routing resources completely in a self test area, an exhaustive test pattern is applied to a wire group under test which is reconfigured repeatedly.例文帳に追加

自己試験区域内でプログラム可能経路指定資源を完全に試験するために網羅的なテスト・パターンが繰り返し再構成される試験中のワイヤ群に適用される。 - 特許庁

To provide a burn-in test apparatus and test method capable of reducing the cost required for test by performing a characteristic analyzing test in a short time.例文帳に追加

短時間で特性解析用試験を行うことで、試験に要するコストを低減することができるバーンイン試験装置及び試験方法を提供することを目的とする。 - 特許庁

RAM TEST CIRCUIT, AND WRITE-IN METHOD FOR RAM TEST DATA BY THE CIRCUIT例文帳に追加

RAMのテスト回路およびその回路によるRAMテストデータの書き込み方法 - 特許庁

In an integral reception system 1, test data S8 are outputted from a test data transmitter 25 in a test mode (fault diagnosis mode) for transmitting the test data S8 from a transmission antenna 15.例文帳に追加

統合受信システム1は、テストモード(故障診断モード)のときテストデータ送信部25からテストデータS8が出力され、送信アンテナ15からこのテストデータS8が送信される。 - 特許庁

To provide a management method of a load test for a web system in which a test cooperator can determine participation in the test after recognizing an execution period of the each test.例文帳に追加

テスト協力者が予め各テストの実行期間を認識した上で、テスト参加を決定することができるウェブシステムに対する負荷テストの管理方法を、提供する。 - 特許庁

ADHESION PERFORMANCE TEST METHOD IN SHEARING DIRECTION AND SITE-TYPE SHEARING TEST MACHINE USED THEREFOR例文帳に追加

剪断方向の接着性能試験法とそれに使用される現場型剪断試験機 - 特許庁

A burn-in test device includes a test substrate for mounting a semiconductor device and a control part for supplying a control signal and test data for controlling the motion of the burn-in test.例文帳に追加

バーンインテスト装置は、半導体装置を搭載する試験基板と、バーンインテストの動作を制御する制御信号及びテストデータを供給する制御部とを具備する。 - 特許庁

OPERATION CONTROL METHOD OF REFRIGERATOR IN ENVIRONMENTAL TEST SYSTEM, AND ENVIRONMENTAL TEST SYSTEM例文帳に追加

環境試験装置における冷凍機の動作制御方法及び環境試験装置 - 特許庁

To achieve reduction in the load of a test verifier and the shortening of a test verification time.例文帳に追加

テスト検証者の負荷の低減や、テスト検証時間の短縮を実現する。 - 特許庁

To suppress consumption current in a memory test and increase the frequency during the memory test.例文帳に追加

メモリのテスト時の消費電流を抑え、メモリテスト時の周波数を高速化する。 - 特許庁

In the test process, the process with contents corresponding to the received test command is executed.例文帳に追加

テスト処理では、受信したテストコマンドに対応した内容の処理が実行される。 - 特許庁

GAME CONTROL ELEMENT TEST EQUIPMENT IN GAME MACHINE AND GAME CONTROL ELEMENT TEST METHOD例文帳に追加

遊技機における遊技制御素子検査装置及び遊技制御素子検査方法 - 特許庁

TEST SYSTEM AND TEST METHOD FOR COMMUNICATION DEVICE IN MOBILE OBJECT COMMUNICATION SYSTEM例文帳に追加

移動体通信システムにおける通信装置の試験システム及びその試験方法 - 特許庁

To provide a test apparatus operating a plurality of test circuits including an analog circuit in synchronization.例文帳に追加

アナログ回路を含む複数の試験回路を同期して動作させる試験装置。 - 特許庁

In the Projects window, expand the Test node and the node for a specific test case. 例文帳に追加

「プロジェクト」ウィンドウで、「テスト」ノードを展開し、特定のテストケースのノードを展開します。 - NetBeans

When you run the test you will see one of the following results in the JUnit Test Results window. 例文帳に追加

テストの実行時、「JUnit テスト結果」ウィンドウに次の結果のいずれかが表示されます。 - NetBeans

The register 241 stores test data outputted from an encoder circuit 21 in a test.例文帳に追加

レジスタ241は、テスト時にエンコーダ回路21から出力されるテストデータを記憶する。 - 特許庁

When a user selects a load test to apply for participation in the test, the test management server 3 registers an ID of the user whose participation application is received in a test registrant management database 38.例文帳に追加

負荷テストをユーザが選択して参加申し込みをすると、テスト管理サーバ3は、参加申込を受け付けたユーザのIDを、テスト登録者管理データベース38に登録する。 - 特許庁

In addition, a test schedule and a data sheet of a report on a test result from a test department terminal 9 are similarly registered in the test database 12 and data sheet storage server 2.例文帳に追加

その他、試験部門端末9からの試験スケジュールや試験結果の報告のデータシートについても同様に、試験データベース12とデータシート格納サーバー2に登録する。 - 特許庁

You can place the definitions of test cases and test suites in the same modules as the code they are to test (such as widget.py),but there are several advantages to placing the test code in a separate module, such as widgettests. py:例文帳に追加

テストケースやテストスイートは (widget.py のような) テスト対象のモジュール内にも記述できますが、テストは(widgettests.py のような) 独立したモジュールに置いた方が以下のような点で有利です: - Python

(1) Examples of in vivo heritable mutagenicity test using germ cells dominant lethal test using rodents mutual translocation test using mice specific locus test using mice例文帳に追加

(1) 生殖細胞を用いる in vivo 経世代変異原性試験の例  げっ歯類を用いる優性致死試験・マウスを用いる相互転座試験 ・マウスを用いる特定座位試験 - 経済産業省

Because we had seen them going in tandem in the test module.例文帳に追加

テストモジュールではそれらは一緒に変化していたからです - 映画・海外ドラマ英語字幕翻訳辞書

The test condition is selected to change setting for carrying out the test without file-updating the test condition file, and a selected result is stored together with the test condition, in the test condition file.例文帳に追加

試験条件ファイルのファイル更新をすることなく設定変更し試験を行える試験条件を選択し、その選択結果を試験条件とともに試験条件ファイルに格納する。 - 特許庁

To provide a call-connection test program that achieves an efficient test, facilitates an engineer in charge of testing a call connection to perform the test, and allows the engineer to flexibly set the test conditions, and a test terminal.例文帳に追加

試験を効率化でき、試験担当技術者が試験を行いやすく、柔軟に試験の条件を設定できる呼接続試験プログラムおよび試験用端末を提供する。 - 特許庁

When a new test number is generated to the result of a sub-test in the test flow (904), a database 700 of the test number is indexed by using the new test number (906).例文帳に追加

テストフロー内のサブテストの結果に対して新しいテスト番号が生成されると(904)、新しいテスト番号を使用してテスト番号のデータベース700にインデックスを付ける(906)。 - 特許庁

A performance test execution part 103 executes a performance test, and stores the acquired performance test result data added with the performance test contents identification information in a performance test result database 106.例文帳に追加

性能試験実施部103は、性能試験を実施し、取得した性能試験結果データに性能試験内容識別情報を付加して、性能試験結果データベース106に格納する。 - 特許庁

A test circuit performs test operation of the circuits to be tested in parallel based on the test control information by designating test operation of each test control circuit 42 through a control terminal 32.例文帳に追加

制御端子(32)を介して各テスト制御回路(42)にテスト動作を指示することにより、テスト回路は並列的にテスト制御情報に基づいて被テスト回路をテスト動作させる。 - 特許庁

A test management server 3 transmits, to each user terminal 1, load test notification information indicating a test execution period for each load test registered in a test load registration database 37.例文帳に追加

テスト管理サーバ3は、各ユーザ端末1に対して、テスト負荷登録データベース37に登録されている各負荷テストにつき、テスト実行期間を提示した負荷テストの告知情報を送信する。 - 特許庁

A test execution management part 11 stores inputted test conditions in a test condition DB 15 and transmits a test condition initialization signal to a peer controller 2 when test starting time comes.例文帳に追加

試験実行管理部11は入力された試験条件を試験条件DB15に保存し、試験開始時刻になると、試験条件初期化信号をピア制御装置2へ送信する。 - 特許庁

The first test pad is set in the test pad arranging layer in the searched unoccupied area by the first test pad setting means 13.例文帳に追加

そして、第1テストパッド設定手段13により、探索した空き領域におけるテストパッド配置層に第1テストパッドが設定される。 - 特許庁

To enable test contents to be changed even after production without restricting test contents in a built-in self test of a memory.例文帳に追加

メモリの組み込み自己テストにおいて、テスト内容に制限を加えることなく、製品化後にもテスト内容を変更できるようにする。 - 特許庁

The apparatus supplies a voltage corresponding to each in-test level to the VCXO while suitably changing the in-test level to generate a clock for test.例文帳に追加

試験時レベルを適宜変化させながら、各試験時レベルに応じた電圧をVCXOに与えて試験用クロックを発生させる。 - 特許庁

To easily fit a test board different in thickness to a test head and facilitate the fitting work of the test board different in thickness.例文帳に追加

板厚の異なるテストボードを容易にテストヘッドに装着できるとともに板厚の異なるテストボードを取り付ける作業を容易にする。 - 特許庁

In the drum durability test, the test speed is increased stepwise, and the test speed in each step is maintained for at least 5 hours.例文帳に追加

ドラム耐久試験において、試験速度を段階的に増加させると共に、各段階の試験速度を少なくとも5時間維持する。 - 特許庁

In a test-burn-in system, 24 test boards are sequentially processed having time difference, and the test boards circulate.例文帳に追加

テストバーンイン装置において、24枚のテストボードは順次時間差を持って処理されることになり、各々のテストボードは1枚単位で循環する。 - 特許庁

To provide a burn-in test adapter and a burn-in test device which can suppress low, the cost of obtaining semiconductor chip and test a multitude of chips at once.例文帳に追加

半導体チップを得るコストを低く抑え、一度に多数のチップをテストできるバーンインテスト用アダプタおよびバーンインテスト装置を得ること。 - 特許庁

To prevent data processing from performing overhead operation in a test of a semiconductor device without providing a test result memory in a semiconductor test device.例文帳に追加

半導体試験装置に試験結果メモリを設けることなく、半導体装置の試験にデータ処理がオーバーヘッドしないようにする。 - 特許庁

To provide a partition cover for test plugs, which can prevent an operation error from the start of a test to the finish of the test by improving the work efficiency in the test.例文帳に追加

試験の作業効率を向上させ、試験開始から試験終了までの操作ミスを防止することができるテストプラグ用仕切カバーを提供すること。 - 特許庁

例文

DEVICE FOR TEST ITEM EXTRACTION SYSTEM, TEST ITEM EXTRACTION METHOD, RECORDING MEDIUM IN WHICH TEST ITEM EXTRACTION PROGRAM IS RECORDED AND TEST ITEM EXTRACTION PROGRAM例文帳に追加

試験項目抽出システム装置、試験項目抽出方法、試験項目抽出プログラムを記録した記録媒体及び試験項目抽出プログラム - 特許庁




  
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